CN102135645B - 光开关系统和信号光的反馈控制方法 - Google Patents

光开关系统和信号光的反馈控制方法 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种光开关系统和信号光的反馈控制方法，光开关系统包括输入光纤、输出光纤和光输出控制模块，还包括半透半反模块、成像模块、判断模块和控制模块，半透半反模块设置在光开关系统的信号光传播路径中，并用于通过透射的方式截取与信号光传播路径相同且经过光输出控制模块调制后输出的测试光；成像模块用于获取测试光并依次生成对应的初始光路信息和采样光路信息，并将初始光路信息及采样光路信息依次传输给判断模块；判断模块用于记录所述初始光路信息，并将采样光路信息与初始光路信息进行比较；控制模块用于根据比较结果对光输出控制模块进行控制。本发明还提供一种信号光的反馈控制方法。本发明相比于现有技术大大降低了成本代价。

Description

光开关系统和信号光的反馈控制方法
技术领域
本发明涉及光电技术，尤其涉及一种光开关系统和信号光的反馈控制方法。 
背景技术
随着光纤到户(Fiber To Home；以下简称：FTTH)技术的迅速发展，其市场规模巨大，接入网中涉及的终端用户和光链路分支分布复杂，且整个网络采用全光纤布线，无法利用电信号进行监控和运维，因此需要利用光链路检测系统来进行网络维护的监测，确保网络质量。目前监测系统中主要采用光时域反射计(Optical Time Domain Reflectometer；以下简称：OTDR)来探测链路性能，但其成本较高，因此采用1*N光开关通过N个接入端来降低使用成本。 
为保证光开关长期工作的稳定性，通常在光开关系统中增加反馈机制来确保光开关的选择与出厂设定的参数一致，从而保证光开关在工作一定时间后其光学性能不发生任何改变。现有技术中通过在输出端增加耦合器(Tap)和光电探测器(Photodetector；以下简称：PD)进行监测，如图1所示为现有技术中机械式光开关的反馈结构示意图，其主要在输入输出光纤上均设置Tap和PD，以探测整个光路的光能量是否满足设计要求，当出现实际情况与要求不一致时，反馈模块则通知控制模块继续调整光路，以选择最佳光路。 
然而，现有技术的光开关系统每个支路均需要一个Tap和PD，成本较高，且整机设计复杂且体积较大，尤其对于大分支比的光开关来说上述问题显得尤为突出。 
发明内容
本发明实施例在于提供一种光开关系统和信号光的反馈控制方法，实现整个光路的精确定位的同时，降低成本代价，减小反馈控制对光学性能的影响。 
为了实现上述目的，本发明实施例提供了一种光开关系统，包括输入光纤、输出光纤和光输出控制模块，信号光经所述输入光纤射出后经过光输出控制模块调制之后射入所述输出光纤中，所述光开关系统还包括半透半反模块、成像模块、判断模块和控制模块，其中： 
所述半透半反模块设置在所述光开关系统的信号光传播路径中，并用于通过透射的方式截取与所述信号光传播路径相同且经过光输出控制模块调制后输出的测试光； 
所述成像模块用于获取所述测试光并依次生成对应的初始光路信息和采样光路信息，并将所述初始光路信息及采样光路信息依次传输给判断模块； 
所述判断模块用于记录所述初始光路信息，并将所述成像模块生成的采样光路信息与所述初始光路信息进行比较，并将比较结果输出至所述控制模块； 
所述控制模块用于根据所述判断模块的比较结果对所述光输出控制模块进行控制； 
所述光输出控制模块包括微透镜阵列、主透镜和一个微机电系统反射镜，所述信号光经所述微透镜阵列透射后经过所述半透半反模块反射到所述主透镜，由所述主透镜透射后的信号光经所述微机电系统反射镜反射处理后返回到所述主透镜； 
所述控制模块具体用于根据所述判断模块的比较结果对所述微机电系统反射镜的旋转角度进行控制，以确定光开关的最佳光路。 
本发明实施例提供了一种信号光的反馈控制方法，所述方法应用于光开关系统中，所述光开关系统包括输入光纤、输出光纤、光输出控制模块、半透半反模块、成像模块、判断模块和控制模块，信号光经所述输入光纤射出后经过光输出控制模块调制之后射入所述输出光纤中，所述光输出控制模块包括微透镜阵列、主透镜和一个微机电系统反射镜，所述信号光经所述微透镜阵列透射后经过所述半透半反模块反射到所述主透镜，由所述主透镜透射后的信号光经所述微机电系统反射镜反射处理后返回到所述主透镜；其中， 所述方法包括： 
所述半透半反模块通过透射的方式截取与所述信号光传播路径相同且经过光输出控制模块调制后输出的测试光； 
所述成像模块获取所述测试光并依次生成对应的初始光路信息和采样光路信息，并将所述初始光路信息及采样光路信息依次传输给判断模块； 
所述判断模块记录所述初始光路信息，并将所述成像模块生成的采样光路信息与所述初始光路信息进行比较，并将比较结果输出至所述控制模块； 
所述控制模块根据所述判断模块的比较结果对所述微机电系统反射镜的旋转角度进行控制，以确定光开关的最佳光路。 
本发明实施例提供的一种光开关系统和信号光的反馈控制方法，通过设置半透半反模块和成像模块，由半透半反模块将一小部分信号光透射到成像模块中，便可实现对光开关系统输出的信号光的反馈控制，并根据反馈结果对光开关系统的光输出控制模块进行调整控制，以确定光开关的最佳光路；本实施例能够实现在光开关中整个光路的精确定位，相比于现有技术大大降低了成本代价，减小了反馈控制对光开关系统的光学性能的影响。 
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。 
图1为现有技术中机械式光开关的反馈结构示意图； 
图2为本发明光开关系统实施例一的结构示意图； 
图3为本发明光开关系统实施例二中光开关的工作原理示意图； 
图4为本发明光开关系统实施例三中光开关的工作原理示意图； 
图5为本发明信号光的反馈控制方法实施例的流程图。 
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于 本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。 
图2为本发明光开关系统实施例一的结构示意图，如图2所示，本实施例提供了一种光开关系统，该光开关系统可以具体应用于微机电系统(MicroElectro Mechanical Systems；以下简称：MEMS)式光开光，其可以具体包括输入光纤1、输出光纤2和光输出控制模块3，信号光经输入光纤1射出后经过光输出控制模块3调制之后射入输出光纤2中。本实施例提供的光开关系统还可以包括半透半反模块4、成像模块5、判断模块6和控制模块7。其中，半透半反模块4设置在光开关系统的信号光传播路径中，并通过透射的方式截取与信号光传播路径相同且经过光输出控制模块调制后输出的测试光，具体用于对从输入光纤1输出的信号光进行反射处理，被反射的信号光经过光输出控制模块3的调制处理。半透半反模块4将部分所述信号光反射至输出光纤2中，并允许剩余的信号光经该半透半反模块4透射至成像模块5上。具体地，本实施例中的半透半反模块4位于输入光纤1的光输入端，由光输出控制模块3调制后的信号光经半透半反模块4反射至输出光纤2的光输入端，且信号光由输入光纤1输出后经半透半反模块4反射至光输出控制模块3。在本实施例中，被半透半反模块4反射的信号光可以为用于测试光路的激光，也可以为业务光；当其为业务光时，则只将业务光中的一小部分进行反射处理，大部分业务光则输出到输出光纤2中，且半透半反模块4上所镀的反射膜则根据所反射的信号光波长不同来选择相匹配的反射膜。成像模块5用于获取测试光并依次生成对应的初始光路信息和采样光路信息，并将所述初始光路信息及采样光路信息依次传输给判断模块6。另外，需要指出的是，本实施例的光开关系统还可以包括与成像模块5相连的存储模块(图中未示出)，由该存储模块来记录每条支路的初始光路信息以及采样光路信息。成像模块5可以是光耦合器件(Charge-coupled Device；以下简称：CCD)或者互补金属半导体氧化物(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor；以下简称：CMOS)。判断模块6用于记录所述初始光路信息，成像模块5生成的采样光路信息与所述初始光路信息进行比较，并将比较结果发送到控制模块7。控制模块7用于根据比较结果对光输出控制模块3进行控制，即当比较结果为采样光路信息与初始光路信息误差不在预定误差范围内，则对光输出控制模块3进行控制，调整其输出反射角度，直到调整后输出的采样光路信息与初始光路信息之间的误差落在预定的误差范围内。 
在本实施例中，输入的信号光先进入输入光纤1中，从输入光纤1输出的信号光到达半透半反模块4，半透半反模块4将该信号光反射到光输出控制模块3中，经过光输出控制模块3的控制处理后生成输出的光信号，输出的信号光先经过半透半反模块的反射和透射处理，一大部分光被反射到输出光纤2中，而一小部分光被透射到成像模块5中；成像模块5对透射的信号光进行成像并生成采样光路信息，并将存储模块记录的初始光路信息和采样光路信息输出到判断模块6；由判断模块6将初始光路信息和采样光路信息进行比较，并将比较结果发送到控制模块7；由控制模块7根据比较结果对光输出控制模块3进行控制，以实现光开关的最佳光路的确定。 
本实施例提供了一种光开关系统，通过设置半透半反模块和成像模块，由半透半反模块将一小部分信号光透射到成像模块中，便可实现对光开关系统输出的信号光的反馈控制，并根据反馈结果对光开关系统的光输出控制模块进行调整控制，以确定光开关的最佳光路；本实施例能够实现在光开关中整个光路的精确定位，相比于现有技术大大降低了成本代价，减小了反馈控制对光开关系统的光学性能的影响。 
图3为本发明光开关系统实施例二中光开关的工作原理示意图，如图3所示，本实施例中的光开关系统具体应用于MEMS光开关，其为1*N的MEMS光开关。在本实施例中，上述光输出控制模块具体包括微透镜阵列31、主透镜32和微机电系统MEMS反射镜33，输入光纤和输出光纤组成光纤阵列。本 实施例中的输入光纤及输出光纤为阵列式排布；其中包括一根输入光纤位于阵列的中间，多根输出光纤分布在所述输入光纤的外围。本实施例中的光纤阵列为根据一定规律和要求排列而成的光纤组，即满足一定间距要求的光纤组，图3中光纤阵列中位于中心的光纤为输入光纤，其余为输出光纤。微透镜阵列31由多个微型透镜组成，微型透镜的直径通常小于1mm，每个微型透镜与每个光纤的光入射端面一一对应。具体地，本实施例中的光纤阵列和透镜阵列可以为一维阵列即，横向一排或者竖向一列的排布方式，也可以为二维阵列，当其为二维阵列时，则相应地MEMS反射镜在三维空间内变向或者转动，用以改变光线的反射路径。主透镜32为普通光学透镜，其可以为单个透镜或透镜组，也可以为球面或非球面透镜。MEMS反射镜33是指利用MEMS技术制作的电子芯片，其通过电压、电流或其他参数控制芯片上的镜面进行转动。 
当光开关工作时，光纤阵列中位于最中间的光路为输入端，输入的信号光经过微透镜阵列和主透镜后，射向MEMS反射镜中心；然后通过控制MEMS反射镜的转动角度，输出的信号光以特定角度输出，输出的信号光经过主透镜转换成平行光后利用微透镜阵列中的透镜进行整形和收缩，最后进入特定输出端的光纤，从而实现1*N光开关的光路选择。 
本实施例中的光开关系统的信号光可以具体为具有工作波长的业务光，半透半反模块4可以具体为镀有与工作光线波长相匹配的膜系的反射镜或棱镜，具体用于对经过输入光纤1和微透镜阵列31的业务光的光路进行垂直变换，如图中所示将输入的业务光的光路进行90度的变换，以将业务光反射到主透镜32中；还用于对经过微机电系统反射镜33和主透镜32反射处理的业务光中占第一比例的光的光路进行垂直变换，如图中所示将主透镜输出的业务光也进行90度的变换，以将输出的业务光中占第一比例的光反射到输出光纤2中，将业务光中占第二比例的光透射到成像模块5中。其中，第一比例与第二比例之和为1，第一比例远大于第二比例，通常可以将第一比例和第 二比例分别设置为95％和5％，即通过半透半反模块4将输出的业务光中的一大部分光反射到输出光纤2中，而将一小部分光进行透射处理，进而到达成像模块5中。其中，前述实施例中所述的测试光具体为此处的业务光中占第二比例的光。在本实施例中，当光开关工作时，经过镀在半透半反模块4上的特定反射膜的反射处理后，其中小部分业务光被透射到成像模块5，而绝大部分光从输出光纤2输出。被反射膜透射的小部分业务光到达成像模块5后，成像模块5对输入其中的业务光进行探测处理，并生成采样光路信息，此处可以具体为获取到光斑信息，并将存储模块记录的初始光斑与探测到的光斑信息发送到判断模块6。判断模块6将初始光斑和探测光斑进行对比，判断二者是否吻合，如判断二者的位置、大小等是否一致。控制模块7则用于根据判断模块6生成的比较结果对MEMS反射镜的旋转角度进行控制，直到探测光斑与初始光斑吻合时，最终确定光开关的光路最佳。 
本实施例提供了一种光开关系统，具体应用于MEMS光开关，通过设置半透半反模块和成像模块，由半透半反模块将一小部分信号光透射到成像模块中，便可实现对光开关系统输出的信号光的反馈控制，并根据反馈结果对光开关系统的光输出控制模块进行调整控制，以确定光开关的最佳光路；本实施例能够实现在光开关中整个光路的精确定位，相比于现有技术大大降低了成本代价，减小了反馈控制对光开关系统的光学性能的影响。 
图4为本发明光开关系统实施例三中光开关的工作原理示意图，如图4所示，本实施例提供了一种光开关系统，本实施例中的光开关系统与上述图3所示的实施例相比，在本实施例中，光开关系统可以包括内置激光光源(Laser Source；以下简称：LD)8和合波器9，LD 8用于输出激光，合波器9用于将LD 8输出的激光输入到输入光纤中。合波器9通常可以为三端口的波分复用器(Wavelength Division Multiplexing；以下简称：WDM)，也可以为其他无源光器件，如环行器等。本实施例中的光开关系统的信号光可以包括激光和业务光，激光具有非工作波长，用于对光开关系统进行测试，其 中，前述实施例中所述的测试光具体为此处的激光，半透半反模块4上镀有与激光的非工作波长相匹配的反射膜，具体将激光全部透射到成像模块5中，而将业务光全部反射到输出光纤2。 
具体地，本实施例中的半透半反模块4具体用于对经过输入光纤1和微透镜阵列31的业务光和激光的光路进行垂直变换，将二者的光路均进行90度的变换，以将业务光和激光均反射到主透镜32中；还用于对经过微机电系统反射镜33和主透镜32反射处理的业务光的光路进行垂直变换，以将业务光全部反射到输出光纤2中，而将经过微机电系统反射镜33和主透镜32反射处理的激光透射到成像模块5中。由成像模块5对激光进行探测处理，使得业务光不被影响。 
在本实施例中，当光开关开始工作上电时，LD 8输出激光，激光通过合波器9与业务光一起输入到输入光纤1中，再经过与输入光纤1的光纤通道对应的微透镜阵列31中的微透镜的处理，入射到反射镜上；经过反射镜的反射处理后，激光和业务光被垂直变换到达主透镜32，再经过主透镜32处理后入射到MEMS反射镜33上，MEMS反射镜33根据初始设置其偏转角度。激光和业务光经过MEMS反射镜33反射后，先经过主透镜32入射到反射镜上；反射镜将业务光全部反射到输出光纤2中，而将激光全部透射到成像模块5；成像模块5根据获取的激光生成采样光路信息，具体为探测光斑，将记录的初始光斑和探测到的光斑发送到判断模块6中。判断模块6将进行初始光斑和探测光斑比较，判断当前是否需要纠正MEMS反射镜的偏转角度，当探测光斑与初始光斑不吻合，且偏差较大时，则表明需要纠正偏转角度，否则表明光开关处于稳定工作状态，无需调整MEMS的旋转角度。判断模块6具体可以根据比较过程生成比较结果，比较结果为探测光斑与初始光斑的偏差，将比较结果发送到控制模块7。控制模块7根据比较结果控制MEMS反射镜33的偏转，并进一步重复上述过程获取偏转后的比较结果，当探测到的光斑与初始光斑吻合时，则最终确定此时光开关的光路为最佳。 
本实施例提供了一种光开关系统，通过设置半透半反模块和成像模块，由半透半反模块将一小部分信号光透射到成像模块中，便可实现对光开关系统输出的信号光的反馈控制，并根据反馈结果对光开关系统的光输出控制模块进行调整控制，以确定光开关的最佳光路；本实施例能够实现在光开关中整个光路的精确定位，相比于现有技术大大降低了成本代价，减小了反馈控制对光开关系统的光学性能的影响。 
图5为本发明信号光的反馈控制方法实施例的流程图，如图5所示，本实施例提供了一种信号光的反馈控制方法，该方法应用于上述图2-图4所示的光开关系统中，此处不再赘述。由上述实施例可知，该光开关系统包括输入光纤、输出光纤、光输出控制模块、半透半反模块、成像模块、判断模块和控制模块，信号光经所述输入光纤射出后经过光输出控制模块调制之后射入所述输出光纤中。其中，本实施例的信号光的反馈控制方法可以具体包括如下步骤： 
步骤501，半透半反模块通过透射的方式截取与所述信号光传播路径相同且经过光输出控制模块调制后输出的测试光。 
步骤502，成像模块获取所述测试光并依次生成对应的初始光路信息和采样光路信息，并将所述初始光路信息及采样光路信息依次传输给判断模块。 
步骤503，判断模块记录所述初始光路信息，并将所述成像模块生成的采样光路信息与所述初始光路信息进行比较，并将比较结果输出至所述控制模块。 
步骤504，控制模块根据判断模块的比较结果对所述光输出控制模块进行控制。 
本实施例提供了一种信号光的反馈控制方法，通过设置半透半反模块和成像模块，由半透半反模块将一小部分信号光透射到成像模块中，成像模块将探测的采样光路信息和初始光路信息发送到判断模块，判断模块对采样光路信息和初始光路信息进行比较后，控制模块根据比较结果对光输出模块进 行相应的控制，便可实现对光开关系统输出的信号光的反馈控制，并根据反馈结果对光开关系统的光输出控制模块进行调整控制，以确定光开关的最佳光路；本实施例能够实现在大分支比光开关中整个光路的精确定位，相比于现有技术大大降低了成本代价，减小了反馈控制对光开关系统的光学性能的影响。 
本领域普通技术人员可以理解：实现上述方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成，前述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，执行包括上述方法实施例的步骤；而前述的存储介质包括：ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。 
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明实施例技术方案的精神和范围。 

Claims (7)

1.一种光开关系统，包括输入光纤、输出光纤和光输出控制模块，信号光经所述输入光纤射出后经过光输出控制模块调制之后射入所述输出光纤中，其特征在于，所述光开关系统还包括半透半反模块、成像模块、判断模块和控制模块，其中：
所述半透半反模块设置在所述光开关系统的信号光传播路径中，并用于通过透射的方式截取与所述信号光传播路径相同且经过光输出控制模块调制后输出的测试光；所述通过透射的方式截取与所述信号光传播路径相同且经过光输出控制模块调制后输出的测试光，包括：将所述信号光反射到所述光输出控制模块中，并对经过所述光输出控制模块的信号光中占第一比例的光的光路进行垂直变换，以将所述信号光中占第一比例的光反射到所述输出光纤中，将所述信号光中占第二比例的光透射到所述成像模块中，其中，所述第一比例与所述第二比例之和为1，所述第一比例大于所述第二比例，所述测试光具体为所述信号光中占第二比例的光；
所述成像模块用于获取所述测试光并依次生成对应的初始光路信息和采样光路信息，并将所述初始光路信息及采样光路信息依次传输给判断模块；
所述判断模块用于记录所述初始光路信息，并将所述成像模块生成的采样光路信息与所述初始光路信息进行比较，并将比较结果输出至所述控制模块；
所述控制模块用于根据所述判断模块的比较结果对所述光输出控制模块进行控制；
所述光输出控制模块包括微透镜阵列、主透镜和一个微机电系统反射镜，所述信号光经所述微透镜阵列透射后经过所述半透半反模块反射到所述主透镜，由所述主透镜透射后的信号光经所述微机电系统反射镜反射处理后返回到所述主透镜；
所述控制模块具体用于根据所述判断模块的比较结果对所述微机电系统反射镜的旋转角度进行控制，以确定光开关的最佳光路。
2.根据权利要求1所述的光开关系统，其特征在于，所述输入光纤及输出光纤为阵列式排布；其中包括一根输入光纤和多根输出光纤，所述输入光纤位于阵列的中间，所述多根输出光纤分布在所述输入光纤的外围。
3.根据权利要求2所述的光开关系统，其特征在于，所述半透半反模块位于所述输入光纤的光输入端，由所述光输出控制模块调制后的信号光经所述半透半反模块反射至所述输出光纤的光输入端。
4.根据权利要求3所述的光开关系统，其特征在于，所述信号光由所述输入光纤输出后经所述半透半反模块反射至所述光输出控制模块。
5.根据权利要求1所述的光开关系统，其特征在于，所述信号光为具有工作波长的业务光；
所述半透半反模块为镀有与所述工作波长相匹配的膜系的光学镜片，具体用于对经过所述输入光纤和微透镜阵列的业务光的光路进行垂直变换。
6.根据权利要求1所述的光开关系统，其特征在于，所述信号光包括具有非工作波长的激光和具有工作波长的业务光，所述测试光具体为所述激光；
所述光开关系统还包括内置激光光源和合波器，所述内置激光光源用于输出所述激光，所述合波器用于将所述激光输入到所述输入光纤中；
所述半透半反模块为镀有与所述非工作波长相匹配的反射膜的反射镜，具体用于对经过所述输入光纤和微透镜阵列的业务光和激光的光路进行垂直变换，以将所述业务光和激光反射到所述主透镜中，并对经过所述微机电系统反射镜和所述主透镜反射处理的业务光的光路进行垂直变换，以将所述业务光反射到所述输出光纤中，将经过所述微机电系统反射镜和所述主透镜反射处理的激光透射到所述成像模块中。
7.一种信号光的反馈控制方法，其特征在于，所述方法应用于光开关系统中，所述光开关系统包括输入光纤、输出光纤、光输出控制模块、半透半反模块、成像模块、判断模块和控制模块，信号光经所述输入光纤射出后经过光输出控制模块调制之后射入所述输出光纤中，所述光输出控制模块包括微透镜阵列、主透镜和一个微机电系统反射镜，所述信号光经所述微透镜阵列透射后经过所述半透半反模块反射到所述主透镜，由所述主透镜透射后的信号光经所述微机电系统反射镜反射处理后返回到所述主透镜；其中，所述方法包括：
所述半透半反模块通过透射的方式截取与所述信号光传播路径相同且经过光输出控制模块调制后输出的测试光，所述通过透射的方式截取与所述信号光传播路径相同且经过光输出控制模块调制后输出的测试光，包括：将所述信号光反射到所述光输出控制模块中，并对经过所述光输出控制模块的信号光中占第一比例的光的光路进行垂直变换，以将所述信号光中占第一比例的光反射到所述输出光纤中，将所述信号光中占第二比例的光透射到所述成像模块中，其中，所述第一比例与所述第二比例之和为1，所述第一比例大于所述第二比例，所述测试光具体为所述信号光中占第二比例的光；
所述成像模块获取所述测试光并依次生成对应的初始光路信息和采样光路信息，并将所述初始光路信息及采样光路信息依次传输给判断模块；
所述判断模块记录所述初始光路信息，并将所述成像模块生成的采样光路信息与所述初始光路信息进行比较，并将比较结果输出至所述控制模块；
所述控制模块根据所述判断模块的比较结果对所述微机电系统反射镜的旋转角度进行控制，以确定光开关的最佳光路。
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