具体实施方式
以下参照附图更全面地描述本发明的示例性实施例,在附图中显示了本发明的示例性实施例。然而,可以以许多不同的形式来实现本发明,不应该将本发明解释为限于这里阐述的实施例。相反,提供了这些示例性实施例以使本公开将是彻底的和完整的,并将本发明的范围全面地传达给本领域的普通技术人员。
以下,将参照附图详细解释本发明的示例性实施例。
图1是示出根据本发明示例性实施例的显示装置的框图。
参照图1,显示装置包括时序控制器110、显示面板130、面板驱动器150、局部调光控制器170和光源装置200。
时序控制器110从外部装置(未示出)接收控制信号和图像信号。控制信号可包括垂直同步信号、水平同步信号、主时钟信号和数据使能信号。垂直同步信号表示用于显示一帧所需的时间。水平同步信号表示用于显示帧的一行所需的时间。因此,水平同步信号包括与一行中包括的像素数相应的脉冲。数据使能信号表示向像素提供数据所需的时间。时序控制器110基于控制信号产生用于控制显示装置的驱动时序的时序控制信号。时序控制信号可包括时钟信号、水平开始信号和垂直开始信号。
显示面板130包括多个像素,每个像素P包括电连接到栅极线GL和数据线DL的开关元件TR、电连接到开关元件TR的液晶电容器CLC和电连接到开关元件TR的存储电容器CST。在示例性实施例中,开关元件TR可包括薄膜晶体管(TFT)。
面板驱动器150包括栅极驱动器151和数据驱动器153。栅极驱动器151基于从时序控制器110提供的时序控制信号将栅极信号输出到栅极线GL。数据驱动器153基于从时序控制器110提供的图像信号和时序控制信号将数据信号输出到数据线DL。
局部调光控制器170分析从时序控制器110提供的图像信号,以产生调光控制信号170a。显示面板130上显示的帧图像可包括多个块,以通过使用局部调光方法来驱动光源装置200。例如,帧图像可包括第一块B1、第二块B2、第三块B3和第四块B4。局部调光控制器170分析图像帧的图像信号,以对第一块B1至第四块B4中的每一块产生各自的光亮度值。局部调光控制器170确定调光等级,并产生与第一块B1至第四块B4相应的调光控制信号170a。
光源装置200包括光源210、电压产生器230、脉冲产生器250、多路电流控制器280和缺陷检测器290。
光源210包括多个发光二极管(LED)灯串。例如,LED串包括与第一块B1、第二块B2、第三块B3和第四块B4分别相应的第一LED串212、第二LED串213、第三LED串214和第四LED串215。
可选择地,光源210还包括印刷电路板(PCB)(未示出),在所述PCB上安装有第一LED串212至第四LED串215。例如,在PCB上,可在与第一块B1、第二块B2、第三块B3和第四块B4相应的位置安装LED串212、213、214和215。可选择地,可在多个PCB上安装LED串212、213、214和215。这里,与第一块B1至第四块B4相应地布置PCB。例如,第一LED串212可形成在第一块B1下面,第二LED串213可形成在第二块B2下面。此外,第三LED串214可形成在第三块B3上,第四LED串215可形成在第四块B4上。
电压产生器230将从外部提供的电压升高或降低为用于驱动光源210的驱动电压Vd。例如,电压产生器230可以是用于将从外部提供的直流(DC)电压升高为增加的直流电压的直流-直流(DC-DC)转换电路。
脉冲产生器250基于从局部调光控制器170提供的接收的调光控制信号170a来产生作为脉宽调制信号的脉冲信号250a。脉冲产生器250将脉冲信号250a分别输出到多路电流控制器280和缺陷检测器290。
多路电流控制器280电连接到光源210的LED串212、213、214和215,以控制LED串212、213、214和215中的电阻变化,以使基本相同的驱动电流可流过LED串212、213、214和215。
此外,多路电流控制器280可基于脉冲信号250a来控制从LED串212、213、214和215产生的光量。因此,光源210产生与第一块B1、第二块B2、第三块B3和第四块B4上显示的图像的光亮度相应的光。
缺陷检测器290与脉冲信号250a同步,以通过实时检测LED串212、213、214和215的输出端的电压来检测短路缺陷。当产生了短路缺陷时,缺陷检测器290产生用于控制电压产生器230阻止(block)驱动电压Vd的电压控制信号290a。
例如,当在LED串212、213、214和215的输出端检测的电压在预定允许电压范围内时,缺陷检测器290输出具有低电压的电压控制信号290a,当在LED串212、213、214和215的输出端检测的电压超出预定允许电压范围时,缺陷检测器290输出具有高电压的电压控制信号290a。因此,当将具有低电压的电压控制信号290a提供给电压产生器230时,电压产生器230产生驱动电压Vd;当将具有高电压的电压控制信号290a提供给电压产生器230时,电压产生器230阻止驱动电压Vd。因此,当检测到短路缺陷时,光源210不操作。
图2是示出驱动图1中显示的光源装置的光源的方法的流程图。
参照图1和图2,电压产生器230产生驱动电压Vd,以向光源210提供驱动电压Vd。光源210包括多个LED串212、213、214和215。将驱动电压Vd提供给LED串212、213、214和215的输入端。脉冲产生器250向多路电流控制器280提供脉冲信号250a,以控制LED串212、213、214和215的光亮度。因此,操作LED串212、213、214和215,以分别产生具有与显示面板130的第一块B1、第二块B2、第三块B3和第四块B4相应的亮度的光。从而,可通过使用局部调光方法来操作光源210(步骤S201)。
缺陷检测器290检测电连接到多路电流控制器的LED串212、213、214和215的输出端的电压(步骤S203)。
确定在所述输出端检测的电压是在预定允许电压范围内还是在预定允许电压范围外(步骤S205)。当检测的电压在预定允许电压范围内时,正常驱动LED串212、213、214和215;然而,当检测的电压在预定允许电压范围外时,确定LED串212、213、214和215具有短路缺陷。
例如,假设所述预定允许电压范围为低于图3中的Vp处显示的预定第一参考电压,当检测的电压大于或等于图3中的Vp处显示的参考电压时,缺陷检测器290向电压产生器230提供具有高电压的电压控制信号290a。然后,电压产生器230基于具有高电压的电压控制信号290a来阻止向光源210提供的驱动电压Vd(步骤S207)。因此,光源210的操作被停止(步骤S209)。
然而,当检测的电压低于图3中的Vp处显示的第一参考电压时,缺陷检测器290向电压产生器230提供具有低电压的电压控制信号290a。然后,电压产生器230基于具有低电压的电压控制信号290a来产生提供给光源210的驱动电压Vd(步骤S211)。因此,光源210可正常操作(步骤S213)。
因此,当光源210操作时,缺陷检测器290实时检测短路缺陷,并通过控制电压产生器230来使光源210停止操作。
图3是示出图1中显示的光源装置的示例性实施例的电路图。
参照图1和图3,光源装置200包括光源210、多路电流控制器280和缺陷检测器290。
光源210包括LED串212至215和用于接收驱动电压Vd的输入端211。例如,将第一LED串212至第k LED串215并联,并将输入端211连接到第一LED串212至第k LED串215的第一端。灯串212至215中的每一个灯串包括串联的多个LED。
多路电流控制器280包括分别连接到第一LED串212至第k LED串215的输出端的多个控制电路260至270以及多个输入端281至283。例如,第一输入端281至第k输入端283接收图1中显示的脉冲信号250a。第一控制电路260至第k控制电路270控制提供给LED串212至LED串215的固定驱动电流,并基于图1中显示的脉冲信号250a来控制来自LED串212至LED串215的光量。
第一控制电路260包括第一电流控制电路265和第一驱动晶体管267。第k控制电路270包括第k电流控制电路275和第k驱动晶体管277。例如,第一电流控制电路265包括控制晶体管261和运算放大器263。控制晶体管261包括电连接到第一LED串212的输出端的源极。控制晶体管261包括电连接到第一驱动晶体管267的源极的漏极。
运算放大器263包括用于接收第二参考电压Vref的第一输入端。运算放大器263包括电连接到控制晶体管261的漏极的第二输入端,并从控制晶体管261的漏极接收输出电压。运算放大器263包括电连接到控制晶体管261的栅极的输出端,并控制控制晶体管261。运算放大器263将所述输出电压与第二参考电压Vref进行比较,并控制所述输出电压遵循第二参考电压Vref。因此,将提供给第一LED串212的驱动电流控制为具有固定值。
控制晶体管261作为电阻值被运算放大器263控制的可变电阻器。例如,当提供给第一LED串212的驱动电流大于或等于第二参考电压Vref时,所述电阻值增加,以降低驱动电流。然而,当提供给第一LED串212的驱动电流小于第二参考电压Vref时,所述电阻值下降,以增加驱动电流。
第一驱动晶体管267包括连接到第一电流控制电路265中包括的控制晶体管261的漏极的源极、接地的漏极和连接到输入端281的栅极。因此,第一驱动晶体管267基于通过输入端281提供的脉冲信号来控制第一LED串212的导通/截止状态,以控制来自第一LED串212的光量。
第二电流控制电路(未示出)至第k电流控制电路275的电路结构和操作与以上描述的电路结构和操作相同,因此省略了与第二电流控制电路(未示出)至第k电流控制电路275有关的进一步的重复解释。因此,向被第一电流控制电路265至第k电流控制电路275控制的第一LED串212至第k LED串215提供固定的驱动电流。
另外,第二驱动晶体管(未示出)至第k驱动晶体管277的电路结构和操作与以上描述的电路结构和操作相同,因此省略了与第二驱动晶体管(未示出)至第k驱动晶体管277有关的进一步的重复解释。因此,通过使用基于显示面板130上显示的图像的亮度值的局部调光方法来操作第一LED串212至第k LED串215。
缺陷检测器290包括第一输入端291至第k输入端293、多个检测电路295至297、滤波器电路298和比较器299。
第一输入端291至第k输入端293接收图1中显示的脉冲信号250a。
检测电路295至297并联电连接,并且检测电路295至297包括分别电连接到第一LED串212的输出端OUT1至第k LED串215的输出端OUTk的第一端和电连接到公共节点C的第二端。
例如,第一检测电路295包括电连接到第一LED串212的输出端OUT1的第一电阻器R1和第一二极管D1,所述第一二极管D1包括电连接到第一电阻器R1的阳极和电连接到滤波器电路298的输入的阴极。另外,第一检测电路291可包括第二二极管D2,所述第二二极管D2包括在节点A电连接到第一电阻器R1和第一二极管D1的阳极和电连接到输入端291的阴极。
第一检测电路295基于在输入端291接收的脉冲信号来检测第一LED串212的输出端OUT1的电压。
第二检测电路(未示出)至第k检测电路297的电路结构和操作与以上描述的电路结构和操作相同,因此,将省略与第二检测电路(未示出)至第k检测电路297有关的进一步的重复解释。
滤波器电路298包括电阻器和电容器。滤波器电路298在公共节点C被公共连接到第一检测电路295至第k检测电路297的第二端。滤波器电路298去除检测的电压中的噪声。
比较器299包括用于接收检测的电压的第一输入端、用于接收第一参考电压Vp的第二输入端和用于提供作为比较器299的结果输出信号的电压控制信号290a的输出端。当检测的电压大于或等于第一参考电压Vp时,电压比较器299输出具有高电压的电压控制信号290a;当检测的电压小于第一参考电压Vp时,比较器299输出具有大约为0V的低电压的电压控制信号290a。因此,当检测的电压在小于第一参考电压Vp的允许范围内时,比较器299确定LED串正常操作,以输出具有大约为0V的低电压的电压控制信号290a。然而,当检测的电压在的允许电压范围之外,即大于或等于第一参考电压Vp时,比较器299确定LED串具有短路缺陷,以输出具有高电压Vs的电压控制信号290a。
图4A和图4B是示出具有短路缺陷的光源装置的电路图,图5是示出具有短路缺陷的光源装置的输入信号和输出信号的波形图。
参照图4A和图4B,光源210中的第一LED串212具有短路缺陷S,其中,第一LED串中的LED已变成短路。光源210中的第一LED串212至第k LED串215中的每一个LED串都接收驱动电压Vd。
多路电流控制器280的输入端281和283基本上同时接收脉冲信号。另外,还将脉冲信号基本上同时提供给缺陷检测器290的输入端291和293。
最初,参照图4A和图5,将描述当基于第一LED串212将具有高电压VH的第一脉冲信号提供给光源装置以及当基于第k LED串215将具有大约0V的低电压的第二脉冲信号提供给光源装置时的光源装置的操作。
电连接到第一LED串212的第一控制电路260的第一驱动晶体管267接收具有高电压VH的第一脉冲信号,第k控制电路270的第k驱动晶体管277电连接到第k LED串215,并接收具有大约为0V的低电压的第k脉冲信号。因此,第一驱动晶体管267导通,第k驱动晶体管277截止。因此,第一LED串212操作以产生光;然而,第k LED串215可能不操作。通过使用局部调光方法来操作第一LED串212和第k LED串215。
电连接到第一LED串212的输出端OUT1的第一检测电路295接收具有高电压VH的第一脉冲信号,电连接到第k LED串215的输出端OUTk的第k检测电路297接收具有大约为0V的低电压的第k脉冲信号。
然而,具有短路缺陷S的第一LED串212的电阻值低于正常时的第一LED串212的电阻值。因此,流过第一LED串212的第一驱动电流I1大于或等于参考电流。第一电流控制电路265控制大于或等于参考电流的驱动电流I1,以遵循参考电流。
例如,运算放大器263将控制晶体管261的输出电压与第二参考电压Vref进行比较,并控制所述输出电压遵循第二参考电压Vref。因此,控制第一驱动电流I1遵循参考电流。从而,第一电流控制电路265控制控制晶体管261的电阻值增加,以将第一驱动电流I1降低为参考电流。当控制晶体管261的电阻值增加时,第一控制电路260中包括的控制晶体管261的源极处的电压增加。第一LED串212的输出端OUT1具有升高的电压VUP,所述升高的电压VUP是与存在的短路的LED的数量相应的增加的电压量。因此,当第一检测电路295接收具有高电压VH的第一脉冲信号时,固定电流I1’流过第一LED串212的输出端OUT1并流过第一检测电路295的第一二极管D1。从而,第一控制电路295中的节点A处的电压几乎与升高的电压VUP相等。
将驱动电压Vd提供给第k LED串215,第k驱动晶体管275截止,并且将具有大约为0V的低电压的第k脉冲信号提供给第k检测电路297。流过第k LED串215的第k驱动电流Ik流过第k检测电路297中的第二二极管D2,并流过接收具有大约为0V的低电压的第k脉冲信号的第k输入端293。因此,第k LED串215的输出端OUTk处的电压几乎为0V。
第一检测电路295和第k检测电路297输出升高的电压VUP作为检测的电压。在该示例性实施例中,升高的电压是公共节点处的电压。当提供大于或等于第一参考电压Vp的检测的电压VUP时,比较器299输出具有高电压Vs的电压控制信号290a。
图1中的230显示的电压产生器通过基于具有高电压Vs的电压控制信号290a阻止驱动电压Vd来停止操作第一LED串212至第k LED串215。
然后,参照图4B和图5,将描述当基于具有短路缺陷S的第一LED串212将具有大约为0V的低电压的第一脉冲信号提供给光源装置时的光源装置的操作。
当将具有大约为0V的低电压的第k脉冲信号提供给光源装置时的光源装置的操作与关于图4A描述的操作基本相同,因此将省略与当将具有大约为0V的低电压的第k脉冲信号提供给光源装置时的光源装置的操作有关的进一步的重复解释。
电连接到第一LED串212的第一控制电路260中的第一驱动晶体管267接收具有大约为0V的低电压的第一脉冲信号。因此,第一驱动晶体管267截止,第一LED串212不可操作,并且不可产生光。电连接到第一LED串212的输出端OUT1的第一检测电路295接收具有大约为0V的低电压的第一脉冲信号。通过形成电流通路I1的第一LED串212、第一检测电路295中的第二二极管D2和输入端291使驱动电压Vd放电。第一检测电路295中的节点A处的电压大约为0V。
因此,从第一检测电路295和第k检测电路297检测的输出端OUT1和OUTk处的电压几乎大约为0V。当小于第一参考电压Vp的大约0V的检测的电压提供给比较器299时,比较器299输出具有大约0V的低电压的电压控制信号290a。因此,当将具有大约0V的低电压的第一脉冲信号提供给具有短路缺陷的第一LED串212时,第一LED串212不可操作,因此,缺陷检测器290可能没有检测到缺陷。
电压产生器230基于具有大约0V的低电压的电压控制信号290a来产生驱动电压Vd,以将驱动电压Vd提供给第一LED串212和第k LED串215。
如上所述确定比较器299的第一参考电压Vp的电平以检测至少一个短路LED。然而,比较器299的第一参考电压Vp的电平可能增加,以检测两个或多于两个的短路LED。
图6A和图6B是示出不具有短路LED的正常光源装置的电路图,图7是示出正常光源装置的输入信号和输出信号的波形图。
参照图6A和图6B,光源210包括正常的第一LED串212和正常的第kLED串215。光源210的第一LED串212和第k LED串215接收驱动电压Vd。
多路电流控制器280的输入端281和283同时接收脉冲信号。另外,还将脉冲信号基本上同时提供给缺陷检测器290的输入端291和293。
最初,参照图6A和图7,将描述当基于第一LED串212和第k LED串215将具有高电压VH的第一脉冲信号和第k脉冲信号分别提供给光源装置时光源装置的操作。
电连接到第一LED串212和第k LED串215的第一控制电路260的第一驱动晶体管267和第k驱动晶体管277接收具有高电压VH的第一脉冲信号和第k脉冲信号。从而,第一驱动晶体管267和第k驱动晶体管277导通。因此,第一LED串212和第k LED串215操作并产生光。
电连接到第一LED串212和第k LED串215的第一电流控制电路265和第k电流控制电路275控制第一LED串212和第k LED串215之间的电阻变化,以使流过第一LED串212和第k LED串215的第一驱动电流I1和第k驱动电流Ik基本相等。在该示例性实施例中,第一电流控制电路265和第k电流控制电路275补偿因为第一LED串212和第k LED串215可能不具有短路缺陷所引起的第一LED串212和第k LED串215之间的微小的电阻变化。
电连接到第一LED串212的输出端OUT1和第k LED串215的OUTk的第一检测电路295和第二检测电路297接收具有高电压VH的第一脉冲信号和第k脉冲信号。从而,流过第一LED串212的第一驱动电流I1的大部分和流过第k LED串215的第k驱动电流Ik的大部分流到第一控制电路260和第k控制电路270的接地连接。
微电流I1’和Ik’可流过第一检测电路295和第k检测电路297,并且输出端OUT1和OUTk处的电压Vn是正常的。例如,第一检测电路295中的节点A处的电压可能与正常电压Vn几乎相等。正常电压Vn在小于比较器299的第一参考电压Vp的允许电压范围内。
因此,当小于第一参考电压Vp的正常电压Vn输入到比较器299时,比较器299输出具有大约0V的低电压的电压控制信号290a。因此,光源210可正常操作。
以下,参照图6B和图7,将描述当基于第一LED串212和第k LED串215将具有大约0V的低电压的第一脉冲信号和第k脉冲信号提供给光源装置时的光源装置的操作。
电连接到第一LED串212和第k LED串215的第一控制电路260的第一驱动晶体管267和第k控制电路270的第k驱动晶体管277接收具有大约0V的低电压的第一脉冲信号和第k脉冲信号。从而,第一驱动晶体管267和第k驱动晶体管277截止。因此,第一LED串212和第k LED串215不可产生光。电连接到第一LED串212的输出端OUT1的第一检测电路295接收具有大约0V的低电压的第一脉冲信号,电连接到第k LED串215的输出端OUTk的第k检测电路297接收具有大约0V的低电压的第k脉冲信号。
通过形成电流通路I1和Ik的第一LED串212和第k LED串215、第一检测电路295和第k检测电路297中的第二二极管D2以及输入端291和293来使驱动电压Vd放电。例如,第一检测电路295中的节点A处的电压几乎为0V。
因此,与从第一检测电路295和第k检测电路297检测的电压相同,输出端OUT1和OUTk处的电压几乎为0V。当检测的电压是在允许电压范围内的大约0V时,比较器299输出具有大约0V的低电压的电压控制信号290a。电压产生器230基于具有大约0V的低电压的电压控制信号290a来产生驱动电压Vd,以操作第一LED串212和第k LED串215。
根据本发明的示例性实施例,当光源装置操作时,可实时检测LED的短路缺陷。当在光源产生短路缺陷时,可通过阻止提供给光源的驱动电压来保护光源装置和包括光源装置的显示装置。
已经描述了本发明的示例性实施例及其优点,需要注意的是,在不脱离权利要求限定的本发明的精神和范围的情况下,可进行各种改变、替换和更改。