CN102103643A - 芯片测试中存储测试向量的方法 - Google Patents
芯片测试中存储测试向量的方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN102103643A CN102103643A CN201110025304XA CN201110025304A CN102103643A CN 102103643 A CN102103643 A CN 102103643A CN 201110025304X A CN201110025304X A CN 201110025304XA CN 201110025304 A CN201110025304 A CN 201110025304A CN 102103643 A CN102103643 A CN 102103643A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- test vector
- address
- register
- storer
- control unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
本发明涉及一种芯片测试中存储测试向量的方法，其利用FPGA存储测试向量，通过将测试向量下载到存储器中并用寄存器记录各测试向量在存储器中的位置到达输出测试向量的目的。由于本发明利用了FPGA，而其本身通过编程就可实现存储器的功能和寄存器的功能以及地址控制器功能，所以为存储测试向量提供了空间。
Description
技术领域
本发明涉及一种存储测试向量的方法，尤其是指在芯片测试中存储测试向量的方法。
背景技术
在芯片测试中一般要使用多个测试向量，目前常见的使用方法是若需要哪个测试向量就将对应的测试向量下载到存储器中，然后适时输出到对应的位置。比如现有测试向量四个，分别为A、B、C和D，若需要测试向量A，则需要将A先存储下来然后再输出；若需要测试向量B，则需要将测试向量B存储下来然后再输出，同理完成测试向量C和D的存储及输出。由以上测试方法中可以得出，当需要某一个测试向量时，需要先下载到存储器中然后再输出，当同时有多个测试向量需要输出时，就需要一个个的分别重复下载操作和输出操作。由于没有一个可分配的存储空间，所以在芯片测试中有若干个测试向量时，就不能一次性的全部下载存储后再选择性的输出，如此以来难免影响芯片的测试效率。
所以我们希望为用户提供一种新的芯片测试中存储测试向量的方法。
发明内容
本发明实际所要解决的技术问题是如何提供一种新的芯片测试中利用FPGA存储测试向量的方法。
为了实现本发明的上述目的，本发明提供了一种芯片测试中存储测试向量的方法，其利用FPGA存储测试向量，其步骤如下：首先，编程使FPGA具有存储器功能和寄存器功能以及地址控制器功能；其次，将所述测试向量通过地址控制器依次下载到存储器中并用寄存器记录各测试向量在存储器中的地址；最后，所需测试向量从所述寄存器中的地址段输出。
本发明所述的芯片测试中存储测试向量的方法，由于其利用了FPGA，而其本身通过编程就可实现存储器的功能和寄存器的功能以及地址控制器的功能，所以可以通过地址控制器为各测试向量灵活地分配存储空间。再者，由于FPGA的空间很大，作为存储器时可以一次存储多个测试向量，所以芯片测试时的效率也大大提升；而通过地址控制器和寄存器可选择性的输出所需各个测试向量，所以也增强了操作的便捷性。
附图说明
图1是本发明芯片测试中存储测试向量的方法流程图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的说明。
请参考图1所示，本发明所述的芯片测试中存储测试向量的方法中涉及FPGA(Field-Programmable Gate Array)即现场可编程门阵列，由于其可编程，所以通过编程就可使其具有相关功能。因此第一步，我们需要编程使FPGA具有存储器功能，寄存器功能和地址控制器功能。而所述存储器具有存储数据功能，而所述寄存器具有暂存数据功能，而所述地址控制器具有控制地址的功能。如此以来，相当于将FPGA分为三个功能区，一个是存储器功能区，一个寄存器功能区，还有一个地址控制器功能区。然后将所述测试向量通过地址控制器下载到存储器中并用寄存器记录各测试向量在存储器中的地址；读取上述相应测试向量中的所述地址段，当需要发送哪一个测试向量时，就通过地址控制器和寄存器获取相应测试向量的地址段，然后从输出所述寄存器中地址段的内容。
下面具体论述芯片测试中利用FPGA存储测试向量并选择性输出的方法。首先编程使FPGA具有存储器功能，寄存器功能和地址控制器功能；先设有四个测试向量A、B、C和D，此时我们可以将上述各个测试向量通过所述地址控制器依次下载到所述存储器中，并记录相应测试向量的起始地址和终止地址，并将其暂存在所述寄存器中。如要将测试向量A下载到所述存储器中，要先通过地址控制器读取此时存储器的地址，比如000作为测试向量A的起始地址，并将其暂存在寄存器R0中，等测试向量A下载完成后通过地址控制器读取此时的存储器的地址，比如008作为测试向量A的终止地址，并将其暂存在寄存器R1中；要将测试向量B下载到存储器中，要先通过地址控制器读取此时存储器的地址比如009作为测试向量B的起始地址，并将其暂存在寄存器R2中，等测试向量B下载完成后通过地址控制器读取此时的存储器的地址比如015作为测试向量B的终止地址，并将其存储在寄存器R3中；要将测试向量C下载到存储器中，要先通过地址控制器读取此时存储器的地址比如016作为测试向量C的起始地址，并将其暂存在寄存器R4中，等测试向量C下载完成后通过地址控制器读取此时的存储器的地址，比如033作为测试向量C的终止地址，并将其存储在寄存器R5中；要将测试向量D下载到存储器中，要先通过地址控制器读取此时存储器的地址比如034作为测试向量D的起始地址，并将其暂存在寄存器R6中，等测试向量D下载完成后通过地址控制器读取此时的存储器的地址比如055作为测试向量D的终止地址，并将其存储在寄存器R7中。当需要发送测试向量B时，只要在寄存器R2中找到相应测试向量B的起始地址009，然后开始输出，等地址到达终止地址即寄存器R3中的值033时停止发送。同理，当需要发送测试向量D时，只要在寄存器R6中找到相应测试向量D的起始地址034，然后开始输出，等地址到达终止地址即寄存器R7中的值055时停止发送。从上述论述可知，所述各测试向量均可通过地址控制器的控制下载到存储器中并用寄存器记录各个测试向量在存储器中的起始地址和终止地址，将其暂存在所述寄存器中。当需要发送哪一段测试向量时，读取相应测试向量的起始地址和终止地址并通过地址控制器输出所述存储器中起始地址和终止地址间地址段的内容完成测试向量的输出。
由于本发明可将各测试向量通过地址控制器依次下载到存储器中，即存储器中可一次性的存储多个测试向量，所以调用各测试向量就更加容易；而寄存器是记录各个测试向量在存储器中的起始地址和终止地址，当需要发送某一测试向量时只需要找到相应测试向量的起始地址和终止地址然后通过地址控制器输出起始地址和终止地址之间的存储器内容就可完成对相应测试向量的选择性输出，所以输出效率大大提高；且所有测试向量均可下载到存储器中，所以可选择性的输出各测试向量，也增强了操作的便捷性。
Claims (9)
1.一种芯片测试中存储测试向量的方法，其利用FPGA存储测试向量，其步骤如下：
首先，编程使FPGA具有存储器功能和寄存器功能以及地址控制器功能；
其次，将所述测试向量通过地址控制器下载到存储器中并用寄存器记录各测试向量在存储器中的地址；
最后，所需测试向量从所述寄存器中的地址段输出。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于：所述寄存器记录各测试向量在存储器中的起始地址和终止地址。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于：所述起始地址和终止地址是暂存在所述寄存器中。
4.如权利要求2所述的方法，其特征在于：所述测试向量从所述寄存器中的位置段输出是指输出相应测试向量的起始地址到终止地址段的内容。
5.如权利要求4所述的方法，其特征在于：所述测试向量的输出是通过地址控制器输出存储器中起始地址和终止地址段的内容。
6.如权利要求1、2、3或5所述的方法，其特征在于：所述存储器具有存储数据功能。
7.如权利要求1至4中任意一项所述的方法，其特征在于：所述寄存器具有暂存数据功能。
8.如权利要求1所述的方法，其特征在于：所述测试向量依次下载后均存储在存储器中的不同位置上。
9.如权利要求1所述的方法，其特征在于：所述地址控制器具有控制地址的功能。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201110025304XA CN102103643A (zh) | 2011-01-24 | 2011-01-24 | 芯片测试中存储测试向量的方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201110025304XA CN102103643A (zh) | 2011-01-24 | 2011-01-24 | 芯片测试中存储测试向量的方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN102103643A true CN102103643A (zh) | 2011-06-22 |
Family
ID=44156413
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201110025304XA Pending CN102103643A (zh) | 2011-01-24 | 2011-01-24 | 芯片测试中存储测试向量的方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN102103643A (zh) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105761760A (zh) * | 2016-02-16 | 2016-07-13 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 实现冗余功能存储器芯片测试的方法 |
| WO2017185419A1 (zh) * | 2016-04-26 | 2017-11-02 | 北京中科寒武纪科技有限公司 | 一种用于执行向量最大值最小值运算的装置和方法 |
| CN112881887A (zh) * | 2021-01-15 | 2021-06-01 | 深圳比特微电子科技有限公司 | 芯片测试方法、计算芯片和数字货币挖矿机 |
| CN113393892A (zh) * | 2020-03-11 | 2021-09-14 | 长鑫存储技术有限公司 | 控制芯片的测试方法及相关设备 |
| US11862268B2 (en) | 2020-03-11 | 2024-01-02 | Changxin Memory Technologies, Inc. | Test method for control chip and related device |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1211737A (zh) * | 1997-08-26 | 1999-03-24 | 三星电子株式会社 | 集成电路芯片测试器及其测试方法 |
| US20050174131A1 (en) * | 2004-02-05 | 2005-08-11 | Formfactor, Inc. | Contactless interfacing of test signals with a device under test |
| CN1979201A (zh) * | 2005-12-08 | 2007-06-13 | 上海华虹Nec电子有限公司 | 同步通讯芯片并行测试的方法 |
-
2011
- 2011-01-24 CN CN201110025304XA patent/CN102103643A/zh active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1211737A (zh) * | 1997-08-26 | 1999-03-24 | 三星电子株式会社 | 集成电路芯片测试器及其测试方法 |
| US20050174131A1 (en) * | 2004-02-05 | 2005-08-11 | Formfactor, Inc. | Contactless interfacing of test signals with a device under test |
| CN1979201A (zh) * | 2005-12-08 | 2007-06-13 | 上海华虹Nec电子有限公司 | 同步通讯芯片并行测试的方法 |
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105761760A (zh) * | 2016-02-16 | 2016-07-13 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 实现冗余功能存储器芯片测试的方法 |
| CN105761760B (zh) * | 2016-02-16 | 2019-01-04 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 实现冗余功能存储器芯片测试的方法 |
| WO2017185419A1 (zh) * | 2016-04-26 | 2017-11-02 | 北京中科寒武纪科技有限公司 | 一种用于执行向量最大值最小值运算的装置和方法 |
| CN107315567A (zh) * | 2016-04-26 | 2017-11-03 | 北京中科寒武纪科技有限公司 | 一种用于执行向量最大值最小值运算的装置和方法 |
| CN107315567B (zh) * | 2016-04-26 | 2020-08-07 | 中科寒武纪科技股份有限公司 | 一种用于执行向量最大值最小值运算的装置和方法 |
| US11409524B2 (en) | 2016-04-26 | 2022-08-09 | Cambricon Technologies Corporation Limited | Apparatus and methods for vector operations |
| CN113393892A (zh) * | 2020-03-11 | 2021-09-14 | 长鑫存储技术有限公司 | 控制芯片的测试方法及相关设备 |
| US11862268B2 (en) | 2020-03-11 | 2024-01-02 | Changxin Memory Technologies, Inc. | Test method for control chip and related device |
| US11867758B2 (en) | 2020-03-11 | 2024-01-09 | Changxin Memory Technologies, Inc. | Test method for control chip and related device |
| CN112881887A (zh) * | 2021-01-15 | 2021-06-01 | 深圳比特微电子科技有限公司 | 芯片测试方法、计算芯片和数字货币挖矿机 |
| CN112881887B (zh) * | 2021-01-15 | 2023-02-17 | 深圳比特微电子科技有限公司 | 芯片测试方法和计算芯片 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN105593942B (zh) | 非易失性存储器装置中的易失性存储器架构及相关控制器 | |
| US20190088306A1 (en) | Burst length defined page size and related methods | |
| CN102103643A (zh) | 芯片测试中存储测试向量的方法 | |
| CN103003791B (zh) | 分配共享堆栈的部分的系统和方法 | |
| CN110431526A (zh) | 用于自动化动态字线开始电压的设备与方法 | |
| CN105955748A (zh) | 应用程序的返回场景处理方法及装置 | |
| CN103793249A (zh) | 一种Java虚拟机中类库的多线程预加载方法 | |
| JP2006087069A5 (zh) | ||
| CN103530164A (zh) | 一种fpga配置文件远程更新的方法及装置 | |
| CN104183105A (zh) | 一种基于移动终端的遥控方法和装置 | |
| CN105389134B (zh) | 一种闪存接口控制方法及装置 | |
| CN103927215A (zh) | 基于内存盘与SSD硬盘的kvm虚拟机调度的优化方法及系统 | |
| CN110376503B (zh) | 一种ai加速芯片性能测试方法及其装置 | |
| CN104700902B (zh) | 数据储存装置及其模式检测方法 | |
| US20150254116A1 (en) | Data processing apparatus for pipeline execution acceleration and method thereof | |
| CN105242904B (zh) | 用于处理器指令缓冲与循环缓冲的装置及其操作方法 | |
| CN104808953B (zh) | 控制数据存储的方法、装置及移动终端 | |
| CN101421705A (zh) | 具有高储存容量的多媒体卡 | |
| CN105094742B (zh) | 一种写数据的方法和设备 | |
| JP2013527541A5 (zh) | ||
| CN115981751B (zh) | 一种近存计算系统以及近存计算方法、装置、介质及设备 | |
| JP2016540336A5 (zh) | ||
| CN102306502A (zh) | 烧录ci plus证书的方法及其系统 | |
| CN109739805B (zh) | 配置模块的参数的方法和配置模块的参数的装置 | |
| CN104750621A (zh) | 缓存方法及控制系统 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
| WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20110622 |