CN102003946B - 一种高温三维数字图像相关测量系统及其测量方法 - Google Patents

Abstract

本发明一种高温三维数字图像相关测量系统及其测量方法，它包括数字摄像机、成像镜头、带通光学滤波片、单色照明光源、标定板、由三角架、导轨和平移台组成的支座系统以及用于数字图像采集和分析处理的计算机；其测量方法有五大步骤。本发明在数字摄像机的成像镜头前安装带通光学滤波片，它有效减小高温物体热辐射对摄像机采集图像亮度增强的影响。测量采用照明波长位于带通光学滤波片带通范围内的单色照明光源照明被测物体。本发明可获得表面温度超过500℃的高温物体表面的清晰图像，该图像可被三维数字图像相关方法直接分析处理，从而获得高温物体表面的三维形貌以及力、热载荷作用下的三维变形场。它结构紧凑、操作方便、适用范围广、测量精度高。

Description

一种高温三维数字图像相关测量系统及其测量方法

技术领域

本发明涉及一种用于高温物体表面三维形貌及力、热载荷作用下的全场三维变形测量的高温三维数字图像相关测量系统及其测量方法，属于光测力学、工程材料力学性能测试、构件变形和位移测试技术等领域。

背景技术

近年来随着航空航天、能源工程等领域的迅速发展，各种材料在高温环境下的应用越来越广泛。如高超音速飞行器材料、航空发动机中的零构件、高压蒸汽锅炉、发电厂的高温管道、汽轮机以及化工炼油设备中的许多材料和构件等都要求一定时间或长期在高温环境下工作。一般来说，高温对材料或结构的影响主要集中在如下两个方面：1)温度会影响材料的物理性能和力学性能。例如材料的高温力学性能不同于室温，因而测定这些材料在高温环境下的力学参数(如弹性模量、强度极限和热膨胀系数等)对于材料和结构的安全设计、可靠性评定以及寿命预测都具有重要意义；2)温度会使构件的几何形状发生改变(即产生热变形)，使高温下构件的几何形状偏离理想的设计状态从而影响构件原有的工作状态。在对材料的高温力学性能进行测试时，由于载荷可通过与高温环境箱配合的材料力学试验机直接获得，因此如何精确测量被测物体在高温环境下的表面变形就成为材料高温力学性能测试中最为关键的问题。此外，直接测量由温度变化引起的热变形对于材料的热膨胀系数测定以及确定构件在热变形后的形状也至关重要。

已有的高温物体变形测量技术可分为接触式和非接触式两大类。接触式的高温物体变形测量方法主要是通过高温电阻应变片来实现，测量时需将高温电阻应变片用高温无机胶粘贴在试件表面。作为一种逐点测量方法电阻应变片只能测量所粘贴局部区域的平均线应变。由于电阻应变片对环境温度变化较敏感，环境温度变化会使电阻应变片产生虚假应变，因此在用电阻应变片对高温物体表面变形进行测量时必须要对进行温度补偿，另外还需特别注意对应变片材料和被测物体材料之间的热膨胀系数的差异，并对其进行补偿。总而言之，用高温电阻应变片测量高温物体表面变形时只能测量应变片粘贴区域的局部平均应变，且测量过程较为繁琐、影响测量精度的因素较多。

由于光学测量方法可在不改变被测物体表面力学性能的情况下对其表面高温变形场进行非接触式测量，测量精度高且受物体表面温度的影响较小，因此高温变形的光学测量技术是实验力学中的重要研究方向。目前已有的高温全场变形测量光学方法有基于相关光波干涉原理的云纹干涉方法、电子散斑干涉方法以及非干涉的数字图像相关方法等。云纹干涉方法测量高温物体表面变形前需在被测物体表面转移粘贴高温光栅。测量过程中用激光对称照射光栅，从光栅上衍射出的光波相互干涉形成干涉条纹，该干涉条纹包含了被测物体表面的变形信息。利用云纹干涉法测量高温变形对高温环境下的使用的粘贴胶和高温光栅(清华大学高温全息光栅及其制造方法，中国专利申请93106837.1)自身形变都提出了很高的要求。电子散斑干涉方法也是基于激光光波的干涉原理，它利用对称入射的激光照射被测物体表面，变形前后物体表面漫反射光波形成的散斑场相减则获得包含物体表面变形信息的条纹图。云纹干涉法和电子散斑干涉法的测量灵敏度高，并且有测量结果直接可视的优点，但这些方法的测量系统、测量原理和测量过程较为复杂且对测量环境要求苛刻，因此测量通常只能在实验室暗室中的光学隔振平台上进行。且一般只能对平面物体的表面变形进行测量，因此在实际复杂形状物体的高温变形测量上有较多限制。

三维数字图像相关方法是光测力学中的一种先进的全场变形测量方法，利用被测物体表面随机的灰度分布(又称散斑图)作为变形信息载体，三维数字图像相关方法可对平面或曲面物体表面形貌和各种载荷作用下三维变形场进行精确测量。该方法的基本原理是利用两个摄像机从不同角度对被测物体表面成像，测量过程中首先对双目立体视觉模型进行标定获得两个摄像机的内外参数，然后直接利用二维数字图像相关方法中的匹配算法得到左右两幅图中对应点的视差。从各点的视差数据和已获得的标定参数则能重建被测物体表面各点的三维坐标。通过比较施加载荷前后测量区域内各点三维坐标的变化，则能得到全场的三维位移分布。作为一种代表性的非干涉全场光学测量方法，三维数字图像相关方法相对于上述的云纹干涉法和电子散斑干涉法，具有以下突出优点：1)利用两个相机直接对被测物体表面成像，测量系统和测量过程简单；2)采用白光照明，无需激光光源，对测量环境和隔振要求低，可用于现场测量；3)直接获得被测平面或曲面物体表面形貌和全场三位变形。

当用三维数字图像相关方法测量高温物体表面变形时，当被测物体表面温度高于500℃时会辐射出可被摄像机感光芯片接收的光波，从而造成摄像机所采集图像的亮度显著增强，湮灭了原有的作为变形信息载体的散斑颗粒的灰度并降低图像的对比度，使加高温后被测物体表面图像与初始图像的相似程度大幅降低，造成所谓的“退相关效应”(如图1所示)。图1为采用普通光学成像系统拍摄的不同温度下铬镍奥氏体不锈钢试样表面的四幅数字图像：(a)20℃，(b)400℃，(c)550℃和(d)600℃。这种退相关效应会导致已有的三维数字图像相关方法中的匹配算法失败。由于普通光学成像系统的固有缺陷，目前的三维数字图像相关方法不能对表面温度高于500℃的高温物体表面的三维形貌以及力、热载荷作用下的三维变形场进行非接触、高精度测量。

发明内容

1、目的：本发明的目的是提供一种高温三维数字图像相关测量系统及其测量方法，用该系统可实现对表面温度超过500℃的平面或曲面高温物体表面的三维形貌以及力、热载荷作用下的三维变形场进行非接触、高精度测量，具有适用测量范围广泛、测量系统使用方便、测量精度高、系统结构简单紧凑等优点。

2、技术方案：

(1)本发明一种高温三维数字图像相关测量系统，它包括数字摄像机、成像镜头、带通光学滤波片、单色照明光源、标定板、由三角架、导轨和平移台组成的支座系统以及用于数字图像采集和分析处理的计算机。其位置连接关系是：数字摄像机螺孔位于其正下方，通过螺孔、螺钉将两数字摄像机固定在平移台上，平移台安装在三角架上方的导轨上；调节平移台上的旋转钮，可以方便地调整数字摄像机的方位；同时，通过调节三角架上的平移台，可方便地调整两数字摄像机之间的距离；依据被测试件的高度和方位，可通过三角架适当地调整数字摄像机的高度和俯仰角度。数字摄像机通过数据线与计算机相连，数字摄像机前安装有成像镜头，通过对成像镜头焦距的调节，可对被测试件表面清晰成像，并在计算机显示器中实时显示试件表面的图像。在测量高温物体时，带通光学滤波片通过其外圈的外螺纹与成像镜头的内螺纹连接到一起，单色照明光源位于两数字摄像机之间照明被测物体表面。此时，该高温三维数字图像系统可以清晰地拍摄得到高温试件表面的图像。

所述数字摄像机，其分辨率根据测量精度选定，可按照要求在市场上选购；

所述成像镜头，根据被测物体大小选定，可按照要求在市场上选购；

所述带通光学滤波片，其几何尺寸需与成像镜头配合以便安装在成像镜头前；可按照要求在市场上选购；

所述单色照明光源，其中心波长需位于带通光学滤波片的带通范围之内；

所述标定板是几何尺寸已知的棋盘格或规则圆点图案，可自制；

所述三角架是由型钢彼此连接的金属结构支架，可按照要求在市场上选购；

所述导轨是由截面为E型的型钢制成，可按照要求在市场上选购；

所述平移台是上方为圆柱、下面为矩形并能在导轨上滑动的件，可自制或市场上选购；

所述计算机是普通家用或商用计算机。

其中，数字摄像机的数量是2件；

其中，成像镜头的数量是2件；

其中，带通光学滤波片的数量是2件。

图2为本发明带通光学滤波片的透射光谱曲线图，该带通光学滤波片的中心波长为450nm，半带宽约为20nm，中心波长透射率高于80％。由于带通光学滤波片仅可使波长在430nm～470nm范围内的光波通过，因而可有效阻隔高温物体热辐射中波长较长且辐射强度高的光波进入数字摄像机靶面。图3为采用带通光学滤波成像系统拍摄的不同温度下铬镍奥氏体不锈钢试样表面的四幅数字图像，(a)20℃，(b)600℃，(c)1000℃和(d)1200℃。当物体表面温度高于500℃时，图像整体亮度无显著变化。这些高质量无退化的数字图像可直接由三维数字图像相关分析并得到精确可靠的变形测量结果。

(2)一种高温三维数字图像相关测量系统的测量方法，该方法具体步骤如下：

步骤一：按照测量的要求，将被测高温试件置于测量系统前方；

步骤二：将带通光学滤波片安装于两成像镜头前，利用中心波长在带通光学滤波片带通范围内的单色照明光源均匀照明被测试样，调节成像镜头焦距，使数字摄像机清晰成像；

步骤三：利用两数字摄像机同时采集至少三个方位的标定板图像，用以标定两数字摄像机的内、外部参数；

步骤四：两数字摄像机同时采集被测物体变形前后(含高温载荷或其它耦合载荷)被测试件表面的数字图像；

步骤五：用三维数字图像相关方法处理得到加载过程中试件表面的三维形貌和全场变形。

3、优点及功效：本发明与现有技术相比，具有以下明显优点及突出性效果：

①系统组成结构简单，发明创意巧妙。

在普通三维数字图像相关测量系统的两个成像镜头前各加一个带通光学滤波片，有效阻止高温物体表面热辐射中非带通范围内的其它波长的光波进入数字摄像机靶面，因此可有效克服普通成像系统在高温物体表面热辐射较强时所出现采集图像亮度饱和的现象，可获得表面温度超过500℃的高温物体表面的清晰图像；

②测量系统采用波长位于带通光学滤波片带通范围内的单色照明光源作为照明光源均匀照明被测的高温物体，该图像可用三维数字图像相关方法直接分析处理，以获得高温物体表面的三维形貌和力、热载荷作用下的三维变形场，为高温物体表面三维变形提供一种有效的非接触和高精度测量手段。

附图说明

图1为采用普通光学成像系统拍摄的不同温度下铬镍奥氏体不锈钢试样表面的四幅数字图像：(a)20℃，(b)400℃，(c)550℃和(d)600℃。

图2为本发明带通光学滤波片的透射光谱曲线。

图3为本发明采用带通光学滤波成像系统拍摄的不同温度下铬镍奥氏体不锈钢试样表面的四幅数字图像，(a)20℃，(b)600℃，(c)1000℃和(d)1200℃。当物体表面温度高于500℃时，图像整体亮度无显著变化。

图4为本发明高温三维数字图像相关测量系统示意图。

图中符号说明如下：

1第一数字摄像机；2第二数字摄像机；3第一成像镜头；4第二成像镜头；5第一带通光学滤波片；6第二带通光学滤波片；7单色照明光源；8由三角架、导轨和平移台组成的支座系统；9标定板；10计算机。

具体实施方式

下面结合附图4进一步说明本发明的具体结构及实施方式：

本发明的结构如图4所示，整个测量系统包括第一数字摄像机1，第二数字摄像机2，第一成像镜头3，第二成像镜头4，第一带通光学滤波片5，第二带通光学滤波片6，单色照明光源7，由三角支架、导轨和平移台组成的相机支座系统8，标定板9和计算机10组成。

其位置连接关系是：数字摄像机螺孔位于其正下方，通过螺孔、螺丝将第一、第二数字摄像机1、2固定在三角支架的平移台上，平移台安装在三角支架上方的导轨上；调节平移台上的旋转钮，可以方便地调整第一、第二数字摄像机1、2面向的方位；同时，通过调节三角架上的平移台，可方便地调整第一、第二两数字摄像机1、2之间的距离；第一、第二数字摄像机1、2的高度可以依据被测试件的高度通过三角支架上的螺纹丝杠机构适时地调整。第一、第二数字摄像机1、2通过数据线与计算机10相连，第一、第二数字摄像机1、2前安装有第一、第二成像镜头3、4，通过对第一、第二成像镜头3、4焦距的调节，可对被测试件表面清晰成像，并在计算机显示器中实时显示试件表面的图像。在测量高温物体时，第一、第二带通光学滤波片5、6通过其外圈的外螺纹与第一、第二成像镜头3、4的内螺纹连接到一起，此时，该高温三维数字图像系统可以清晰地拍摄得到高温试件表面的图像。

所述第一、第二成像镜头3、4，可根据被测物体大小选择；所述第一、第二带通光学滤波片5、6，其几何尺寸需与第一、第二成像镜头3、4配合以便安装在第一、第二成像镜3、4头前；所述单色照明光源7，其中心波长需位于第一、第二带通光学滤波片5、6的带通范围之内。

其中，第一、第二数字图像摄像机1、2的数量是2件；

其中，第一、第二成像镜头3、4的数量是2件；

其中，第一、第二带通光学滤波片5、6的数量是2件；

为了减少表面温度超过500℃的高温物体表面热辐射对第一、第二数字摄像机1、2所采集图像亮度增强的影响，在所述的第一、第二两个成像镜头3、4前分别安装了第一、第二带通光学滤波片5、6以对被测高温物体表面滤波成像，并采用发光波长在第一、第二带通光学滤波片5、6带通范围内的单色照明光源7均匀照明被测高温物体。

其具体的测量过程为：

(1)、将第一、第二数字摄像机1、2安置于三角支架、导轨和平移台组成的支座系统8上，第一、第二成像镜头3、4安装在第一、第二数字摄像机1、2上，第一、第二带通滤波片5、6安放于第一、第二成像镜头3、4前方；

(2)、将被测高温试件放置在测量系统正前方，打开并调整单色照明光源7，调节第一、第二成像镜头3、4的焦距和光圈使得高温试件表面能够清晰成像；

(3)、利用两个第一、第二数字摄像机同时拍摄不少于三幅不同方位的标定板图像，利用软件标定算法，如Zhang标定法(张正友.一种用于相机标定的柔性新技术.IEEE模式分析与机器智能汇刊.2000.22(11)：1330-1334)计算得到两数字摄像机的内外参数；

(4)、拍摄初始状态下被测试件的表面图像对；拍摄高温环境下不同载荷条件下被测试样的表面图像对；

(5)、利用三维数字图像相关方法计算试件表面的三维形貌以及不同状态下试件表面的三维变形场。测量前首先对双目立体视觉模型进行标定获得两个数字摄像机的内外参数，然后直接利用二维数字图像相关中的相关匹配算法得到左右两幅图中对应点的视差。从各点的视差数据和预先获得的标定参数则能恢复物体表面的三维形貌。而通过比较施加载荷前后测量区域内各点的三维形貌的变化，则能得到全场的三维位移分布。

图1为采用普通光学成像系统拍摄的不同温度下铬镍奥氏体不锈钢试样表面的四幅数字图像：(a)20℃，(b)400℃，(c)550℃和(d)600℃。

图2为本发明带通光学滤波片的透射光谱曲线。该带通光学滤波片的中心波长为450nm，半带宽约为20nm，中心波长透射率高于80％。

图3为本发明采用带通光学滤波成像系统拍摄的不同温度下铬镍奥氏体不锈钢试样表面的四幅数字图像，(a)20℃，(b)600℃，(c)1000℃和(d)1200℃。当物体表面温度高于500℃时，图像整体亮度无显著变化。

Claims (5)

1.一种高温三维数字图像相关测量系统，其特征在于：它包括2件数字摄像机、成像镜头、带通光学滤波片、单色照明光源、标定板、由三角架、导轨和平移台组成的支座系统以及用于数字图像采集和分析处理的计算机；其位置连接关系是：数字摄像机螺孔位于其正下方，通过螺孔、螺钉将数字摄像机固定在三角架的平移台上，平移台安装在三角架上方的导轨上；调节平移台上的旋转钮，调整数字摄像机面向的方位；通过调节三角架上的平移台，调整数字摄像机之间的距离；依据被测试件的高度和方位，通过三角架调整数字摄像机的高度和俯仰角度；数字摄像机通过数据线与计算机相连，数字摄像机前安装有成像镜头，通过对成像镜头焦距的调节，得到试件表面的图像，在测量高温物体时，带通光学滤波片通过其外圈的外螺纹与成像镜头的内螺纹连接到一起，单色照明光源位于2件数字摄像机之间，此时，该高温三维数字图像系统清晰地拍摄得到高温试件表面的图像；

所述带通光学滤波片，其几何尺寸需与成像镜头配合以便安装在成像镜头前；

所述单色照明光源，其中心波长需位于带通光学滤波片的带通范围之内；

所述标定板是几何尺寸已知的棋盘格或规则圆点图案；

所述导轨是由截面为E型的型钢制成。

2.根据权利要求1所述的一种高温三维数字图像相关测量系统，其特征在于：该成像镜头的数量是2件，它根据被测物体大小选定。

3.根据权利要求1所述的一种高温三维数字图像相关测量系统，其特征在于：该带通光学滤波片的数量是2件。

4.根据权利要求1所述的一种高温三维数字图像相关测量系统，其特征在于：该平移台是上方为圆柱、下面为矩形并能在导轨上滑动的件。

5.一种高温三维数字图像相关测量系统的测量方法，该方法具体步骤如下：

步骤一：按照测量的要求，将被测高温试件置于测量系统前方；

步骤二：将带通光学滤波片安装于两成像镜头前，利用中心波长在带通光学滤波片带通范围内的单色照明光源均匀照明被测试样，调节成像镜头焦距，使相机清晰成像；

步骤三：利用两数字摄像机同时采集至少三个方位的标定板图像，用以标定两数字摄像机的内、外部参数；

步骤四：两数字摄像机同时采集被测物体变形前后被测试件表面的数字图像；

步骤五：用三维数字图像处理得到加载过程中试件表面的三维形貌和全场变形。

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