CN101571569A - 元件检测的系统及其方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种元件检测的系统及其方法，为载入物料清单与机型数据档于计算机，检查机型的元件位置对应至料站是否已记录该元件规格，如尚未被记录该元件规格，则产生新坐标于一公板，且按照新坐标插置元件于公板上，再将该公板接至一检测板，且利用一电表通过检测板量测该公板上的元件，由该计算机显示与储存量测结果。
Description
技术领域
本发明涉及一种元件检测的系统及其方法，尤指一种可快速检测电路板制程的各料站元件规格的正确性，对元件做错料与瑕疵的量测方法及其系统。
背景技术
虽然电路板上元件的插件技术已经可以达到全线自动化生产，但上线前对于相关元件的种类、规格与质量的检查上，仍需依赖人工操作，依赖视觉与抽样量测来作检查，对于错料与元件质量有瑕疵等的问题挑出，如此才不会影响到后续要自动化产出的产品，也才不会影响到后制程的组装工作。
电路板上元件的种类与规格千奇百种，有些电路板上的元件数目更是多到数百个。在现在产品短小轻薄便利化的基调下，零组件微型化已成为科技产业研发重要方向，开发体积更小、重量更轻、具有经济、安全、环保性的电子产品，以取得未来新世代产品市场的领先地位，更是厂商努力的方向。
对于首件生产出来的电路板与后续生产的电路板，尤其是被动元件，因为零件太小，且电阻、电容、电感元件上无标示无法识别等缺点，按照目前的人工目视检查，检查人员需要很高注意力与集中力在比对元件物料清单(Bill of Material，BOM)与各料站元件的规格，而且为了各料站元件的正确性，尚需要针对这些被动元件进行种类、尺寸、阻抗的检查，确保元件物料清单、元件的布局数据图与各料站元件一一做比对，确保各料站元件规格的正确性。
目前的人工检查方式在零组件微型化的情况下，如尺寸为0402、0201的电阻、电容、电感等被动元件上无标示，无法识别的缺点，目视检查将会更为辛苦，花在比对元件物料清单、与元件规格确认的时间将会更长，也需要多的检查人员交替工作与重复检测，用以减少错误的发生。
因此，业界极需一种方便的元件检测的系统及其方法，适用于各种不同布局机台用的元件检查，用以加快检查人员对于各料站元件规格做极性、错料与元件瑕疵等的检查速度，减少错误的发生，降低产品检查的成本。
发明内容
于是，为解决上述的缺陷，本发明的目的在提供一种元件检测的系统及其方法，针对元件目视检查时，被动零件太小(如尺寸为0402、0201)，电阻、电容、电感元件上无标示无法识别的缺点，提出简易量测方法，以确保料站元件的正确性，加快检查人员对于各料站元件的检查速度，减少错误的发生，降低产品检查的成本。
本发明的另一目的在提供一种适用于各种布局机台所生产的电路板的元件检测方法与系统，通过物料清单与元件的布局数据的载入，可以快速对不同机台料站的元件做量测与比对，减少人为比对的时间。
基于上述目的，本发明提出一种元件检测的方法，针对电路板上插件的元件的检测，其包括下列步骤：(a)先载入物料清单与机型数据档于一计算机；(b)依序比对物料清单中每一元件与机型元件位置，找出所有元件的种类、尺寸、阻抗；(c)将机型内的元件位置对应至料站；(d)且判断料站是否已记录该元件规格，如已被记录该元件规格，则回到步骤b进行下一个元件比对；(e)如料站尚未被记录该元件规格，记录该元件规格与料站，且回到步骤b检查下一元件规格是否已记录；(f)产生新坐标于一公板，且按照新坐标插置该元件于该公板上，再回到步骤c进行下一个元件比对；(g)将该公板接至一检测板，且利用一电表通过该检测板量测该公板上的元件；以及(h)由该计算机显示与储存量测结果。
为了达到前述的检查方法，本发明的系统至少包括：一公板，按照该物料清单的元件规格与该机型数据档的各料站数据，将欲检测的元件插置于该公板上，且该公板一端设有一插部；其中，该公板上设有多个接点区，且每一个接点区与该插部的一接触部电连接，且每一个接点区设有多对不同尺寸的接点，用以黏着不同尺寸的元件。一检测板，该检测板设有与该插部相对应的一插槽，用于插设该公板；一控制装置，其设于该检测板上，用以控制该公板上这些元件的导通状态；一电表，其通过该检测板上的一量测点，用以量测该公板上导通的元件的数据；以及一计算机，载入该物料清单的元件规格与该机型数据档的各料站数据，且接入该电表传来的数据，比对该物料清单的元件规格与该机型数据档的各料站数据，以及操作该控制装置。
其中，该物料清单的字段至少包括电路板上元件的编号、名称、数量及位置，该机型数据档的字段至少包括电路板上元件布局的坐标、角度、料站及插件位置。
而该控制装置包含一复杂的可规划元件(ComplexProgrammable Logic Device，CPLD)接受该计算机的操作，且通过该复杂的可规划元件控制多个控制开关，用以控制该公板上这些元件的导通与断路。
这些控制开关也可以是双头开关继电器，使得一个控制开关可控制一个元件两端的导通与断路，而使元件可并联量测而不互相干扰。
本发明的另一实施方式，该检测板可通过至少一个排线连接一扩充板，而将至少一个插槽设置于该扩充板上，使该公板插设于插槽的动作，不会去影响到该检测板，减少因为插槽损坏时的更新成本。
本发明的优点在于通过物料清单与该机型数据档的各料站数据，可以快速的对物料清单上的元件与该机型的各料站元件无标示无法识别的被动零件太小(如电阻、电容、电感元件)，找出所有被动元件的种类、尺寸、阻抗，产生检查表做检查确认，以确保料站元件的正确性，加快检查人员对于各料站元件的检查速度，减少错误的发生，降低产品检查的成本。
而通过物料清单与该机型数据档的各料站数据的载入方式，本发明可以适用于各种布局机台所生产的电路板的元件量测，只要将该物料清单通过机台制做的公板，就可以使检测人员快速的对不同机台的料站的元件做量测与比对，减少人为比对的时间。
附图说明
图1为本发明的元件检测的流程图。
图2为本发明的元件检测系统的示意图。
图3为本发明的公板的示意图。
图4为检测板上的复杂的可规划元件与控制开关的示意图。
图5为检测板上的控制开关的示意图。
图6为本发明的元件检测系统另一实施型态的示意图。
具体实施方式
有关本发明的详细内容及技术说明，现以实施例来作进一步说明，但应了解的是，这些实施例仅为例示说明的用，而不应被解释为本发明实施的限制。
请同时参阅图1与图2所示，本发明一种元件检测的系统及其方法，针对电路板上插件的元件的检测，其包括下列步骤：
(a)本发明在实施上需先载入电路板在制程机台上的物料清单(BOM)与机型数据档于一计算机14。该物料清单的字段至少包括电路板上元件的编号、名称、数量及位置，该机型数据档的字段至少包括电路板上元件布局的坐标、角度、料站及插件位置。
(b)依序比对物料清单中每一元件与机型元件位置，找出所有元件的种类、尺寸、阻抗。
(c)将机型内的元件位置对应至料站。
(d)且判断料站是否已记录该元件规格，如已被记录该元件规格，则回到步骤b进行下一个元件比对。
(e)如料站尚未被记录该元件规格，记录该元件规格与料站，且回到步骤b检查下一元件规格是否已记录。
(f)如料站尚未被记录该元件规格，记录该元件规格与料站，且产生新坐标于一公板11(如图3所示)，将欲检测的元件插置于该公板11上，且该公板11一端设有一插部111，该公板11上设有多个接点区113，该插部111具有多个接触部112设于该公板11的正反两面且数量为该接点区113的两倍，每一个接点区113的两端与该插部111的二个接触部112电连接，且每一个接点区113设有多对不同尺寸的接点，用以黏着一个不同尺寸的元件。图中每一个接点区113设有5种不同尺寸的接点，例如可用于黏着1210、0805、0603、0402、0201等5种尺寸的被动元件，且图中该公板11上设有位置R1、R2、...、R120等120个接点区113，可用以黏着120个被动元件。所以可按照新坐标插置元件于该公板11上，再回到步骤c进行下一个元件比对，直到所有元件以比对完，或该公板11上的每一接点区113都已黏着元件。
(g)将该公板11接至一检测板10，该检测板10由一入电端107接入一电源供应装置12用以接入供电，且该检测板10设有与该插部111相对应的一插槽102，用于插设该公板11，使该公板11通过该接触部112可于该检测板10电连接。一控制装置15设于该检测板10上，该控制装置15为用以控制该公板11上这些接点区113上的元件导通状态，因此，一电表13可通过该检测板10上的一量测点106量测该公板11上这些接点区113导通的元件。其中该控制装置15包含一复杂的可规划元件(CPLD)151与多个控制开关152，该复杂的可规划元件151接受该计算机14通过一连接接口105操作，且通过该复杂的可规划元件151控制多个控制开关152，通过这些控制开关152控制该公板11上这些元件的导通与断路(如图4所示)。
(h)最后，再由该计算机14接入该电表13传来的数据，显示与储存量测结果。用以比对该物料清单的元件规格与该机型数据档的各料站数据。
请同时参阅图4与图5，这些控制开关152也可以是双头开关继电器RL1、RL2、...、RL120，并使得一个控制开关152连接一个元件的两端以控制导通与断路，使不同的元件可以并联量测而不互相干扰，公板11采PCI接口，共120PIN，加上背面的120PIN，因而接触部112共有240个，其可供120个双头开关继电器RL1、RL2、...、RL120的两端对应联接，以通过该120个双头开关继电器分别联接该公板11上位置R1、R2、...、R120等120个接点区113的被动元件，因而通过可规划元件151的控制，即可对该公板11上特定的被动元件做量测。
而且，请参阅图6，为本发明的另一实施方式，该检测板10可通过至少一个排线30连接一扩充板20，排线30为通过该检测板10与该扩充板20上的连接部104与连接部21电连接，而将至少一个插槽22设置于该扩充板20上，也就是将原本设置在该检测板10上的插槽102通过排线30移转到该扩充板20，使该公板11反复插设于插槽102的动作，不会去影响到该检测板10，减少因为插槽102损坏时的更新成本。
本发明的优点在于通过物料清单与该机型数据档的各料站数据，可以快速的对物料清单上的元件与该机型的各料站元件无标示无法识别的被动零件太小(如电阻、电容、电感元件)，找出所有被动元件的种类、尺寸、阻抗，产生检查表做检查确认，以确保料站元件的正确性，加快检查人员对于各料站元件的检查速度，减少错误的发生，降低产品检查的成本。也适用于各种布局机台所生产的电路板的元件量测，只要将该物料清单通过机台制做的公板，就可以使检测人员快速的对不同机台的料站的元件做量测与比对，减少人为比对的时间。
Claims (10)
1.一种元件检测的系统，针对电路板上插件的元件的检测，其特征在于，至少包括：
一公板(11)，按照一物料清单的元件规格与一机型数据档的各料站数据，将欲检测的元件插置于所述公板(11)上，且所述公板(11)一端设有一插部(111)；
一检测板(10)，其设有与所述插部(111)相对应的一插槽(102)，用于插设所述公板(11)；
一控制装置(15)，其设于所述检测板(10)上，用以控制所述公板(11)上所述元件的导通状态；
一电表(13)，其通过所述检测板(10)上的一测量点(106)，用以测量所述公板(11)上导通的元件的数据；以及
一计算机(14)，载入所述物料清单的元件规格与所述机型数据档的各料站数据，且接入所述电表(13)传来的数据，比对所述物料清单的元件规格与所述机型数据档的各料站数据，以及操作所述控制装置(15)。
2.根据权利要求1所述的元件检测的系统，其特征在于，所述公板(11)上设有多个接点区(113)，且每一个接点区(113)与所述插部(111)的一接触部(112)电连接。
3.根据权利要求2所述的元件检测的系统，其特征在于，每一个接点区(113)设有多对不同尺寸的接点，用以黏着不同尺寸的元件。
4.根据权利要求1所述的元件检测的系统，其特征在于，所述物料清单的字段至少包括电路板上元件的编号、名称、数量及位置，所述机型数据档的字段至少包括电路板上元件布局的坐标、角度、料站及插件位置。
5.根据权利要求1所述的元件检测的系统，其特征在于，所述控制装置(15)包含一复杂的可规划元件(151)接受所述计算机(14)的操作，且通过所述复杂的可规划元件(151)控制多个控制开关(152)，用以控制所述公板(11)上所述元件的导通与断路。
6.根据权利要求5所述的元件检测的系统，其特征在于，所述控制开关(152)为双头开关继电器，其为一个控制开关(152)来控制一个元件两端的导通与断路，并让所述元件并联联接。
7.根据权利要求1所述的元件检测的系统，其特征在于，所述检测板(10)通过至少一个排线(30)连接一扩充板(20)，且所述扩充板(20)设有至少一个插槽(22)用于插设所述公板(11)。
8.一种元件检测的方法，针对电路板上插件的元件的检测，其特征在于，包括下列步骤：
a)先载入物料清单与机型数据档于一计算机(14)；
b)依序比对物料清单中每一元件与机型的元件位置；
c)将机型内的元件位置对应至料站；
d)且判断料站是否已记录所述元件规格，如已被记录所述元件规格，则回到步骤b进行下一个元件比对；
e)如料站尚未被记录所述元件规格，记录所述元件规格与料站，且回到步骤b检查下一元件规格是否已记录；
f)产生新坐标于一公板(11)，且按照新坐标插置所述元件于所述公板(11)上，再回到步骤c进行下一个元件比对；
g)将所述公板(11)接至一检测板(10)，且利用一电表(13)通过所述检测板(10)测量所述公板(11)上的元件；以及
h)由所述计算机(14)显示与储存量测结果。
9.根据权利要求8所述的元件检测的方法，其特征在于，所述物料清单的字段至少包括电路板上元件的编号、名称、数量及位置。
10.根据权利要求8所述的元件检测的方法，其特征在于，所述机型数据档的字段至少包括电路板上元件布局的坐标、角度、料站及插件位置。
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| C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
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Open date: 20091104 |