CN102128850B - 一种金箔含金量的快速测定方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种金箔含金量的快速测定方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：步骤1、对金箔样品进行前处理；步骤2、轧紧金箔样品；步骤3、仪器测试。本发明通过对金箔样品进行前处理，再用X荧光光谱法测试，一方面解决了有损方法带来的样品称量误差的问题，另一方面更是很好的克服了金箔样品厚度薄，在X荧光光谱仪测试中易被X荧光光束击穿，导致数据失真的缺陷，具有快速、准确、无损耗的优点。

Description

一种金箔含金量的快速测定方法

技术领域

本发明涉及一种金属含量检测方法，具体涉及一种金箔含金量的快速测定方法。

背景技术

金箔是一种经传统工艺，是用黄金打制成的，平均厚度为0.12μm 左右的箔。它广泛应用于寺院贴金、医药卫生与装饰行业等。随着金箔制品在市场上的广泛流行，金箔制品的检验工作量也在增加，这就需要相关检测部门对金箔制品的检验工作要快速又准确的完成。

对于高含量金的测定主要有X荧光光谱法、火试金法、重量法、容量法和ICP-AES等离子发射光谱法等。其中火试金法、重量法、容量法和ICP-AES等离子发射光谱法皆为破坏性实验方法，都是建立在先称取一定数量的金箔作为样品初始重量，然后分析主含量或杂质，进而计算出样品含金量。由于金箔是用一小块金片用乌金纸隔开扑上一层滑石粉，俗称“家生”打制而成，金箔成产品则是用二层薄纸夹在其中。因而称取一定数量的金箔，不可避免地会引入滑石粉、碎纸屑等杂质。因这些杂质重量的引入，检验结果不可避免的会产生误差，这也就是QB/T 1734《金箔》中对金箔含金量误差定为±1%的缘由所在。火试金法和重量法需特殊的设备,操作手续冗长繁复,不适于工厂的快速日常分析。ICP-AES等离子发射光谱法和容量法（常见有氢醌法、碘量法、高铈盐法、重铬酸钾法）操作手续涉及称量、溶样、滴定、配制标准样品等，分析周期长，不适于大批样品的快速日常分析。其中荧光光谱法以及其快速、准确、无损，具有一定的优势，但金箔厚度只有0.12μm 左右，在X荧光光谱仪测试中，易被X荧光光束击穿，导致数据异常，往往不可信。因此本发明针对现有技术的缺陷，结合无损检验（X荧光光谱法）的优点，提供了一种快速准确检验金箔含金量的方法。

发明内容

本发明公开了一种金箔含金量的快速测定方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

步骤1、对金箔样品进行前处理：

1）选取三张平整完好的金箔，将三张金箔叠落在一起，放置在衬纸中心位置上，然后将衬纸连同金箔一起沿横向中心线对折，对折后，将衬纸展开，金箔呈折叠状；

2）将上述步骤中对折后的金箔再次利用衬纸沿纵向中心线对折，对折后，展开衬纸；

3）依此类推，重复步骤1）及步骤2）将金箔共折叠八次，制成金箔样品。

步骤2、轧紧金箔样品：

将折叠好的金箔样品用包装金箔的纸夹好，将轧片机厚度调至最低，把夹好的金箔连同包装纸一同放入轧片机轧紧，形成一个致密的金箔片。

步骤3、仪器测试：

将轧紧的金箔样品放入X荧光光谱仪中进行测试，得出金箔含金量测试结果。

本发明通过对金箔样品进行前处理，再用X荧光光谱法测试，一方面解决了有损方法带来的样品称量误差的问题，另一方面更是很好克服了金箔样品厚度薄，在X荧光光谱仪测试中易被X荧光光束击穿，导致数据失真的缺陷，具有快速、准确、无损耗的优点。

附图说明

图1是金箔放置在衬纸上的示意图；

图2是步骤1）操作示意图；

图3是步骤2）操作示意图。

具体实施方式

为使本发明实现的技术手段、所要达到的技术目的与功效更易于了解，下面结合具体实施方式及附图，进一步阐述本发明：

一种金箔含金量的快速测定方法，包括以下步骤：

步骤1、对金箔样品进行前处理：

1）如图所示，选取三张平整完好的金箔，将三张金箔叠落在一起，放置在衬纸中心位置上，然后将衬纸连同金箔一起沿横向中心线对折，对折后，将衬纸展开，金箔呈折叠状；

2）将上述步骤中对折后的金箔再次利用衬纸沿纵向中心线对折，对折后，展开衬纸；

3）依此类推，重复步骤1）及步骤2）将金箔共折叠八次，制成金箔样品。金箔的平均厚度为0.12μm，三张金箔对折八次后的金箔样品层数将达到768层，厚度将达到92.2μm，此厚度在X荧光光谱仪测试中不会被击穿。

步骤2、轧紧金箔样品：

将折叠好的金箔样品用包装金箔的纸夹好，将轧片机厚度调至最低，把夹好的金箔连同包装纸一同放入轧片机轧紧，形成一个致密的金箔片。

步骤3、仪器测试：

将轧紧的金箔样品放入X荧光光谱仪中进行测试，得出金箔含金量测试结果。

以规格9.33cm×9.33cm，金料含金量98.5%的98金箔为例，对比本法和火试金法、ICP-AES等离子发射光谱法对其检测的结果,如表1所示，

表１： 

	火试金法%	ICP-AES法%	本法%
				１	98.12	97.92	98.46
２	98.34	98.02	98.60
				３	98.56	98.41	98.58
４	98.33	98.15	98.56

有损法数据的差异，很大程度上来自于称量中的误差。本法测量可以很好的回避了称量大量金箔样品带进去的杂质称量误差，又可以很好的解决无损检测中样品太薄，击穿带来的误差。由上表可见，采用本法检验金箔的含金量，不仅时间周期上大大缩短，检测结果也更加贴近真值。

以上已以较佳实施例公开了本发明，然其并非用以限制本发明，凡采用等同替换或者等效变换方式所获得的技术方案，均落在本发明的保护范围之内。

Claims (1)

1.一种金箔含金量的快速测定方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

步骤1、对金箔样品进行前处理：

1）选取三张平整完好的金箔，将三张金箔叠落在一起，放置在衬纸中心位置上，然后将衬纸连同金箔一起沿横向中心线对折，对折后，将衬纸展开，金箔呈折叠状；

2）将上述步骤中对折后的金箔再次利用衬纸沿纵向中心线对折，对折后，展开衬纸；

3）依此类推，重复步骤1）及步骤2）将金箔共折叠八次，制成金箔样品；

步骤2、轧紧金箔样品：

将折叠好的金箔样品用包装金箔的纸夹好，将轧片机厚度调至最低，把夹好的金箔连同包装纸一同放入轧片机轧紧，形成一个致密的金箔片；

步骤3、仪器测试：

将轧紧的金箔样品放入X荧光光谱仪中进行测试，得出金箔含金量测试结果。

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