CN102156136A - 一种pcb底片检测方法 - Google Patents

一种pcb底片检测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN102156136A
CN102156136A CN2011100624800A CN201110062480A CN102156136A CN 102156136 A CN102156136 A CN 102156136A CN 2011100624800 A CN2011100624800 A CN 2011100624800A CN 201110062480 A CN201110062480 A CN 201110062480A CN 102156136 A CN102156136 A CN 102156136A
Authority
CN
China
Prior art keywords
pcb
image
standard picture
negative film
detecting method
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN2011100624800A
Other languages
English (en)
Other versions
CN102156136B (zh
Inventor
吴建锋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Anhui Zhanbang Electronic Technology Co ltd
Original Assignee
ZHEJIANG ZAPON ELECTRONIC TECHNOLOGY CO LTD
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ZHEJIANG ZAPON ELECTRONIC TECHNOLOGY CO LTD filed Critical ZHEJIANG ZAPON ELECTRONIC TECHNOLOGY CO LTD
Priority to CN201110062480.0A priority Critical patent/CN102156136B/zh
Publication of CN102156136A publication Critical patent/CN102156136A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN102156136B publication Critical patent/CN102156136B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Image Processing (AREA)
  • Image Analysis (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

本发明公布了一种PCB底片检测方法,包括以下步骤:1)将目标PCB底片平整放入扫描仪图像扫描区域;2)启动所述扫描仪操作软件,设置扫描图片格式及分辨率,所述目标PCB底片图片只有透光和遮光两种状态,所述操作软件中,“1”表示遮光状态,“0”表示透光状态,对所述目标PCB底片图像进行扫描;3)将标准图像导入,进行灰度处理,所述标准图像的值转换为“1”表示遮光状态,“0”表示透光状态的标准图像;4)将所述目标PCB底片扫描图像与所述标准图像进行差异化对比。采用依照上述实施例的PCB底片的数字图像处理方式,能够精确的检测出PCB底片线路图存在的短路、开路及焊盘缺失等缺陷,及早发现PCB板制造过程中存在的错误,降低报废率,降低PCB制造成本。

Description

一种PCB底片检测方法
技术领域
本发明涉及PCB制造领域,尤其涉及一种PCB底片检测方法。
背景技术
随着电子技术的发展,电子元件朝着小型化高集成化方向发展,PCB板上的线路也越来越精细,使得PCB板制造的品质问题面临巨大挑战。
在PCB板制作过程中,计算机辅助制造(CAM,Computer Aided Manufacturing)工作站中的线路图经激光绘图机(Laser Plotter)输出转移到底片,再经影像转移过程把线路图转移到PCB基板上,可见底片的质量足以决定最终PCB板的质量。而在制造过程中,底片容易出现短路、开路、焊盘缺失等不良缺陷,以上缺陷主要由以下三个原因引起:(1)线路图经激光绘图机输出到底片时出现错误;(2)底片经多次曝光,部分线路图形损坏;(3)人工操作疏忽导致。在PCB板制造过程中,及早发现PCB底片中存在的问题,能有效的提高最终PCB板的良率,节省制造成本。
目前,底片完整性检测主要采用人工目测方式将底片与原设计图进行比较,不仅耗费大量人力和时间,而且检测结果准确率低。
发明内容
本发明针对现有技术中人工目测底片方式效率低和准确率低的不足,提出了一种利用数字图像处理技术对PCB底片进行检测的方法。
为了解决上述技术问题,本发明通过下述技术方案得以解决:一种PCB底片检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1,将目标PCB底片平整放入扫描仪图像扫描区域;
步骤2,启动所述扫描仪操作软件,设置扫描格式及分辨率,设置所述目标PCB底片只有透光和遮光两种状态,在所述操作软件中,“1”表示遮光状态,“0”表示透光状态,对所述目标PCB底片图像进行扫描;
步骤3,将标准PCB底片图像进行灰度处理,所述标准PCB底片的值转换为“1”表示遮光状态,“0”表示透光状态的标准图像;
步骤4,将所述目标PCB底片扫描图像与所述标准图像进行差异化对比。
优选的,将所述目标PCB底片的边角与所述扫描仪扫描区域边沿对齐。
优选的,对所述标准图像进行分割处理。
优选的,获得所述标准图像边框定位信息,图像方向定位信息和最小比较图像标准信息。
优选的,根据所述标准图像的表框定位信息,利用边框定位算法确定所述PCB底片扫描图像的区域边界;根据所述标准图像的方向定位信息,利用方向定位算法确定所述PCB底片扫描图像的初始基准位置,确保PCB底片扫描图像的方向与标准图像的方向一致。
优选的,将所述PCB扫描图像进行与标准图像相同的分割处理,若所述PCB扫描图像与所述标准图像存在不一致像素点,记录该像素点的坐标值,进行缺陷类型判定。
优选的,所述的缺陷类型包含开路、短路或焊盘缺失。
本发明采用数字图像处理方式,能够精确的检测出PCB底片线路图存在的短路、开路及焊盘缺失等缺陷,及早发现PCB板制造过程中存在的错误,降低报废率,降低PCB制造成本。
附图说明
图1所示为依据本发明的一种PCB底片检测方法第一实施例流程图;
图2所示为依据本发明的一种PCB底片检测方法第二实施例流程图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的几个优选实施例进行详细描述,但本发明并不仅仅限于这些实施例。本发明涵盖任何在本发明的精髓和范围上做的替代、修改、等效方法以及方案。为了使公众对本发明有彻底的了解,在以下本发明优选实施例中详细说明了具体的细节,而对本领域技术人员来说没有这些细节的描述也可以完全理解本发明。
参考图1,所示为依据本发明的一种PCB底片检测方法第一实施例流程图,一种PCB底片检测方法,包括以下步骤:
S101:将目标PCB底片平整放入扫描仪图像扫描区域;
S102:启动所述扫描仪操作软件,设置扫描格式及分辨率,设置所述目标PCB底片只有透光和遮光两种状态,在所述操作软件中,“1”表示遮光状态,“0”表示透光状态,对所述目标PCB底片图像进行扫描;
S103:将标准PCB底片图像进行灰度处理,所述标准PCB底片的值转换为“1”表示遮光状态,“0”表示透光状态的标准图像;
S104:将所述目标PCB底片扫描图像与所述标准图像进行差异化对比。
参考图2,所示为依据本发明的一种PCB底片检测方法第二实施例流程图,一种PCB底片检测方法,其步骤如下:
S201:将PCB底片平整的放入扫描仪图像扫描区域,底片的边角与扫描仪区域边沿尽量对齐;
S202:启动扫描仪操作软件,设置图片的扫描格式及分辨率,PCB底片只存在遮光和透光两种状态,在图像处理过程中,“1”表示遮光状态;“0”表示透光状态,因此只需对图片进行灰色度扫描,扫描完成后,将PCB底片扫描图像存储与计算机中;
S203:在计算机中打开依据数字图像处理算法实现的PCB底片检测专用软件;
S204:导入计算机辅助制造工作站中产生的PCB板的标准图像,系统对标准图像进行预处理,其包括:1)对标准图像进行与PCB底片扫描图像对应的灰色度处理,将图像颜色值转换为“1”表示遮光状态,“0”表示透光状态的灰色度图像;2)将标准图像进行图像分割处理,如将图像分割成128,256,512,......4096小块进行比较,以便实现精确图像比较;3)获得PCB图像边框定位信息,PCB图像方向定位信息和最小比较图像标准信息;
S205:导入PCB底片扫描图像,采用中值滤波算法滤去扫描过程中的噪声和伪图像,只取灰色度处理后表示图像状态的“0”,“1”和表示像素坐标点的值;
S206:根据标准图像的表框定位信息,利用边框定位算法确定PCB底片扫描图像的区域边界;
S207:根据标准图像的方向定位信息,利用方向定位算法确定底片扫描图像的初始基准位置,确保PCB底片扫描图像的方向与标准图像的方向一致;
S208:将PCB底片扫描图像作分割处理,对照标准图像分割信息,根据图像差异化比较算法,依次遍历比较每一个最小分割图像的图像差异,从而实现PCB底片上线路图完整性的缺陷检测,判断出缺陷的类型为线路图开路,短路还是焊盘缺失;
S209:结束PCB底片检测,打印检测报告,若存在差异,则给出缺陷类型及缺陷的像素点坐标值。
采用依照上述实施例的PCB底片的数字图像处理方式,能够精确的检测出PCB底片线路图存在的短路、开路及焊盘缺失等缺陷,及早发现PCB板制造过程中存在的错误,降低报废率,降低PCB制造成本。
依照本发明的实施例如上文所述,这些实施例并没有详尽叙述所有的细节,也不限制该发明仅为所述的具体实施例。显然,根据以上描述,可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例,是为了更好地解释本发明的原理和实际应用,从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本发明以及在本发明基础上的修改使用。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

Claims (7)

1.一种PCB底片检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1,将目标PCB底片平整放入扫描仪图像扫描区域;
步骤2,启动扫描仪操作软件,设置扫描格式及分辨率,设置所述目标PCB底片只有透光和遮光两种状态,在所述操作软件中,“1”表示遮光状态,“0”表示透光状态,对所述目标PCB底片图像进行扫描;
步骤3,将标准PCB底片图像进行灰度处理,所述标准PCB底片的值转换为“1”表示遮光状态,“0”表示透光状态的标准图像;
步骤4,将所述目标PCB底片扫描图像与所述标准图像进行差异化对比。
2.根据权利要求1所述的一种PCB底片检测方法,其特征在于,所述步骤1进一步包括:将所述目标PCB底片的边角与所述扫描仪扫描区域边沿对齐。
3.根据权利要求1所述的一种PCB底片检测方法,其特征在于:所述步骤2进一步包括:根据所述标准图像的表框定位信息,利用边框定位算法确定所述PCB底片扫描图像的区域边界;根据所述标准图像的方向定位信息,利用方向定位算法确定所述PCB底片扫描图像的初始基准位置,确保PCB底片扫描图像的方向与标准图像的方向一致。
4.根据权利要求1所述的一种PCB底片检测方法,其特征在于:所述步骤2进一步包括:将所述PCB扫描图像进行与标准图像相同的分割处理,若所述PCB扫描图像与所述标准图像存在不一致像素点,记录该像素点的坐标值,进行缺陷类型判定。
5.根据权利要求4所述的一种PCB底片检测方法,其特征在于:所述的缺陷类型包含开路、短路或焊盘缺失。
6.根据权利要求1所述的一种PCB底片检测方法,其特征在于,所述步骤3进一步包括:对所述标准图像进行分割处理。
7.根据权利要求1所述的一种PCB底片检测方法,其特征在于,所述步骤3进一步包括:获得所述标准图像边框定位信息,图像方向定位信息和最小比较图像标准信息。
CN201110062480.0A 2011-03-14 2011-03-14 一种pcb底片检测方法 Active CN102156136B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201110062480.0A CN102156136B (zh) 2011-03-14 2011-03-14 一种pcb底片检测方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201110062480.0A CN102156136B (zh) 2011-03-14 2011-03-14 一种pcb底片检测方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN102156136A true CN102156136A (zh) 2011-08-17
CN102156136B CN102156136B (zh) 2015-12-02

Family

ID=44437710

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201110062480.0A Active CN102156136B (zh) 2011-03-14 2011-03-14 一种pcb底片检测方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN102156136B (zh)

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103217429A (zh) * 2012-01-19 2013-07-24 昆山思拓机器有限公司 软板检测分区对位校正方法
CN103364402A (zh) * 2012-04-05 2013-10-23 川宝科技股份有限公司 判断印刷电路板底片是否存在装配误差的系统及方法
CN103837551A (zh) * 2014-02-21 2014-06-04 上海华力微电子有限公司 芯片按透明度分区进行缺陷检测的方法
CN104535587A (zh) * 2014-12-23 2015-04-22 安徽科鸣三维科技有限公司 一种基于机器视觉的pcba焊点检测方法
CN106093055A (zh) * 2016-08-22 2016-11-09 福州觉感视觉软件科技有限公司 一种单张菲林质量检测方法及复数张菲林质量检测方法
CN103217427B (zh) * 2012-01-19 2017-06-06 昆山思拓机器有限公司 柔性线路板激光加工后的检测方法
CN103217421B (zh) * 2012-01-19 2017-09-08 昆山思拓机器有限公司 软板检测分区对位的校正方法
CN108279237A (zh) * 2018-01-02 2018-07-13 京东方科技集团股份有限公司 一种光学检测系统及检测方法
CN108393273A (zh) * 2017-12-22 2018-08-14 苏州信立盛电子有限公司 一种pcb板的外观检测方法
CN111859846A (zh) * 2020-06-21 2020-10-30 苏州浪潮智能科技有限公司 一种pcb的底片对比方法、系统、设备以及介质
CN111882547A (zh) * 2020-07-30 2020-11-03 佛山市南海区广工大数控装备协同创新研究院 一种基于神经网络的pcb漏件检测方法
CN114324405A (zh) * 2021-12-29 2022-04-12 安徽中科锟铻量子工业互联网有限公司 基于菲林检测的数据标注系统
CN116703926A (zh) * 2023-08-08 2023-09-05 苏州思谋智能科技有限公司 缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1276577A (zh) * 1999-06-02 2000-12-13 松下电器产业株式会社 图案缺陷检测方法
US20020027941A1 (en) * 2000-08-25 2002-03-07 Jerry Schlagheck Method and apparatus for detection of defects using localized heat injection of narrow laser pulses
CN1673992A (zh) * 2004-03-24 2005-09-28 力晶半导体股份有限公司 一种缺陷数据库建立方法
CN101793843A (zh) * 2010-03-12 2010-08-04 华东理工大学 基于连接表的印刷线路板自动光学检测算法
CN101832950A (zh) * 2010-04-28 2010-09-15 深圳创维-Rgb电子有限公司 一种pcb板质量检测方法、系统及装置
CN101915769A (zh) * 2010-06-29 2010-12-15 华南理工大学 一种印刷电路板中带电阻元件的自动光学检测方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1276577A (zh) * 1999-06-02 2000-12-13 松下电器产业株式会社 图案缺陷检测方法
US20020027941A1 (en) * 2000-08-25 2002-03-07 Jerry Schlagheck Method and apparatus for detection of defects using localized heat injection of narrow laser pulses
CN1673992A (zh) * 2004-03-24 2005-09-28 力晶半导体股份有限公司 一种缺陷数据库建立方法
CN101793843A (zh) * 2010-03-12 2010-08-04 华东理工大学 基于连接表的印刷线路板自动光学检测算法
CN101832950A (zh) * 2010-04-28 2010-09-15 深圳创维-Rgb电子有限公司 一种pcb板质量检测方法、系统及装置
CN101915769A (zh) * 2010-06-29 2010-12-15 华南理工大学 一种印刷电路板中带电阻元件的自动光学检测方法

Cited By (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103217427B (zh) * 2012-01-19 2017-06-06 昆山思拓机器有限公司 柔性线路板激光加工后的检测方法
CN103217421B (zh) * 2012-01-19 2017-09-08 昆山思拓机器有限公司 软板检测分区对位的校正方法
CN103217429B (zh) * 2012-01-19 2017-06-06 昆山思拓机器有限公司 软板检测分区对位校正方法
CN103217429A (zh) * 2012-01-19 2013-07-24 昆山思拓机器有限公司 软板检测分区对位校正方法
CN103364402A (zh) * 2012-04-05 2013-10-23 川宝科技股份有限公司 判断印刷电路板底片是否存在装配误差的系统及方法
CN103837551B (zh) * 2014-02-21 2016-04-20 上海华力微电子有限公司 芯片按透明度分区进行缺陷检测的方法
CN103837551A (zh) * 2014-02-21 2014-06-04 上海华力微电子有限公司 芯片按透明度分区进行缺陷检测的方法
CN104535587A (zh) * 2014-12-23 2015-04-22 安徽科鸣三维科技有限公司 一种基于机器视觉的pcba焊点检测方法
CN106093055A (zh) * 2016-08-22 2016-11-09 福州觉感视觉软件科技有限公司 一种单张菲林质量检测方法及复数张菲林质量检测方法
CN106093055B (zh) * 2016-08-22 2020-04-24 福州觉感视觉软件科技有限公司 一种复数张菲林质量检测方法
CN108393273A (zh) * 2017-12-22 2018-08-14 苏州信立盛电子有限公司 一种pcb板的外观检测方法
CN108279237A (zh) * 2018-01-02 2018-07-13 京东方科技集团股份有限公司 一种光学检测系统及检测方法
CN111859846A (zh) * 2020-06-21 2020-10-30 苏州浪潮智能科技有限公司 一种pcb的底片对比方法、系统、设备以及介质
CN111859846B (zh) * 2020-06-21 2022-08-23 苏州浪潮智能科技有限公司 一种pcb的底片对比方法、系统、设备以及介质
CN111882547A (zh) * 2020-07-30 2020-11-03 佛山市南海区广工大数控装备协同创新研究院 一种基于神经网络的pcb漏件检测方法
CN114324405A (zh) * 2021-12-29 2022-04-12 安徽中科锟铻量子工业互联网有限公司 基于菲林检测的数据标注系统
CN114324405B (zh) * 2021-12-29 2022-11-08 安徽中科锟铻量子工业互联网有限公司 基于菲林检测的数据标注系统
CN116703926A (zh) * 2023-08-08 2023-09-05 苏州思谋智能科技有限公司 缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质
CN116703926B (zh) * 2023-08-08 2023-11-03 苏州思谋智能科技有限公司 缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质

Also Published As

Publication number Publication date
CN102156136B (zh) 2015-12-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102156136A (zh) 一种pcb底片检测方法
JP4073265B2 (ja) 検査装置及び検査方法
CN105957059B (zh) 电子元件漏件检测方法和系统
CN107014819A (zh) 一种太阳能电池板表面缺陷检测系统和方法
CN110400315A (zh) 一种缺陷检测方法、装置及系统
CN106778730A (zh) 一种用于快速生成ocr训练样本的自适应方法及系统
CN111626912B (zh) 水印去除方法及装置
CN111861980B (zh) 一种成像检测方法、电子设备及计算机可读存储介质
CN111982933B (zh) 一种涂覆缺陷检测系统及装置
JP2010231686A (ja) 画像からの文書領域抽出装置、方法、及びプログラム
CN102592302B (zh) 数字化卡通智能动检系统及动检方法
CN117274258B (zh) 主板图像的缺陷检测方法、系统、设备及存储介质
US9204130B2 (en) Method and system for creating a three dimensional representation of an object
CN114280058A (zh) 一种基于光栅投影的耐火砖表面缺陷检测方法
CN115564723A (zh) 一种晶圆缺陷检测方法及应用
CN111462246B (zh) 一种结构光测量系统的设备标定方法
CN116777877A (zh) 电路板缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质
JP2012002663A (ja) パターン検査装置およびパターン検査方法
JP2003166814A (ja) 形状検査装置
CN117830251A (zh) 缺陷分析方法、缺陷分析装置及电子设备
CN116152066B (zh) 一种元件完整形貌的点云检测方法、系统、设备及介质
CN116542974B (zh) 一种基于多尺度网格化的覆铜板表面缺陷检测方法
JP2010145145A (ja) 回路パターン検査装置および検査方法およびテストパターン
CN115994952B (zh) 环视影像系统的标定方法、装置、计算机设备及存储介质
CN116993654B (zh) 摄像头模组缺陷检测方法、装置、设备、存储介质及产品

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
DD01 Delivery of document by public notice

Addressee: Wu Jianfeng

Document name: Notification of Passing Examination on Formalities

C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
PE01 Entry into force of the registration of the contract for pledge of patent right

Denomination of invention: A PCB negative detection method

Effective date of registration: 20210628

Granted publication date: 20151202

Pledgee: China Minsheng Banking Corp Wenzhou branch

Pledgor: ZHEJIANG ZAPON ELECTRONIC TECHNOLOGY Co.,Ltd.

Registration number: Y2021980005254

PE01 Entry into force of the registration of the contract for pledge of patent right
PC01 Cancellation of the registration of the contract for pledge of patent right

Granted publication date: 20151202

Pledgee: China Minsheng Banking Corp Wenzhou branch

Pledgor: ZHEJIANG ZAPON ELECTRONIC TECHNOLOGY Co.,Ltd.

Registration number: Y2021980005254

PC01 Cancellation of the registration of the contract for pledge of patent right
TR01 Transfer of patent right
TR01 Transfer of patent right

Effective date of registration: 20240905

Address after: No. 31 Pengju Road, Guangde Economic Development Zone, Xuancheng City, Anhui Province, 242200

Patentee after: Anhui Zhanbang Electronic Technology Co.,Ltd.

Country or region after: China

Address before: 325016 Quxi high tech Industrial Park, Ouhai, Wenzhou City, Zhejiang Province

Patentee before: ZHEJIANG ZAPON ELECTRONIC TECHNOLOGY Co.,Ltd.

Country or region before: China