CN101470159A - 用于照明装置的检测设备 - Google Patents

用于照明装置的检测设备 Download PDF

Info

Publication number
CN101470159A
CN101470159A CNA2008101756684A CN200810175668A CN101470159A CN 101470159 A CN101470159 A CN 101470159A CN A2008101756684 A CNA2008101756684 A CN A2008101756684A CN 200810175668 A CN200810175668 A CN 200810175668A CN 101470159 A CN101470159 A CN 101470159A
Authority
CN
China
Prior art keywords
voltage
checkout equipment
test
test voltage
frequency
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CNA2008101756684A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101470159B (zh
Inventor
M·安德利森
M·斯科瓦尔
J·赫瑞
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hoover Dam Technology GmbH
Original Assignee
Hoover Dam Technology GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hoover Dam Technology GmbH filed Critical Hoover Dam Technology GmbH
Publication of CN101470159A publication Critical patent/CN101470159A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101470159B publication Critical patent/CN101470159B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/44—Testing lamps
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B47/00—Circuit arrangements for operating light sources in general, i.e. where the type of light source is not relevant
    • H05B47/20—Responsive to malfunctions or to light source life; for protection
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/24—Testing of discharge tubes
    • G01R31/245—Testing of gas discharge tubes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Testing Relating To Insulation (AREA)
  • Circuit Arrangement For Electric Light Sources In General (AREA)

Abstract

本发明涉及一种用于照明装置的检测设备。本发明涉及一种以额定电压(Vn)和额定频率(fn)运行的发光装置(3)的检测设备(1)，在此检测电压(Vp)以检测频率(fp)与发光装置(3)进行电容性耦合，耦合后的检测电压(Vpa)相当于额定电压(Vn)，耦合后的检测频率(fpa)相当于额定频率(fn)。

Description

用于照明装置的检测设备
【技术领域】
本发明涉及一种权利要求1上级概念中提到的用于照明装置(Leuchtmittel)的检测设备。
【背景技术】
现有技术中已知各种不同的用于照明装置的检测设备。
例如，US 3,688,185中提到了一种基于两种不同测量原理的用于日光灯的检测设备。一方面，这种检测设备包括用于日光灯的螺旋灯丝的导通性检测(Durchgangspruefung)的装置，通过该装置检测经过日光灯的螺旋灯丝是否能够产生导电接触。此外，还设置线圈，借助该线圈可以将高频电磁场耦入日光灯中，以便检查是否存在日光灯的足够的气体填充。如果存在日光灯的足够气体填充，则其通过高频电磁场而被足够地激励，以使日光灯至少逐段地发光。
US 5,047,721介绍了一种装置，用于确定具有多个串联连接的灯的灯系统(Lichterkette)中发生故障的灯，其中通过检测设备的电容性耦合来探测故障灯上的电压。
这些已知检测设备的缺点是，无法检查集成有镇流电子装置(Vorschalt-Elektronik)的照明装置。因此，例如使用现有技术的检测设备无法完全检验具有集成的电子镇流器(Vorschaltgeraet)的所谓节能灯(Stromsparlampen)。
【发明内容】
从现有技术出发，本发明的目的是提供一种用于照明装置的检测设备，其以经济且可靠的方式使得能够既检查常规的白炽灯、也检查集成有镇流电子装置的日光灯。
上述目的是通过一种具有权利要求1所述特征的用于照明装置的检测设备而实现的。
其它优选实施方式在从属权利要求中给出。
根据本发明，提供了一种以额定电压和额定频率运行的照明装置的检测设备，其中测试电压以测试频率电容性地耦合到照明装置，并且所耦合的测试电压对当于额定电压，所耦合的测试频率对当于额定频率。
因此，根据本发明的检测设备具有以下优点，即以在照明装置的额定电压和额定频率执行照明装置的检查，并且因此可以在运行条件下进行检查。通过将例如230V的电压在例如50Hz的频率耦合到照明装置、例如节能灯，可以检查节能灯的整体，即镇流电子装置、螺旋灯丝和气体填充。因此避免了尽管由于镇流电子装置的故障而将灯评估为损坏。
在检测设备的一个优选实施方式中，测试电压的电容性耦合(Ankopplung)通过绝缘的(isoliert)接触面实现。
用于电容性耦合的接触面的绝缘实施具有以下优点，即避免接触面的接触，并且避免用户触电和接触面短路。因此可以例如在销售商的展厅中设置这样构造的检测设备供自由地用来检查灯具。但是，也可以例如可触摸地实现一个或两个接触面。尽管如此，使用电网分离式变压器(Netztrenntransformator)来产生测试电压确保接触安全功能。
根据一个优选实施方式中，按照本发明的检测设备配备有用于测量所耦合的测试电压的测量装置和用于通过比较所测得的测试电压与基准电压而调节测试电压的调节装置。
这样的实施方式具有以下优点，即通过测量所耦合的测试电压和调节测试电压，可以补偿由于测试电压的电容性耦合而产生的损耗。优选地，通过电容性测量装置测量所耦合的测试电压。
此外，有利地，设置探测装置，用于探测照明装置。
例如，通过探测装置，可以这样构造检测设备，使得通过不对应于待检查照明装置的额定电压的小的测试电压来识别照明装置引入到检测设备中，并且只有在引入照明装置时才将测试电压和测试频率调节到额定电压和额定频率的水平。通过该措施，按照本发明的检测设备可构造为非常节省能源。
根据按照本发明的检测设备的另一实施方式，设置更改装置，该更改装置在一电压范围内更改测试电压和/或在一频率范围内更改测试频率。
通过这样的更改装置，可以在一电压范围内和/或一频率范围内检查照明装置，并且由此确定例如在电源网络的电压和/或频率波动的情况下是否必须考虑照明装置的故障。
在检测设备的一优选事实施方式中，设置产生装置，用于从低压电源产生测试电压。例如，产生装置可以包含变压器或直流电压变流器。
检测设备的这种构造具有以下优点，即电池或蓄电池可用作低压电源，并且因此可以移动地使用检测设备。此外，与使用变压器相比，使用直流电压变流器来产生测试电压还带来重量优势。
有利地，设置节拍发生器(Taktgenerator)，以提供测试频率。
检测设备的这样的构造具有以下优点，即通过节拍发生器，可以以非常节省空间的方式精确地调整测试频率。
从以下参考附图对实施例的描述中可以得到本发明的其它有利实施方式和其它优选方案。
【附图说明】
图1示出了按照本发明的检测设备的电路方框图，
图2示出了具有变压器的检测设备的第一实施例，和
图3示出了具有直流电压变流器的检测设备的第二实施例。
如无相反说明，附图中相同的标记符代表相同或功能相同的组件。
【具体实施方式】
图1示出了根据本发明的用于照明装置3的检测设备1的简化电路方框图。检测设备1主要由提供装置5组成，提供装置用于提供具有测试频率fp的测试电压Vp。测试电压Vp可施加在绝缘的接触面7上。接触面7被适当地设置，使得可以将测试电压Vp电容性地耦合到照明装置3的管座(Sockel)3a上。由于电容性耦合中的损耗，所耦合的测试电压Vpa低于测试电压Vp，就是说，提供装置5的输出电压相应地必须被选择为更大，从而所耦合的测试电压Vpa对应于额定电压Vn。如图1所示，检测设备还包括用于测量所耦合测试电压Vpa的测量装置8。测量装置8借助于另一接触面被构造为电容性测量装置，并在其输出端处提供所测得的测试电压Vpm。由于也在电容性抽接(Abgriff)电压时也存在的上述损耗，所测得的测试电压Vpm低于所耦合的测试电压Vpa。所测得的测试电压Vpm可被馈送给调节装置9，通过该调节装置可以调节测试电压Vp。可替换地，也可以通过测量提供装置5的输出侧电流而实现测试电压Vp的调节。于是，可以不需要所耦合测试电压Vpa的电容性抽接。在使用电网分离式变压器来提供测试电压Vp时，也可以想到可接触地构造一个或两个接触面7。接触安全的运行通过电源变压器来保证。
图2示出了按照本发明的检测设备的第一实施例，其中产生装置5具有用于产生测试电压Vp的变压器51。测试电压Vp可以在变压器51的输出侧抽接出，并可被馈送给接触面7。通过接触面7，可以将测试电压Vp耦合到照明装置3的管座3a上。通过测量装置8，抽接出所耦合的测试电压Vpa，并且提供所测得的测试电压Vpm并将其馈送给调节回路。所测得的测试电压Vpm具有所测得的频率fpm。在调节回路中，所测得的测试电压Vpm被提供给整流器91并随后提供给放大器92，以产生直流电压。放大器92的输出侧信号以负值形式输送给累加节点93，其中累加节点还被同时提供以基准电压Vref。累加节点93的输出侧信号被输送给第二放大器94，该放大器的输出侧信号可作为控制信号被提供给驱动级52。此外，节拍发生器53的节拍信号可提供给驱动级52。节拍信号具有与测试频率fp相同的频率。驱动级52还连接到供电电压Vdd，并在输出侧驱动变压器51，其中接触面7连接到变压器51的输出侧。
图3示出了按照本发明的检测设备的第二实施例。图3所示实施例与图2所示实施例的区别仅在于提供测试电压Vp的方式不同。因此，以下仅说明用于提供测试电压Vp的不同构造的回路。直流电压变流器54从供电电压Vdd出发产生电压信号，该电压信号具有在测试电压Vp的数量级中的电压值。通过来自调节回路的第二放大器94的输出侧信号，执行元件55调节该电压信号，并且该电压信号被提供给驱动级52。在输入侧，还为驱动级52对地并联电容器56，用于平滑输入信号。此外，节拍发生器53的节拍信号也被提供给驱动级52，从而在输出侧，可抽接具有测试电压Vp和测试频率fp的信号。
【附图标记列表】
1   检测设备
3   照明装置
3a  管座
5   提供装置
7      接触面
8      测量装置
9      调节装置
51     变压器
52     驱动级
53     节拍发生器
54     直流电压变流器
55     执行元件
56     电容器
91     整流器
92     第一放大器
93     累加节点
94     第二放大器
Vn     额定电压
Vp     测试电压
Vpa    所耦合的测试电压
Vpm    所测得的测试电压
fn     额定频率
fp     测试频率
fpa    所耦合的测试频率
fpm    所测得的测试频率
Vref   基准电压
Vdd    供电电压

Claims (10)

1.一种用于以额定电压(Vn)和额定频率(fn)运行的照明装置(3)的检测设备(1)，其中测试电压(Vp)以测试频率(fp)电容性耦合到所述照明装置(3)，
其特征在于，
所耦合的测试电压(Vpa)对应于所述额定电压(Vn)，所耦合的测试频率(fpa)对应于所述额定频率(fn)。
2.如权利要求1所述的检测设备(1)，
其特征在于，
设置绝缘的接触面(7)，以耦合测试电压(Vp)。
3.如上述任一权利要求所述的检测设备(1)，
其特征在于，
设置测量装置(8)，用于测量所耦合的测试电压(Vpa)。
4.如上述任一权利要求所述的检测设备(1)，
其特征在于，
设置调节装置(9)，用于通过将所测得的测试电压(Vpm)与基准电压(Vref)相比较而调节测试电压(Vp)。
5.如上述任一权利要求所述的检测设备(1)，
其特征在于，
设置探测装置，用于探测所述照明装置(3)。
6.如上述任一权利要求所述的检测设备(1)，
其特征在于，
设置更改装置，所述更改装置在一电压范围内更改测试电压(Vp)和/或在一频率范围内更改测试频率(fp)。
7.如上述任一权利要求所述的检测设备(1)，
其特征在于，
设置产生装置(5)，用于从低压电源(Vdd)产生测试电压(Vp)。
8.如权利要求7所述的检测设备(1)，
其特征在于，
产生装置(5)包含变压器(51)。
9.如权利要求7所述的检测设备(1)，
其特征在于，
产生装置(5)包含直流电压变流器(54)。
10.如上述任一权利要求所述的检测设备(1)，
其特征在于，
设置节拍发生器(53)，以提供测试频率(fp)。
CN2008101756684A 2007-06-22 2008-06-20 用于照明装置的检测设备 Expired - Fee Related CN101470159B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102007029230.0 2007-06-22
DE102007029230A DE102007029230A1 (de) 2007-06-22 2007-06-22 Prüfgerät für Leuchtmittel

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101470159A true CN101470159A (zh) 2009-07-01
CN101470159B CN101470159B (zh) 2012-07-18

Family

ID=39768849

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2008101756684A Expired - Fee Related CN101470159B (zh) 2007-06-22 2008-06-20 用于照明装置的检测设备

Country Status (6)

Country Link
US (1) US7859267B2 (zh)
EP (1) EP2006695A1 (zh)
JP (1) JP2009008679A (zh)
CN (1) CN101470159B (zh)
AU (1) AU2008202753B2 (zh)
DE (1) DE102007029230A1 (zh)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102375109B (zh) * 2010-07-09 2015-06-03 米沃奇电动工具公司 照明测试仪
CN103188990B (zh) 2010-08-27 2016-10-19 密尔沃基电动工具公司 热检测系统、方法和设备
CN203705055U (zh) 2011-03-15 2014-07-09 米沃奇电动工具公司 热像仪
US9442133B1 (en) * 2011-08-21 2016-09-13 Bruker Nano Inc. Edge electrode for characterization of semiconductor wafers
US9176167B1 (en) * 2011-08-21 2015-11-03 Bruker Nano Inc. Probe and method of manufacture for semiconductor wafer characterization
KR20130078181A (ko) * 2011-12-30 2013-07-10 주식회사 실리콘웍스 직류-직류 변환기의 시험회로
US10794769B2 (en) 2012-08-02 2020-10-06 Milwaukee Electric Tool Corporation Thermal detection systems, methods, and devices
CN112345962A (zh) * 2020-09-29 2021-02-09 漳州立达信灯具有限公司 多智能照明设备的组合测试系统

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3688185A (en) 1970-10-22 1972-08-29 Verdie A Masengil Instrument for testing operability of fluorescent lamps
US3967191A (en) * 1975-02-28 1976-06-29 Gte Sylvania Incorporated Method and apparatus for non-destructively measuring internal film resistance in a fluorescent lamp
JPH0766864B2 (ja) * 1989-07-28 1995-07-19 東芝ライテック株式会社 放電灯点灯装置
DE3928645A1 (de) * 1989-08-30 1991-03-07 Hermann Assfalg Einsteckgeraet fuer beleuchtung und funktionsfeststellung elektrischer anlagen
US5047721A (en) 1990-08-06 1991-09-10 Farley Earl T Faulty lamp tester
US5323116A (en) * 1992-01-24 1994-06-21 Atria Joseph M Test device for testing compact fluorescent lights and ballasts
DE20116815U1 (de) * 2001-10-17 2002-04-11 7Ton Holding Ag Zug Energiesparlampe
US6940230B2 (en) * 2002-05-30 2005-09-06 Hubbell Incorporated Modular lamp controller
CN1985548A (zh) * 2004-07-09 2007-06-20 皇家飞利浦电子股份有限公司 电子镇流器保护

Also Published As

Publication number Publication date
AU2008202753A1 (en) 2009-01-15
JP2009008679A (ja) 2009-01-15
US20080315885A1 (en) 2008-12-25
DE102007029230A1 (de) 2008-12-24
AU2008202753B2 (en) 2011-06-23
US7859267B2 (en) 2010-12-28
EP2006695A1 (de) 2008-12-24
CN101470159B (zh) 2012-07-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101470159B (zh) 用于照明装置的检测设备
JP6731549B2 (ja) 照明のモニタリング
FI120224B (fi) Menetelmä ja järjestely turvavalaisimen yhteydessä
EP2477456B1 (en) Drive circuit for light-emitting diode array
US8207739B2 (en) Identification of an absent load from a circuit
US20040032222A1 (en) Three-way dimming CFL ballast
US7923942B1 (en) Constant current source mirror tank dimmable ballast for high impedance lamps
Choi et al. A current-sourced LED driver compatible with fluorescent lamp ballasts
US20180310370A1 (en) Circuit for mitigating electric shock
JP5371820B2 (ja) 時限点灯装置
US20160290578A1 (en) Method And Kit For Retrofitting Fluorescent Light Fixtures And Light Fixtures That Can Utilize New Communication Applications
ITUB20155559A1 (it) Alimentatore di emergenza per apparecchi di illuminazione
FI107580B (fi) Loistelampun syöttökytkentä
WO2004034740A3 (en) Electronic ballast with filament detection
Drapela et al. Light flicker of fluorescent lamps with different types of ballasts caused by interharmonics
US2714653A (en) Street lighting apparatus
KR200233403Y1 (ko) 조명등회로의 고장상태 검출장치
EP2034587A2 (en) Method and arrangement in conjunction with emergency light
US6396220B1 (en) Lamp ignition with compensation for parasitic loading capacitance
JP2016110981A5 (zh)
Balsky et al. Electromagnetic disturbance in industrial LED lighting systems
US9101037B2 (en) Emergency lighting ballast device with a plurality of ballast outputs for flexible lamp connection configurations
KR100909235B1 (ko) 보안등 오동작 표시 방법
JP2009043532A (ja) 放電灯点灯装置
Spunei et al. Performance analysis of fluorescent and LED lighting sources

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20120718

Termination date: 20140620

EXPY Termination of patent right or utility model