CN101997738B - 一种实现stm-1接口的多路e1口的测试方法和系统 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种实现STM-1接口的多路E1口的测试方法和系统，该方法包括：将中间设备线路侧的STM-1接口上的每个E1口与中间设备支路侧的N路E1口建立一一对应关系；将中间设备支路侧的N路E1口依次串联，形成N路E1口串联测试通道并连接SDH测试仪，中间设备线路侧的STM-1接口对接被测设备的STM-1接口；SDH测试仪通过N路E1口串联测试通道对被测设备的STM-1接口的所有E1口同时进行测试；其中，N为大于等于2的整数。本发明利用中间设备完成多路E1口串接及其到STM-1接口的映射，通过网管完成对STM-1接口上多路E1口的每路E1口的监控，实现了STM-1接口上多路E1口的同时测试。

Description

一种实现STM-1接口的多路E1口的测试方法和系统
技术领域
本发明涉及通道化STM-1接口中的E1口测试，特别涉及一种实现通道化STM-1接口的多路E1口的测试方法和系统。
背景技术
通道化STM-1接口在测试时，一般都是通过测试通道化STM-1接口的63路E1口中的某一路E1口实现接口误码性能测试的，但由于物理走线、时钟分发等不同，通道化STM-1接口的63路E1口的每路E1口都有各自的特性，只测试其中一路或者几路并不能代表通道化STM-1接口的63路E1口所有通路的误码性能，不能表示通道化STM-1接口的63路E1口所有通路都可以正常收发包，所以在严格测试要求下应该是通道化STM-1接口（为了简便起见，以下将通道化STM-1接口简称为STM-1接口）的63路E1口都测试，但因为每路测试一般实验室要求24小时不丢包，63路E1口都测试完需要大量的时间，这就需要大量的人力和物力，并且目前市面上大部分SDH测试仪表一般都不支持这种功能，而个别支持这种功能的测试仪表非常昂贵。
发明内容
本发明的目的在于提供一种实现STM-1接口的多路E1口的测试方法，用于解决STM-1接口上多路E1口同时测试的问题。
本发明的另一目的在于提供一种实现STM-1接口的多路E1口的测试系统，用于解决STM-1接口上多路E1口同时测试的问题。
根据本发明的一个方面，提供了一种实现STM-1接口的多路E1口的测试方法，包括以下步骤：
A、将中间设备线路侧的STM-1接口上的每个E1口与中间设备支路侧的N路E1口建立一一对应关系；
B、将中间设备支路侧的N路E1口依次串联，形成N路E1口串联测试通道；
C、将N路E1口串联测试通道连接同步数字体系SDH测试仪，并将中间设备线路侧的STM-1接口对接被测设备的STM-1接口；
D、SDH测试仪通过N路E1口串联测试通道对被测设备的STM-1接口的所有E1口同时进行测试；
其中，N为大于等于2的整数。
优选的，N路E1口串联测试通道中的每个E1口通过中间设备线路侧的STM-1接口与被测设备的STM-1接口的所有E1口建立一一对应关系。
优选的，一一对应关系通过映射实现。
优选的，中间设备支路侧的N路E1口串联方式包括：SDH测试仪的发送端连接第1路E1口的接收端，第1路E1口的发送端连接第2路E1口的接收端，直至第N-1路E1口的发送端连接第N路E1口的接收端，第N路E1口的发送端连接SDH测试仪的接收端。
优选的，若SDH测试仪测得E1口的串联测试通道出现误码，则可通过中间设备的网管查看被测设备的STM-1接口上具体出现误码的E1口。
根据本发明的另一方面，提供了一种实现STM-1接口的多路E1口的测试系统，包括：
中间设备支路侧，用于将N路E1口依次串联，形成N路E1口串联测试通道；
中间设备线路侧，用于将STM-1接口上的每个E1口与中间设备支路侧的N路E1口建立一一对应关系，并将STM-1接口对接被测设备STM-1接口；
同步数字体系测试仪，用于连接N路E1口串联测试通道，通过N路E1口串联测试通道对被测设备的STM-1接口的所有E1口同时进行测试；
其中，N为大于等于2的整数。
优选的，N路E1口串联测试通道中的每个E1口通过中间设备线路侧的STM-1接口与被测设备的STM-1接口的所有E1口建立一一对应关系。
优选的，一一对应关系通过映射实现。
优选的，中间设备支路侧的N路E1口串联方式包括：SDH测试仪的发送端连接第1路E1口的接收端，第1路E1口的发送端连接第2路E1口的接收端，直至第N-1路E1口的发送端连接第N路E1口的接收端，第N路E1口的发送端连接SDH测试仪的接收端。
优选的，若SDH测试仪测得E1口的串联测试通道出现误码，则可通过中间设备的网管查看被测设备的STM-1接口上具体出现误码的E1口。
与现有技术相比较，本发明的有益效果在于：本发明利用中间设备完成多路E1口的串接和E1口到STM-1接口的映射，并通过网管完成对STM-1接口上多路E1口的每路E1口的监控，实现了STM-1接口上的多路E1口的同时测试。
附图说明
图1是本发明提供的STM-1接口的多路E1口的测试方法的流程示意图；
图2是本发明提供的STM-1接口的多路E1口的测试系统的结构示意图；
图3是本发明实施例提供的中间设备支路侧E1口串联后与SDH测试仪的对接示意图；
图4是本发明实施例提供的中间设备支路侧E1口到中间设备线路侧STM-1接口中N路E1口的映射模型示意图；
图5是本发明实施例提供的STM-1接口的多路E1口的测试方法的实现流程图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的优选实施例进行详细说明，应当理解，以下所说明的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。
图1显示了本发明提供的STM-1接口的多路E1口的测试方法的流程示意，如图1所示：
步骤S101，将中间设备线路侧的STM-1接口上的每个E1口与中间设备支路侧的N路E1口建立一一对应关系，N路E1口串联测试通道中的每个E1口通过中间设备线路侧的STM-1接口与被测设备的STM-1接口的所有E1口建立了一一对应关系，该一一对应关系通过映射实现，由于中间设备支路侧的N路E1口的串联，使得映射构成了被测设备的N个E1口的串联。其中，N为大于等于2的整数。
步骤S102，将中间设备支路侧的N路E1口依次串联，形成N路E1口串联测试通道，串联方式为：SDH测试仪的发送端连接第1路E1口的接收端，第1路E1口的发送端连接第2路E1口的接收端，直至第N-1路E1口的发送端连接第N路E1口的接收端，第N路E1口的发送端连接SDH测试仪的接收端。
步骤S103，将N路E1口串联测试通道连接SDH测试仪，并将中间设备线路侧的STM-1接口对接被测设备的STM-1接口。
步骤S104，SDH测试仪通过N路E1口串联测试通道对被测设备的STM-1接口的所有E1口同时进行测试。若被测设备通道化STM-1接口中有任意一路E1口出现问题，则SDH测试仪上会出现相应的告警，但仅通过查看SDH测试仪无法判断是哪一路E1口出现问题，可通过中间设备的网管查看被测设备的STM-1接口上进行告警的E1口，同时可以查看告警类型等。
图2显示了本发明提供的STM-1接口的多路E1口的测试系统的结构示意，如图2所示，该系统包括SDH测试仪、中间设备和被测设备，其中中间设备分为中间设备支路侧和中间设备线路侧。
在中间设备支路侧将N路E1口依次串联，形成N路E1口串联测试通道，串联方式为：SDH测试仪的发送端连接第1路E1口的接收端，第1路E1口的发送端连接第2路E1口的接收端，直至第N-1路E1口的发送端连接第N路E1口的接收端，第N路E1口的发送端连接SDH测试仪的接收端。
中间设备线路侧将STM-1接口上的每个E1口与中间设备支路侧的N路E1口建立一一对应关系，并将STM-1接口对接被测设备STM-1接口。N路E1口串联测试通道中的每个E1口通过中间设备线路侧的STM-1接口与被测设备的STM-1接口的所有E1口建立了一一对应关系，该一一对应关系通过映射实现，由于中间设备支路侧的N路E1口的串联，使得映射构成了被测设备的N个E1口的串联。
SDH测试仪连接N路E1口串联测试通道，通过N路E1口串联测试通道对被测设备的STM-1接口的所有E1口同时进行测试。SDH测试仪测得E1口的串联测试通道出现误码，则可通过中间设备的网管查看被测设备的STM-1接口上具体出现误码的E1口。
图3显示了本发明实施例提供的中间设备支路侧E1口串联后与SDH测试仪的对接示意，如图3所示，L1、L2和L3分别具有21个E1口，SDH测试仪的发送端连接第1路E1口的接收端，第1路E1口的发送端连接第2路E1口的接收端，直至第N-1路E1口的发送端连接第N路E1口的接收端，第N路E1口的发送端连接SDH测试仪的接收端。
中间设备支路侧接收线路输入的电信号，经过背板送往业务板处理，发送时，接收经背板送入的业务板信号，输出至中间设备线路侧。
中间设备线路侧完成接口转换，完成接收方向数据的解复用以及发送方向数据的复用功能。完成净荷数据与开销的分离和插入；实现信号的段开销的提前和插入；完成指针处理、告警处理、误码统计和ECC转发处理；完成系统高阶交叉和低阶交叉已经通道保护等功能。
图4显示了本发明实施例提供的中间设备支路侧E1口到中间设备线路侧STM-1接口中N路E1口的映射模型示意，如图4所示，横坐标表示中间设备支路侧的E1口，纵坐标表示中间设备线路侧STM-1接口上的E1口。中间设备线路侧的STM-1接口与被测设备的通道化STM-1接口对接，中间设备把支路侧串接的多路E1口映射到中间设备线路侧的STM-1接口，从而构成了被测设备的STM-1接口上N个E1口的串联连接。
图5显示了本发明实施例提供的STM-1接口的多路E1口的测试方法的实现流程，如图5所示：
步骤S501，SDH测试仪的发送端连接中间设备的第1路E1口的接收端。
步骤S502，中间设备支路侧的N个E1口串联连接，连接方式为：第1路E1口的发送端连接第2路E1口的接收端，直至第N-1路E1口的发送端连接第N路E1口的接收端，然后，第N路E1口的发送端连接SDH测试仪的接收端。
步骤S503，中间设备线路侧的STM-1接口的N个E1口与中间设备支路侧的N个E1口进行一一映射。
步骤S504，若经过长时间的测试，SDH测试仪出现告警，则中间设备的网管查看是哪一路E1口出现问题，并查看告警类型。
此外，若经过长时间的测试，SDH测试仪未出现告警，则测试结束。
综上所述，本发明具有以下技术效果：本发明将E1口映射到相应的容器中和从相应的映射中取出E1口完成，实现了STM-1接口的多路E1口的同时测试，简化了测试流程，节省了大量的人力和物力。
尽管上文对本发明进行了详细说明，但是本发明不限于此，本领域技术人员可以根据本发明的原理进行各种修改。因此，凡按照本发明原理所作的修改，都应当理解为落入本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种实现STM-1接口的多路E1口的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
A、将中间设备线路侧的STM-1接口上的每个E1口与中间设备支路侧的N路E1口建立一一对应关系；
B、将中间设备支路侧的N路E1口依次串联，形成N路E1口串联测试通道；
C、将所述N路E1口串联测试通道连接同步数字体系SDH测试仪，并将中间设备线路侧的STM-1接口对接被测设备的STM-1接口；以及
D、所述SDH测试仪通过N路E1口串联测试通道对被测设备的STM-1接口的所有E1口同时进行测试；
其中，N为大于等于2的整数；
其中，所述STM-1接口是通道化STM-1接口。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述N路E1口串联测试通道中的每个E1口通过中间设备线路侧的STM-1接口与被测设备的STM-1接口的所有E1口建立一一对应关系。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述一一对应关系通过映射实现。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述中间设备支路侧的N路E1口串联方式包括：SDH测试仪的发送端连接第1路E1口的接收端，第1路E1口的发送端连接第2路E1口的接收端，直至第N-1路E1口的发送端连接第N路E1口的接收端，第N路E1口的发送端连接SDH测试仪的接收端。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，若所述SDH测试仪测得所述E1口的串联测试通道出现误码，则可通过中间设备的网管查看被测设备的STM-1接口上具体出现误码的E1口。
6.一种实现STM-1接口的多路E1口的测试系统，其特征在于，包括：
中间设备支路侧，用于将N路E1口依次串联，形成N路E1口串联测试通道；
中间设备线路侧，用于将STM-1接口上的每个E1口与中间设备支路侧的N路E1口建立一一对应关系，并将STM-1接口对接被测设备STM-1接口；以及
同步数字体系测试仪，用于连接所述N路E1口串联测试通道，通过N路E1口串联测试通道对被测设备的STM-1接口的所有E1口同时进行测试；
其中，N为大于等于2的整数；
其中，所述STM-1接口是通道化STM-1接口。
7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述N路E1口串联测试通道中的每个E1口通过中间设备线路侧的STM-1接口与被测设备的STM-1接口的所有E1口建立一一对应关系。
8.根据权利要求6或7所述的系统，其特征在于，所述一一对应关系通过映射实现。
9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述中间设备支路侧的N路E1口串联方式包括：SDH测试仪的发送端连接第1路E1口的接收端，第1路E1口的发送端连接第2路E1口的接收端，直至第N-1路E1口的发送端连接第N路E1口的接收端，第N路E1口的发送端连接SDH测试仪的接收端。
10.根据权利要求9所述的系统，其特征在于，若所述SDH测试仪测得所述E1口的串联测试通道出现误码，则可通过中间设备的网管查看被测设备的STM-1接口上具体出现误码的E1口。
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