CN100437133C - 低电压重置功能检测电路 - Google Patents

低电压重置功能检测电路 Download PDF

Info

Publication number
CN100437133C
CN100437133C CNB2004100512129A CN200410051212A CN100437133C CN 100437133 C CN100437133 C CN 100437133C CN B2004100512129 A CNB2004100512129 A CN B2004100512129A CN 200410051212 A CN200410051212 A CN 200410051212A CN 100437133 C CN100437133 C CN 100437133C
Authority
CN
China
Prior art keywords
circuit
voltage
pin
low
test
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CNB2004100512129A
Other languages
English (en)
Other versions
CN1737596A (zh
Inventor
谢明志
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Original Assignee
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd, Hon Hai Precision Industry Co Ltd filed Critical Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Priority to CNB2004100512129A priority Critical patent/CN100437133C/zh
Priority to US11/025,196 priority patent/US7404119B2/en
Publication of CN1737596A publication Critical patent/CN1737596A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN100437133C publication Critical patent/CN100437133C/zh
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/316—Testing of analog circuits
    • G01R31/3163—Functional testing

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

一种低电压重置功能检测电路，该电路包括：一参考电压源；一第一可变电阻，其一端与参考电压源相连；一第二可变电阻，其一端与第一可变电阻的另一端相连接，另一端接地；及一跳线，其具有四个接脚，其中第一接脚连于第一可变电阻与第二可变电阻之间，第三接脚接地，第二接脚与第四接脚共同相连于被测电路的低电压重置接脚，所述第一接脚与第二接脚及所述第三接脚与第四接脚均可选择性地连接或断开，以分别在连接状态时输出正常电压信号及重置电压信号给所述被测电路的低电压重置接脚。该低电压重置功能检测电路结构简单，操作方便，可节省成本。

Description

低电压重置功能检测电路
【技术领域】
本发明涉及一种电压检测电路，尤指一种低电压重置功能检测电路。
【背景技术】
一般电子电路的正常工作均需要提供一稳定的电压源。如果供给的电压短暂中断或低于稳定电压源值时，就会造成电路不正常工作。因此在设计电子电路时，就需要使电子电路具有一低电压重置功能，能在电压短暂中断或低于稳定电压源值时进行重置，保证电路正常工作。通常，还需要在电压源和电子电路间设计一低电压重置电路，用以侦测电压源。此低电压重置电路连接至电子电路的低电压重置接脚，将侦测到的电压信号反映至低电压重置接脚，使电子电路据此信号做出响应，即若此电压信号的电压值低于电子电路正常工作的最低电压值，电子电路将进行重置，反之，将保持原工作状态。
为了使电子电路正常工作，必须保证电子电路的低电压重置功能完好，因而就需要检测电子电路的低电压重置功能，以保证其能正常工作。现在常用的检测电路多整合到电子电路中，如于1995年9月12日公告的、专利名称为“Circuit for testing power-on-reset circuitry”的US Pat.No.5,450,417中用于确定重置功能是否可正常运行的控制电路就是整个电子电路中的一部分。该控制电路虽然可检测出重置功能是否完好，但其是在电子电路正常工作后进行运作，不能对重置功能有损的电路进行恢复，若检测出功能有损的电路，则需进行更换，因而较为麻烦，且此控制电路较为复杂，成本比较高。
因此需要一种结构简单的检测电路，可在电子电路使用前测试其低电压重置功能是否完好，以省却更换电路的繁琐。
【发明内容】
本发明所要解决的技术问题在于提供一种低电压重置功能检测电路，用于在被测电路使用前检测被测电路的低电压重置功能是否完好。
为了解决上述技术问题，本发明所提供的低电压重置功能检测电路包括一参考电压源；一第一可变电阻，其一端与参考电压源相连；一第二可变电阻，其一端与第一可变电阻的另一端相连接，另一端接地；及一跳线，具有四个接脚，其中第一接脚连接于第一可变电阻与第二可变电阻之间，第三接脚接地，第二接脚与第四接脚共同相连于被测电路的低电压重置接脚，所述第一接脚与第二接脚及所述第三接脚与第四接脚均可选择性地连接或断开，以分别在连接状态时输出正常电压信号及重置电压信号给所述被测电路的低电压重置接脚。
本发明低电压重置功能检测电路只需两个可变电阻及一具有四个接脚的跳线即可实现在电子电路使用前进行低电压重置功能检测，结构简单，操作方便，可节省成本。
【附图说明】
图1是本发明低电压重置功能检测电路的电路图。
图2是本发明低电压重置功能检测电路的操作流程图。
【具体实施方式】
请参阅图1，所示为本发明低电压重置功能检测电路10的电路图。其中低电压重置功能检测电路10位于测试板1上，其通过输出点A与被测电路2的低电压重置接脚20相连，以测试该被测电路2的低电压重置功能是否完好。其中低电压重置功能检测电路10的电路图如图1中虚线框所示。该检测电路10包括：一参考电压源Vref，一第一可变电阻R1，一第二可变电阻R2，一跳线100，及一输出点A，用于输出电压信号至被测电路2的低电压重置接脚20。参考电压源Vref通过串联的第一可变电阻R1与第二可变电阻R2接地。该跳线100具有第一接脚1001、第二接脚1002、第三接脚1003及第四接脚1004四个接脚，其中第一接脚1001连于第一可变电阻R1与第二可变电阻R2的中间点B，第三接脚1003接地，第二接脚1002与第四接脚1004共同相连于输出点A。
在本实施方式中，参考电压源Vref大于被测电路2正常工作的最低电压值，第一可变电阻R1与第二可变电阻R2的中间点B的电压VB等于被测电路2正常工作的最低电压值，即低于此值被测电路2则会重置。因VB＝Vref×R2/(R1+R2)，因而可通过调节第一可变电阻R1与第二可变电阻R2的阻值调出所需的被测电路2正常工作的最低电压值。在本发明的实施方式中，被测电路2正常工作的最低电压值为+3.3V，参考电压源Vref为+5V，则只需第一可变电阻R1与第二可变电阻R2满足R2/(R1+R2)＝0.66，则B点的电压VB即为+3.3V。连接跳线100的第一接脚1001与第二接脚1002，则输出点A的电压值VA＝VB＝+3.3V，相当于给被测电路2正常供电，被测电路2开始正常工作。若此时连接跳线100的第三接脚1003与第四接脚1004，而断开第一接脚1001与第二接脚1002的连接，则输出点A的电压VA为0，相当于给被测电路2供电电压值低于正常工作的最低电压值，若被测电路2的低电压重置功能正常，则其应做出重置动作。若被测电路2进行重置，则说明其低电压重置功能完好，若没有进行重置，则说明被测电路2的低电压重置功能损坏。从而，可检测出被测电路2的低电压重置功能是否完好。
请参阅图2，所示为本发明低电压重置功能检测电路10的操作流程图。在步骤S201，在测试板1上连接好检测电路10并调节第一可变电阻R1与第二可变电阻R2的阻值，使得VB为被测电路2正常工作的最低电压值+3.3V。在步骤S202，将检测电路10的输出点A连接至被测电路2的低电压重置接脚20。在步骤S203，连接跳线100的第一接脚1001与第二接脚1002，则此时输出点A的电压VA＝VB＝+3.3V，被测电路2开始正常工作。在步骤S204，断开跳线100的第一接脚1001与第二接脚1002的连接，连接第三接脚1003与第四接脚1004，则此时输出点A的电压为0，低于被测电路2正常工作的最低电压值，因而被测电路2应做重置。若被测电路2进行重置，则说明其低电压重置功能完好，若没有进行重置，则说明被测电路2的低电压重置功能损坏。如此，可检测出被测电路2的低电压重置功能是否完好。

Claims (3)

1.一种低电压重置功能检测电路，用于检测被测电路的低电压重置功能是否完好，其特征在于该检测电路包括：
一参考电压源；
一第一可变电阻，其一端与参考电压源相连；
一第二可变电阻，其一端与第一可变电阻的另一端相连接，另一端接地；及
一跳线，其具有四个接脚，其中第一接脚连接于第一可变电阻与第二可变电阻之间，第三接脚接地，第二接脚与第四接脚共同相连于被测电路的低电压重置接脚，所述第一接脚与第二接脚及所述第三接脚与第四接脚均可选择性地连接或断开，以分别在连接状态时输出正常电压信号及重置电压信号给所述被测电路的低电压重置接脚。
2.如权利要求1所述的低电压重置功能检测电路，其特征在于参考电压源的电压值大于被测电路正常工作的最低电压值。
3.如权利要求1所述的低电压重置功能检测电路，其特征在于第一可变电阻与第二可变电阻间的电压值等于被测电路正常工作的最低电压值。
CNB2004100512129A 2004-08-19 2004-08-19 低电压重置功能检测电路 Expired - Fee Related CN100437133C (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CNB2004100512129A CN100437133C (zh) 2004-08-19 2004-08-19 低电压重置功能检测电路
US11/025,196 US7404119B2 (en) 2004-08-19 2004-12-29 Circuit for testing power down reset function of an electronic device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CNB2004100512129A CN100437133C (zh) 2004-08-19 2004-08-19 低电压重置功能检测电路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN1737596A CN1737596A (zh) 2006-02-22
CN100437133C true CN100437133C (zh) 2008-11-26

Family

ID=35910933

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CNB2004100512129A Expired - Fee Related CN100437133C (zh) 2004-08-19 2004-08-19 低电压重置功能检测电路

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7404119B2 (zh)
CN (1) CN100437133C (zh)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7710105B2 (en) * 2006-03-14 2010-05-04 Atmel Corporation Circuit reset testing methods
US7519486B2 (en) * 2006-03-31 2009-04-14 Atmel Corporation Method and apparatus to test the power-on-reset trip point of an integrated circuit
DE102008003819B4 (de) * 2008-01-10 2015-06-18 Austriamicrosystems Ag Schaltungsanordnung und Verfahren zum Testen einer Rücksetzschaltung
CN101488999A (zh) * 2008-01-15 2009-07-22 诚实科技股份有限公司 可降低噪声干扰的测试端口处理方法
CN101871795B (zh) * 2009-04-24 2013-01-02 英业达股份有限公司 传感器功能的检测方法
US8274303B2 (en) 2010-08-30 2012-09-25 Freescale Semiconductor, Inc. Schmitt trigger with test circuit and method for testing
US8344779B2 (en) 2010-08-30 2013-01-01 Freescale Semiconductor, Inc. Comparator circuit with hysteresis, test circuit, and method for testing
CN103164007A (zh) * 2011-12-09 2013-06-19 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 密码清除电路
US9312850B2 (en) 2014-08-20 2016-04-12 Freescale Semiconductor, Inc. Testable power-on-reset circuit
CN106199168B (zh) * 2016-08-16 2019-08-09 江苏中海重型机床有限公司 一种用于单片机的多功能电压电流采集系统
US10289427B2 (en) * 2017-04-10 2019-05-14 Senao Networks, Inc. Reset device and method of power over Ethernet system
TWI688187B (zh) * 2019-01-10 2020-03-11 新唐科技股份有限公司 電壓監控系統及其方法
CN112649653A (zh) * 2019-10-11 2021-04-13 神讯电脑(昆山)有限公司 一种转接器掉电功能测试系统及其方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4471418A (en) * 1981-08-17 1984-09-11 Compower Corporation Switching power supply
US5450417A (en) * 1993-10-26 1995-09-12 Texas Instruments Incorporated Circuit for testing power-on-reset circuitry
CN1357954A (zh) * 2000-12-05 2002-07-10 神达电脑股份有限公司 欠电压保护方法与装置
CN1368641A (zh) * 2001-02-08 2002-09-11 凌阳科技股份有限公司 不受温度及制程变化影响的低电压重置电路装置
US20030174002A1 (en) * 2002-03-12 2003-09-18 Slamowitz Mark N. Power-on reset circuit for use in low power supply voltage applications
US20030236928A1 (en) * 2002-06-21 2003-12-25 Jung-An Wang Detection circuit and method for clearing BIOS configuration memory

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0697429B2 (ja) * 1988-11-21 1994-11-30 日本モトローラ株式会社 低電圧阻止制御装置
US5105373A (en) * 1990-01-22 1992-04-14 Texas Instruments Incorporated Method of simulating the operation of a circuit having analog and digital circuit parts
JP2001244555A (ja) * 2000-03-01 2001-09-07 Pioneer Electronic Corp 自動電力制御回路

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4471418A (en) * 1981-08-17 1984-09-11 Compower Corporation Switching power supply
US5450417A (en) * 1993-10-26 1995-09-12 Texas Instruments Incorporated Circuit for testing power-on-reset circuitry
CN1357954A (zh) * 2000-12-05 2002-07-10 神达电脑股份有限公司 欠电压保护方法与装置
CN1368641A (zh) * 2001-02-08 2002-09-11 凌阳科技股份有限公司 不受温度及制程变化影响的低电压重置电路装置
US20030174002A1 (en) * 2002-03-12 2003-09-18 Slamowitz Mark N. Power-on reset circuit for use in low power supply voltage applications
US20030236928A1 (en) * 2002-06-21 2003-12-25 Jung-An Wang Detection circuit and method for clearing BIOS configuration memory

Also Published As

Publication number Publication date
US7404119B2 (en) 2008-07-22
US20060041811A1 (en) 2006-02-23
CN1737596A (zh) 2006-02-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN100437133C (zh) 低电压重置功能检测电路
CN1956334B (zh) 低电压检测电路
US20120153993A1 (en) Usb port detecting circuit
CN101963835A (zh) 动态分配usb端口电源的电子设备及方法
CN109387737B (zh) 针座和塑壳连接状态检测系统
CN205862768U (zh) 显示装置
EP3605844B1 (en) Fast over voltage and surge detection for high speed and load switches
US9979207B2 (en) Transmission device and control method thereof
US7969176B2 (en) Voltage margin test device
CN102053229A (zh) 电源检测装置
CN103022962A (zh) 断路开关以及检测断路开关中的罗格夫斯基互感器的方法
US6424513B1 (en) Short circuit protection module
US20150346243A1 (en) Current load detection device and current load detection method
US9913355B2 (en) Method of forming a sequencing system and structure therefor
US8513979B2 (en) Integrated circuit and related controlling method
US20240047965A1 (en) Load switch circuit
US6850083B2 (en) Burn in board having a remote current sensor
CN214310819U (zh) 一种电源异常检测电路及pcb板
EP4294130A1 (en) Optical element displacement detection circuit
CN118330306A (zh) 电压侦测电路
TWI833291B (zh) 電壓調整電路
KR101601274B1 (ko) 디스플레이장치
CN215986446U (zh) 兼容电压型信号和电阻型信号的检测电路装置
JP6229040B2 (ja) 半導体集積回路装置及びこれを備えたセンシングモジュール
CN220357446U (zh) 负压输出的使能电路、电源装置及自动测试设备

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20081126

Termination date: 20140819

EXPY Termination of patent right or utility model