CN102066902B - 监测腐蚀元件的腐蚀架和方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种用于与测试试样一起使用，以允许连贯且长期地监测设备中的腐蚀元件的支架。本发明能够具有附接到单一支架上的多个试样，以允许测试不同的腐蚀元件。此外，该试样可被以不同的角度和位置放置，以允许对环境的更完全的分析。

Description

监测腐蚀元件的腐蚀架和方法

版权通告

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技术领域

本发明涉及一种用于支撑被用于监测工业场所的各种材料的退化效应的测试试样的装置。本发明显示用于通过试样的使用而连贯且长期收集数据的方法和装置，以辅助监测和调节化学性质从而减少设备中材料的退化。

背景技术

这里描述的发明关于一种被简单地结合到设备中并允许监测环境中材料的退化并更好地允许工业界着手材料和器械的退化问题的架。使用方法的基本原理在于本发明允许以相同的水平高度和位置连贯地放置腐蚀试样以允许准确地测量环境中的腐蚀元件。

多年来，已经发展了大量的方法以提供工业应用中材料退化的测量。评价材料退化的直接方法可分为两类，包括侵入技术和非侵入技术。一种侵入技术为暴露到感兴趣的环境的测试试件的使用。诸如金属或塑料等材料的试样或代表性样品为用于评估退化的最典型的测试试件之一。试样为用于监测退化的最古老且最简单的设备之一，且已经发展了许多用于特定应用的标准。

根据感兴趣的应用，试样可以多种形式制造，且类型包括矩形、盘形、圆柱形和u形弯曲。试样暴露的最佳实践要求使用测试架，测试架通常由将架附接到系统中的部件上的支撑结构和将试样保持到支撑件上的紧固件组成。架的目的是为了可再生产地将试样以适当的方位悬挂在环境中感兴趣的位置。合适的架需要满足多种要求，包括：足够坚固以支撑试样试件、抵抗环境的结构材料、试样对作用环境的合适的暴露、金属试样彼此之间及架的电绝缘(以防止原电池反应)以及防止退化产品的一个试样与另一个试样的相互作用。已经用于工业应用的普通的试样架包括扁杆架、线轴架、管线的插入式架和“滑移式”或可收缩式保持器。本发明的创造性在于它包括允许试样正交安装的正方形支撑梁。

本发明被开发用于在大气环境中安装腐蚀试样。使用试样的标准的大气腐蚀测试通常使用平坦的板式试样。用于大气腐蚀测试的最广泛使用的板式试件的尺寸为4英寸乘6英寸(100mm乘150mm)。在大多数大气退化腐蚀中，大量的板利用绝缘按钮而被紧固在大的、结实的框架上。然而，许多工业应用不具有在感兴趣的环境中安装大的框架结构的可用空间。本发明相对较小的尺寸允许在可用空间成问题的环境中悬挂大量的腐蚀试样。架的设计还允许易于安装在工业装置中使用的典型的器械。

发明内容

本发明描述了下列关键的方面：

1、本发明的优点在于提供在不同的方位和水平高度处的试样的位置的稳定性。

2、本发明的优点在于使用本发明需要有限的空间。

3、本发明的优点在于提供本装置与工业器械的容易的安装。

4、提供一种用于不间断且连贯的效果的方法。

附图说明

图1：支架的前视图。

图2：支架的侧视图。

图3：支架的俯视图。

具体实施方式

本发明涉及一种用于放置试样的装置，通过使用处于单个或不同的方位的一个或更多个测试试样来测试材料所处的环境，该装置包括：支架附接构件4，连接构件5，支架调节构件6，支架稳定器7，一个或更多个试样附接构件11，以及试样附接部位12。本发明允许多种不同的支架附接构件4，但是优选为u形杆。试样附接构件10包含一个或更多个试样附接部位11。本发明用连接构件5将试样附接构件10连接到支架附接构件4。本发明的连接构件5可调节以允许装置移动，从而适合多个位置。本装置进一步具有包括一个或更多个试样附接部位11的试样附接构件10。

本发明具有优选的实施例，其中试样附接构件10为正方形以允许试样以正交方式的放置。

本发明进一步包括一种用于抽样调查制造设备中的材料的退化效应的方法，其中所述装置被放置在该设备中，且有一个或更多个试样附接到试样附接部位11，所述试样允许与环境反应，并便于在预定期间收集样品，然后重新放置新的试样。本发明与打算测量因气态暴露而退化的元件的试样一起使用。本方法进一步允许使用附接到试样附接构件10的多个测试试样。

测试试样以不同的水平高度和角度放置在试样附接构件10上允许环境的完全测试。一旦测试的设定时段完成，试样被移除并在相同的位置替换新的试样以允许长期测试。该方法使用的试样附接构件11为正方形杆以允许以正交方式放置多个试样。

应该理解的是，这里描述的目前优选的实施例的各种变化和变型对于本领域技术人员是明显的。在不偏离本发明的精神和范围且不缩小其预期的优点的情况下，可以做出这种变化和变型。因此，意味着所附权利要求涵盖了这种变化和变型。

Claims (12)

1.一种用于放置试样的装置，通过使用处于单个或不同方位的多个测试试样来评估材料所处的环境，该装置包括：

(a)支架附接构件，

(b)连接构件，

(c)支架调节构件，

(d)支架稳定器，

(e)一个或更多个试样附接构件，其中所述一个或更多个试样附接构件利用所述连接构件被附接到所述支架附接构件，并且进一步其中所述一个或更多个试样附接构件具有一个或更多个试样附接部位。

2.根据权利要求1所述的装置，其中所述支架附接构件为u形杆。

3.根据权利要求1所述的装置，其中所述连接构件是可调节的。

4.根据权利要求1所述的装置，其中所述试样附接构件为立方体形。

5.根据权利要求4所述的装置，其中所述多个测试试样以正交方式附接到所述装置。

6.一种用于抽样调查制造设备中材料的退化效应的方法，其中权利要求1所述的装置被放置在设备中，且有一个或更多个试样附接到所述试样附接部位，所述试样允许与环境反应，并便于在预定的暴露时间之后收集样品，然后重新放置新的试样。

7.根据权利要求6所述的方法，其中所述一个或更多个试样测量因气态暴露而退化的元件。

8.根据权利要求6所述的方法，其中存在多个测试试样。

9.根据权利要求8所述的方法，其中所述多个测试试样以不同的水平高度和角度放置。

10.根据权利要求6所述的方法，其中所述一个或更多个试样在设定时间之后被收集，并且新的试样被放置在相同的位置以用于长期测试。

11.根据权利要求6所述的方法，其中所述试样附接构件为正方形杆。

12.根据权利要求11所述的方法，其中所述正方形杆允许以正交方式放置多个试样。

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