CN101384880B - 用于辅助座上激光芯片的自动特征分析系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种用于检测被安装在辅助座上的激光硬模的温度受控的系统。该检测系统包括具有受电机驱动的平移平台的基座。平移平台包括具有被安装在基部上的两级温度控制系统的第一检测位置。温度控制系统包括热电冷却器和用于在循环块中循环冷却/加热流体的流体系统。安装部也被包括在第一检测位置上，其中辅助座被定位在该安装部上。安装部的温度被该温度控制系统控制。当第一检测位置与探针板对准时，具有臂和连接到该臂的电接触部的探针板向辅助座提供电源。具有可与第一检测位置对准的透镜组件的对准器接收由激光器产生的光信号。

Description

用于辅助座上激光芯片的自动特征分析系统

技术领域

本发明大体上涉及在光学通信系统中使用的激光二极管。更特别地，本发明涉及一检测系统，该系统能在激光在使用过程中可能受到的各种温度下自动检测连接到辅助座组件的激光芯片。

背景技术

激光二极管和其他相似的光源在光发射器中承担重要角色，其中一个示例是在光数据通信中使用的光学收发模块。该激光二极管用于光发射器中以产生光信号，数据以预定频率被调制在光信号上从而通过光纤传送到特定目的地。

给出的它们的重要功能，激光二极管的检测对于确保在使用中不间断及可靠运行是很重要的。为了该目的，每个激光二极管典型地被测试以确保它满足可接受性能的预定规范。但是，该检测典型地在激光二极管被安装在支承辅助座结构之前被执行，一旦被安装在光发射器中，激光将被固定在该支承辅助座结构上。另外，激光二极管检测通常被手动执行——时间损耗和缓慢进程将只会增加光发射器产品的整体成本。另外，激光二极管典型地不在模拟实际温度条件的一个或多个温度下被检测，当作为光发射器的一部分时，激光二极管将运行在该实际温度条件下。

由于上述考虑，在本领域需要一种装置，利用该装置可以在激光二极管被安装到辅助座或其他合适表面上时提供激光二极管检测。上述需要的任何解决方法应包括自动处理，由此激光二极管以最少操作人员介入的方式被检测。进一步地，激光二极管检测应能够在多个运行温度进行从而模拟真实环境的条件。

发明内容

本发明响应本领域上述和其他需要而被研制。简要概括，本发明实施例涉及用于检测被安装在辅助座上的激光硬模(laser die)的温度受控的系统。该检测系统包括具有电机驱动平移平台的基座。平移平台包括具有被安装在基部上的两级温度控制系统(two-stage temperature control system)的第一检测位置。温度控制系统包括热电冷却器和用于在循环块中循环冷却/加热流体的流体系统。安装部也被包括在第一检测位置上，其中辅助座被定位在该安装部上。安装部的温度由温度控制系统进行控制。当第一检测位置与探针板对准时，具有臂和连接到该臂的电接触部的探针板向该辅助座提供电源。具有可与第一检测位置对准的透镜组件的对准器接收由激光器产生的光信号。

温度受控的第二检测位置和第三检测位置也包括在该系统中，以扩展用于辅助座组件的温度受控检测选项。

本发明的这些和其他特征从下面的说明书和所附权利要求而完全变得更显而易见，或可通过下文所述的本发明的实例而被了解。

附图说明

为进一步阐明本发明上述和其他优点和特征，本发明的特别具体的说明将参考在附图中示出的其特定实施例而说明。应当意识到，这些图仅描述本发明典型实施例，且因此不限制它的范围。本发明将通过使用附图利用另外的特性和细节来描述和解释，其中：

图1A是根据本发明一个实施例的辅助座特征分析系统上的自动激光芯片的透视图；

图1B是图1A中的辅助座特征分析系统上的自动激光芯片的一部分的透视图；

图2A是图1B所示的特征分析系统的第一和第二检测位置的透视图；

图2B是图2A的第一检测位置的靠近视图；

图3A是图2B的第二检测位置的靠近视图；

图3B是图1B所示的特征分析系统的第二和第三检测位置的透视图；

图4是根据一实施例的第二检测位置的安装面的靠近视图，示出其各种结构；

图5是如图1B所示的特征分析系统的第一检测位置和周围构件的侧视图。

具体实施方式

现在将参考附图，其中相同的结构具有相同的附图标记。可以理解附图是本发明示例性实施例的图示和图解表示，既不是本发明的限定也不必要按比例绘制。

图1A-5描述本发明实施例的各种特征，所述特征大体上涉及特征分析系统，该特征分析系统用于检测和特征分析激光二极管和可被应用在光学系统中的其它光源，如光发射器。该特征分析系统被配置为当被安装到辅助座上时能够检测激光二极管，由此简化激光检测过程。另外，该特征分析利用一级和两级温度受控的检测位置，所述温度受控检测位置能使激光二极管或其他合适的光源在多个温度下被检测，由此模拟使用激光器的真实环境条件。因此，提供了更可靠的检测结果，其继而导致更少的现场设备故障。另外，该特征分析系统使用用于将光纤光连接到检测中的激光二极管上的自动对准台(auto-aligningstage)。这增加了检测过程的自动化，由此降低人力介入和每个设备的检测时间。因此，该特征分析系统表现出优于公知技术的先进，该公知技术包括缺少温度控制结构且当激光器被定位在辅助座上时不能测试该激光器的手动对准系统。

首先参考图1A和1B，其以透视图的方式描述根据本发明示例性实施例的整体上被标记为10的激光源特征分析系统(“系统”)。系统10被配置用于使用多级冷却检测位置和加热检测位置的自动的辅助座安装的激光硬模检测。具体来说，系统10包括支承基座15的底基座18，其中多个相关的系统构件被定位到所述基座15上。系统10主要构件之一是分度器20，所述分度器20被构造为支承并有选择地移动多个激光硬模检测位置，即，第一检测位置30、第二检测位置35和第三检测位置40。关于每个位置的更详细叙述将在下面给出。要注意，虽然它包含三个检测位置，但如果对特定应用有需要或必要，该系统可以可替换地包括更多或更少的检测位置。

系统10包括用于特征分析激光硬模的各种其他构件，包括：用于在检测中为激光硬模/辅助座供电的探针板50；在检测中将光纤和激光输出自动对准的对准器60；和用于将激光硬模从系统检测位置拾取和将其置入系统检测位置的四轴(x，y，z，和旋转)布置机械手70。另外，包括有装载/卸载台71，其与布置机械手70一起工作以促进将激光硬模装载到布置机械手和从布置机械手上卸载。在本实施例中，布置机械手70包括双直线电动机驱动的x和y台、滚珠丝杠驱动的z台和直接驱动的旋转台，然而在其他实施例中也可接受地使用其他结构的机械手。

三个检测位置30、35和40被构造为可利用分度器20一起移动，从而使得在检测中该位置可以根据探针板50和对准器60的需要而定位。具体来说，检测位置30、35和40被安装在分度器20的平移平台72上。电动机控制器74被用于经由一平移基座76来相对于系统基座15移动平台72。这样，任意一检测位置能在检测之前、之中或之后精确定位在探针板50和对准器60之间。当然，可以使用其他的分度器或平移系统以全体地或单个地移动检测位置。注意，系统10进一步包括用于容纳与平移平台的运动相关的电缆和其他线缆的线缆载体78、和用于辅助激光硬模在布置机械手70和装载/卸载台71之间的合适的拾取和放置操作的照相机组件79。

现在与图1A和1B一起参考图2A、2B、3A和3B。更细致地，第一检测位置30被设置为使得位于该位置的激光硬模的检测能够进行。另外，检测位置30被设置为使得激光硬模能在一个或多个温度范围内被检测，所述一个或多个温度范围能模拟当激光器被封装在例如光发射器的设备中时该激光器所使用的实际操作条件。图2B示出包括第一检测位置包括安装部80，包括安装在辅助座上的激光硬模的辅助座组件82被定位在该安装部80。但是，也更具体地参考图3A，其示出了与第二检测位置35相关联的安装部100，该安装部也包括定位在其上的辅助座组件82，且其被设计为与第一检测位置30的安装部80基本相似。这样，可以参考图3A来详细考虑安装部80和安装部100。

在一实施例中的安装部80包括预定部，组件82可以被定位在该预定部上从而与被包括在安装部80上的电接头150(图4)电连接。组件82被定位在安装部80上从而使得探针臂50能以下面描述的方式经由接头150向辅助座供电，且从而使得在检测过程中从被辅助座安装的激光硬模所发射出的光可以由被连接到对准器60的光纤接收，如也将在下面进一步描述的。

第一检测位置30进一步包括用于在激光硬模测试中改变辅助座组件82的温度的温度控制系统84。温度控制系统84包括热电冷却器(“TEC”)86，其用作第一级温度控制。还包括的是流体系统88，其用作为用于辅助座组件82的第二级温度控制。

更详细地，TEC 86位于安装部80下方，而流体系统88位于TEC下方。TEC 86能快速并精确地以0.1摄氏度增量来改变辅助座组件82的温度。但是，当与流体系统88相比时，TEC的温度范围是相对小的。

比较而言，流体系统88具有相对大的可获得温度的范围，而对于在辅助座组件82中获得的小温度波动处理精度相对较小。这样，流体系统88与TEC86一起的使用导致了辅助座组件82的具有0.1摄氏度增量控制的大约介于-40摄氏度到100摄氏度之间的可能温度范围。这样，辅助座组件82上的激光硬模能在检测中被冷却和加热到一个或多个温度。

为获得上述温度范围，流体系统88可包括具有液体循环块90的典型的工业冷却器/加热器。入口92A和出口92B与冷却器/加热器液体连通。这样，冷却液或加热液能经由入口92A/入口管94A和出口92B/出口管94B选择性地通过块90被循环，由此能与安装部80的TEC 86和辅助组件82一起被加热/冷却。在一实施例中，第一检测位置30被用于激光硬模的低温检测。为避免第一检测位置30在该低温检测中结冰，干氮气经由流体系统88被输送至检测位置以在检测位置防止形成不适当的潮湿。如所示的，流体系统88设置在基座96上方。

图3A特别地示出了第二检测位置35，其用作为另一位置，如图2中所示的辅助座组件82的辅助座组件能被定位在该位置上用于激光硬模检测。与第一检测位置30相邻定位，第二检测位置35相似地包括在基座116顶上的安装部100和温度控制系统102。温度控制系统102包括TEC 106、和具有工业冷却器/加热器的流体系统108，如液体循环块110、流体入口112A、流体出口112B、和随附的流体入口管和出口管114A和114B。第二检测位置35首要用于被辅助座安装的激光硬模的高温检测的一个实施例中，虽然它具有与第一检测位置30相同的加热和冷却能力。

图3B示出邻近间隔壁118设置的第三检测位置40，该间隔壁被设置在第三检测位置和第二检测位置35之间。与其他两个检测位置一样，第三检测位置40包括安装部120，为检测目的辅助座组件可安装在该安装部。与其他两个检测位置相反，本实施例的第三检测位置40包括基座122顶上的TEC 126和冷却片结构124，但没有流体系统和液体循环块。第三检测位置40被用在激光硬模的室温检测的一个实施例中。

如上所述地设置，系统10能被用于在三种不同的温度下检测配备有辅助座组件的激光硬模，如将在下面进一步解释的，在三个检测位置30、35和40的每处对应一种温度。这样，激光硬模能在被放置到实际设备中之前在可能的真实环境温度条件的范围内被评估以确定其可靠性，由此导致在现场使用中设备故障率更低。当然，如果需要，该系统能设置为包括多于三检测位置。

参考图2A、2B和5描述了关于探针板50的各种细节。如所述的，探针板50被用于当被定位到安装部80上时对辅助座组件82提供合适的电力供应，从而使激光硬模能运行且发光，由此使得它能够在预定的温度下被检测。这样，探针板50包括臂130，其中该臂能上升或降低的从而选择性地接近辅助座组件82。具有x、y、和z直线台(1inear stage)的对准控制器132(图1B)被包括并设置为选择性地将探针板臂130与安装部80上的辅助座组件82对齐。这样，对准控制器132与平移平台72的运动一起，能在检测开始之前确保在探针板50和第一检测位置30之间获得合适的对准。

电接触部134被包括在探针板臂130上，且被构造为当该臂位于其在安装部80顶上的被降低的位置时向安装部80提供电力供应。特别地，电接触部134被经由电缆/联接器136提供合适的电力供应，且被构造为当探针板臂130被降低到安装部顶上时与被设置在第一检测位置30的安装部80上的接头150电连接，该接头150与图4中以150所示的那些相似。电接触部134以足够的力与辅助座组件82接合从而产生电连接。安装部80的接头150继而被电连接到出现在辅助座组件82上的导电结构上，如下面结合图4进一步详细描述的，该结构与激光硬模电连接。

这样，当电力供应经由探针板臂电接触部134和安装部80提供给辅助座组件82时，激光硬模被供电，这使其能进行以检测为目的的操作。探针板臂的电接触部134的特定结构以及安装部80的电接头和路径可根据辅助座组件82的特定设计而变化。

注意到如上面所描述的探针板和第一检测位置的构造与探针板和第二检测位置以及和第三检测位置的相互作用相似。这样，位于任一检测位置的辅助座组件能如上面所描述的那样与探针臂电连接以便允许被包括其上的激光硬模的功能性，只要平移平台72被移动至与探针板50合适对准。而且，探针臂50的位置能通过对准控制器132的精确定位控制而修改，以便将探针板臂130及其电接触部134与各检测位置的安装部的电结构对准，从而保证供给激光硬模充足的电力供应。进一步地，接触传感器(未示出)能被设置在探针板臂130上或电接触部134上以确保构成可靠的探针臂接触。

如在图2A、2B和5中最优示出的，对准器60被用于相对于位于辅助座组件82上的激光硬模精确且自动地定位光纤146，该辅助座组件继而被定位在检测位置之一的安装部上，如所示的第一检测位置30的安装部80。这使得光纤146能与来自激光器的光发射光学连接。这继而使得激光器的光学输出能够在该特征分析过程中被评估，为在如光发射器的光学构件中包含激光器做准备。注意，相对于第一检测位置的对准器操作的描述同样也用于它相对于第二和第三检测位置的使用。

如所示出的，对准器60(也见图1B)包括支承臂140，该支承臂从对准控制器132向第一检测位置30的安装部80延伸。支承臂140被可操作地连接到对准控制器142。该对准控制器142包括x、y和z直线台，从而使得该控制器能相对于安装部80移动支承臂，以便根据透镜组件接合件144相对于激光硬模的光输出的光能反馈功能来精确定位透镜组件接合件144。

透镜组件界面144被构造为接收来自激光硬模的光发射且将该发射送入光纤146。这样，对准控制器142被构造为相对激光硬模在四个维度(x、y、z、和旋转)运动，以便将来自激光器的光发射和透镜组件接合件合适地光学连接。如它的名称所意味的，透镜组件接合件144包括一个或多个透镜以合适地聚焦从激光硬模接收到的光，以便将该光发送至光纤146中。

在一个实施例中，可选择地将透镜组件接合件144与激光硬模对准的对准器60的操作是自动的，从而使得在对准过程中不需要直接人为介入。这种自动操作可由布置控制器142自身提供，或由不仅能控制对准器60也能控制系统10其他构件的主控制器设备或计算机(未示出)来提供。该控制器也能用于自动控制构件功能，包括在每个检测位置的温度等。

如上面提及的，分度器20用于可选择地移动在平移平台72上的第一、第二和第三检测位置。分度器20与布置机械手70一起，用于在激光硬模检测之前或之后将辅助座组件装载到检测位置30、35和40中各自的一个以及将辅助座组件从检测位置中各自的一个卸载。如所提及的，在一个实施例中的拾取和放置布置机械手70是视觉引导的，且被构造用于在四个轴(x、y、z、和旋转)移动，以便能从各检测位置的安装部精确地安装和移除辅助座组件。

图4示出了关于将辅助座组件82定位在一个检测位置的安装部上的方式的各种细节，在该例子中为第二检测位置35。具体来说，辅助座组件82包括具有上表面202和下表面204的辅助座200。辅助座上表面202包括被电连接到导电通道208的激光硬模206。

辅助座组件82在安装部表面上的两预定位置之一被定位到安装部100上。每个预定位置包括真空孔152，当该组件被定位在安装部100上从而使得该下辅助座表面204覆盖该真空孔时，该真空孔通过抽吸来保持辅助座组件82。每个真空孔152与从第二检测位置35延伸出的两真空入口154中的一个相连通。由真空系统156(图1B)经由相应的真空孔152所提供的抽吸力将辅助座组件82保持在安装部100的表面上的两个位置中的一个的位置，为下面描述的激光硬模特征分析方法作准备。当然，多于或少于两个的辅助座组件定位位置可被包括在系统10中的任一或全部安装部中。

根据一实施例的对激光硬模或其他光源进行特征分析的系统10的操作可大体上如下进行：上面已经安装有激光硬模的辅助座组件82被布置机械手70装载到三个检测位置30、35和40中被选出的一个上。在本示例中，辅助座组件82被自动装载到第一检测位置30的安装部80上。然后分度器20使平移平台72运动直到第一检测位置30被定位到邻近探针板60。探针板臂130被降低，且如果需要的话由对准控制器132调节，直到该臂的电接触部134与安装部80的接头150电连接、或在可替换实施例中直接与辅助座组件82的电气结构连接。这样，辅助座组件82的位置在检测之前得到检验。

在它被定位到邻接探针板50之前、之中或之后，使第一检测位置30到达所需温度，以便在该温度检测激光硬模。在一个实施例中，第一检测位置30被冷却至低于室温的温度，但在其他实施例中，该温度可被保持在更高或更低的温度。这使激光硬模能够在其运行寿命中可能面对的条件中被检测。

对准器60也设置为接近当前已定位的检测位置30。由于辅助座组件82由探针臂50进行电能供应，激光硬模可被激活从而使其发射光信号。支承臂140的透镜组件接合件144于是能由对准控制器142自动且精确地定位，从而使得激光硬模经由透镜组件接合件的光信号接收可被最大化。而且，该过程通过对准器60自动发生，在一些实施例中通过主控制器自动发生。

一旦在激光硬模和透镜组件接合件144之间存在充足的光学连接，可以进行在特定温度下的激光硬模的检测和特征分析。一旦检测完成，探针板臂130被从安装部80上移除，对准器60的支承臂140根据需要收回，且分度器20被致动以使平移平台72移动至一位置，在该位置布置机械手70能将辅助座组件82从第一检测位置30移除，并将它移动至另一检测位置，装载/卸载台、或一些其他预定位置。

在这里，另外的辅助座组件可被放置在第一检测位置30并重复上述过程。可替换地，布置机械手70能将刚在第一检测位置30被检测过的辅助座组件82放置在第二检测位置35。在后面的情形中，分度器20随后被移动以将第二检测位置35定位到接近探针板50。上述检测过程随后如上面所描述的那样来进行。但是，在该情形中，辅助座组件82的激光硬模优选地在第二检测位置以与第一检测位置30所保持的温度不同的温度被检测。例如，如果第一检测位置30在低于室温的温度检测了激光硬模，第二检测位置35可在高于室温的温度检测相同激光硬模。

上述过程可被第三次重复以在第三检测位置40在环境温度(室温)下检测辅助座组件82的激光硬模。这样，激光硬模能在三个不同的温度下被自动且精确地检测，由此在激光硬模被安装在光学设备之前确保其稳定性和性能。这于是在降低了由于故障激光硬模而导致的使用废品率的数目的同时提高了收益且降低了成本。

在一个实施例中，不同的辅助座组件通过布置机械手70可被装载到每个检测位置，且在全部三个组件由分度器返回到机械手之前，每个辅助座组件可被连续地检测。或者，在一个实施例中的系统可包括多个探针板和对准器，从而使得可以在多个检测位置同时进行检测。虽然在这里以激光硬模进行说明，但是光源可以为其他形式，在一个实施例中光源包括LED。该系统也能被改造使其能够检测，举例来说，在激光棒结构中仍然连接到相邻激光硬模的激光硬模，或甚至已经被安装在管座组件中的激光硬模。

本发明在不背离其精神或本质特征的前提下可以以其他特定形式被具体化。所描述的实施例仅作为示出而不是限制被充分考虑。因此，本发明的范围由所附权利要求书而不是通过前面说明书示出。在权利要求的等同范围和意义内的全部改变包含在它们的范围中。

Claims (19)

1.一种用于检测被安装在辅助座上的激光硬模的温度受控的系统，该系统包括：

基座，具有受电机驱动的平移平台，该平移平台包括：

至少第一检测位置，该第一检测位置包括：

基部；

两级温度控制系统，安装在该基部上且具有：

热电冷却器；和

流体系统，用于循环冷却/加热流体；

安装部，所述辅助座被定位在该安装部上用于检测，该安装部的温度由该温度控制系统可选择地控制；

探针板，具有可移动臂和连接到该臂的电接触部，用于当该第一检测位置与该探针板对准时向该辅助座提供电源；和

对准器，具有可与该第一检测位置对准从而接收该激光硬模产生的光信号的透镜组件。

2.如权利要求1所述的检测系统，其特征在于，进一步包括真空控制系统，该真空控制系统包括被限定在该安装部中的孔，该孔提供抽吸从而将辅助座固定到该安装部。

3.如权利要求1所述的检测系统，其特征在于，该对准器的透镜组件可通过x、y和z直线台可自动对准。

4.如权利要求1所述的检测系统，其特征在于，该探针板可通过x、y和z直线台对准。

5.如权利要求1所述的检测系统，其特征在于，进一步包括第二和第三检测位置。

6.如权利要求5所述的检测系统，其特征在于，该第二检测位置包括两级温度控制系统，而该第三检测位置包括单级温度控制系统。

7.如权利要求1所述的检测系统，其特征在于，该第一检测位置的两级温度控制系统使得该安装部的温度能够在-40到100摄氏度之间变化。

8.如权利要求1所述的检测系统，其特征在于，该流体系统包括用于在循环块中循环冷却/加热流体的入口和出口管道。

9.一种利用检测系统检测被安装在辅助座上的激光硬模的方法，该检测系统包括至少第一检测位置，该第一检测位置具有两级温度控制系统，该方法包括：

将该辅助座固定在所述至少第一检测位置的安装部上；

将所述至少第一检测位置与探针板对准，从而使得该探针板向该激光用模提供电源；

将透镜组件与该辅助座组件对准，从而使得由该激光硬模产生的光信号被该透镜组件接收；

在由所述至少第一检测位置的该两级温度控制系统所产生的第一温度下检测该激光硬模；以及

在第二检测位置在第二温度下检测该激光硬模。

10.如权利要求9所述的检测方法，其特征在于，进一步包括：

在由所述至少第一检测位置的该两级温度控制系统所产生的第二温度下检测该激光硬模。

11.如权利要求9所述的检测方法，其特征在于，进一步包括：

在第三检测位置在第三温度下检测该激光硬模；

12.如权利要求9所述的检测方法，其特征在于，将该辅助座固定到该至少第一检测位置的安装部上进一步包括使用布置机械手将该辅助座固定到该安装部上。

13.如权利要求12所述的检测方法，其特征在于，该布置机械手自动地将该辅助座从装载/卸载台传送到该安装部。

14.如权利要求9所述的检测方法，其特征在于，将该辅助座固定到该至少第一检测位置的安装部上进一步包括利用真空将该辅助座安装到该安装部上。

15.如权利要求9所述的检测方法，其特征在于，将该至少第一检测位置与该探针板对准包括移动安装有该第一检测位置的平移平台，并包括相对于第一检测位置移动该探针板。

16.如权利要求9所述的检测方法，其特征在于，该透镜组件被包括在对准器中，该对准器根据该辅助座的激光硬模所产生的光信号与该激光硬模自动对准。

17.如权利要求9所述的检测方法，其特征在于，该探针板经由被包括在该安装部上的接头向该激光硬模提供电源，该接头与该辅助座电连接。

18.一种用于检测被安装在辅助座组件上的激光源的检测系统，该检测系统包括：

分度器台，包括：

第一检测位置，具有供该辅助座组件定位的安装部，该第一检测位置包括被设置为将该辅助座组件保持在第一温度的两级温度控制系统；

第二检测位置，具有供该辅助座组件定位的安装部，该第二检测位置包括被设置为将该辅助座组件保持在第二温度的两级温度控制系统；和

第三检测位置，具有供该辅助座组件定位的安装部，该第三检测位置能够将该辅助座组件保持在环境温度；

探针板台，包括电接触部，该电接触部选择性地接合其上定位有辅助座组件的被选择出的一个检测位置的安装部，该电接触部向该辅助座组件的光源提供电力供应；和

对准器台，该对准器台能够自动地将透镜组件和该辅助座组件的光源对准，从而使得该光源所产生的光信号被与该透镜组件光学连接的光纤所接收。

19.如权利要求18所述的检测系统，其特征在于，该第三检测位置包括用于选择性地调整该辅助座组件的温度的热电冷却器。

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