CN102054492A - 光学头聚焦误差信号线性度的自动测量方法 - Google Patents

光学头聚焦误差信号线性度的自动测量方法 Download PDF

Info

Publication number
CN102054492A
CN102054492A CN2010105407285A CN201010540728A CN102054492A CN 102054492 A CN102054492 A CN 102054492A CN 2010105407285 A CN2010105407285 A CN 2010105407285A CN 201010540728 A CN201010540728 A CN 201010540728A CN 102054492 A CN102054492 A CN 102054492A
Authority
CN
China
Prior art keywords
error signal
optical head
focusing
value
point
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN2010105407285A
Other languages
English (en)
Inventor
余永立
周传辉
周禀桢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
China Hualu Panasonic AVC Networks Co Ltd
Original Assignee
China Hualu Panasonic AVC Networks Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by China Hualu Panasonic AVC Networks Co Ltd filed Critical China Hualu Panasonic AVC Networks Co Ltd
Priority to CN2010105407285A priority Critical patent/CN102054492A/zh
Publication of CN102054492A publication Critical patent/CN102054492A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)

Abstract

本发明公开一种光学头聚焦误差信号线性度的自动测量方法,是用计算机进行操作,调整聚焦误差信号生成电路的参数,使聚焦点位置分别移动到聚焦误差信号S字线性区范围内至少3个等距的点上,在每个点上分别进行聚焦增益自动调整,上位计算机根据聚焦增益自动调整值和聚焦增益值和聚焦误差信号S字线性区斜率的关系公式计算每个点的斜率,并将每个点斜率的最大值与最小值相比,其比值即光学头聚焦误差信号线性度。可在1~2秒钟内完成线性度的自动测量,应用在光盘刻录机或播放器光学头(OPU)的生产环节中,具有操作简单、结果准确、劳动强度低及检测效率高等优点。

Description

光学头聚焦误差信号线性度的自动测量方法
技术领域:
本发明涉及一种光学头聚焦误差信号(FE)线性度的测量方法,尤其是一种操作简单、结果准确、劳动强度低、检测效率高的光学头聚焦误差信号线性度的自动测量方法。
背景技术:
光盘刻录机或播放器光盘控制驱动模块的聚焦误差信号生成电路中有一个FEbalance参数,调整聚焦误差信号生成电路的FE balance参数可使光学头的聚焦点沿聚焦误差信号(FE)的S字线性区移动。
光盘刻录机或播放器光盘控制驱动模块中还存在一个聚焦增益(FGAIN)自动调整电路,其功能是对伺服系统的聚焦增益进行自动调整。使调整后的聚焦伺服系统幅频特性曲线的截止频率ωc满足设计值(DVD的截止频率设计值一般为1.8kHz,CD的截止频率设计值一般为1.1kHz……)。
S字的线性度即光学头(OPU)聚焦误差信号的线性度,是光学头重要的性能指标,线性度差就会影响光学头聚焦伺服的稳定性。目前,对光学头聚焦误差信号的线性度的测量均使用目测方法,即通过观察示波器上测得的光学头聚焦误差信号(FE)的S字图形来判断。此方法操作复杂、劳动强度高、效率低,因此在实际生产中并不能对光学头进行全数检查,即便这样还存在着检测结果受人为因素影响大、精确度低等问题,直接影响了产品的可靠性。
发明内容:
本发明是为了解决现有技术所存在的操作复杂、劳动强度高、效率及精确度低等技术问题,提供一种操作简单、结果准确、劳动强度低、检测效率高的光学头聚焦误差信号线性度的自动测量方法。
本发明的技术解决方案是:一种光学头聚焦误差信号线性度的自动测量方法,其特征在于按如下步骤进行:
a.将上位计算机与光盘控制驱动模块连接,实现相互通信;
b.程序开始,上位计算机向光盘控制驱动模块发送聚焦指令:控制光学头工作在聚焦状态;
c.上位计算机向光盘控制驱动模块发送调整聚焦误差信号生成电路参数及聚焦增益自动调整指令:调整聚焦误差信号生成电路的参数,移动聚焦点位置分别在聚焦误差信号S字线性区的2n+1个点上,并在每个点上进行聚焦增益自动调整,得到2n+1个聚焦增益自动调整值;2n+1个点在S字线性区上下均匀分布,n为不等于零的正整数,当n=1时,两端的点不是最高或最低点;
d.上位计算机向光盘控制驱动模块发送寄存器数据读取指令:光盘控制驱动模块返回2n+1个聚焦增益自动调整值至上位计算机;
e.上位计算机根据预存的聚焦误差信号S字线性区斜率和聚焦增益值的关系公式,计算得到2n+1个点的斜率值并存储;
f.上位计算机计算2n+1个斜率值中最大值与最小值之间的比值,即光学头聚焦误差信号线性度。
本发明是用计算机进行操作,通过上位计算机向光盘控制驱动模块发送指令,调整聚焦误差信号生成电路的参数,使聚焦位置分别移动到聚焦误差信号S字线性区范围内至少3个等距的点上,在每个点上分别进行聚焦增益自动调整;上位计算机根据聚焦增益自动调整值和聚焦增益值和聚焦误差信号S字线性区斜率的关系公式计算每个点的斜率,并将这2n+1个斜率值中的的最大值与最小值相比,其比值即光学头聚焦误差信号线性度,可在1~2秒钟内完成线性度的自动测量。本发明应用在光盘刻录机或播放器光学头(OPU)的生产环节中,具有操作简单、结果准确、劳动强度低及检测效率高等优点。
附图说明:
图1是本发明实施例的程序流程图。
图2是本发明实施例S字线性区内2n+1个点的位置示意图。
具体实施方式:
对大批量同一型号光学头测量前,需要用标准的、正常的光学头作为样本,确定聚焦增益值和聚焦误差信号S字线性区斜率的关系公式,并将此关系公式存于上位计算机中。因不同型号OPU,其信号特性是不同的,聚焦增益和S字线性区斜率的关系曲线和关系公式也是有差异的,需要针对不同型号OPU,建立相应的关系公式。
确定聚焦增益值和聚焦误差信号S字线性区斜率的关系公式的方法很多,可以手动改变聚焦增益值,同时通过数字示波器或记录仪测定在当前聚焦增益值的条件下的S字线性区的斜率,建立聚焦增益和S字线性区斜率的一一对应的二维数据表,根据《数值计算与分析方法》确定聚焦误差信号S字线性区斜率和聚焦增益值的关系公式。
本发明实施例是采用如下方法确定关系公式的(以中国华录·松下电子信息有限公司内制8.9xL OPU为例):
1.上位计算机发送修改聚焦增益调整寄存器值命令,光盘控制驱动模块执行命令改变聚焦增益值。
2.上位计算机发送物镜上下移动命令,光盘控制驱动模块执行命令,控制光学头上下移动,同时用示波器记录聚焦误差信号S字波形。
3.根据示波器上的聚焦误差信号S字波形,利用微分学中关于微分定义的工程中近似应用,来测量聚焦误差信号S字线性区的斜率。
4.重复1~3,并记录至少2组聚焦增益值和聚焦误差信号S字线性区的斜率测量值的对应数据,建立二维数据表(见表1),
表1
Figure BSA00000342680400031
5.利用数值计算与分析方法或者直接利用Excel表中的图表向导得到聚焦误差信号S字线性区斜率(y)和聚焦增益值(x)的关系公式为:
y=6E-07x2+0.0025x+0.7857。
对每个光学头的聚焦误差信号线性度的测量方法,只需如图1所示,由上位计算机控制操作:
a.将上位计算机与光盘控制驱动模块连接,通过RS232实现相互通信;
b.上位计算机向光盘控制驱动模块发送聚焦指令:使光学头处于聚焦状态;
c.上位计算机向光盘控制驱动模块发送调整聚焦误差信号生成电路参数及聚焦增益自动调整指令,使聚焦点移动至指定位置且在该位置进行聚焦增益自动调整:调整聚焦误差信号生成电路的参数,移动聚焦点位置分别在聚焦误差信号S字线性区的2n+1个点上(如图2所示),并在每个点上进行聚焦增益自动调整,得到2n+1个聚焦增益自动调整值;2n+1个等距的点在S字线性区上下均匀分布,n为不等于零的正整数,当n=1时,两端的点不是最高或最低点;当2n+1个聚焦点完成后,再进行下一步;
d.上位计算机向光盘控制驱动模块发送寄存器数据读取指令:光盘控制驱动模块返回2n+1个聚焦增益自动调整值至上位计算机;
e.上位计算机根据预存的聚焦误差信号S字线性区斜率和聚焦增益值的关系公式,计算得到2n+1个点的斜率值并存储;
f.上位计算机计算2n+1个斜率值中最大值与最小值之间的比值,即光学头聚焦误差信号线性度。
光盘控制驱动模块接受上位计算机所发送指令后即执行命令,执行命令的过程同现有技术。

Claims (1)

1.一种光学头聚焦误差信号线性度的自动测量方法,其特征在于依次按如下步骤进行:
a.将上位计算机与光盘控制驱动模块连接,实现相互通信;
b.上位计算机向光盘控制驱动模块发送聚焦指令:使光学头处于聚焦状态;
c.上位计算机向光盘控制驱动模块发送调整聚焦误差信号生成电路参数及聚焦增益自动调整指令:调整聚焦误差信号生成电路的参数,移动聚焦点位置分别在聚焦误差信号S字线性区的2n+1个点上,并在每个点上进行聚焦增益自动调整,得到2n+1个聚焦增益自动调整值;2n+1个点在S字线性区上下均匀分布,n为不等于零的正整数,当n=1时,两端的点不是最高或最低点;
d.上位计算机向光盘控制驱动模块发送寄存器数据读取指令:光盘控制驱动模块返回2n+1个聚焦增益自动调整值至上位计算机;
e.上位计算机根据预存的聚焦误差信号S字线性区斜率和聚焦增益值的关系公式,计算得到2n+1个点的斜率值并存储;
f.上位计算机计算2n+1个斜率值中最大值与最小值之间的比值,即光学头聚焦误差信号线性度。
CN2010105407285A 2010-11-12 2010-11-12 光学头聚焦误差信号线性度的自动测量方法 Pending CN102054492A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2010105407285A CN102054492A (zh) 2010-11-12 2010-11-12 光学头聚焦误差信号线性度的自动测量方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2010105407285A CN102054492A (zh) 2010-11-12 2010-11-12 光学头聚焦误差信号线性度的自动测量方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN102054492A true CN102054492A (zh) 2011-05-11

Family

ID=43958739

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2010105407285A Pending CN102054492A (zh) 2010-11-12 2010-11-12 光学头聚焦误差信号线性度的自动测量方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN102054492A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103267493A (zh) * 2013-05-10 2013-08-28 西南科技大学 线阵式超大口径平面光学元件面形检测装置和方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1716396A (zh) * 2004-07-02 2006-01-04 建兴电子科技股份有限公司 光盘片的聚焦控制方法
CN101156202A (zh) * 2005-04-14 2008-04-02 松下电器产业株式会社 光学头装置以及光信息处理装置
CN101393752A (zh) * 2008-11-10 2009-03-25 中国华录·松下电子信息有限公司 光学头聚焦误差信号线性度的自动测量方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1716396A (zh) * 2004-07-02 2006-01-04 建兴电子科技股份有限公司 光盘片的聚焦控制方法
CN101156202A (zh) * 2005-04-14 2008-04-02 松下电器产业株式会社 光学头装置以及光信息处理装置
CN101393752A (zh) * 2008-11-10 2009-03-25 中国华录·松下电子信息有限公司 光学头聚焦误差信号线性度的自动测量方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103267493A (zh) * 2013-05-10 2013-08-28 西南科技大学 线阵式超大口径平面光学元件面形检测装置和方法
CN103267493B (zh) * 2013-05-10 2016-04-06 西南科技大学 线阵式超大口径平面光学元件面形检测装置和方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN108802459B (zh) 一种示波器自动测试系统及方法
US9128126B2 (en) Oscilloscope and method, system thereof for collecting and displaying signal waveform
CN101221210B (zh) 一种成品线路板自动测试校正系统及其自动测试校正方法
CN100386802C (zh) 用来调整光学储存装置的写入策略参数的方法及其系统
CN103235202B (zh) 一种具有自动补偿功能的多路模拟信号采集系统
CN102072701A (zh) 一种检测零件尺寸的方法及装置
CN103389728A (zh) 一种安全气囊控制器测试仿真系统及其测试仿真方法
CN102054492A (zh) 光学头聚焦误差信号线性度的自动测量方法
CN110703384B (zh) 一种连续可调的光衰减器数据处理方法
CN110514162B (zh) 一种台阶深度测量工具
CN208269872U (zh) 一种梯形活塞环高度测量仪
CN101308691B (zh) 高清光盘信号质量检测设备
CN102661775B (zh) 自动水位计检测仪及应用
CN110320011B (zh) 一种透射波前检测系统和方法
CN201126337Y (zh) 指示表全自动检定仪
CN112945704A (zh) 一种用于智能工厂的布氏硬度在线检测系统
CN102998611A (zh) 一种对包含adc和dac的电路的快速检测方法
CN101393752B (zh) 光学头聚焦误差信号线性度的自动测量方法
CN100533562C (zh) 用于调节光盘系统中的轨道平衡的装置和方法
CN101149936B (zh) 光盘驱动器寻轨系统及方法
CN101083122A (zh) 一种光盘质量检测装置
CN100513994C (zh) 决定物镜位置差与驱动电压间相对关系的方法及装置
CN1065979C (zh) 小型光盘盘片多功能测试仪
CN109975043A (zh) 一种机器人加速度测定方法及装置
CN107765711A (zh) 一种激光跟踪系统调试装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20110511