CN101488999A - 可降低噪声干扰的测试端口处理方法 - Google Patents

可降低噪声干扰的测试端口处理方法 Download PDF

Info

Publication number
CN101488999A
CN101488999A CNA2008100011091A CN200810001109A CN101488999A CN 101488999 A CN101488999 A CN 101488999A CN A2008100011091 A CNA2008100011091 A CN A2008100011091A CN 200810001109 A CN200810001109 A CN 200810001109A CN 101488999 A CN101488999 A CN 101488999A
Authority
CN
China
Prior art keywords
test port
zero
processing method
resistor unit
ohm resistor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CNA2008100011091A
Other languages
English (en)
Inventor
陈怡蓁
林建荣
何建勋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Futaihong Precision Industry Co Ltd
Foxconn Technology Co Ltd
Original Assignee
CHENGSHI TECHNOLOGIES Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by CHENGSHI TECHNOLOGIES Co Ltd filed Critical CHENGSHI TECHNOLOGIES Co Ltd
Priority to CNA2008100011091A priority Critical patent/CN101488999A/zh
Priority to US12/135,451 priority patent/US7969158B2/en
Priority to EP08252038A priority patent/EP2081035A1/en
Publication of CN101488999A publication Critical patent/CN101488999A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L43/00—Arrangements for monitoring or testing data switching networks
    • H04L43/50—Testing arrangements

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本发明公开了一种可降低噪声干扰的测试端口处理方法，可以应用于待测组件进行检测或软件刻录，该处理方法包括：提供零欧姆电阻单元、待测系统及测试端口，将该零欧姆电阻单元的第一端与该待测系统电性串联，该零欧姆电阻单元的第二端与测试端口电性连接，最后，在检测或软件刻录完毕后，将该零欧姆电阻单元的第一端与待测系统断开，形成断路状态，并将零欧姆电阻单元的第一端接地，以降低噪声产生的机率并增加电路布线的灵活性。

Description

可降低噪声干扰的测试端口处理方法
技术领域
本发明有关一种测试端口处理方法，尤指一种可降低噪声干扰的测试端口处理方法。
背景技术
在科技技术不断地提升下，许多通信装置相继地被开发出来。为了使通信装置具有优良的收发性能及通话质量，研发人员会为通信装置量身设计一根匹配的天线，以供该通信装置使用。或者，在通信装置内部增设防电磁波干扰结构，以提升通信装置的接收灵敏度及通话质量。
但是，即使有良好的天线及防电磁波干扰结构设计，通信装置的接收灵敏度及通话质量也不一定可以确保。请参阅图1、图2所示，通信装置所使用的电路主机板10在开发过程中，会在主机板10上预留由两个或两个以上接脚102所组成的第一端子组101。主机板10在进行检测时，在两个或两个以上的接脚102上串联有包含两个或两个以上零欧姆电阻的零欧姆电阻单元103，利用该两个或两个以上零欧姆电阻来连接测试端口20的第二端子组201，以进行主机板10的检测或软件刻录。
一旦在信号检测或软件刻录完成后，该零欧姆电阻单元103被移除，使测试端口20的第二端子组201预留在主机板10上。但在使用该通信装置时，易产生辐射噪声；为了避免辐射噪声，电路板布局有相当大的限制，也造成电路板布局的难度。
发明内容
有鉴于此，本发明的主要目的，在于提供一种可以阻断信号源，并减少噪声产生，同时能正常进行数字信号接收，使得电路主机板在布局上更有灵活性的可降低噪声干扰的测试端口处理方法。
为达到上述的目的，本发明提供一种可降低噪声干扰的测试端口处理方法，应用于检测或软件刻录的待测组件上，该方法包括：
提供零欧姆电阻单元、待测系统及测试端口；
将该零欧姆电阻单元的第一端与该待测系统电性串联，该零欧姆电阻单元的第二端与所述测试端口电性连接；
在检测或软件刻录后，将该零欧姆电阻单元的第一端与所述待测系统断开，呈断路状态，并将零欧姆电阻单元的第一端接地，阻断信号源产生。
由上述方案可知，本发明通过在检测或软件刻录完毕后，将该零欧姆电阻单元的第一端与待测系统呈断路状态，并将零欧姆电阻单元的第一端接地以阻断信号源，减少噪声产生，并不影响数字信号接收，使得电路主机板在布局上更有灵活性。如果该待测系统为电子通信产品，则可以提升通信装置的接收灵敏度及通话质量。
附图说明
图1为传统电路主机板在检测时的连接示意图；
图2为图1的主机板在检测后的连接示意图；
图3为本发明中待测系统在检测或软件刻录时的连接示意图；
图4为本发明中待测系统在检测或软件刻录完成后的连接示意图。
附图标记说明
主机板 10               第一端子组 101         接脚       102
零欧姆电阻单元 103      测试端口   20          第二端子组  201
待测系统 1              第一端子组 11          第一接脚    111
第二接脚 112            第三接脚   113         第四接脚   114
第五接脚 115            第六接脚   116
零欧姆电阻单元 2        第一电阻   21          第二电阻   22
第三电阻 23             第四电阻 24           第五电阻 25
第六电阻 26             测试端口 3            第二端子组 31
第一接脚 311            第二接脚 312          第三接脚 313
第四接脚 314            第五接脚 315          第六接脚 316
具体实施方式
有关本发明的技术内容及详细说明，现配合附图说明如下：
请参阅图3，为本发明的待测系统的检测或软件刻录连接示意图。如图3所示：本发明的可降低噪声干扰的测试端口处理方法，可以应用在用于检测或软件刻录的待测组件上，待测组件包括：待测系统1、零欧姆电阻单元2及测试端口3。所述处理方法包括：提供零欧姆电阻单元2、待测系统1及测试端口3；将该零欧姆电阻单元2的第一端与该待测系统1电性串联，该零欧姆电阻单元2的第二端与测试端口3电性连接；如图4所示，在检测或软件刻录后，将该零欧姆电阻单元2的第一端与待测系统1呈断路状态，并将零欧姆电阻单元2的第一端接地，以阻断信号源产生。
所述处理方法还可以包含提供第一端子组11，在该待测系统1上电性连接该第一端子组11，该第一端子组11由两个或两个以上接脚组成，所述接脚与零欧姆电阻单元2的第一端电性连接。如图3所示，该两个或两个以上接脚中的第一接脚111例如可以为JTMS接脚，第二接脚112为JTDO接脚，第三接脚113为JTDI接脚，第四接脚114为JTCK接脚，第五接脚115为JRTCK接脚，第六接脚116为JTRST N接脚。该第一端子组11除了提供待测系统1电性连接检测外，还可供软件刻录器(图中未示出)电性连接，将要刻录的软件通过该第一端子组11传送。在本图中，该待测系统1为移动通信系统(如电子设备)或芯片。
该零欧姆电阻单元2，由两个或两个以上零欧姆电阻组成，如由第一电阻21，第二电阻22，第三电阻23，第四电阻24，第五电阻25及第六电阻26组成。第一电阻21至第六电阻26的第一端与该第一端子组11的第一接脚111至第六接脚116分别对应电性串联连接。
该测试端口3，为连接器或信号接点，具有第二端子组31，该第二端子组31与该测试端口3电性连接，该第二端子组31由两个或两个以上接脚组成，并与该零欧姆电阻单元2的第二端电性连接，如该第二端子组31由第一接脚311，第二接脚312，第三接脚313，第四接脚314，第五接脚315及第六接脚316组成，零欧姆电阻单元2中第一电阻21至第六电阻26的第二端与该第二端子组31的第一接脚311至第六接脚316分别对应电性连接。
在待测组件进行检测或软件刻录时，通过该测试端口3进行连接，以判断待测系统1是否正常及软件刻录器是否正常提供软件的刻录。
请参阅图4，为本发明中待测系统在检测或软件刻录完成后的连接示意图。如图4所示：在该待测系统1测试完毕后，将该零欧姆电阻单元2的第一电阻21至第六电阻26的第一端与待测系统1的第一端子组11的第一接脚111至第六接脚116断开，形成断路状态，再将零欧姆电阻单元2的第一电阻21至第六电阻26的第一端接地，以阻断信号源，并减少噪声产生，不影响数字信号接收，使得电路主机板在布局上更有灵活性。例如，如果该待测系统1为电子通信产品，则可以提升通信装置接收灵敏度及通话质量。
上述仅为本发明的较佳实施例而已，并非用来限定本发明实施的范围。即凡依本发明所做的等效变化与修饰，都认为被本发明的专利范围所涵盖。

Claims (8)

1、一种可降低噪声干扰的测试端口处理方法，应用于检测或软件刻录的待测组件上，其特征在于，该方法包括：
提供零欧姆电阻单元、待测系统及测试端口；
将该零欧姆电阻单元的第一端与该待测系统电性串联，该零欧姆电阻单元的第二端与所述测试端口电性连接；
在检测或软件刻录后，将该零欧姆电阻单元的第一端与所述待测系统断开，呈断路状态，并将零欧姆电阻单元的第一端接地，阻断信号源产生。
2、如权利要求1所述的可降低噪声干扰的测试端口处理方法，其特征在于，所述待测系统为芯片。
3、如权利要求1所述的可降低噪声干扰的测试端口处理方法，其特征在于，所述待测系统为电子设备。
4、如权利要求1所述的可降低噪声干扰的测试端口处理方法，其特征在于，所述方法还包含：
提供与所述待测系统电性连接的第一端子组，该第一端子组由两个或两个以上的接脚组成，该接脚与所述零欧姆电阻单元的第一端电性连接。
5、如权利要求1所述的可降低噪声干扰的测试端口处理方法，其特征在于，所述零欧姆电阻单元由两个或两个以上的零欧姆电阻组成。
6、如权利要求1所述的可降低噪声干扰的测试端口处理方法，其特征在于，所述方法还包含：
提供与所述测试端口电性连接的第二端子组，该第二端子组由两个或两个以上的接脚组成，并与该零欧姆电阻单元的第二端电性连接。
7、如权利要求1所述的可降低噪声干扰的测试端口处理方法，其特征在于，所述测试端口为连接器。
8、如权利要求1所述的可降低噪声干扰的测试端口处理方法，其特征在于，所述测试端口为信号接点。
CNA2008100011091A 2008-01-15 2008-01-15 可降低噪声干扰的测试端口处理方法 Pending CN101488999A (zh)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CNA2008100011091A CN101488999A (zh) 2008-01-15 2008-01-15 可降低噪声干扰的测试端口处理方法
US12/135,451 US7969158B2 (en) 2008-01-15 2008-06-09 Noise-reduction method for processing a test port
EP08252038A EP2081035A1 (en) 2008-01-15 2008-06-13 Noise-reduction method for processing a test port

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CNA2008100011091A CN101488999A (zh) 2008-01-15 2008-01-15 可降低噪声干扰的测试端口处理方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN101488999A true CN101488999A (zh) 2009-07-22

Family

ID=40361627

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CNA2008100011091A Pending CN101488999A (zh) 2008-01-15 2008-01-15 可降低噪声干扰的测试端口处理方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US7969158B2 (zh)
EP (1) EP2081035A1 (zh)
CN (1) CN101488999A (zh)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105430868A (zh) * 2015-11-20 2016-03-23 上海斐讯数据通信技术有限公司 一种兼顾辐射静电及散热的光模块布板方法
CN105470773A (zh) * 2015-12-31 2016-04-06 珠海市运泰利自动化设备有限公司 多连接器快速检测装置
CN110113469A (zh) * 2019-05-07 2019-08-09 惠州Tcl移动通信有限公司 测试语音突破讯号电路及其量测方法
CN113824372A (zh) * 2021-09-02 2021-12-21 珠海格力电器股份有限公司 电机内置控制器驱动软件升级兼容电路及电机设备

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5014002A (en) 1989-04-18 1991-05-07 Vlsi Technology, Inc. ATE jumper programmable interface board
US6229378B1 (en) * 1997-12-31 2001-05-08 Intel Corporation Using programmable jumpers to set an IC device's bit-encoded output during manufacturing and testing
US6119255A (en) * 1998-01-21 2000-09-12 Micron Technology, Inc. Testing system for evaluating integrated circuits, a burn-in testing system, and a method for testing an integrated circuit
US7247035B2 (en) * 2000-06-20 2007-07-24 Nanonexus, Inc. Enhanced stress metal spring contactor
US6417674B1 (en) * 2000-03-06 2002-07-09 Agilent Technologies, Inc. Two port self-calibration for an N-port network analyzer
US6921288B2 (en) * 2003-11-25 2005-07-26 International Business Machines Corporation Semiconductor test and burn-in apparatus provided with a high current power connector for combining power planes
US7672805B2 (en) * 2003-11-26 2010-03-02 Advantest Corporation Synchronization of modules for analog and mixed signal testing in an open architecture test system
US7345495B2 (en) * 2004-06-30 2008-03-18 Intel Corporation Temperature and voltage controlled integrated circuit processes
CN100437133C (zh) * 2004-08-19 2008-11-26 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 低电压重置功能检测电路
US20070046308A1 (en) * 2005-08-26 2007-03-01 Ronald Baker Test modes for a semiconductor integrated circuit device
CN100531543C (zh) 2005-09-09 2009-08-19 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 降低电磁干扰的接地装置
US20090085579A1 (en) * 2007-09-28 2009-04-02 Advantest Corporation Attenuation apparatus and test apparatus

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105430868A (zh) * 2015-11-20 2016-03-23 上海斐讯数据通信技术有限公司 一种兼顾辐射静电及散热的光模块布板方法
CN105430868B (zh) * 2015-11-20 2018-01-30 上海斐讯数据通信技术有限公司 一种兼顾辐射静电及散热的光模块布板方法
CN105470773A (zh) * 2015-12-31 2016-04-06 珠海市运泰利自动化设备有限公司 多连接器快速检测装置
CN110113469A (zh) * 2019-05-07 2019-08-09 惠州Tcl移动通信有限公司 测试语音突破讯号电路及其量测方法
CN110113469B (zh) * 2019-05-07 2021-07-06 惠州Tcl移动通信有限公司 测试语音突破讯号电路及其量测方法
CN113824372A (zh) * 2021-09-02 2021-12-21 珠海格力电器股份有限公司 电机内置控制器驱动软件升级兼容电路及电机设备

Also Published As

Publication number Publication date
US7969158B2 (en) 2011-06-28
US20090179653A1 (en) 2009-07-16
EP2081035A1 (en) 2009-07-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103383453B (zh) 材料识别的邻近感测
WO2006102419A3 (en) Automated electrical wiring inspection system
US8024630B2 (en) Debugging module for electronic device and method thereof
TW200705951A (en) A mobile device interface for input devices using existing mobile device connectors
CN101493486B (zh) 一种诊断电磁干扰的装置及方法
CN105044520A (zh) 一种电子设备电磁发射特性的现场测试方法及装置
CN101488999A (zh) 可降低噪声干扰的测试端口处理方法
US7478298B2 (en) Method and system for backplane testing using generic boundary-scan units
WO2004081980A3 (en) Probe card assembly
US8963569B2 (en) Semiconductor chip probe and the conducted EME measurement apparatus with the semiconductor chip probe
US8797044B2 (en) MXM interface test system and connection apparatus thereof
JP2009081856A (ja) 高速／高周波数の差動信号伝送で用いる電磁結合器のための無部品終端
CN101187675A (zh) 可传输高频信号的探针
CN102692525A (zh) Pci卡辅助测试装置
CN211375588U (zh) 一种多调试接口切换电路
US7342466B2 (en) Hybrid coupler having resistive coupling and electromagnetic coupling
CN112601235A (zh) 一种wlan接口的测试系统及测试方法
CN207396683U (zh) 一种测量电路板波纹和噪声信号的装置
US20140028338A1 (en) Shield pin arrangement
CN109581074A (zh) Sar sensor控制单元的传输路径结构及其设置方法
US9081056B2 (en) Method for detecting working state of I/O pins of electronic components using charges from human body
CN105161926B (zh) 接脚排列及电子总成
US20210141509A1 (en) Display device, system to detect disconnection and method for detecting disconnection
Parker et al. Finding power/ground defects on connectors—a new approach
TW200834084A (en) A high-speed testing card

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
ASS Succession or assignment of patent right

Owner name: FUTAIHONG PRECISION INDUSTRY CO., LTD., SHENZHEN

Free format text: FORMER OWNER: MOBINNOVA CORP.

Effective date: 20100831

Owner name: FOXCONN TECHNOLOGY CO., LTD.

COR Change of bibliographic data

Free format text: CORRECT: ADDRESS; FROM: 000000 BUILDING 11, NO.845, ZHONGSHAN ROAD, TAOYUAN CITY, TAIWAN PROVINCE, CHINA TO: 518109 BUILDING A, ZONE F3, FOXCONN SCIENCE AND TECHNOLOGY INDUSTRIAL PARK, LONGHUA STREET, BAOAN DISTRICT, SHENZHEN CITY, GUANGDONG PROVINCE, FACTORY BUILDING 15, DISTRICT K1

TA01 Transfer of patent application right

Effective date of registration: 20100831

Address after: 518109 Longhua City, Baoan District Province, Foxconn street, Shenzhen science and Technology Industrial Park F3 District A Dong, K1 District, building 15, building

Applicant after: Shenzhen Futaihong Precision Industry Co., Ltd.

Co-applicant after: Foxconn Technology Co., Ltd.

Address before: 000000, building 845, 11 Zhongshan Road, Taoyuan, Taiwan, China

Applicant before: Chengshi Technologies Co., Ltd.

C12 Rejection of a patent application after its publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Open date: 20090722