CN102135584B - Lcm模组半成品ic弯折能力测试方法及ic弯折治具 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种LCM模组半成品IC弯折能力测试方法及IC弯折治具，其测试方法如下：依次将该些待测试样品的液晶面板分别固定于固定底座上，往复摆动PWB上端部若干次，后检测LCM半成品的IC引脚是否完好及有无电气类不良，并记录数据，通过对LCM半成品的IC抗弯折能力测试，以比较不同厂商及型号IC间的抗弯折能力差异，从而选择IC引脚抗弯折能力较强的产品进行生产，提升LCM品质。另外，本发明的IC弯折治具结构简单、造价低廉并且操作方便。
Description
技术领域
本发明涉及一种LCM模组半成品IC弯折能力测试方法及IC弯折治具。
背景技术
LCM模组在进行机械振动信赖性测试时易发生IC引脚弯折、拉扯而产生亮线等不良，为此在新产品导入或新型号IC导入阶段，需对所选用的IC进行引脚的抗弯折能力测试，比较出不同厂商生产的IC的抗弯折能力的差异性，藉以选取弯折能力相对较强的IC进行LCM组装生产。目前尚没有针对组成LCM模组半成品后IC的抗弯折能力测试方法。
发明内容
本发明介绍了一种LCM模组半成品IC弯折能力测试方法及IC弯折治具，可弥补LCM半成品的缺少IC抗弯折能力的空白，本发明有利于在新产品或已量产产品中选用抗弯折能力较强的IC进行生产，避免在后续信赖性或客户端发生品质问题。
本发明的技术方案在于：一种LCM模组半成品IC弯折能力测试方法，所述LCM模组半成品包括液晶面板、IC和PWB，其特征在于，其测试方法如下：在带有不同型号或不同厂商生产的IC的LCM模组半成品中，分别选取IC引脚完好及无电气类不良的LCM模组半成品为待测试样品；依次将该些待测试样品的液晶面板分别固定于固定底座上，往复摆动PWB上端部若干次，后检测LCM半成品的IC引脚是否完好及有无电气类不良，并记录数据。
本发明的另一技术方案在于：一种IC弯折治具，包括固定底座，其特征在于：所述固定底座上设置有液晶面板插槽，所述固定机座上设有具有转轴通孔和转轴的摆动柱体，所述柱体底侧设有PWB插槽，所述转轴的外侧端设置有转柄，其内侧端穿过连接在固定底座上的带有圆弧通孔的支撑板，所述转轴伸出端固定连接有可随转轴做圆弧运动的活动齿轮，所述支撑板外侧面固定设置有与活动齿轮配合的大齿轮。
上述转轴的外侧端设置有一转盘，所述转柄安装在转盘上。
上述圆弧通孔与大齿轮同轴，以实现转轴在转柄的驱动下做圆弧运动。
本发明弥补LCM半成品的缺少IC抗弯折能力的空白，通过测试可以得到LCM半成品的IC抗弯折能力值，比较出不同型号IC的抗弯折能力，以优先选择弯折能力较强的IC进行生产，提升LCM模组品质，避免在后续信赖性或客户端发生的品质问题。
附图说明
图1为本发明实施例的构造示意图。
图2为图1中的A—A剖视图。
图3为图１中的Ｂ向视图。
图中：1为固定底座，2为液晶面板插槽，3为转轴，4为摆动柱体，5为转柄，6为圆弧通孔，7为支撑板，8为活动齿轮；9为大齿轮；10为转盘；11为液晶面板，12为IC，13为PWB。
具体实施方式
为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图，作详细说明如下。
本发明的LCM模组半成品IC弯折能力测试方法，所述LCM模组半成品包括液晶面板、IC和PWB，其特征在于，其测试方法如下：
（1）在带有不同型号或不同厂商生产的IC的LCM模组半成品中，分别选取IC引脚完好及无电气类不良的LCM模组半成品为待测试样品，每个型号选3件。这里要说明的是该LCM模组半成品为液晶面板、IC和PWB的组合件，选取的方法为：先在点灯机台上确认无亮线或画面异常等电气类不良，然后将上述待测试样品置于电子显微镜MM-60下观察IC与液晶面板接合位置的引脚状况。
（2）将该些待测试的LCM半成品固定于IC弯折治具上，LCM半成品的液晶面板固定在固定底板的液晶面板固定插槽内，并将PWB的上端部固定在主体的插槽内，使得IC在PWB和液晶面板间呈拉直的状态，然后转动转柄，使PWB沿圆弧通孔做竖直方向的±90度角摆动，以达到弯折IC引脚的目的，这里要说明的是，摆动的角度可以选取其他角度，并不限定在上述所选的竖直方向的±90度角。
（3）分别将该些LCM半成品弯折10次后取下，置于电子显微镜下观察LCM半成品各IC引脚是否已经折断或有弯折痕迹，然后再点灯确认是否有发生亮线、画面异常等电气类不良，并记录测试结果。
（4）重复进行上述步骤（2）和（3），直至IC引脚发生折断且点灯发生亮线或画面异常等电气类不良为止，并记录IC弯折的次数，每种型号的IC做3次，以平均值计算最终IC的IC抗弯折次数。
本发明的IC弯折治具，包括固定底座1，其特征在于：所述固定底座1上设置有液晶面板插槽2，所述固定机座1上设有具有转轴通孔和转轴3的摆动柱体4，所述柱体4底侧设有PWB插槽，所述转轴3的外侧端设置有转柄5，其内侧端穿过连接在固定底座1上的带有圆弧通孔6的支撑板7，所述转轴3伸出端固定连接有可随转轴3做圆弧运动的活动齿轮8，所述支撑板8外侧面固定设置有与活动齿轮8配合的大齿轮9。
上述转轴3的外侧端设置有一转盘10，所述转柄5安装在转盘10上。
上述圆弧通孔6与大齿轮9同轴，以实现转轴3在转柄5的驱动下做圆弧运动。
本发明不局限上述最佳实施方式，任何人在本发明的启示下都可以得出其他各种形式的LCM模组半成品IC弯折能力测试方法及IC弯折治具。凡依本发明申请专利范围所做的均等变化与修饰，皆应属本发明的涵盖范围。
Claims (4)
1.一种LCM模组半成品IC弯折能力测试方法，所述LCM模组半成品包括液晶面板、IC和PWB，其特征在于，其测试方法如下：在带有不同型号或不同厂商生产的IC的LCM模组半成品中，分别选取IC引脚完好及无电气类不良的LCM模组半成品为待测试样品；依次将该些待测试样品的液晶面板分别固定于固定底座上，往复摆动PWB上端部若干次，后检测LCM半成品的IC引脚是否完好及有无电气类不良，并记录数据。
2.一种IC弯折治具，用于测试LCM模组半成品中IC的弯折能力，所述LCM模组半成品包括液晶面板、IC和PWB，且所述IC位于液晶面板和PWB之间，该IC弯折治具包括固定底座、支撑板、转轴及摆动柱体，其特征在于：所述固定底座上设置有液晶面板插槽，所述固定底座连接有支撑板，支撑板带有转轴通孔，所述转轴通孔为圆弧通孔，所述转轴穿过转轴的摆动柱体，所述摆动柱体底侧设有PWB插槽，所述转轴的外侧端设置有转柄，所述转轴的内侧端穿过圆弧通孔，所述转轴内侧端的伸出端固定连接有可随转轴沿所述圆弧通孔做圆弧运动的活动齿轮，所述支撑板外侧面固定设置有与活动齿轮配合的大齿轮。
3.根据权利要求2所述的IC弯折治具，其特征在于：所述转轴的外侧端设置有一转盘，所述转柄安装在转盘上。
4.根据权利要求2所述的IC弯折治具，其特征在于：所述圆弧通孔与大齿轮同轴，以实现转轴在转柄的驱动下做圆弧运动。
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