CN110133401A - 排查电子产品电磁辐射敏感性故障的方法 - Google Patents

排查电子产品电磁辐射敏感性故障的方法 Download PDF

Info

Publication number
CN110133401A
CN110133401A CN201910395601.XA CN201910395601A CN110133401A CN 110133401 A CN110133401 A CN 110133401A CN 201910395601 A CN201910395601 A CN 201910395601A CN 110133401 A CN110133401 A CN 110133401A
Authority
CN
China
Prior art keywords
electronic product
interference
shielding
test
tested
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201910395601.XA
Other languages
English (en)
Inventor
吴畏
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Chengdu CAIC Electronics Co Ltd
Original Assignee
Chengdu CAIC Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Chengdu CAIC Electronics Co Ltd filed Critical Chengdu CAIC Electronics Co Ltd
Priority to CN201910395601.XA priority Critical patent/CN110133401A/zh
Publication of CN110133401A publication Critical patent/CN110133401A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/001—Measuring interference from external sources to, or emission from, the device under test, e.g. EMC, EMI, EMP or ESD testing

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)

Abstract

本发明公开的一种排查电子产品电磁辐射敏感性故障的方法，旨在提供一种简单易行，方便快捷，测试诊断效率高的查找故障点的方法。本发明通过下述技术方案予以实现：用屏蔽测试线缆将通用测量仪器连接到被测电子产品装置的外接插座上，利用该外接插座上的空余插针或暂时不用的插针，对应连接探查导线，接入被测电子产品装置内的电路板需要探查的测试点上，按正常条件在实验室由电磁干扰发射机施加电磁辐射干扰，探查被测电子电路板敏感电路的电压信号或者信号波形，对电磁干扰敏感点进行排查，通过探查导线将检测干扰波形传输到屏蔽测试线缆并引入到被测电子产品外部的通用测量仪器，检测出反映电磁干扰敏感点的干扰波形。

Description

排查电子产品电磁辐射敏感性故障的方法
技术领域
本发明涉及一种针对电子产品电磁辐射敏感性故障排查的方法，尤其是针对航空电子产品电磁辐射敏感点不确定的排查方法。
背景技术
在现有技术中，电磁兼容性(EMC)测试包括电磁骚扰(EMI)和电磁敏感度(EMS)两个部分,EMS又称电磁抗扰度。电磁干扰(EMI)是指电子设备(干扰源)通过电磁波对其他电子设备产生干扰的现象。越敏感的设备，越容易受到干扰。电磁敏感度EMS是指设备受电磁干扰的敏感程度，是由于电子设备受到外界的电磁干扰，造成自身性能下降的容易程度。EMI主要有两种类型：传导干扰和辐射干扰。电磁传导干扰是指干扰源通过导电介质(例如电线)把自身电网络上的信号耦合(干扰)到另一个电网络。电磁干扰EMI测试是测量被测设备在正常工作状态下产生并向外发射的电磁波信号的大小来反应对周围电子设备干扰的强弱。解决电磁干扰问题最重要的一个问题是判断干扰的来源。只有准确将干扰源定位后，才能够提出解决干扰的措施。电磁敏感度EMS测试是测量被测设备对电磁骚扰的抗干扰的能力强弱。敏感度测试时周围不能有敏感设备。在实验室做测试时，周围不能有发射或干扰设备。由于EMC测试频率很宽(20Hz～40GHz)、幅度很大(μV级至kW级)、模式很多(FM、AM等)、姿态很多(平放、斜放等)，电磁干扰(EMI)和电磁敏感度(EMS)测试，需要用到许多电子仪器，如频谱分析仪、电磁场干扰测量仪、信号源、功能放大器、示波器等。为了保证测试结果的准确和可靠性，电磁兼容性测量对测试环境有较高的要求，测量场地有室外开阔场地、屏蔽室或电波暗室等。电磁兼容性测试依据标准的不同，有许多种测量方法，但归纳起来可分为4类；传导发射测试、辐射发射测试、传导敏感度(抗扰度)测试和辐射敏感度测试。敏感性判别准则：一般由被测方提供，并实时监视和判别，以测量和观察的方式确定性能降低的程度。由于飞行器上的无线电设备、雷达等的电磁发射，导航设备之间的电磁辐射与散射，线缆上的传导耦合以及瞬态干扰的增多，电子设备或系统容易受到干扰影响。在电磁骚扰的情况下，航空电子产品电路容易敏感，由于电路的复杂性，电磁辐射敏感性的故障排查很困难，不能一目了然看清敏感薄弱环节所在，在排查故障时容易引起困惑。
发明内容
本发明的目的是针对航空电子产品电磁辐射敏感点不确定的情况，提供一种简单易行，方便快捷，测试诊断效率高的查找故障点的方法。
为实现上述目的，本发明需要实现如下技术解决方案。一种排查电子产品电磁辐射敏感性故障的方法，具有如下技术特征：用屏蔽测试线缆2将通用测量仪器1连接到被测电子产品装置的外接插座上，利用该外接插座上的空余插针或暂时不用的插针，对应连接探查导线3，接入被测电子产品装置内的电路板需要探查的测试点上，按正常条件，在实验室由电磁干扰发射机施加电磁辐射干扰，探查被测电子电路板敏感电路的电压信号或者信号波形，对电磁干扰敏感点进行排查，通过探查导线3将检测干扰波形传输到屏蔽测试线缆2并引入到被测电子产品外部的通用测量仪器1，检测出反映电磁干扰敏感点的干扰波形。
本发明具有如下有益效果：
简单易行，方便快捷。本发明采用屏蔽测试线缆，将通用测量仪器连接到被测电子产品的外接插座上，利用该外接插座上的空余插针或暂时不用的插针，借助通用测量仪器对被测电子产品内部敏感点进行查找，可以简单易行，方便快捷排查电子产品电磁辐射敏感性的EMS故障，测试得到被测电子产品内的电磁抗扰度，有的放矢地解决电路敏感性问题。
测试诊断效率高。本发明利用被测电子产品外接插座上的空余插针或暂时不用的插针，对应空余插针连接探查导线，接入被测电子产品内的电路板需要探查的测试点上，按正常条件在实验室由电磁干扰发射机施加电磁辐射干扰，探查被测电子电路板敏感电路的电压信号或者信号波形，对可疑的敏感点进行逐个排查。这种方法对测试设备要求不高，仅用有效屏蔽的测试电缆，就可以低成本地利用电子产品插座上的空余插针或暂时不用的插针，通过连线通用测量仪器，如实地反映电子产品内部敏感点的干扰情况，提高测试诊断的效率。解决了电子产品装置原机电缆所不能进行检查的不足之处，能够简单有效地对电磁干扰敏感点进行排查。
附图说明
图1是本发明排查电子产品电磁辐射敏感性故障的方法的示意图。
图中：1通用测量仪器，2屏蔽测试线缆，3探查导线。
具体实施方式
参阅图1。根据本发明，用屏蔽测试线缆2将通用测量仪器1连接到被测电子产品装置的外接插座上，利用该外接插座上的空余插针或暂时不用的插针，对应空余插针连接探查导线3，接入被测电子产品装置内的电路板需要探查的测试点上，按正常条件在实验室由电磁干扰发射机施加电磁辐射干扰，探查被测电子电路板敏感电路的电压信号或者信号波形，由外部的通用测量仪器1对该电压信号或者信号波形进行测量排查，从而确定敏感点，找出被测电子产品装置内部电路敏感点后，按相应的技术方法对敏感电路进行加固处理，再次通过上述测量方法进行测量验证，看处理措施是否有效。只需如此往复几次处理，可以快速解决被测电子产品装置敏感的问题。
通用测量仪器1包括采用屏蔽测试线缆2连接在待测电子产品装置和通用测量仪器1之间普通的数字电压表或示波器等。屏蔽测试线缆是用防波套进行有效屏蔽处理的屏蔽测试线缆2。具有防干扰的特性的屏蔽测试线缆2内部测试线连接到与待测电子产品装置外接插座所对应的插头的选定的空针上，在待测电子产品装置内部将外接插座对应的选定的空余插针接入探查导线3，探查导线3另一端接到待测电子产品装置内部电路板上探查点；这样探查导线3将电子产品装置内部电路需要探查的敏感测试点的信号通过外接插座及屏蔽测试线缆2引至通用测量仪器1，从而可实现测量。
在可选的实施例中，可以利用测试线探查电子产品装置内部敏感电路的电压信号或者信号波形，用有效屏蔽的自制电缆引出至通用测量仪器1，通过外部数字电压表测量电压信号或示波器检测信号波形，可以如实地反映了产品内部敏感点的干扰情况。
以上结合附图对本发明进行了详细描述，但需要指出的是，上述实例所描述的是仅为本发明的优选实例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的权利要求范围之内。

Claims (5)

1.一种排查电子产品电磁辐射敏感性故障的方法，具有如下技术特征：用屏蔽测试线缆(2)将通用测量仪器(1)连接到被测电子产品装置的外接插座上，利用该外接插座上的空余插针或暂时不用的插针，对应连接探查导线(3)，接入被测电子产品装置内的电路板需要探查的测试点上，按正常条件，在实验室由电磁干扰发射机施加电磁辐射干扰，探查被测电子电路板敏感电路的电压信号或者信号波形，对电磁干扰敏感点进行排查，通过探查导线(3)将检测干扰波形传输到屏蔽测试线缆(2)并引入到被测电子产品外部的通用测量仪器(1)，检测出反映电磁干扰敏感点的干扰波形。
2.如权利要求1所述的排查电子产品电磁辐射敏感性故障的方法，其特征在于：通用测量仪器(1)包括采用屏蔽测试线缆(2)连接在电子待测电子产品装置和通用测量仪器(1)之间的数字电压表或示波器。
3.如权利要求2所述的排查电子产品电磁辐射敏感性故障的方法，其特征在于：屏蔽测试线缆是用防波套进行有效屏蔽处理的屏蔽测试线缆(2)。
4.如权利要求3所述的排查电子产品电磁辐射敏感性故障的方法，其特征在于：具有防干扰特性的屏蔽测试线缆(2)内部测试线连接到与待测电子产品装置外接插座所对应的插头的选定的空针上，在电子待测产品装置内部将外接插座对应的选定的空余插针接入探查导线(3)，探查导线(3)另一端接到电子产品装置内部电路板上探查点。
5.如权利要求4所述的排查电子产品电磁辐射敏感性故障的方法，其特征在于：探查导线(3)将待测电子产品装置内部电路需要探查的敏感测试点的信号通过外接插座及屏蔽测试线缆(2)引至通用测量仪器(1)，从而可实现测量。
CN201910395601.XA 2019-05-13 2019-05-13 排查电子产品电磁辐射敏感性故障的方法 Pending CN110133401A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910395601.XA CN110133401A (zh) 2019-05-13 2019-05-13 排查电子产品电磁辐射敏感性故障的方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910395601.XA CN110133401A (zh) 2019-05-13 2019-05-13 排查电子产品电磁辐射敏感性故障的方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN110133401A true CN110133401A (zh) 2019-08-16

Family

ID=67573673

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201910395601.XA Pending CN110133401A (zh) 2019-05-13 2019-05-13 排查电子产品电磁辐射敏感性故障的方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN110133401A (zh)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110927499A (zh) * 2019-12-10 2020-03-27 中国民航大学 一种射频集成电路近场电磁兼容性测试设备及其测试方法
CN111289807A (zh) * 2020-03-31 2020-06-16 西安微电子技术研究所 一种电子产品抗干扰方式选取方法
CN111880135A (zh) * 2020-07-02 2020-11-03 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） 传导骚扰能力验证样品和方法
CN112230069A (zh) * 2020-08-05 2021-01-15 北京经纬恒润科技股份有限公司 集成电路电磁干扰诊断系统及方法
CN113064196A (zh) * 2021-03-18 2021-07-02 西北核技术研究所 基于x射线的电子系统辐射敏感位置快速甄别方法及系统
CN113484636A (zh) * 2021-06-22 2021-10-08 东风汽车集团股份有限公司 基于无人驾驶系统线束回路防串扰方法、系统及存储介质
CN113933631A (zh) * 2021-10-12 2022-01-14 北京航空航天大学 一种多导体线缆电磁参数自动测试方法
CN114578152A (zh) * 2022-01-26 2022-06-03 苏州浪潮智能科技有限公司 一种电磁兼容预测量方法、装置、计算机设备和存储介质
TWI771232B (zh) * 2021-11-23 2022-07-11 英業達股份有限公司 測試輻射敏感度之系統及方法
WO2024109503A1 (zh) * 2022-11-24 2024-05-30 吴伟 一种电磁干扰测试方法和系统

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101191806A (zh) * 2006-11-29 2008-06-04 比亚迪股份有限公司 测试汽车电磁敏感度的设备和方法
CN101216516A (zh) * 2007-12-28 2008-07-09 东南大学 三极化横电磁波小室场强试验装置
CN201682053U (zh) * 2009-12-18 2010-12-22 中国航空无线电电子研究所 电场辐射敏感度测试系统机柜组合天线架
DE102015121577A1 (de) * 2015-12-11 2017-06-14 Infineon Technologies Ag Verfahren zur erkennung eines sich abzeichnenden ausfalls eines halbleiterchips eines halbleitermoduls und halbeitermodulanordnung

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101191806A (zh) * 2006-11-29 2008-06-04 比亚迪股份有限公司 测试汽车电磁敏感度的设备和方法
CN101216516A (zh) * 2007-12-28 2008-07-09 东南大学 三极化横电磁波小室场强试验装置
CN201682053U (zh) * 2009-12-18 2010-12-22 中国航空无线电电子研究所 电场辐射敏感度测试系统机柜组合天线架
DE102015121577A1 (de) * 2015-12-11 2017-06-14 Infineon Technologies Ag Verfahren zur erkennung eines sich abzeichnenden ausfalls eines halbleiterchips eines halbleitermoduls und halbeitermodulanordnung

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
李玉兰: "航天飞行器电磁兼容性概述", 《宇航计测技术》 *

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110927499A (zh) * 2019-12-10 2020-03-27 中国民航大学 一种射频集成电路近场电磁兼容性测试设备及其测试方法
CN110927499B (zh) * 2019-12-10 2022-05-17 中国民航大学 一种射频集成电路近场电磁兼容性测试设备及其测试方法
CN111289807B (zh) * 2020-03-31 2022-08-23 西安微电子技术研究所 一种电子产品抗干扰方式选取方法
CN111289807A (zh) * 2020-03-31 2020-06-16 西安微电子技术研究所 一种电子产品抗干扰方式选取方法
CN111880135A (zh) * 2020-07-02 2020-11-03 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） 传导骚扰能力验证样品和方法
CN111880135B (zh) * 2020-07-02 2023-02-17 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） 传导骚扰能力验证样品和方法
CN112230069A (zh) * 2020-08-05 2021-01-15 北京经纬恒润科技股份有限公司 集成电路电磁干扰诊断系统及方法
CN113064196A (zh) * 2021-03-18 2021-07-02 西北核技术研究所 基于x射线的电子系统辐射敏感位置快速甄别方法及系统
CN113064196B (zh) * 2021-03-18 2023-06-27 西北核技术研究所 基于x射线的电子系统辐射敏感位置快速甄别方法及系统
CN113484636B (zh) * 2021-06-22 2023-03-24 东风汽车集团股份有限公司 基于无人驾驶系统线束回路防串扰方法、系统及存储介质
CN113484636A (zh) * 2021-06-22 2021-10-08 东风汽车集团股份有限公司 基于无人驾驶系统线束回路防串扰方法、系统及存储介质
CN113933631A (zh) * 2021-10-12 2022-01-14 北京航空航天大学 一种多导体线缆电磁参数自动测试方法
TWI771232B (zh) * 2021-11-23 2022-07-11 英業達股份有限公司 測試輻射敏感度之系統及方法
CN114578152A (zh) * 2022-01-26 2022-06-03 苏州浪潮智能科技有限公司 一种电磁兼容预测量方法、装置、计算机设备和存储介质
CN114578152B (zh) * 2022-01-26 2024-01-12 苏州浪潮智能科技有限公司 一种电磁兼容预测量方法、装置、计算机设备和存储介质
WO2024109503A1 (zh) * 2022-11-24 2024-05-30 吴伟 一种电磁干扰测试方法和系统

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN110133401A (zh) 排查电子产品电磁辐射敏感性故障的方法
EP3114490B1 (en) Method and apparatus for detection and identification of counterfeit and substandard electronics
Montrose et al. Testing for EMC compliance: approaches and techniques
US5517110A (en) Contactless test method and system for testing printed circuit boards
US8143903B2 (en) Resonance scanning system and method for testing equipment for electromagnetic resonances
US5463317A (en) Shield integrity monitor
CN101782622A (zh) 电力电缆及接头局部放电在线监测装置
CN101493486A (zh) 一种诊断电磁干扰的装置及方法
US5894223A (en) Non-intrusive cable tester
CN109932614A (zh) 一种电缆故障排查方法及装置
CN104483553B (zh) 一种电磁屏蔽材料的射频阻抗测试装置
US5886531A (en) Method and appparatus for detecting an electrical connection defect between a connector and a shield cable
CA2759235C (en) System and method for detecting sensor leakage
Cerri et al. Theoretical and experimental evaluation of electromagnetic fields radiated by ESD
Li et al. An experimental analysis of the effects of wiring harness during bulk current injection (BCI) test
Wada et al. A detection method of electromagnetic analysis attacks based on change in amplitude of noise around integrated circuits
CN113533219A (zh) 用于样本检测的测量装置及其安装方法
CN110988589A (zh) 飞机发动机线缆间歇性故障检测仪及其检测方法
CN110531170A (zh) 屏蔽电缆屏蔽衰减测量方法
Pfennig Comparison of Three Methods for Testing IC’s to Field-Coupled Immunity and Emissions
CN205510081U (zh) 一种防空武器火控系统单体信号检测装置
zur Nieden et al. Impact of setup and pulse generator on automotive component ESD testing results
Barrack et al. Fast transient radiated and conducted electromagnetic interference measurement within power system substations
CN215728499U (zh) 防干扰的传导耦合测试装置
Lee et al. A New Design of AC Voltage Probe for EMI Conducted Emission Measurement

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20190816

RJ01 Rejection of invention patent application after publication