CN101769475A - 影像测量仪光源及利用该光源的自动定位系统 - Google Patents

影像测量仪光源及利用该光源的自动定位系统 Download PDF

Info

Publication number
CN101769475A
CN101769475A CN200810306759A CN200810306759A CN101769475A CN 101769475 A CN101769475 A CN 101769475A CN 200810306759 A CN200810306759 A CN 200810306759A CN 200810306759 A CN200810306759 A CN 200810306759A CN 101769475 A CN101769475 A CN 101769475A
Authority
CN
China
Prior art keywords
lens
light source
image
workpiece
opening
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN200810306759A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101769475B (zh
Inventor
张旨光
蒋理
李东海
袁忠奎
薛晓光
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Original Assignee
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd, Hon Hai Precision Industry Co Ltd filed Critical Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Priority to CN200810306759.7A priority Critical patent/CN101769475B/zh
Priority to US12/430,127 priority patent/US8217999B2/en
Publication of CN101769475A publication Critical patent/CN101769475A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101769475B publication Critical patent/CN101769475B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/002—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
    • G01B11/005—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates coordinate measuring machines
    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B15/00—Special procedures for taking photographs; Apparatus therefor
    • G03B15/02—Illuminating scene
    • G03B15/03—Combinations of cameras with lighting apparatus; Flash units

Abstract

一种用于影像测量仪的光源，其包括一本体，该本体于沿其中心轴方向设有一贯穿孔，该贯穿孔于该本体的第一端及第二端分别形成一较大的第一开口及一较小的第二开口，该贯穿孔的内壁包括自该第一开口向该第二开口方向延伸的发光面，发光面上装设若干LED，一用来测量影像的主镜头可自该第二开口装入该本体，该本体还包括一贯穿该发光面的安装孔，安装孔内用于安装一辅助镜头。该影像测量仪光源及相应的镜头定位系统利用装设其中的辅助镜头，通过辅助镜头坐标系与该测量镜头坐标系的转换关系，可方便、快捷地将测量镜头定位于待测工件的待测部位，提高了测量效率。

Description

影像测量仪光源及利用该光源的自动定位系统
技术领域
本发明涉及一种影像测量仪光源及利用该光源的自动定位系统。
背景技术
影像测量仪是一种非接触式的三维测量设备，具有柔性好、快速高效的优点，其通常包括一用来获得该待测工件的影像的测量镜头及一用来照射待测工件的光源，一般的测量镜头为CCD(Charge Coupled Device，电荷耦合器件)镜头，并与该光源固定连接。
为了精确测量工件的局部尺寸，通常需要CCD镜头选用较大的倍数以清楚地显示待测工件的局部特征。当工件的多个局部进行测量时，需通过手工操作影像测量仪的驱动系统来移动光源使CCD镜头对正各个待测的局部，操作不便。
发明内容
鉴于以上，有必要提供一种使用方便的影像测量仪光源及利用该光源的自动定位系统。
一种用于影像测量仪的光源，其包括一本体，该本体于沿其中心轴方向设有一贯穿孔，该贯穿孔于该本体的第一端及第二端分别形成一较大的第一开口及一较小的第二开口，该贯穿孔的内壁包括自该第一开口向该第二开口方向延伸的发光面，发光面上装设若干LED，一用来测量影像的主镜头可自该第二开口装入该本体，该本体还包括一贯穿该发光面的安装孔，安装孔内用于安装一辅助镜头。
一种镜头自动定位系统，应用于一影像测量仪，该镜头自动定位系统包括：一主镜头，用于撷取一待测工件的影像；一光源，其固定于该主镜头，该光源还固定一辅助镜头；一影像处理模块，用于采集该主镜头及该辅助镜头撷取的影像并转化为数字信号；一显示模块，用于接收该影像处理模块的数字信号，并同时显示一第一视窗及一第二视窗，该第一视窗中显示该主镜头所撷取的待测工件的第一待测部位的清晰影像，该第二视窗中显示该辅助镜头撷取的该待测工件的更大范围的影像；一位移计算模块，当于该第二视窗中选取该待测工件的第二待测部位时，该位移计算模块根据该第二待侧部位与该第一待侧部位在该第二视窗中的相对位置关系，计算出该主镜头从当前位置移至该待测工件的第二待侧部位所需的位移量；一驱动模块，用于将该位移计算模块得到的位移量转换为电信号以驱动该影像测量仪动作，从而带动主镜头移至该第二待测部位。
相较于现有技术，该影像测量仪光源及利用该光源的镜头定位系统通过辅助镜头座标系与该测量镜头座标系的转换关系，可方便、快捷地将测量镜头定位于待测工件的待测部位，提高了测量效率。
附图说明
下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步的详细描述。
图1是本发明影像测量仪光源的较佳实施方式的立体图。
图2是图1中的影像测量仪光源的主视图。
图3是本发明影像测量仪光源的较佳实施方式及一影像测量仪的立体组装图。
图4是本发明镜头自动定位系统的较佳实施方式的方框图。
具体实施方式
请参考图1至图3，本发明影像测量仪光源1的较佳实施方式装设于一影像测量仪100。其包括一呈圆柱状的本体10，并沿该本体10的中心轴设一贯穿孔。该贯穿孔于该本体10的第一端及第二端分别形成一较大的第一开口11及一较小的第二开口12。该贯穿孔的内壁包括靠近该第二开口12的柱状面及自该柱状面向第一开口11方向延伸的呈锥形的发光面13。该柱状面开设若干卡固孔16，一主镜头30(如图3所示)可自该第二开口12穿入该本体10，并通过若干与这些卡固孔16相配合的固定件将该光源1与该主镜头30固定。该本体10还设有一贯穿该发光面13的安装孔14，该安装孔14用来安装一辅助镜头20。该发光面13设有若干分布在以本体10的中心轴为中心的同心圆上的LED(light-emitting diode，发光二极管)15。这些LED15可沿圆周及径向划分为若干区域，每一区域的LED 15导通或截止可由控制单元进行控制，以对待测工件进行不同角度的照射。
该主镜头30作为测量镜头，是一CCD镜头，具有较高的放大倍数，用以清楚地获得待测工件的待测部位的影像以对该待测部位进行测量。该辅助镜头20相对该主镜头30具有较大的视野范围，可获得待测工件的全景影像。
该影像测量仪100包括一具有水平承载面的工作台101、一跨设于该工作台101的龙门架103及固设于该龙门架103中部的顶罩105。该主镜头30装设于该顶罩105下端且自该第二开口12穿设并固定于该光源1中。该工作台101承载面上可放置待测工件35。
请参考图4，一处理器208及一显示模块200与该主镜头30、该光源1及该辅助镜头20形成可将主镜头30(即测量镜头)自动定位于待测工件的测量部位的自动定位系统。该处理器208设有若干分别连接该主镜头30、该辅助镜头20及该显示模块200的端口。在本实施方式中，该处理器208包括一影像处理模块20 1、一位移计算模块205及一驱动模块206。该显示模块200是一显示器。该自动定位系统的工作过程如下：
该影像处理模块201采集该主镜头30及该辅助镜头20撷取的影像并转化为数字信号输入至该显示模块200，  该显示模块200可同时显示一较大的第一视窗及一较小的第二视窗。并根据所接收的影像处理模块201的数字信号，在该第一视窗中显示该主镜头30撷取的该待测工件35的第一待测部位的清晰影像。在该第二视窗中显示辅助镜头20撷取的该待测工件35的更大范围或全景影像。该第一待测部位在该第二视窗中对应一参考点。该参考点在该第二视窗中的位置由该主镜头30与该辅助镜头20的相对位置确定。
需要对该待测工件35的第二待测部位进行测量时，用鼠标点击或触摸方式在该第二视窗中选取该第二待测部位，并记录为一点击点；该位移计算模块205根据该第二待侧部位与该第一待侧部位在该第二视窗中的相对位置关系，即该点击点与参考点之间的相对位置关系，计算出该主镜头30从当前位置移动到对正该工件35的第二待侧部位所需的位移量；该驱动模块206用于将该位移计算模块205得到的位移量转为电信号以控制该影像测量仪100的驱动系统动作，从而带动主镜头30移至该第二待测部位的位置。

Claims (6)

1.一种用于影像测量仪的光源，其包括一本体，该本体于沿其中心轴方向设有一贯穿孔，该贯穿孔于该本体的第一端及第二端分别形成一较大的第一开口及一较小的第二开口，该贯穿孔的内壁包括自该第一开口向该第二开口方向延伸的发光面，发光面上装设若干LED，一用来测量影像的主镜头可自该第二开口装入该本体，其特征在于：该本体还包括一贯穿该发光面的安装孔，安装孔内用于安装一辅助镜头。
2.如权利要求1所述的光源，其特征在于：该辅助镜头相对该主镜头具有更大的视野范围。
3.如权利要求1所述的光源，其特征在于：该贯穿孔内壁于靠近该第二开口处设有若干卡固孔，用以通过若干固定件将该光源固定于该主镜头。
4.如权利要求1所述的光源，其特征在于：这些LED设置于该发光面以该本体的中心轴为中心的同心圆上，这些LED沿圆周及径向划分为若干区域，每一区域的LED导通或截止由一控制单元控制，以对待测工件进行不同角度的照射。
5.一种镜头自动定位系统，应用于一影像测量仪，该镜头自动定位系统包括：
一主镜头，用于撷取一待测工件的影像；
一光源，其固定于该主镜头，该光源还固定一辅助镜头；
一影像处理模块，用于采集该主镜头及该辅助镜头撷取的影像并转化为数字信号；
一显示模块，用于接收该影像处理模块的数字信号，并同时显示一第一视窗及一第二视窗，该第一视窗中显示该主镜头所撷取的待测工件的第一待测部位的清晰影像，该第二视窗中显示该辅助镜头撷取的该待测工件的更大范围的影像；
一位移计算模块，当于该第二视窗中选取该待测工件的第二待测部位时，该位移计算模块根据该第二待侧部位与该第一待侧部位在该第二视窗中的相对位置关系，计算出该主镜头从当前位置移至该待测工件的第二待侧部位所需的位移量；
一驱动模块，用于将该位移计算模块得到的位移量转换为电信号以驱动该影像测量仪动作，从而带动主镜头移至该第二待测部位。
6.如权利要求5所述的镜头自动定位系统，其特征在于：在主镜头移动前，该第一待测部位在该第二视窗中对应一参考点，当在该第二视窗中选取该待测工件的第二待测部位时，将选取的第二待测部位记录为一选取点，该位移计算模块根据该选取点与该参考点之间的相对位置关系计算出该位移量。
CN200810306759.7A 2008-12-31 2008-12-31 影像测量仪光源及利用该光源的自动定位系统 Expired - Fee Related CN101769475B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN200810306759.7A CN101769475B (zh) 2008-12-31 2008-12-31 影像测量仪光源及利用该光源的自动定位系统
US12/430,127 US8217999B2 (en) 2008-12-31 2009-04-27 Light source for vision measuring instrument and positioning system using the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN200810306759.7A CN101769475B (zh) 2008-12-31 2008-12-31 影像测量仪光源及利用该光源的自动定位系统

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101769475A true CN101769475A (zh) 2010-07-07
CN101769475B CN101769475B (zh) 2013-04-24

Family

ID=42284430

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN200810306759.7A Expired - Fee Related CN101769475B (zh) 2008-12-31 2008-12-31 影像测量仪光源及利用该光源的自动定位系统

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8217999B2 (zh)
CN (1) CN101769475B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI577979B (zh) * 2012-03-28 2017-04-11 鴻海精密工業股份有限公司 光源通道校正方法及系統

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102032504B (zh) * 2009-09-24 2014-04-30 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 影像测量仪光源

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2935081Y (zh) * 2006-07-10 2007-08-15 徐春云 双镜头三角定位深度测量仪
US20080266652A1 (en) * 2007-04-30 2008-10-30 General Electric Company Microscope with dual image sensors for rapid autofocusing
US20080266440A1 (en) * 2007-04-30 2008-10-30 General Electric Company Predictive autofocusing

Family Cites Families (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06186483A (ja) * 1992-08-28 1994-07-08 Shoichi Komi 照明装置付き顕微鏡兼望遠鏡
DE19635666C1 (de) * 1996-09-03 1997-12-18 Kapitza Hans Georg Dr Integriertes Mikroskop
US6226118B1 (en) * 1997-06-18 2001-05-01 Olympus Optical Co., Ltd. Optical microscope
DE10027167B4 (de) * 1999-05-31 2007-03-22 Pentax Corp. Mikroskop mit einem Beleuchtungssystem
US6385507B1 (en) * 1999-06-24 2002-05-07 U.S. Philips Corporation Illumination module
EP1222452A1 (en) * 1999-10-18 2002-07-17 MV Research Limited Machine vision
JP2001154098A (ja) * 1999-11-30 2001-06-08 Mitsutoyo Corp 画像プローブ
US6917377B2 (en) * 2000-02-04 2005-07-12 Olympus Optical Co., Ltd. Microscope system
DE10041165B4 (de) * 2000-08-21 2005-07-07 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Verfahren und Anordnung zur Steuerung von Analyse- und Einstellvorgängen eines Mikroskops
US7155049B2 (en) * 2001-01-11 2006-12-26 Trestle Acquisition Corp. System for creating microscopic digital montage images
US7233841B2 (en) * 2002-04-19 2007-06-19 Applied Materials, Inc. Vision system
DE112004000348T8 (de) * 2003-03-03 2006-08-10 Nikon Corporation Digitales Mikroskopbild-Erfassungssystem
EP1455179A1 (en) * 2003-03-07 2004-09-08 MV Research Limited A machine vision inspection system and method
US8712118B2 (en) * 2003-04-10 2014-04-29 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Automated measurement of concentration and/or amount in a biological sample
US20040223053A1 (en) * 2003-05-07 2004-11-11 Mitutoyo Corporation Machine vision inspection system and method having improved operations for increased precision inspection throughput
US7792338B2 (en) * 2004-08-16 2010-09-07 Olympus America Inc. Method and apparatus of mechanical stage positioning in virtual microscopy image capture
US7590276B2 (en) * 2004-12-20 2009-09-15 Mitutoyo Corporation System and method for programming interrupting operations during moving image acquisition sequences in a vision system
JP4754871B2 (ja) * 2005-05-11 2011-08-24 オリンパスメディカルシステムズ株式会社 内視鏡の先端部
US7417213B2 (en) * 2005-06-22 2008-08-26 Tripath Imaging, Inc. Apparatus and method for rapid microscopic image focusing having a movable objective
HUP0600435A2 (en) * 2006-05-26 2007-11-28 3Dhistech Kft Method and system for digitizing a specimen having fluorescent target points
CN101461026B (zh) * 2006-06-07 2012-01-18 Fei公司 与包含真空室的装置一起使用的滑动轴承
WO2008048612A2 (en) * 2006-10-17 2008-04-24 Hnuphotonics Miniature microscope camera
US7865007B2 (en) * 2006-10-30 2011-01-04 Olympus Corporation Microscope system, observation method and observation program
WO2008142864A1 (ja) * 2007-05-24 2008-11-27 Panasonic Corporation 部品実装方法、部品実装機、実装条件決定方法、実装条件決定装置およびプログラム
US8878923B2 (en) * 2007-08-23 2014-11-04 General Electric Company System and method for enhanced predictive autofocusing
US8085295B2 (en) * 2007-10-26 2011-12-27 Mitutoyo Corporation Controllable micro light assembly
US8111938B2 (en) * 2008-12-23 2012-02-07 Mitutoyo Corporation System and method for fast approximate focus

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2935081Y (zh) * 2006-07-10 2007-08-15 徐春云 双镜头三角定位深度测量仪
US20080266652A1 (en) * 2007-04-30 2008-10-30 General Electric Company Microscope with dual image sensors for rapid autofocusing
US20080266440A1 (en) * 2007-04-30 2008-10-30 General Electric Company Predictive autofocusing

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI577979B (zh) * 2012-03-28 2017-04-11 鴻海精密工業股份有限公司 光源通道校正方法及系統

Also Published As

Publication number Publication date
US8217999B2 (en) 2012-07-10
US20100165086A1 (en) 2010-07-01
CN101769475B (zh) 2013-04-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20200229287A1 (en) Automatic Stage Lighting Tracking System And a Control Method Therefor
CN101847817B (zh) 一种电连接器自动装配方法及电连接器自动装配机
US9862097B2 (en) Industrial robot system having sensor assembly
CN103341530B (zh) 回转支承套圈圆度误差自动检测与校正装置
CN110977964A (zh) 一种电厂设备运行微漏探测用智能巡检机器人及检测方法
CN108225798B (zh) 基于边缘增强识别的轮胎滑移量测试系统及测试方法
CN1937202A (zh) 一种硅片预对准装置
CN106525869A (zh) 玻璃边部缺陷检测方法及其装置和系统
CN102829734A (zh) 一种绝缘子外形尺寸非接触式测量装置及其方法
CN110230988A (zh) 轮毂检测装置
CN101769475B (zh) 影像测量仪光源及利用该光源的自动定位系统
CN110608872A (zh) 光学检测设备及检测方法
CN102032872A (zh) 基于阴影法的高密度bga焊料球高度测量系统及方法
CN102798516A (zh) 一种测量光学器件参数的设备
CN207007067U (zh) 丝杆机构的间隙检测装置
CN102854000A (zh) 一种高亮度led光轴检测装置及光轴偏移的检测方法
CN105115982A (zh) 一种灯检机及其载卡输送装置
EP1798663A3 (en) Fixed optical camera having aiming means
CN210549493U (zh) 自动化加工系统
CN104907690A (zh) 激光焦点定位装置及方法
CN105575845B (zh) 伸缩型晶圆扫描装置及晶圆扫描系统
CN112164662A (zh) 一种bga植球机取球缺球检测装置及检测方法
CN209027458U (zh) 一种自动上下料的图像尺寸测量仪
CN108820427A (zh) 采集器的贴标专机
CN109596074A (zh) 轴承同轴度检测系统

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20130424

Termination date: 20151231

EXPY Termination of patent right or utility model