CN101493486B - 一种诊断电磁干扰的装置及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种诊断电磁干扰的装置及方法，所述诊断电磁干扰的装置包括一用于连接被检测点的检测端、一连接所述检测端的信号处理装置及一连接所述信号处理装置的信号接收设备，所述信号处理装置包括一连接所述检测端用于衰减被侧信号的衰减模块、一连接所述衰减模块用于隔离直流信号的隔直模块及一用于与所述信号接收设备进行阻抗匹配的阻抗匹配模块，所述阻抗匹配模块的一端连接所述隔直模块，所述阻抗匹配模块的另一端连接所述信号接收设备。本发明诊断电磁干扰的装置结构简单、操作方便。
Description
技术领域
本发明涉及电子产品测试领域，尤其涉及一种诊断电磁干扰的装置及方法。
背景技术
随着电子产品的日益增多，电磁干扰(EMI)也越发受到各个国家的重视，很多国家都制定了相应的标准来对其进行约束，如欧洲的CE认证、北美的FCC认证等。因此，需要认证的产品在出厂前都必须经过EMI检测，合格了才能够出厂，而从成本等因素综合考虑，必然是在产品的研发阶段就进行检测EMI是最合理的选择。
通常的EMI检测装置如图1所示(以辐射骚扰测试为例)，其需要在半/全电波暗室进行测试，测试装置由EMI接收机、天线及转台等组成。由于电波暗室建造的成本很高，并非每个公司/单位都有足够的资金建造，而对于研发阶段的产品来说，又很难保证一次性就可以通过EMI检测，往往需要更改多次并且在电波暗室测试多次才能通过检测，而按标准每次检测的时间都在半小时以上，从而给产品研制增加了时间、提高了很多成本，且操作也不方便。
发明内容
为解决上述技术问题，本发明提供了一种结构简单且操作方便的诊断电磁干扰的装置及方法。
一种诊断电磁干扰的装置，包括一用于连接被检测点的检测端、一连接所述检测端的信号处理装置及一连接所述信号处理装置的信号接收设备，所述信号处理装置包括一连接所述检测端用于衰减被侧信号的衰减模块、一连接所述衰减模块用于隔离直流信号的隔直模块及一用于与所述信号接收设备进行阻抗匹配的阻抗匹配模块，所述阻抗匹配模块的一端连接所述隔直模块，所述阻抗匹配模块的另一端连接所述信号接收设备。
进一步地，在上述装置中，所述衰减模块为一电阻。
进一步地，在上述装置中，所述隔直模块为一电容。
进一步地，在上述装置中，所述阻抗匹配模块为一电阻，所述电阻的一端分别连接所述隔直模块和所述信号接收设备，所述电阻的另一端接地。
进一步地，在上述装置中，所述检测端为一探针。
进一步地，在上述装置中，所述信号接收设备为一频谱仪或EMI接收机。
一种应用上述的装置进行诊断电磁干扰的方法，包括：
a：利用所述检测端探测被测产品的一可疑点；
b：通过信号处理装置对所述可疑点的信号进行衰减、隔离直流和阻抗匹配处理；
c：利用信号接收设备显示所述可疑点的信号的频谱。
进一步地，在上述方法中，所述方法还包括利用电脑对步骤c显示的频谱进行数据处理得到一测试值。
进一步地，在上述方法中，若所述测试值小于一限值，判断所述可疑点为非主要干扰源。
进一步地，在上述方法中，若所述测试值为一限值以上，判断所述可疑点为主要干扰源。
本发明具有以下有益效果：
本发明诊断电磁干扰的装置只包括一检测端、一连接信号处理装置及一信号接收设备，电磁干扰检测时，只须将检测端连接被检测点即可进行电磁干扰诊断。本发明诊断电磁干扰的装置结构简单、操作方便。
附图说明
图1为现有的EMI检测装置示意图。
图2为本发明较佳实施例EMI检测装置连接示意图。
图3为图2中EMI检测装置的具体连接示意图。
图4为本发明较佳实施例诊断电磁干扰的方法的流程图。
具体实施方式
请参阅图2，本发明较佳实施例EMI检测装置包括一用于连接被检测点的检测端、一连接所述检测端的信号处理装置22及一连接所述信号处理装置的信号接收设备23，在本实施例中，所述测试端为一探针21。所述信号处理装置22包括一连接用于衰减被侧信号的衰减模块221、一用于隔离直流信号的隔直模块222及一用于与信号接收设备23进行阻抗匹配的阻抗匹配模块223。
该EMI检测装置由探针21对一印刷电路板10上的任意可疑噪声点进行检测，从探针21传过来的信号经信号处理装置22处理，信号接收设备23接收经经信号处理装置22处理的信号并分析被检测点的频谱情况。因为被测信号幅度可能较大有可能损坏信号接收设备23，所以需要信号经信号处理装置22先进行衰减，同时也因为信号接收设备23不能直接输入直流信号，因此需要对信号进行隔离直流信号。
请参阅图3，图3是图2中EMI检测装置的具体连接示意图，其中信号处理装置22的衰减模块221为一电阻R1，信号处理装置22的隔直模块222为一个电容C，信号处理装置22的阻抗匹配模块223为一电阻R2。信号接收设备23为一EMI接收机或频谱仪。电阻R1的一第一端连接所述探针21，其一第二端连接电容C的一第一端，电容C的一第二端连接电阻R2的一第一端，电阻R2的第一端还连接信号接收设备23，电阻R2的一第二端接地。电阻R1用来对被测信号进行衰减，电容C用来对被测信号进行隔离直流，电阻R2用来与信号接收设备23进行阻抗匹配，其中R1、R2及C均应采用贴片封装方式。
电阻R1在选取时不能过大也不能过小，过大则可能使最终接收到的信号幅度太小无法分析，过小则可能烧坏接收设备；电容C的选取也要合适，过大则由于其截至频率太低使噪声不能正确反映，过小则导致其阻抗太大。由于数字信号的特征阻抗通常为50欧姆，且信号接收设备23(EMI接收机或频谱仪)的输入接口同轴电缆特征阻抗也为50欧姆，因此电阻R1可选取500欧姆(通常EMI接收机/频谱仪的最大输入为1V，因此对数字信号衰减10倍后再输入基本不会损坏仪器)、电阻R2取50欧姆、电容C可取1000pF。
当某产品研制完成后进行EMI检测时，本发明较佳实施例EMI检测装置的信号接收设备23连接一用于对频谱进行数据处理而得到一测试值的电脑。EMI检测时，首先利用近场扫描设备(图未示)对印刷电路板10进行EMI空间分布扫描，如果扫描结果不满足标准要求，则利用本发明的EMI检测装置进行诊断，具体诊断过程如图下：
S401，利用探针21采取点接触的方式探测印刷电路板10上的可疑点；
S402，通过信号处理装置22对可疑点的信号进行衰减、隔离直流和阻抗匹配处理；
S403，利用信号接收设备23显示出可疑点的信号的频谱；
S404，利用电脑对频谱进行数据处理得到一个测试值。
将上述测试值与一标准限值进行比较，如果该测试值比所述标准限值低于13-17dB，则可认为该可疑点是非主要干扰源，继续进行下一可疑点的寻找；如果该测试值比所述标准限值不低于13-17dB，则可认为该可疑点是主要干扰源或主要干扰源之一，然后对该干扰源采取抑制措施直到测试值比所述标准限值低于13-17dB为止，当该干扰源的测试值比所述标准限值低于13-17dB后则再利用近场扫描设备进行近场扫描，如果扫描结果满足标准要求，则认为产品通过EMI检测，如果扫描结果不满足标准要求，则继续寻找下一主要干扰源，重复上面的诊断过程，直到近场扫描结果满足标准要求为止。
以上关于检测装置及相关参数的描述，仅为本发明的实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。如对信号处理装置进行进一步优化，衰减、隔直模块的器件类型变化、器件的参数变化等。因此，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的权利要求范围之内。
Claims (10)
1.一种诊断电磁干扰的装置，包括一用于连接被检测点的检测端、一连接所述检测端的信号处理装置及一连接所述信号处理装置的信号接收设备，所述信号处理装置包括一连接所述检测端用于衰减被测信号的衰减模块、一连接所述衰减模块用于隔离直流信号的隔直模块及一用于与所述信号接收设备进行阻抗匹配的阻抗匹配模块，所述阻抗匹配模块的一端连接所述隔直模块，所述阻抗匹配模块的另一端连接所述信号接收设备；所述信号接收设备用于将被测信号与预设的限值进行比较，其中，所述预设的限值比标准限值低13至17db。
2.如权利要求1所述的诊断电磁干扰的装置，其特征在于：所述衰减模块为一电阻。
3.如权利要求1所述的诊断电磁干扰的装置，其特征在于：所述隔直模块为一电容。
4.如权利要求1所述的诊断电磁干扰的装置，其特征在于：所述检测端为一探针。
5.如权利要求1所述的诊断电磁干扰的装置，其特征在于：所述信号接收设备为一频谱仪或EMI接收机。
6.一种诊断电磁干扰的装置，包括一用于连接被检测点的检测端、一连接所述检测端的信号处理装置及一连接所述信号处理装置的信号接收设备，所述信号处理装置包括一连接所述检测端用于衰减被测信号的衰减模块、一连接所述衰减模块用于隔离直流信号的隔直模块及一用于与所述信号接收设备进行阻抗匹配的阻抗匹配模块，所述阻抗匹配模块为一电阻，所述电阻的一端连接所述隔直模块和所述信号接收设备，所述电阻的另一端接地；所述信号接收设备用于将被测信号与预设的限值进行比较，其中，所述预设的限值比标准限值低13至17db。
7.一种应用权利要求1所述的装置进行诊断电磁干扰的方法，包括：
a：利用检测端探测被测产品的一可疑点；
b：通过信号处理装置对所述可疑点的信号进行衰减、隔离直流和阻抗匹配处理；
c：利用信号接收设备显示所述可疑点的信号的频谱，并将其与一限值进行比较，其中，所述限值比标准限值低13至17db。
8.如权利要求7所述的诊断电磁干扰的方法，其特征在于：所述方法还包括利用电脑对步骤c显示的频谱进行数据处理得到一测试值。
9.如权利要求8所述的诊断电磁干扰的方法，其特征在于：若所述测试值小于所述限值，判断所述可疑点为非主要干扰源。
10.如权利要求8所述的诊断电磁干扰的方法，其特征在于：若所述测试值为所述限值以上，判断所述可疑点为主要干扰源。
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