CN103439001A - 一种非均匀矢量偏振光的测量与评价方法及装置 - Google Patents

一种非均匀矢量偏振光的测量与评价方法及装置 Download PDF

Info

Publication number
CN103439001A
CN103439001A CN2013103661285A CN201310366128A CN103439001A CN 103439001 A CN103439001 A CN 103439001A CN 2013103661285 A CN2013103661285 A CN 2013103661285A CN 201310366128 A CN201310366128 A CN 201310366128A CN 103439001 A CN103439001 A CN 103439001A
Authority
CN
China
Prior art keywords
theta
integral
light
polarized light
induction device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN2013103661285A
Other languages
English (en)
Other versions
CN103439001B (zh
Inventor
匡翠方
李帅
江芸珊
刘旭
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Zhejiang University ZJU
Original Assignee
Zhejiang University ZJU
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Zhejiang University ZJU filed Critical Zhejiang University ZJU
Priority to CN201310366128.5A priority Critical patent/CN103439001B/zh
Publication of CN103439001A publication Critical patent/CN103439001A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN103439001B publication Critical patent/CN103439001B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Polarising Elements (AREA)

Abstract

本发明公开了一种非均匀矢量偏振光的测量与评价装置,包括依次布置在待测非均匀矢量偏振光束光路上的偏振片和光电感应器件,以及与所述偏振片和光电感应器件连接的计算机,所述的计算机用于控制偏振片在垂直于光轴的平面内进行旋转以及对光电感应器件所接收到的光强信息进行处理。本发明还公开了一种非均匀矢量偏振光的测量与评价方法。本发明装置结构简单,调试与操作方便,具有较高的测量精度,具有更为合理的量纲。

Description

一种非均匀矢量偏振光的测量与评价方法及装置
技术领域
本发明属于光学测量领域,特别涉及一种非均匀矢量偏振光的测量与评价方法及装置。
背景技术
偏振态是矢量光束的一个重要参数,对于矢量光束的传播和聚焦特性具有很大的影响,因此在光学测量、光通信、集成光学、显示技术等领域中都受到了研究人员们的广泛关注。矢量偏振光一般可分为均匀矢量偏振光和非均匀矢量偏振光两种。其中,均匀矢量偏振光在同一时刻波面上每一点的偏振态都一样,常见的有线偏振光、圆偏振光等;而非均匀矢量偏振光波面上各点的偏振态在同一时刻是不同的,常见的有切向偏振光、径向偏振光等。
近年来,由于其特殊的传播与聚焦特性,非均匀矢量偏振光在科学研究中得到了越来越为广泛的应用。这种光束的偏振特性如偏振纯度、偏振均匀度等对于光束在实际应用中的表现有很大的影响,因此提出一种对于非均匀矢量偏振光的测量与评价方法是十分必要的。
发明内容
本发明提供了一种非均匀矢量偏振光的测量与评价方法及装置,可以实现对于非均匀矢量偏振光偏振参数的精确测量,并对光束的质量进行评价,在相关科学研究中具有重要的应用价值。
一种非均匀矢量偏振光的测量与评价方法,包括以下步骤:
1)旋转偏振片,使得其透光轴方向与光路光轴方向平行;
2)待测量的非均匀矢量偏振光透过所述偏振片后,入射到光电感应器件上,得到光强分布I(r,θ),其中r,θ分别为以光电感应器件感光面中心为原点的极坐标系的坐标分量;
3)光电感应器件将I(r,θ)传送给计算机;
4)旋转偏振片,使得其透光轴方向与光路光轴方向成45度角;
5)待测量的非均匀矢量偏振光透过所述偏振片后,入射到光电感应器件上,得到光强分布I45°(r,θ),其中r,θ分别为以光电感应器件感光面中心为原点的极坐标系的坐标分量;
6)光电感应器件将I45°(r,θ)传送给计算机;
7)旋转偏振片,使得其透光轴方向与光路光轴方向成90度角;
8)待测量的非均匀矢量偏振光透过所述偏振片后,入射到光电感应器件上,得到光强分布I90°(r,θ),其中r,θ分别为以光电感应器件感光面中心为原点的极坐标系的坐标分量;
9)光电感应器件将I90°(r,θ)传送给计算机;
10)旋转偏振片,使得其透光轴方向与光路光轴方向成135度角;
11)待测量的非均匀矢量偏振光透过所述偏振片后,入射到光电感应器件上,得到光强分布I135°(r,θ),其中r,θ分别为以光电感应器件感光面中心为原点的极坐标系的坐标分量;
12)光电感应器件将I135°(r,θ)传送给计算机;
13)计算机在得到I(r,θ),I45°(r,θ),I90°(r,θ)和I135°(r,θ)数据后,根据以下公式分别计算偏振光波面上各点的斯托克斯参量s0(r,θ),s1(r,θ)及s2(r,θ)的值:
14)根据上一步中计算得到的各斯托克斯参量值,进一步由以下公式计算得出待测非均匀矢量偏振光的径向分量比重
Figure BDA0000369160650000022
切向分量比重
Figure BDA0000369160650000023
径向分量方差σR 2及切向分量方差σθ 2,完成对于待测非均匀矢量偏振光的测量与评价:
ρ ~ R = 1 2 + ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π [ cos ( 2 θ ) s 1 ( r , θ ) + sin ( 2 θ ) s 2 ( r , θ ) ] rdrdθ 2 ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π s 0 ( r , θ ) rdrdθ
ρ ~ θ = 1 2 - ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π [ cos ( 2 θ ) s 1 ( r , θ ) + sin ( 2 θ ) s 2 ( r , θ ) ] rdrdθ 2 ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π s 0 ( r , θ ) rdrdθ
σ R 2 = ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π | s 0 ( r , θ ) + cos ( 2 θ ) s 1 ( r , θ ) + sin ( 2 θ ) s 2 ( r , θ ) - 2 ρ ~ R s 0 ( r , θ ) | rdrdθ 2 ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π s 0 ( r , θ ) rdrdθ
σ θ 2 = ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π | s 0 ( r , θ ) - cos ( 2 θ ) s 1 ( r , θ ) - sin ( 2 θ ) s 2 ( r , θ ) - 2 ρ ~ θ s 0 ( r , θ ) | rdrdθ 2 ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π s 0 ( r , θ ) rdrdθ
本发明还提供了一种非均匀矢量偏振光的测量与评价装置,包括:在待测非均匀矢量偏振光束光路上依次布置的偏振片和光电感应器件,其中,所述偏振片可绕待测光束光轴在垂直于光轴的平面内进行旋转;以及同时与所述偏振片和光电感应器件均相连的计算机,用于控制所述偏振片的旋转以及对光电感应器件所接收到的光强信息进行处理。
优选的,所用所述的光电感应器件为高速电荷耦合器件(CCD:Charge Couple Device)。
本发明原理如下:
对于非均匀矢量偏振光而言,其径向分量ER与切向分量Eθ分别定义为
ER(r,θ)=Ex(r,θ)cosθ+Ey(r,θ)sinθ           (1)
Eθ(r,θ)=-Ex(r,θ)sinθ+Ey(r,θ)cosθ
其中,Ex(r,θ),Ey(r,θ)为入射光场在琼斯矩阵下的两个垂直分量。
矢量偏振光波面上一点(r,θ)的偏振的径向分量比重ρR(r,θ)以及切向分量比重ρθ(r,θ)定义为:
ρ R ( r , θ ) = E R * ( r , θ ) E R ( r , θ ) I ( r , θ )              (2)
ρ θ ( r , θ ) = E θ * ( r , θ ) E θ ( r , θ ) I ( r , θ )
其中,
Figure BDA0000369160650000041
Figure BDA0000369160650000042
分别为ER(r,θ)和Eθ(r,θ)的共轭,I(r,θ)为该点的总光强值。
结合(1)、(2)两式,可得:
ρ R ( r , θ ) = cos 2 θ · E x * ( r , θ ) E x ( r , θ ) + sin 2 θ · E y * ( r , θ ) E y ( r , θ ) I ( r , θ )
+ cos θ sin θ [ E x * ( r , θ ) E y ( r , θ ) + E y * ( r , θ ) E x ( r , θ ) ] I ( r , θ )       (3)
ρ θ ( r , θ ) = sin 2 θ · E x * ( r , θ ) E x ( r , θ ) + cos 2 θ · E y * ( r , θ ) E y ( r , θ ) I ( r , θ )
- cos θ sin θ [ E x * ( r , θ ) E y ( r , θ ) + E y * ( r , θ ) E x ( r , θ ) ] I ( r , θ )
为了对上式(3)进行计算,需要测量入射光束的斯托克斯参量。在自由空间内传播的偏振光波面上的一点(r,θ)的斯托克斯参量由下式定义并进行测量:
Figure BDA0000369160650000047
其中,I(r,θ),I45°(r,θ),I90°(r,θ)和I135°(r,θ)分别为当偏振片的透光轴与光路光轴平行、成45度、成90度以及成135度时,光束在光电感应器件上的光强分布。
因此,(3)式可改写为:
ρ R ( r , θ ) = 1 2 + cos ( 2 θ ) 2 s 1 ( r , θ ) s 0 ( r , θ ) + sin ( 2 θ ) 2 s 2 ( r , θ ) s 0 ( r , θ )        (5)
ρ θ ( r , θ ) = 1 2 - cos ( 2 θ ) 2 s 1 ( r , θ ) s 0 ( r , θ ) - sin ( 2 θ ) 2 s 2 ( r , θ ) s 0 ( r , θ )
于是,对于整个波面而言,径向和切向分量所占的比重
Figure BDA00003691606500000410
Figure BDA00003691606500000411
定义为每点比重对光强的加权:
ρ ~ R = ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π ρ R ( r , θ ) I ( r , θ ) rdrdθ ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π I ( r , θ ) rdrdθ          (6)
= 1 2 + ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π [ cos ( 2 θ ) s 1 ( r , θ ) + sin ( 2 θ ) s 2 ( r , θ ) ] rdrdθ 2 ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π s 0 ( r , θ ) rdrdθ
ρ ~ θ = ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π ρ θ ( r , θ ) I ( r , θ ) rdrdθ ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π I ( r , θ ) rdrdθ          (7)
= 1 2 - ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π [ cos ( 2 θ ) s 1 ( r , θ ) + sin ( 2 θ ) s 2 ( r , θ ) ) rdrdθ 2 ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π s 0 ( r , θ ) rdrdθ
同时,我们按下式定义径向分量方差σR 2及切向分量方差σθ 2,来刻画比重均匀度:
σ R 2 = ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π ( ρ R ( r , θ ) - ρ ~ R ) 2 I ( r , θ ) rdrdθ ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π I ( r , θ ) rdrdθ        (8)
σ θ 2 = ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π ( ρ θ ( r , θ ) - ρ ~ θ ) 2 I ( r , θ ) rdrdθ ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π I ( r , θ ) rdrdθ
将(5)式代入(8)式,即可得:
σ R 2 = ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π | s 0 ( r , θ ) + cos ( 2 θ ) s 1 ( r , θ ) + sin ( 2 θ ) s 2 ( r , θ ) - 2 ρ ~ R s 0 ( r , θ ) | rdrdθ 2 ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π s 0 ( r , θ ) rdrdθ - - - ( 9 )
σ θ 2 = ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π | s 0 ( r , θ ) - cos ( 2 θ ) s 1 ( r , θ ) - sin ( 2 θ ) s 2 ( r , θ ) - 2 ρ ~ θ s 0 ( r , θ ) | rdrdθ 2 ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π s 0 ( r , θ ) rdrdθ - - - ( 10 )
相对于现有技术,本发明具有以下有益的技术效果:
1、装置结构简单,调试与操作方便;
2、具有较高的测量精度;
3、具有更为合理的量纲。
附图说明
图1为本发明非均匀矢量偏振光的测量与评价装置的示意图。
具体实施方式
下面结合实施例和附图来详细说明本发明,但本发明并不仅限于此。
如图1所示,一种非均匀矢量偏振光的测量与评价装置,包括:偏振片1,光电感应器件2和计算机3。
其中,所述偏振片1可绕待测光束光轴在垂直于光轴的平面内进行旋转;计算机3同时与所述偏振片1和光电感应器件2相连,用于控制所述偏振片1的旋转以及对光电感应器件2所接收到的光强信息进行处理。
上述装置中,所述光电感应器件2为高速电荷耦合器件(CCD:ChargeCouple Device)。
采用图1所示的装置实现非均匀矢量偏振光的测量与评价过程如下:
首先,计算机3控制偏振片1旋转,使其透光轴与水平方向平行;待测的非均匀矢量偏振光透过所述偏振片1,入射到光电感应器件2上,得到光强分布信息I(r,θ),其中r,θ分别为以光电感应器件感光面中心为原点的极坐标系的坐标分量;光电感应器件2将光强分布信息I(r,θ)传送给计算机3。
接着,计算机3控制偏振片1旋转,使其透光轴与水平方向成45度;待测的非均匀矢量偏振光透过所述偏振片1,入射到光电感应器件2上,得到光强分布信息I45°(r,θ),其中r,θ分别为以光电感应器件感光面中心为原点的极坐标系的坐标分量;光电感应器件2将光强分布信息I45°(r,θ)传送给计算机3。
然后,计算机3控制偏振片1旋转,使其透光轴与水平方向成90度;待测的非均匀矢量偏振光透过所述偏振片1,入射到光电感应器件2上,得到光强分布信息I90°(r,θ),其中r,θ分别为以光电感应器件感光面中心为原点的极坐标系的坐标分量;光电感应器件2将光强分布信息I90°(r,θ)传送给计算机3。
最后,计算机3控制偏振片1旋转,使其透光轴与水平方向成135度;待测的非均匀矢量偏振光透过所述偏振片1,入射到光电感应器件2上,得到光强分布信息I135°(r,θ),其中r,θ分别为以光电感应器件感光面中心为原点的极坐标系的坐标分量;光电感应器件2将光强分布信息I135°(r,θ)传送给计算机3。
计算机3在得到I(r,θ),I45°(r,θ),I90°(r,θ)和I135°(r,θ)数据后,根据以下公式分别计算偏振光波面上各点的斯托克斯参量s0(r,θ),s1(r,θ)及s2(r,θ)的值:
Figure BDA0000369160650000071
根据计算得到的各斯托克斯参量值,计算机3进一步由以下公式计算得出待测非均匀矢量偏振光的径向分量比重切向分量比重
Figure BDA0000369160650000073
径向分量方差σR 2及切向分量方差σθ 2,完成对于待测非均匀矢量偏振光的测量与评价:
ρ ~ R = 1 2 + ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π [ cos ( 2 θ ) s 1 ( r , θ ) + sin ( 2 θ ) s 2 ( r , θ ) ] rdrdθ 2 ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π s 0 ( r , θ ) rdrdθ
ρ ~ θ = 1 2 - ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π [ cos ( 2 θ ) s 1 ( r , θ ) + sin ( 2 θ ) s 2 ( r , θ ) ] rdrdθ 2 ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π s 0 ( r , θ ) rdrdθ
σ R 2 = ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π | s 0 ( r , θ ) + cos ( 2 θ ) s 1 ( r , θ ) + sin ( 2 θ ) s 2 ( r , θ ) - 2 ρ ~ R s 0 ( r , θ ) | rdrdθ 2 ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π s 0 ( r , θ ) rdrdθ
σ θ 2 = ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π | s 0 ( r , θ ) - cos ( 2 θ ) s 1 ( r , θ ) - sin ( 2 θ ) s 2 ( r , θ ) - 2 ρ ~ θ s 0 ( r , θ ) | rdrdθ 2 ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π s 0 ( r , θ ) rdrdθ
本实施例针对液晶转换器产生的切向偏振光和径向偏振光进行了测量,结果为:对于径向偏振光而言,产生的径向偏振的纯度为
Figure BDA0000369160650000078
切向偏振的纯度为
Figure BDA0000369160650000079
方差为
Figure BDA00003691606500000710
对于切向偏振光而言,切向偏振的纯度为
Figure BDA00003691606500000711
径向偏振的纯度
Figure BDA00003691606500000712
方差为 σ R 2 = σ θ 2 = 0.0447

Claims (9)

1.一种非均匀矢量偏振光的测量与评价装置,其特征在于,包括依次布置在待测非均匀矢量偏振光束光路上的偏振片和光电感应器件,以及与所述偏振片和光电感应器件连接的计算机,所述的计算机用于控制偏振片在垂直于光轴的平面内进行旋转以及对光电感应器件所接收到的光强信息进行处理。
2.如权利要求1所述的非均匀矢量偏振光的测量与评价装置,其特征在于,所述的光电感应器件为高速电荷耦合器件。
3.一种非均匀矢量偏振光的测量与评价方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)依次旋转布置在待测非均匀矢量偏振光的光路上的偏振片,使得偏振片的透光轴方向与光路光轴方向的夹角分别为0度、45度、90度和135度;
2)利用光电感应器件收集透过所述偏振片的待测非均匀矢量偏振光的光强分布,分别得到与夹角角度相对应的光强分布I(r,θ),I45°(r,θ),I90°(r,θ)和I135°(r,θ),其中r,θ分别为以光电感应器件感光面中心为原点的极坐标系的坐标分量;
3)计算机根据光强分布I(r,θ),I45°(r,θ),I90°(r,θ)和I135°(r,θ),计算待测非均匀矢量偏振光波面上各点的斯托克斯参量s0(r,θ),s1(r,θ)及s2(r,θ)的值;
4)利用所述的斯托克斯参量s0(r,θ),s1(r,θ)及s2(r,θ)的值,计算得到待测非均匀矢量偏振光的径向分量比重
Figure FDA0000369160640000011
切向分量比重
Figure FDA0000369160640000012
径向分量方差σR 2及切向分量方差σθ 2,完成对于待测非均匀矢量偏振光的测量与评价。
4.如权利要求3所述的非均匀矢量偏振光的测量与评价方法,其特征在于,所述的光电感应器件为高速电荷耦合器件。
5.如权利要求3所述的非均匀矢量偏振光的测量与评价方法,其特征在于,所述斯托克斯参量的计算公式为
Figure FDA0000369160640000021
其中,r,θ分别为以光电感应器件感光面中心为原点的极坐标系的坐标分量。
6.如权利要求3所述的非均匀矢量偏振光的测量与评价方法,其特征在于,所述的径向分量比重
Figure FDA0000369160640000022
ρ ~ R = 1 2 + ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π [ cos ( 2 θ ) s 1 ( r , θ ) + sin ( 2 θ ) s 2 ( r , θ ) ] rdrdθ 2 ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π s 0 ( r , θ ) rdrdθ
式中,r,θ分别为以光电感应器件感光面中心为原点的极坐标系的坐标分量。
7.如权利要求3所述的非均匀矢量偏振光的测量与评价方法,其特征在于,所述的切向分量比重
Figure FDA0000369160640000024
ρ ~ θ = 1 2 - ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π [ cos ( 2 θ ) s 1 ( r , θ ) + sin ( 2 θ ) s 2 ( r , θ ) ] rdrdθ 2 ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π s 0 ( r , θ ) rdrdθ
式中,r,θ分别为以光电感应器件感光面中心为原点的极坐标系的坐标分量。
8.如权利要求3所述的非均匀矢量偏振光的测量与评价方法,其特征在于,所述的径向分量方差σR 2
σ R 2 = ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π | s 0 ( r , θ ) + cos ( 2 θ ) s 1 ( r , θ ) + sin ( 2 θ ) s 2 ( r , θ ) - 2 ρ ~ R s 0 ( r , θ ) | rdrdθ 2 ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π s 0 ( r , θ ) rdrdθ
式中,r,θ分别为以光电感应器件感光面中心为原点的极坐标系的坐标分量。
9.如权利要求3所述的非均匀矢量偏振光的测量与评价方法,其特征在于,所述的切向分量方差σθ 2
σ θ 2 = ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π | s 0 ( r , θ ) - cos ( 2 θ ) s 1 ( r , θ ) - sin ( 2 θ ) s 2 ( r , θ ) - 2 ρ ~ θ s 0 ( r , θ ) | rdrdθ 2 ∫ 0 ∞ ∫ 0 2 π s 0 ( r , θ ) rdrdθ
式中,r,θ分别为以光电感应器件感光面中心为原点的极坐标系的坐标分量。
CN201310366128.5A 2013-08-20 2013-08-20 一种非均匀矢量偏振光的测量与评价方法及装置 Expired - Fee Related CN103439001B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310366128.5A CN103439001B (zh) 2013-08-20 2013-08-20 一种非均匀矢量偏振光的测量与评价方法及装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310366128.5A CN103439001B (zh) 2013-08-20 2013-08-20 一种非均匀矢量偏振光的测量与评价方法及装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN103439001A true CN103439001A (zh) 2013-12-11
CN103439001B CN103439001B (zh) 2016-01-20

Family

ID=49692697

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201310366128.5A Expired - Fee Related CN103439001B (zh) 2013-08-20 2013-08-20 一种非均匀矢量偏振光的测量与评价方法及装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN103439001B (zh)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105021284A (zh) * 2015-06-29 2015-11-04 中国人民解放军陆军军官学院 一种快速测量任意空间矢量偏振光空间偏振信息的系统及方法
CN105043551A (zh) * 2015-07-20 2015-11-11 中国科学院合肥物质科学研究院 一种高精度线偏振辐射计
CN106225928A (zh) * 2016-07-08 2016-12-14 南京航空航天大学 一种矢量光束偏振分布检测装置和方法
CN108767644A (zh) * 2018-05-02 2018-11-06 中国科学院上海光学精密机械研究所 基于液晶光调制器的退偏测量与补偿装置
CN110207826A (zh) * 2019-07-03 2019-09-06 中国电子科技集团公司第五十四研究所 一种矢量光束偏振态检测方法
CN110319935A (zh) * 2019-04-09 2019-10-11 北京工业大学 一种刀口法检测径向偏振光纯度的装置及方法
CN112146760A (zh) * 2020-09-28 2020-12-29 浙江大学 一种完全非均匀偏振光的偏振均匀度度量方法、应用、装置、电子设备及存储介质
CN112904580A (zh) * 2021-02-05 2021-06-04 苏州大学 一种产生矢量非均匀关联光束的系统及方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102289128A (zh) * 2011-06-16 2011-12-21 中国人民解放军国防科学技术大学 一种新型二维光束偏转方法及装置
CN102607819A (zh) * 2012-03-31 2012-07-25 中国科学院上海光学精密机械研究所 全光场偏振像差检测装置及检测方法
CN103115683A (zh) * 2013-01-22 2013-05-22 黑龙江工程学院 测量单色光偏振态的方法
WO2013073133A1 (en) * 2011-11-14 2013-05-23 Canon Kabushiki Kaisha Laser processing apparatus, method of laser processing, method of fabricating substrate, and method of fabricating inkjet head

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102289128A (zh) * 2011-06-16 2011-12-21 中国人民解放军国防科学技术大学 一种新型二维光束偏转方法及装置
WO2013073133A1 (en) * 2011-11-14 2013-05-23 Canon Kabushiki Kaisha Laser processing apparatus, method of laser processing, method of fabricating substrate, and method of fabricating inkjet head
CN102607819A (zh) * 2012-03-31 2012-07-25 中国科学院上海光学精密机械研究所 全光场偏振像差检测装置及检测方法
CN103115683A (zh) * 2013-01-22 2013-05-22 黑龙江工程学院 测量单色光偏振态的方法

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105021284A (zh) * 2015-06-29 2015-11-04 中国人民解放军陆军军官学院 一种快速测量任意空间矢量偏振光空间偏振信息的系统及方法
CN105043551A (zh) * 2015-07-20 2015-11-11 中国科学院合肥物质科学研究院 一种高精度线偏振辐射计
CN106225928A (zh) * 2016-07-08 2016-12-14 南京航空航天大学 一种矢量光束偏振分布检测装置和方法
CN108767644A (zh) * 2018-05-02 2018-11-06 中国科学院上海光学精密机械研究所 基于液晶光调制器的退偏测量与补偿装置
CN110319935B (zh) * 2019-04-09 2021-05-25 北京工业大学 一种刀口法检测径向偏振光纯度的装置及方法
CN110319935A (zh) * 2019-04-09 2019-10-11 北京工业大学 一种刀口法检测径向偏振光纯度的装置及方法
CN110207826A (zh) * 2019-07-03 2019-09-06 中国电子科技集团公司第五十四研究所 一种矢量光束偏振态检测方法
CN110207826B (zh) * 2019-07-03 2021-04-20 中国电子科技集团公司第五十四研究所 一种矢量光束偏振态检测方法
CN112146760A (zh) * 2020-09-28 2020-12-29 浙江大学 一种完全非均匀偏振光的偏振均匀度度量方法、应用、装置、电子设备及存储介质
CN112146760B (zh) * 2020-09-28 2021-08-31 浙江大学 一种完全非均匀偏振光的偏振均匀度度量方法、应用、装置、电子设备及存储介质
CN112904580A (zh) * 2021-02-05 2021-06-04 苏州大学 一种产生矢量非均匀关联光束的系统及方法
CN112904580B (zh) * 2021-02-05 2022-03-01 苏州大学 一种产生矢量非均匀关联光束的系统及方法
WO2022166034A1 (zh) * 2021-02-05 2022-08-11 苏州大学 一种产生矢量非均匀关联光束的系统及方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN103439001B (zh) 2016-01-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103439001A (zh) 一种非均匀矢量偏振光的测量与评价方法及装置
WO2015101352A1 (zh) 光的偏振态调制、检测装置及检测方法
CN102706539B (zh) 相位延迟量分布和快轴方位角分布实时测量装置和方法
CN104535192A (zh) 基于旋转波片法的斯托克斯偏振仪误差标定和补偿方法
CN104457995A (zh) 一种快速偏振检测仪和检测方法
CN102654392B (zh) 一种基于阵列式多次反射的滚转角测量装置及方法
CN103712781B (zh) 双折射光楔光轴方向的多入射角偏振干涉测量装置及方法
CN112326201B (zh) 四分之一波片快轴方位角和相位延迟量分布的测量装置和方法
CN104180776A (zh) 基于外差干涉相位法的高分辨率滚转角测量方法及装置
CN104154881B (zh) 望远镜四通轴孔端面平行度误差检测方法
CN106771709A (zh) 一种多端口网络的s参数去嵌入方法
CN101936774B (zh) 偏振检测装置中器件误差的测量方法
CN103033478A (zh) 双折射实时测量装置和测量方法
CN102353916B (zh) 多光束激光外差二次谐波测量磁致伸缩系数的方法
CN102519713A (zh) 基于最小二乘优化的全物理偏振参数的测量装置和方法
CN102620907B (zh) 一种测量光学器件相位延迟角度的方法
CN114018830B (zh) 一种基于液晶偏振光栅的线偏振方向检测方法
CN105403382A (zh) 波片相位延迟量和快轴方位角的测量装置和方法
CN106908002B (zh) 一种基于光谱干涉装置的测量方法
CN108534993A (zh) 一种液晶可变相位延迟器偏振特性检测方法及系统
CN103115683B (zh) 测量单色光偏振态的方法
CN104215432B (zh) 光源偏振状态动态反馈的相位延迟器特性检测装置及方法
CN104236726A (zh) 一种光谱相位干涉装置及超短光脉冲电场直接重构系统
CN203432688U (zh) 一种光谱相位干涉装置及超短光脉冲电场直接重构系统
CN103308175B (zh) 线性双折射测量装置和测量方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20160120

Termination date: 20180820