CN101294865A - 一种快速测试pin-tia灵敏度的方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种快速测试PIN－TIA灵敏度的方法，其特征在于：其是PIN－TIA灵敏度测试过程如下：1)精确测量一批PIN－TIA的灵敏度，从中挑出一系列标准器件，2)先将灵敏度数值最高的标准PIN－TIA插到耦合台上，将光衰减器的衰减值调到0dB，同时将耦合台上的陶瓷插芯位置调整到合适的高度，然后增大光衰减器的衰减量，直到误码仪上刚刚产生非常少的误码为止；3)将待测PIN－TIA插到耦合台上，误码率大时，表示待测器件的灵敏度低于标准器件；没有误码产生时，表示待测器件的灵敏度高于标准器件；产生很少误码时，表示待测器件的灵敏度与标准器件相等；4)重复2)至3)，就可以全部测出所有待测器件的灵敏度，测试精度为±0.25dBm。

Description

一种快速测试PIN-TIA灵敏度的方法

技术领域

本发明涉及一种快速测试PIN-TIA灵敏度的方法。

背景技术

在光纤通信中，有一种大量使用的光电探测器叫做PIN-TIA，它是将一个光电探测器芯片(PIN)和一个跨阻抗前置放大器芯片(TIA)封装在一个带透镜的管壳内组成的。这种器件的功能是，将光纤传来的数字光信号接收下来转变为电信号。

PIN-TIA最主要的性能参数是接收灵敏度，其定义是在输入信号为伪随机码情况下，误码率为1×10^-9时所对应的接收光功率数值，单位一般为dBm。实践上准确测量一个PIN-TIA的灵敏度是比较费时的，它首先需要用一个耦合夹具将光纤传来的误码仪产生的伪随机光信号全部耦合到PIN-TIA的光敏面上，然后逐渐衰减光信号的强度，观察误码产生情况，直到找到刚刚产生误码时的光功率数值为止。这个过程一般需要数分钟。

一个PIN-TIA生产企业每天的生产量少则几千只，多则几万只，甚至几十万只。如果每一只PIN-TIA的灵敏度都用上面的办法进行测试的话，需要占用大量的测试仪器，同时需要耗费很多劳动力，这会使生产出来的PIN-TIA的测试成本非常高。如果只采用抽测的办法，则无法保证销售到市场上的每一只产品的灵敏度指标都合格。

发明内容

为了克服上述缺陷，本发明的目的是提供一种快速测试PIN-TIA灵敏度的方法。

为了实现上述目的，本发明采用如下技术方案：

一种快速测试PIN-TIA灵敏度的方法，其测试过程如下：

1)、精确测量一批PIN-TIA的灵敏度，从中挑出一系列标准器件。

比如选出灵敏度值分别为：

-36dB，-36.5dBm，-37dBm，-37.5dBm，-38dBm，-38.5dBm，-39dBm，-39.5dBm，-40dBm；

2)、先将灵敏度数值最高的标准PIN-TIA插到耦合台上，将光衰减器的衰减值调到0dB，同时将耦合台上的陶瓷插芯位置太高到合适的高度，使PIN-TIA的插取方便，同时要保证此时误码仪上没有误码产生；然后增大光衰减器的衰减量，直到误码仪上刚刚产生非常少的误码为止；

3)、将待测PIN-TIA插到耦合台上，观察误码产生情况，误码率大时，表示待测器件的灵敏度低于标准器件；没有误码产生时，表示待测器件的灵敏度高于标准器件；产生很少误码时，表示待测器件的灵敏度与标准器件相等；

4)、将标准器件中灵敏仅次于最高值的器件插到耦合台上，然后将3)中测出的灵敏度低于最高灵敏度的PIN-TIA插到耦合台上，采用与3)中一样的方法进行测试，分选出灵敏度分别高于、等于、低于标准器件的器件；

5)、重复2)至3)，就可以全部测出所有待测器件的灵敏度，测试精度为±0.25dBm。

对于PIN-TIA生产企业来说，往往不需要精确测出每一个PIN-TIA的灵敏度数值，只需要保证出厂的每一个PIN-TIA的灵敏度数值高于给用户的承诺值即可。因此，PIN-TIA生产企业，往往只需要选出承诺给用户的最低灵敏度器件，然后采用上面的2)或者3)中的方法，一步就可完成产品的出厂检验，确保每一只出厂销售的器件的灵敏度指标合格。

本发明专利将提供一种快速测试PIN-TIA灵敏度的方法，将测试效率由原来的几分钟一个提高到几秒钟一个，能快速、准确地测试PIN-TIA灵敏度。

附图说明

图1是本发明专利方法的测试系统框图；

图2是图1中耦合台的局部放大图。

具体实施方式

下面通过实施例，并结合附图1、2，对本发明的技术方案作进一步具体的说明。图1是本发明专利方法的测试系统框图，它的工作原理是：光模块误码测试仪1驱动光收发合一模块的发射部分发出的伪随机光信号经过光衰减器2和光分路器3后，分为均匀的两路，一路连接到光功率计4，另一路连接光耦合台5的耦合夹具，示波器7与光耦合台5的耦合夹具。由于采用的是光模块发出的信号为800uW以上的大功率光模块6，所以经光分路器后形成的两路光信仍然在400uW以上。并采用的是1∶1的光分路器3，经光分路器3后，传到光耦合台5和光功率计的光功率是相等的

图2是光耦合台5的局部放大图，是本发明的核心部分。本发明利用经光纤传输射出光纤9的光是高斯光束10，高斯光束10传输的距离越远，形成的光束直径越大，且光束中心的光强分布越均匀，这样插到光耦合台5上，处于高斯光束10中心部位的PIN-TIA 8，即使几何位置没有严格一致，光敏面仍然可以在很高的精度上接收到相同强度的光功率。从而在免去耦合步骤的情况下，使下面的灵敏度测试方法可以实现

PIN-TIA灵敏度测试过程如下

1)、精确测量一批PIN-TIA的灵敏度，从中挑出一系列标准器件。

比如选出灵敏度值分别为：

-36dB，-36.5dBm，-37dBm，-37.5dBm，-38dBm，-38.5dBm，-39dBm，-39.5dBm，-40dBm；

2)、先将灵敏度数值最高的标准PIN-TIA插到耦合台上，将光衰减器2的衰减值调到0dB，同时将光耦合台5上的陶瓷插芯位置太高到合适的高度，使PIN-TIA 8的插取方便，同时要保证此时误码仪上没有误码产生。然后增大光衰减器2的衰减量，直到误码仪上刚刚产生非常少的误码为止；

3)、将待测PIN-TIA 8插到光耦合台5上，观察误码产生情况，误码率大时，表示待测器件的灵敏度低于标准器件；没有误码产生时，表示待测器件的灵敏度高于标准器件。产生很少误码时，表示待测器件的灵敏度与标准器件相等；

4)、将标准器件中灵敏仅次于最高值的器件插到光耦合台5上，然后将3)中测出的灵敏度低于最高灵敏度的PIN-TIA 8插到光耦合台5上，采用与3)中一样的方法进行测试，分选出灵敏度分别高于、等于、低于标准器件的器件；

5)、重复2)至3)，就可以全部测出所有待测器件的灵敏度，测试精度为±0.25dBm。

对于PIN-TIA生产企业来说，往往不需要精确测出每一个PIN-TIA的灵敏度数值，只需要保证出厂的每一个PIN-TIA的灵敏度数值高于给用户的承诺值即可。因此，PIN-TIA生产企业，往往只需要选出承诺给用户的最低灵敏度器件，然后采用上面的2)或者3)中的方法，一步就可完成产品的出厂检验，确保每一只出厂销售的器件的灵敏度指标合格。

本发明极大的提高了PIN-TIA灵敏的测试效率，降低了测试成本。尤其使PIN-TIA生产企业的产品灵敏度出厂检验效率成倍提高，由原来的几分钟一个提高到几秒钟一个。

最后，应当指出，以上实施例仅是本发明较有代表性的例子。显然，本发明的技术方案并不限于上述实施例，还可以有许多变形。本领域的普通技术人员能从本发明公开的内容直接导出或联想到的所有变形，均应认为是本发明的保护范围。

Claims (1)

1、一种快速测试PIN-TIA灵敏度的方法，其特征在于：其是PIN-TIA灵敏度测试过程如下：

1)、精确测量一批PIN-TIA的灵敏度，从中挑出一系列标准器件，

比如选出灵敏度值分别为：

-36dB，-36.5dBm，-37dBm，-37.5dBm，-38dBm，-38.5dBm，-39dBm，-39.5dBm，-40dBm；

2)、.先将灵敏度数值最高的标准PIN-TIA插到耦合台上，将光衰减器的衰减值调到0dB，同时将耦合台上的陶瓷插芯位置抬高到合适的高度，使PIN-TIA的插取方便，同时要保证此时误码仪上没有误码产生；然后增大光衰减器的衰减量，直到误码仪上刚刚产生非常少的误码为止；

3)、将待测PIN-TIA插到耦合台上，观察误码产生情况，误码率大时，表示待测器件的灵敏度低于标准器件；没有误码产生时，表示待测器件的灵敏度高于标准器件；产生很少误码时，表示待测器件的灵敏度与标准器件相等；

4)、将标准器件中灵敏仅次于最高值的器件插到耦合台上，然后将3)中测出的灵敏度低于最高灵敏度的PIN-TIA插到耦合台上，采用与3)中一样的方法进行测试，分选出灵敏度分别高于、等于、低于标准器件的器件；

5)、重复2)至3)，就可以全部测出所有待测器件的灵敏度，测试精度为±0.25dBm。

Images