CN101820047B - 一种提高ZnO薄膜材料的压电常数的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了属于新材料技术领域的一种提高ZnO薄膜材料的压电常数的方法。制备掺入不同Fe含量的ZnO薄膜,Fe掺杂的ZnO薄膜组成成分及各成分原子百分比为:0≤Fe≤2.6at.%,47.4at.%≤Zn≤50at.%,其余为O;对Fe掺杂的ZnO薄膜在O2气氛下进行热处理。当Fe含量为1.2at.%时,Fe掺杂的ZnO薄膜可以不进行热处理也能有较大的压电常数。通过合适的Fe含量掺杂或者在O2气氛下退火,可以提高ZnO薄膜材料的压电常数,得到比未掺杂的ZnO薄膜大一个数量级的压电常数。
Description
技术领域
本发明属于新材料技术领域,特别涉及一种提高ZnO薄膜材料的压电常数的方法。
背景技术
声表面波器件是一种重要的固体电子器件,具有体积小、重量轻,信号处理能力优异等优点,广泛应用于移动通讯,电视广播以及各类军用雷达、通信系统中,具有巨大的市场需求和广阔的发展前景。随着第三代移动通讯技术的发展,声表面波器件的使用频率不断提高,这就要求声表面波器件的插入损耗更低。声表面波器件中压电薄膜材料的压电常数是表征机械性能和电性能之间相互转换的重要参数,压电常数越大,机电转换效率越高,插入损耗越小。当前无论从国际和国内的形势来看都要求各种器件能够减少能耗,达到低碳环保的要求。如果声表面波器件中压电薄膜的压电常数d33能提高,这不仅能解决插入损耗的问题,还能降低器件的能耗,成为低碳环保器件。通过掺杂的方法可以获得较高的d33,但是不同元素不同含量掺杂获得d33大小相差很大,若能调控掺杂ZnO薄膜的d33就能调控声表面波器件性能。目前调研的结果还没有发现采用Fe掺杂和后续热处理的方法来提高ZnO薄膜材料的压电常数。
发明内容
本发明的目的是提供一种提高ZnO薄膜材料的压电常数的方法,其特征在于:制备掺入不同Fe含量的ZnO薄膜,Fe掺杂的ZnO薄膜组成成分及各成分原子百分比为:0<Fe≤2.6at.%,47.4at.%≤Zn≤50at.%,其余为O;当Fe掺杂的ZnO薄膜中Fe含量不为1.2at.%时,对Fe掺杂的ZnO薄膜在O2气氛下进行热处理,经上述步骤来提高ZnO薄膜材料的压电常数。
Fe掺杂的ZnO薄膜中Fe含量为1.2at.%时,不用在O2气氛下进行热处理,也可以获得较高的压电常数,也可以对Fe掺杂的ZnO薄膜在O2气氛下进行热处理,但其压电常数与不进行热处理时提高不大。
所述热处理温度为500~600℃,时间为1~2小时。
采用不同Fe含量掺杂ZnO以及将所制备的薄膜在O2气氛下进行退火的方法来提高ZnO:Fe的d33。ZnO:Fe薄膜中Fe替代Zn的位置,通过调节Fe离子的尺寸,从而调控ZnO薄膜的d33。在施加外电场时,d33的大小取决于:和外电场不在一条直线上的Zn-O1键转向外电场方向的难易程度。若Fe以小尺寸的Fe3+的形式替代Zn2+的位置,当施加外电场时Fe3+-O1键比Zn-O1键更容易转向外电场方向,则相应的d33比未掺杂的ZnO薄膜提高一个数量级。而Fe以大尺寸的Fe2+的形式替代Zn2+的位置,当施加外电场时Fe2+-O1键比Zn-O1键更难以转向外电场方向,因而压电常数比未掺杂的ZnO薄膜还小。
本发明的有益效果为:通过合适的Fe含量掺杂或者在O2气氛下退火,可以提高ZnO薄膜材料的压电常数,获得比未掺杂的ZnO薄膜大一个数量级的压电常数。
具体实施方式
可以采用物理气相沉积、化学气相沉积、溶胶-凝胶和电化学的方法制备不同Fe含量掺杂的ZnO薄膜,Fe掺杂的ZnO薄膜组成成分及各成分原子百分比为:0<Fe≤2.6at.%,47.4at.%≤Zn≤50at.%,其余为O。
实施例:采用直流反应溅射的方式制备Fe掺杂的ZnO薄膜,其组成成分为:Fe为0~2.6at.%,Zn为47.4~50at.%,其余为O。
通过掺入合适的Fe含量来提高d33:未掺杂的ZnO薄膜其d33=11.6pC/N。
Fe含量为1.2at.%,Zn为48.8at.%,其余为O的薄膜显示出优异的压电性能,d33=127pC/N。当Fe含量为1.2at.%时,Fe被充分氧化成Fe3+,以小尺寸Fe3+的形式替代Zn2+的位置,小尺寸的Fe3+可以偏离其平衡位置发生振动,当施加外电场时Fe3+-O1键就比Zn-O1键更容易转向外电场方向,因而相应的压电常数比未掺杂的ZnO薄膜大一个数量级。
Fe含量为2.6at.%,Zn为47.4at.%,其余为O的薄膜压电性能较差,d33=7pC/N。当Fe含量为2.6at.%时,Fe只能被氧化成Fe2+,以大尺寸Fe2+的形式替代Zn2+的位置,大尺寸的Fe2+被限制在其平衡位置,当施加外电场时Fe2+-O1键比Zn-O1键更难转向外电场方向,因而相应的压电常数比未掺杂的ZnO薄膜还小。
通过后续热处理的方法来提高d33:
Fe含量为0,1.2at.%和2.6at.%的三种薄膜在O2气氛下500℃退火1小时后,d33分别变成12.1,128和120pC/N,其中Fe含量为2.6at.%的压电常数提高一个数量级。O2气氛下退火后,Fe2+被充分氧化成Fe3+,以小尺寸Fe3+的形式替代Zn2+的位置,当施加外电场时Fe3+-O1键比Zn-O1键更容易转向外电场方向,因而相应的压电常数也得到极大的提高。不掺Fe的ZnO薄膜退火后压电常数提高非常小,可以说明Fe掺杂在ZnO薄膜中作用显著。
Fe含量为0,1.2at.%和2.6at.%的三种薄膜在O2气氛下500℃退火1小时,然后再在H2气氛下500℃退火1小时后d33分别变成11.8,9和7pC/N。H2气氛下退火后,ZnO:Fe薄膜中Fe3+均被还原成Fe2+,以大尺寸Fe2+替代Zn2+的位置,当施加外电场时Fe2+-O1键比Zn-O1键更难转向外电场方向,因而相应的压电常数比未掺杂的ZnO薄膜还小。
Fe含量为0,1.2at.%和2.6at.%的三种薄膜在O2气氛下500℃退火1小时,再在H2气氛下500℃退火1小时,然后又在O2气氛下500℃退火1小时后,d33分别变成12,120和110pC/N。三种薄膜最后在O2气氛下退火后,ZnO:Fe中Fe离子被充分氧化成Fe3+,因而后两种ZnO:Fe薄膜重新获得极大的d33。
Claims (4)
1.一种提高ZnO薄膜材料的压电常数的方法,其特征在于:制备掺入不同Fe含量的ZnO薄膜,Fe掺杂的ZnO薄膜组成成分及各成分原子百分比为:0<Fe≤2.6at.%,47.4at.%≤Zn≤50at.%,其余为O;当Fe掺杂的ZnO薄膜中Fe含量不为1.2at.%时,对Fe掺杂的ZnO薄膜在O2气氛下进行热处理,经上述步骤来提高ZnO薄膜材料的压电常数。
2.根据权利要求1所述的一种提高ZnO薄膜材料的压电常数的方法,其特征在于:Fe掺杂的ZnO薄膜中Fe含量为1.2at.%时,对Fe掺杂的ZnO薄膜在O2气氛下进行热处理。
3.根据权利要求1所述的一种提高ZnO薄膜材料的压电常数的方法,其特征在于:所述热处理温度为500~600℃,时间为1~2小时。
4.根据权利要求2所述的一种提高ZnO薄膜材料的压电常数的方法,其特征在于:当Fe掺杂的ZnO薄膜中Fe含量为1.2at.%时,所述热处理温度为500~600℃,时间为1~2小时,当Fe掺杂的ZnO薄膜中Fe含量不为1.2at.%时,所述热处理温度为500~600℃,时间为1~2小时。
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