CN101424794B - 液晶显示装置及其修复方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种液晶显示装置及其修复方法，该液晶显示装置包括一像素电极，一位于像素电极两侧用于防止漏光的遮光条，与像素电极对应连接的晶体管，其中，位于遮光条两侧还设置有与遮光条连接的金属连接线，沿着遮光条相对的方向形成凸起条。本发明的液晶显示装置及其修复方法可将点缺陷修复成可以正常显示的显示单元，且能够实现连续3个以及3个以上点缺陷的修复，增强液晶显示装置的显示品质，提升产品的合格率。

Description

液晶显示装置及其修复方法
技术领域
本发明涉及液晶显示装置及其修复方法，特别涉及修复点缺陷的液晶显示装置及其修复方法。
背景技术
扭曲向列(Twist Nematic，TN)型薄膜晶体管液晶显示装置(TFT-LCD)是由阵列基板、彩色滤光片基板以及充满于这两块基板之间的液晶共同形成的。其中阵列基板包括相互平行排列的栅极扫描线和公共电极线，同时跨过交叉栅极扫描线的数据线，在数据线的两侧分别有一与栅极扫描线同层的金属遮光条。
在工程制造生产过程中，由于工艺误差、垃圾污染等原因不可避免地会在液晶显示装置中出现点缺陷。点缺陷一般分为亮点缺陷和暗点缺陷，在实际生产中以亮点缺陷居多，并且人眼对亮点更加敏感。所以比较高的出货级别允许有暗点的存在，但是不允许有亮点的存在。在点缺陷的工程修复中通用的方法是把亮点缺陷修复成暗点缺陷，但是暗点缺陷还是属于点缺陷。
常用的修复单个亮点缺陷的方法是在晶体管区域，通过激光打点的方法把晶体管的漏极和栅极打通实现电连接。利用栅极扫描线上非常高的正电压或者非常低的负电压与位于第二基板上的公共电极形成一个很大的电压差，使亮点缺陷所在的子像素实现暗态显示。此外，如果在显示区域存在连续3个以及3个以上的亮点缺陷或者暗点缺陷，一般都会把这个显示器判定为不合格。所以，常用的点缺陷修复方法无法实现连续3个以及3个以上点缺陷的修复。
综上所述，基于现有技术的薄膜晶体管液晶显示器在点缺陷修复方面主要有下面几个问题：
1.只能对亮点缺陷进行修复，修复后的亮点缺陷变成为暗点缺陷；
2.无法实现连续3个以及3个以上点缺陷的修复。因为采用传统的方法，把连续3个以及3个以上的亮点缺陷修改成暗点缺陷后，产品还是会被判定为不合格；
3.无法对显示区域内分散的大量点缺陷实现符合规格要求的修复效果。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种液晶显示装置及其修复方法，通过该液晶显示装置及其修复方法将为点缺陷的修复成可以正常显示的显示单元。
为达到上述目的，本发明提供一种液晶显示装置，其包括一像素电极，一位于像素电极两侧用于防止漏光的遮光条，与像素电极对应连接的晶体管，其中，位于遮光条两侧还设置有与遮光条连接的金属连接线，沿着遮光条相对的方向形成凸起条。
本发明的另一技术方案是提供一种液晶显示装置修复方法，该液晶显示装置包括一像素电极，一位于像素电极两侧用于防止漏光的遮光条，与像素电极对应连接的晶体管，其中，位于遮光条两侧还设置有与遮光条连接的金属连接线，沿着遮光条相对的方向形成凸起条，其包括以下步骤：当液晶显示装置的显示单元为点缺陷时，在显示单元中的一凸起条进行激光打点，在该凸起条相邻侧的显示单元中的凸起条进行激光打点。
本发明由于采用了上述的技术方案，使之与现有技术相比，具有以下的优点和积极效果：
1.既可以修复亮点缺陷，也可以修复暗点缺陷，把点缺陷修复成可以正常显示的显示单元；
2.能够实现连续3个以及3个以上点缺陷的修复，增强液晶显示装置的显示品质，提升产品的合格率；
3.实现显示区内大量点缺陷的修复。一般，如果在显示区内存在5个分散的点缺陷，也会被一些用户判定为不合格。而采用本发明提供的液晶显示装置的修复方法可以把这些分散的点缺陷都修复好。
附图说明
图1为本发明液晶显示装置的结构示意图；
图2为沿图1中A-A’方向的剖视图；
图3为采用本发明的修复方法第一实施例示意图；
图4为采用本发明的修复方法第二实施例示意图。
具体实施方式
以下将结合附图对本发明的液晶显示装置及其修复方法作进一步的详细描述。
图1为本发明液晶显示装置的结构示意图，如图1所示，本发明的液晶显示装置包括一阵列基板，该阵列基板上具有平行排列的数据线D1、D2，与数据线D1、D2垂直排列的栅电极扫描线GS、公共电极线COM，数据线D1、D2、栅电极扫描线GS、公共电极线COM围成一显示单元，该显示单元内包括一像素电极PX1，像素电极PX1通过一晶体管T1与栅电极扫描线GS和数据线D1连接，该像素电极PX1的周边设置有防止漏光的两金属遮光条L11，位于金属遮光条L11两侧且与金属遮光条L11连接的金属连接线L12、L13，遮光条L11通过同层金属连接线L12、L13分别与旁边两侧的子像素内的金属遮光条实现电连接。沿着两金属遮光条L11相对的方向形成激光打点用的凸起条L14、L15，凸起条L14、L15与晶体管的漏极Td1有部分重叠区域，在需要进行点缺陷修复的时候就在这个重叠区域实施激光打点处理，实现遮光条L11和漏极Td1的电连接。
图2为沿图1中A-A’方向的剖视图，结合图2具体说明本发明液晶显示装置的制造过程：首先使用磁控溅射方法，在透明玻璃基板GL上沉积一层厚度在1000
Figure 2007100477383_0
至5000
Figure 2007100477383_1
的第一金属层。第一金属层的材料可以使用钼、铝、铝镍合金、钼钨合金、铬、或者铜等金属，也可以使用上述几种金属材料薄膜的组合。用第一金属层掩膜板通过曝光工艺和腐蚀工艺，在玻璃基的一定区域上形成栅极扫描线GS，公共电极线COM，遮光条L11，连接线L12、L13，凸起条L14、L15等图案。
接着，利用化学汽相沉积的方法在完成第一金属层图案的阵列基板上连续沉积厚度在2000
Figure 2007100477383_2
至5000
Figure 2007100477383_3
的栅电极绝缘层薄膜GI和厚度在1000
Figure 2007100477383_4
至4000
Figure 2007100477383_5
的非晶硅薄膜A-Si。栅电极绝缘层薄膜GI材料可以使用氮化硅，也可以使用氧化硅和氮氧化硅等，用非晶硅层掩膜板通过曝光工艺和腐蚀工艺，在一定区域上形成硅岛图案。
接着，采用和第一金属层类似的制备方法，在阵列基板上沉积一层厚度在1000
Figure 2007100477383_6
至5000
Figure 2007100477383_7
的第二金属层薄膜。通过第二金属层掩膜板在一定区域内形成数据线D1、、D2，晶体管漏电极Td1和公共电极线COM等图案。
接着，在整个阵列基板上沉积一层厚度在500
Figure 2007100477383_8
至5000
Figure 2007100477383_9
的钝化层PA。其材料可以是氮化硅，也可以是氧化硅或者氮氧化硅。第一金属层图案的上面同时覆盖有栅电极绝缘层和钝化层，第二金属层图案的上面只覆盖有钝化层。通过钝化层的掩膜板，利用曝光工艺和腐蚀工艺分别在第一金属层相关图案和第二金属层相关图案上形成钝化层过孔。
最后，在基板上沉积一层厚度在100
Figure 2007100477383_10
至3000
Figure 2007100477383_11
的透明导电层薄膜，其材料主要是氧化铟锡ITO(Indium Tin Oxide)。使用透明导电层掩膜板，通过曝光工艺和腐蚀工艺，形成像素电极PX1、覆盖接触孔的连线等图案。像素电极PX1覆盖到公共电极方块上面后，以钝化层、栅极绝缘层和公共电极绝缘层为介质形成公共电极方块和像素电极之间的存储电容。
图3为采用本发明的修复方法第一实施例示意图。如图3所示，另一显示单元也具有如图1的显示单元结构，该显示单元包括数据线D2、D3，与数据线D2、D3垂直排列的栅电极扫描线GS、公共电极线COM，一像素电极PX2，像素电极PX2通过一晶体管T2与栅电极扫描线GS和数据线D2连接，该像素电极PX2的周边设置有防止漏光的两金属遮光条L21，位于金属遮光条L21两侧且与金属遮光条L21连接的金属连接线L22、L23，遮光条L21通过同层金属连接线L12、L23分别与旁边两侧的子像素内的金属遮光条L11实现电连接。沿着两金属遮光条L21相对的方向形成激光打点用的凸起条L24、L25，凸起条L24、L25与晶体管的漏极Td2有部分重叠区域。本发明的点缺陷修复方法通过把相邻显示单元上的正常电压传输到点缺陷所在的显示单元中来实现点缺陷的修复。如图3所示，如果左侧的显示单元为亮点缺陷时，在相邻显示单元中的凸起条L14和为点缺陷显示单元的L25处进行激光打点实现金属遮光条L11、L21和漏极Td1、Td2的电连接，且遮光条L21通过同层金属连接线L12、L23分别与旁边两侧的子像素内的金属遮光条L11实现电连接，这样相邻显示单元中的电位就可以通过凸起条L14、L25和遮光条连接线L12、L23传输到亮点缺陷处的显示单元上，该亮点缺陷处的显示单元即为修复。
图4为采用本发明的修复方法第二实施例示意图。如图4所示，另两个显示单元也具有如图3的显示单元结构，该两个显示单元包括数据线D3、D4、D5，与数据线D3、D4、D5垂直排列的栅电极扫描线GS、公共电极线COM，像素电极PX3、PX4，像素电极PX3、PX4通过晶体管T3、T4与栅电极扫描线GS和数据线D2连接，像素电极PX3、PX4的周边设置有防止漏光的金属遮光条L31、L41，位于金属遮光条L31、L41两侧且与金属遮光条L31、L41连接的金属连接线L32、L33、L42、L43，遮光条L31、L41通过同层金属连接线L32、L33、L42、L43分别与旁边两侧的子像素内的金属遮光条L21、L31实现电连接。沿着两金属遮光条L31、L41相对的方向形成激光打点用的凸起条L34、L35、L44、L45，凸起条L34、L35、L44、L45与晶体管的漏极Td3、Td4有部分重叠区域。本发明的点缺陷修复方法通过把相邻显示单元上的正常电压传输到点缺陷所在的显示单元中来实现点缺陷的修复。如图4所示，如果具有像素电极PX2、PX3的两个相邻显示单元为亮点或者暗点缺陷时，具有像素电极PX2的显示单元修复如图3所述，这里就不再详述了。具有像素电极PX3的显示单元修复原理与具有像素电极PX2的显示单元修复原理相同，在相邻显示单元中的凸起条L45和为点缺陷显示单元的L34处进行激光打点实现金属遮光条L41、L31和漏极Td4、Td3的电连接，且遮光条L31通过同层金属连接线L32、L43分别与旁边两侧的子像素内的金属遮光条L41实现电连接，这样相邻显示单元中的电位就可以通过凸起条L34、L45和遮光条连接线L32、L43传输到亮点缺陷处的显示单元上，该亮点缺陷处的显示单元即为修复。
如果出现连续三个亮点缺陷的显示单元时，两边的亮点缺陷的显示单元按照如图3的显示单元修复方法进行修复，中间的亮点缺陷可以通过像素电极与扫描线短接实现暗点处理。
本发明的液晶显示装置及其修复方法与现有技术相比，具有以下的优点和积极效果：
1.既可以修复亮点缺陷，也可以修复暗点缺陷，把点缺陷修复成可以正常显示的显示单元；
2.能够实现连续3个以及3个以上点缺陷的修复，增强TFT-LCD的显示品质，提升产品的合格率；
3.实现显示区内大量点缺陷的修复，一般如果在显示区内存在5个分散的点缺陷，也会被一些用户判定为不合格，而采用本发明提供的液晶显示装置的修复方法可以把这些分散的点缺陷都修复好。
以上介绍的仅仅是基于本发明的较佳实施例，并不能以此来限定本发明的范围。任何对本发明的测量装置作本技术领域内熟知的步骤的替换、组合、分立，以及对本发明实施步骤作本技术领域内熟知的等同改变或替换均不超出本发明的揭露以及保护范围。

Claims (6)

1.一种液晶显示装置，其包括一阵列基板，该阵列基板上设有多个显示单元，每个显示单元内包括一像素电极，每个像素电极两侧分别设有一用于防止漏光的遮光条，每个像素电极与一晶体管对应连接，其特征在于，每个遮光条均连接有一金属连接线，每一对分别属于两个相邻显示单元的相邻遮光条的金属连接线均相连，沿着每个遮光条朝向该遮光条所属的显示单元的晶体管的漏极的方向均电连接有一与该显示单元的晶体管的漏极具有重叠区域的凸起条，该显示单元的晶体管的漏极与该凸起条之间具有一绝缘层薄膜。
2.如权利要求1所述的液晶显示装置，其特征在于，所述遮光条、金属连接线、凸起条由同一层金属形成。
3.如权利要求2所述的液晶显示装置，其特征在于，所述金属使用钼、铝、铝镍合金、钼钨合金、铬、铜中的一种金属，或者使用上述几种金属材料薄膜的组合。
4.一种液晶显示装置的修复方法，具有如权利要求1所述的液晶显示装置，其特征在于，其包括以下步骤：当液晶显示装置的一显示单元为点缺陷时，在该显示单元中的一凸起条与晶体管的漏极重叠的区域进行激光打点，以使与该凸起条连接的遮光条与晶体管的漏极电连接，并在该显示单元的相邻显示单元中在与上述经过激光打点的凸起条相邻的凸起条与晶体管的漏极重叠的区域进行激光打点，以在该相邻显示单元中使与经过激光打点的该凸起条连接的遮光条与晶体管的漏极电连接。
5.如权利要求4所述液晶显示装置的修复方法，其特征在于，所述点缺陷为亮点缺陷。
6.如权利要求4所述液晶显示装置的修复方法，其特征在于，所述点缺陷为暗点缺陷。
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