CN101923146A - 电源测试控制装置 - Google Patents

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谢玲玉
黄圣钟
吴坤隆
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Abstract

一种电源测试系统，包括一用于测试电源供应器的测试设备及一测试控制装置，所述测试控制装置设定执行每一测试项目的时间长度及重复次数，所述测试设备根据所述测试控制装置的设定自动切换测试项目，对所述电源供应器进行测试并记录测试数据。本发明电源测试系统利用所述测试控制装置控制所述测试设备对电源供应器进行测试，自动化程度提高。

Description

电源测试控制装置
技术领域
本发明涉及一种控制装置，特别是一种电源测试控制装置。
背景技术
作为PC(Personal Computer，个人电脑)的“动力系统”，电源系统为主板、键盘、鼠标、系统时钟、软件开关机以及PC网络远程唤醒提供必备电源，电源系统的性能是提高PC整机系统的可用性、可靠性的关键之一。
因此对PC电源供应器进行严格的测试尤为必要，电源测试包括SB(Standby，待机)测试、Normal(常规)测试、OTP(Overtemperature protection，过热保护)测试等项目。SB测试是指电源供应器接通交流电源但未开启时对其进行的测试，此时电源供应器处于关闭状态，仅有少量的待机电压(如+5VSB)供电源启动电路使用。Normal测试是指电源供应器在有交流电源供电时开启，无交流电时关闭的状态下对电源供应器进行的测试。OTP测试是指在高温条件下对电源进行测试，以验证电源供应器工作的稳定性。
传统的电源测试方法一般是利用专用的电源测试设备对电源进行测试，并可记录各项测试数据，但是，测试项目的切换需要人工控制，测试成本高，且在无人的情况下，测试设备只能暂停使用，测试设备资源的利用率低。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种自动切换测试项目的电源测试控制装置。
一种电源测试系统，包括一用于测试电源供应器的测试设备及一测试控制装置，所述测试控制装置设定执行每一测试项目的时间长度及重复次数，所述测试设备根据所述测试控制装置的设定自动切换测试项目，对所述电源供应器进行测试并记录测试数据。
相较于现有技术，本发明电源测试系统利用所述测试控制装置设定执行每一测试项目的时间及重复次数，以使所述测试设备自动测试所述电源供应器，无需人工切换测试项目，节省人力成本。
附图说明
图1是本发明较佳实施方式电源测试系统的组成框图，所述电源测试系统包括一测试设备、一电源供应器及一测试控制装置。
图2是图1中测试控制装置的组成图。
图3及图4是图2中测试控制装置的电路图。
图5是电源测试相关信号的时序图。
具体实施方式
请参阅图1，本发明电源测试系统较佳实施方式包括一测试设备100、一电源供应器200及一测试控制装置300。所述测试控制装置300预设测试每一项目的时间长度及重复次数，所述测试设备100根据所述设定对所述电源供应器200进行测试，并记录测试数据。
请参阅图2，所述测试控制装置300包括一MCU(Microcontroller Unit，微控制器)310，MCU又称单片机(Single Chip Microcomputer)，是将计算机的CPU(CentralProcessing Unit，中央处理器)、RAM(Random Access Memory，随机存取存贮器)、ROM(Read Only Memory，只读存储器)、定时计数器和多种I/0(输入/输出)接口集成在一片芯片上，形成芯片级的计算机。
所述MCU 310外接一AC(Alternating Current，交流)电压切换电路320、一AC开关电路330、一PSON(Power On，电源开启)信号切换电路340、一风扇开关电路350、一报警电路360及一扫描信号发送电路370，所述MCU 310发出信号控制上述外接电路。
所述MCU 310还外接有一AC检测电路380及一时钟信号产生电路390，所述AC检测电路380发送指示有无AC电源的信号及指示AC电源的电压高低的信号至所述MCU 310，所述时钟信号产生电路390发送时钟信号及PG(Power Good，电源良好)信号至所述MCU 310。
请参阅图3及图4，所述AC检测电路380包括一第一LM358芯片382，LM358芯片382内集成有两个运算放大器，每一运算放大器均可接上外围电路作电压比较器用，可将AC电源的电压与两个不同的临界值(2.5V和160V)作比较。当所述AC检测电路380检测到有AC电源时，即AC电源的电压超过一第一临界值(2.5V)时，所述AC检测电路380的输出端P1.3输出高电平的信号至所述MCU 310的P1.3接口，通知所述MCU 310存在AC电源；反之，则输出低电平的信号至所述MCU 310的P1.3接口，通知所述MCU 310不存在AC电源。当检测到AC电源的电压超过一第二临界值时(160V)时，所述AC检测电路380的输出端P1.0输出高电平的信号至所述MCU310的P1.0接口，通知所述MCU 310AC电源的电压为高电平；反之，则输出低电平的信号至所述MCU 310的P1.0接口，通知所述MCU 310AC电源的电压为低电平。
所述AC电压切换电路320的开关322由一继电器324控制，所述MCU 310的P1.2接口根据检测到的AC电源电压的高低发出相应信号控制所述AC电压切换电路320。在AC电源电压为低电平(小于160V)时，如90V或115V时，将开关322调节至低档位，使所述电源供应器200可在90V或115V交流电压下开启；由于所述开关322在默认状态下为高档位，因此在AC电源电压为高电平时，如230V或264V时，不必对开关322进行动作，所述电源供应器200即可在230V或264V的交流电压下开启。
所述AC开关电路330的开关332由一继电器334控制，在所述AC电压切换电路320的开关322处于适当的档位之后，所述MCU 310的P1.1接口根据程序设定自动开启或关闭所述AC开关电路330的开关332，以开启或关闭所述电源供应器200的AC电源。
所述PSON信号切换电路340的开关342由一继电器344控制，所述MCU 310的P1.4接口发出控制信号控制PSON信号的高低。当所述PSON信号为高电平时，所述电源供应器200关闭，此时如果所述电源供应器200外接有交流电源，所述电源供应器200仅有少量的待机电压(如+5VSB)供电源启动电路使用，其各路输出电压均为0；当所述PSON信号为低电平时，所述电源供应器200开启，并输出+5V、+12V、+3.3V等多路直流低压电源。
所述风扇开关电路350的开关352由一继电器354控制，在OTP测试阶段，所述MCU 310的P1.6接口发出控制信号控制所述继电器354及开关352，周期性的关闭所述电源供应器200的风扇，以提高所述电源供应器200的温度，在高温的条件下对所述电源供应器200进行测试。
所述报警电路360包括一扬声器362，在测试完毕或检测到错误信息时所述MCU 310的P2.7接口发出控制信号开启所述扬声器362，使所述报警电路360发出报警信号。
所述扫描信号发送电路370的输入端接所述MCU 310的P1.7接口，输出端EXT接所述测试设备100，所述MCU 310的P1.7接口输出扫描信号通过所述扫描信号发送电路370发送至所述测试设备100，控制所述测试设备100在每一项测试时读取一组测试数据。
所述时钟信号产生电路390包括一产生时钟信号的芯片392及一第二LM358芯片394，所述芯片394内部包括两个运算放大器，其中一个运算放大器将所述芯片392产生的时钟信号放大并输出至所述MCU 310的CLK接口，为所述MCU 310提供精确的时钟信号，另一个运算放大器将所述电源供应器200产生的PG(Power Good，电源良好)信号输出至所述MCU 310的P1.5接口。
所述MCU 310的P2.1接口还外接一测试项目选择电路312，所述测试项目选择电路312包括一开关314，当开关314闭合时，所述MCU 310的P2.1接口的电平为低，确定测试项目执行次数总共为10次，即SB测试执行2次，Normal测试执行4次，OTP测试执行4次；当开关314断开时，所述MCU 310的P2.1接口的电平为高，确定测试项目执行次数总共为15次，即SB测试执行3次，Normal测试执行6次，OTP测试执行6次。
请参阅图5，在对所述电源供应器200进行第一次SB测试的半个周期内供给所述电源供应器200的AC电压信号为90V，另半个周期内AC电压信号为0；第二次SB测试的半个周期内供给所述电源供应器200的AC电压信号为264V，另半个周期内AC电压信号为0。在对所述电源供应器200进行第一次Normal测试的半个周期内供给所述电源供应器200的AC电压信号为90V，另半个周期内AC电压信号为0；第二次Normal测试的半个周期内供给所述电源供应器200的AC电压信号为264V，另半个周期内AC电压信号为0；如此，再重复一次，总共进行四次Normal测试。在对所述电源供应器200进行第一次OTP测试的半个周期内供给所述电源供应器200的AC电压信号为115V，另半个周期内AC电压信号为0；第二次OTP测试的半个周期内供给所述电源供应器200的AC电压信号为230V，另半个周期内AC电压信号为0；如此，再重复一次，总共进行四次在对所述电源供应器200进行第一次Normal测试的半个周期内供给所述电源供应器200的AC电压信号为90V，另半个周期内AC电压信号为0；第二次Normal测试的半个周期内供给所述电源供应器200的AC电压信号为264V，另半个周期内AC电压信号为0；如此，再重复一次，总共进行四次Normal测试OTP测试。
AC开关信号跟随AC电压信号的有无跳变为高或低；AC切换信号在AC电压为低(即小于160V)时，跳变为高，以切换AC电压的档位，使电源供应器200能在低压交流供电的情况下正常开启(默认的档位为高，因此在264V或230V的情况下无需切换)；在SB测试阶段，PSON信号为高，电源供应器200关闭，在有交流电源的情况下，电源供应器200存在少量的备份电压，所述测试设备100在电源供应器200关闭时对其备份电压进行测试；PSON信号在Normal测试及OTP测试阶段与所述AC开关信号同步，但与所述AC开关信号具有相反的逻辑状态。
扫描信号在AC电压供电的每一个周期内，在很短的时间内跳变为高电平，以告知所述测试设备100在每一项测试进行一次时，读取一组测试数据，避免按照传统的方式不间断读取测试数据从而产生过多的不必要的测试数据。
风扇控制信号在SB测试及Normal测试阶段，均为高电平，此时风扇正常响应电源供应器200的启动，在电源供应器200的启动后开始工作；风扇控制信号在OTP测试阶段，周期性的跳变为低电平使风扇周期性的停止工作，以提高电源供应器200的温度，对电源供应器200进行OTP测试。
测试时，温度信号由C1(35℃)上升为C2(45℃)，该温度信号由所述测试设备100提供，可对所述电源供应器200进行温升测试。
在本发明较佳实施方式中，所述MCU 310设定每一项测试执行一次的时间为1小时，自动切换AC电压及测试项目，测试可在夜间无人看管的情况下自动进行，节省人力成本，且测试设备利用率及自动化程度均得以提高。

Claims (10)

1.一种电源测试系统，包括一用于测试电源供应器的测试设备，其特征在于：所述电源测试控制系统还包括一测试控制装置，所述测试控制装置设定执行每一测试项目的时间及重复次数，所述测试设备根据所述测试控制装置的设定自动切换测试项目，对所述电源供应器进行测试并记录测试数据。
2.如权利要求1所述的电源测试系统，其特征在于：所述测试控制装置包括一单片机，所述单片机接有一交流电源电压切换电路，所述单片机根据检测到的交流电源电压的高低将所述交流电源电压切换电路的开关切换至适当档位，使所述电源供应器在该适当档位下能正常开启。
3.如权利要求2所述的电源测试系统，其特征在于：所述单片机外接一交流电源开关电路，以开启或者关闭所述电源供应器的交流电源。
4.如权利要求3所述的电源测试系统，其特征在于：所述单片机外接一电源开启信号切换电路，所述电源开启信号为高电平时，关闭所述电源供应器；所述电源开启信号为低电平时开启所述电源供应器。
5.如权利要求4所述的电源测试系统，其特征在于：所述单片机外接一风扇开关电路，在对所述电源供应器进行过热保护测试时周期性的关闭所述电源供应器的风扇。
6.如权利要求5所述的电源测试系统，其特征在于：所述单片机外接一报警电路，并控制该报警电路在测试完毕后或检测到错误信息时发出报警信号。
7.如权利要求6所述的电源测试系统，其特征在于：所述单片机外接一时钟信号产生电路，以接收外部时钟信号。
8.如权利要求7所述的电源测试系统，其特征在于：所述时钟信号产生电路包括一产生时钟信号的芯片及一个放大该时钟信号的芯片。
9.如权利要求1所述的电源测试系统，其特征在于：所述单片机外接一交流电源检测电路以检测是否有交流电源及交流电源电压高低。
10.如权利要求9所述的电源测试系统，其特征在于：所述交流电源检测电路包括一作比较器用的芯片，所述芯片内集成有两个运算放大器，将交流电源的电压与两个不同的临界值作比较，并分别输出指示交流电源有无的信号及指示交流电源电压高低的信号至所述单片机。
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