CN103630331B - 多通道光纤插回损测试仪及测试校准方法 - Google Patents

多通道光纤插回损测试仪及测试校准方法 Download PDF

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Abstract

公开了一种多通道光纤插回损测试仪，包括光源组、多个光分路器、偏振控制器、内置探测器多路光功率计、主控器和与主控器线路连接的外置探测器参考光功率计；具有1个或2个正向输出测试端口和多个正向输入测试端口，正向输出、输入测试端口分别通过测试用跳线与被测试器件连接；主控器分别与多光源组、光开关组、多路光开关、偏振控制器、内置多路光功率计线路连接；还公开了一种测试校准方法。本发明消除了因连接损耗不确定引起的误差；多通道插回损、偏振相关损耗实时测量，测量效率高。

Description

多通道光纤插回损测试仪及测试校准方法
技术领域
本发明属于光电通讯技术领域，具体涉及一种光纤插回损测试仪及测试校准方法。
背景技术
随着社会的进步，通信技术获得很大的发展，FTTH(光纤到户)已成为光纤接入网发展的一种最终形式，光分路器作为FTTH的核心器件市场需求越来越大。光分路器一般包含1个或2个输入端口和多个输出端口，技术指标主要包括：插入损耗IL和偏振相关损耗PDL以及回波损耗RL，其中IL和PDL为正向测试，而RL既要正向测试又需反向测试。传统上对光分器等元器件技术参数的测试，主要使用单一功能的插损测试仪、回损测试仪及偏振控制器来完成。目前市面上开发的光纤插回损测试仪可以完成正向多通道插入损耗测试，或反向多通道回波损耗测试，不能实现正反向一次测试，同时因为实现正反向一次测试时仪表的测试端口需外接测试用跳线与被测元器件连接，每次仪表连接外接测试用跳线时的连接损耗的不确定性会造成插入损耗IL测试的直接误差，导致测量数据不准确。
发明内容
针对上述技术缺陷，本发明的目的是提供一种集插入损耗、回波损耗及偏振相关损耗高效测试于一体，具有校准功能从而解决插入损耗测量因连接损耗的不确定性导致测试误差的多通道光纤插回损测试仪；还提供一种多通道光纤插回损测试仪测试校准方法。
实现上述发明目的的技术方案如下：
多通道光纤插回损测试仪，包括光源组、多个光分路器、偏振控制器、内置探测器多路光功率计、主控器和与主控器线路连接的外置探测器参考光功率计；光源组的光源依次经光开关组、光分路器、偏振控制器、正向输出测试端口，被测试器件、正向输入测试端口、光分路器及内置多路光功率计构成正向测试通道；光源依次经光开关组、多路光开关、光分路器、正向输入测试端口、被测试器件、正向输出测试端口、偏振控制器、光分路器及内置多路光功率计构成反向测试通道；正向输出、输入测试端口分别通过测试用跳线与被测试器件连接；主控器分别与多光源组、光开关组、多路光开关、偏振控制器、内置探测器多路光功率计线路连接。
所述正向测试端口的数量为1个或2个。
所述反向测试端口的数量为多个。
多通道光纤插回损测试仪测试校准方法，包括如下步骤：
首先进行校准步骤，测试用跳线与正向输出/输入测试端口连接的一端为第一连接端，另一端为第二连接端；
将将要与输出/输入测试端口连接的测试用跳线的第二连接端接至光源组，测试用跳线的第一连接端连接至外置探测器参考光功率计，测出其功率值P参；将该测试用跳线的第一连接端接至需连接的测试端口，通过与该测试端口连接的内置多路光功率计测出其功率Pi；主控器将得到校准值Pi校=Pi-P参进行保存；将所有输出/输入测试端口用到的测试用跳线按以上步骤连接校准；
其次进行插入损耗测试步骤，本发明多通道光纤插回损测试仪接入被测试器件构成的正/反向测试通道中，与被测试器件输入端连接的部分称为测试输出通道，与被测试器件输出端连接的部分称为测试输入通道；
光源组的光源从测试输出通道输出，将连接正向输出测试端口的测试用跳线的第二连接端连接至外置探测器参考光功率计，测试归零值P零；然后将被测试器件的输入、输出端分别与连接本测试仪的测试输出、输入通道的测试用跳线连接，通过内置探测器多路光功率计测出其输出功率值Pi测，主控器接收数据并运算，测试通道的插损值ILi=P零-Pi测+Pi校。
本发明的有益效果是：本发明多通道光纤插回损测试仪，具有正、反向测试通道并设有外置探测器参考光功率计，光源组、光开关和偏振控制器均由主控板控制，同时内置探测器多路光功率计和外置探测器参考光功率计测得的光功率数据均由主控器进行处理，多通道插回损、偏振相关损耗实时测量，测试效率高。
使用本发明多通道光纤插回损测试仪进行的测试校准方法，可以
消除了因连接损耗不确定引起的测量误差，解决了技术领域内存在的技术缺陷。
附图说明
下面结合附图和具体实施例对本发明进一步说明：
图1为本发明结构框图。
具体实施方式
如图1所示，
多通道光纤插回损测试仪，包括光源组、多个光分路器、偏振控制器、内置探测器多路光功率计、主控器和与主控器线路连接的外置探测器参考光功率计；光源组的光源依次经光开关组、光分路器、偏振控制器、正向输出测试端口，被测试器件、正向输入测试端口、光分路器及内置探测器多路光功率计构成正向测试通道；光源依次经光开关组、多路光开关、光分路器、正向输入测试端口、被测试器件、正向输出测试端口、偏振控制器、光分路器及内置探测器多路光功率计构成反向测试通道；正向输出、输入测试端口分别通过测试用跳线与被测试器件连接；主控器分别与多光源组、光开关组、多路光开关、偏振控制器、内置探测器多路光功率计线路连接。
正向测试端口的数量为1个或2个。
所述反向测试端口的数量为多个，一般采用8个或16个。
多通道光纤插回损测试仪测试校准方法，包括如下步骤：
首先进行校准步骤，测试用跳线与正向输出/输入测试端口连接的一端为第一连接端，另一端为第二连接端；
将将要与输出/输入测试端口连接的测试用跳线的第二连接端接至光源组，测试用跳线的第一连接端连接至外置探测器参考光功率计，测出其功率值P参；将该测试用跳线的第一连接端接至需连接的测试端口，通过与该测试端口连接的内置多路光功率计测出其功率Pi；主控器将得到校准值Pi校=Pi-P参进行保存；将所有输出/输入测试端口用到的测试用跳线按以上步骤连接校准；
其次进行插入损耗测试步骤，本发明多通道光纤插回损测试仪接入被测试器件构成的正/反向测试通道中，与被测试器件输入端连接的部分称为测试输出通道，与被测试器件输出端连接的部分称为测试输入通道；
光源组的光源从测试输出通道输出，将连接正向输出测试端口的测试用跳线的第二连接端连接至外置探测器参考光功率计，测试归零值P零；然后将被测试器件的输入、输出端分别与连接本测试仪的测试输出、输入通道的测试用跳线连接，通过内置多路光功率计测出其输出功率值Pi测，主控器接收数据并运算，测试通道的插损值ILi=P零-Pi测+Pi校。
将所有测试通道按以上步骤连接上光测试跳线进行校准后再进行测试步骤，消除了因连接损耗不确定引起的误差。
本发明光源组、光开关和偏振控制器均由主控板控制，内置探测器多路光功率计和外置探测器参考光功率计测得的光功率数据由主控板进行处理，多通道插回损、偏振相关损耗实时测量，效率高。

Claims (1)

1.多通道光纤插回损测试仪的测试校准方法，其特征是：多通道光纤插回损测试仪包括光源组、多个光分路器、偏振控制器、内置探测器多路光功率计、主控器和与主控器线路连接的外置探测器参考光功率计；光源组的光源依次经光开关组、光分路器、偏振控制器、正向输出测试端口，被测试器件、正向输入测试端口、光分路器及内置多路光功率计构成正向测试通道；光源依次经光开关组、多路光开关、光分路器、正向输入测试端口、被测试器件、正向输出测试端口、偏振控制器、光分路器及内置探测器多路光功率计构成反向测试通道；正向输出、输入测试端口分别通过测试用跳线与被测试器件连接；主控器分别与多光源组、光开关组、多路光开关、偏振控制器、内置探测器多路光功率计线路连接；
多通道光纤插回损测试仪的测试校准方法，包括如下步骤：
首先进行校准步骤，测试用跳线与输出/输入测试端口连接的一端为第一连接端，另一端为第二连接端；
将将要与输出/输入测试端口连接的测试用跳线的第二连接端接至光源组，测试用跳线的第一连接端连接至外置探测器参考光功率计，测出其功率值P参；将该测试用跳线的第一连接端接至需连接的测试端口，通过与该测试端口连接的内置探测器多路光功率计测出其功率Pi；主控器将得到校准值Pi校=Pi-P参进行保存；将所有输出/输入测试端口用到的测试用跳线按以上步骤连接校准；
其次进行插入损耗测试步骤，多通道光纤插回损测试仪接入被测试器件构成的正/反向测试通道中，与被测试器件输入端连接的部分称为测试输出通道，与被测试器件输出端连接的部分称为测试输入通道；
光源组的光源从测试输出通道输出，将连接正向输出测试端口的测试用跳线的第二连接端连接至外置探测器参考光功率计，测试归零值P零；将被测试器件的输入、输出端分别与连接本测试仪的测试输出、输入通道的测试用跳线连接，通过内置多路光功率计测出其输出功率值Pi测，主控器接收数据并运算，测试通道的插损值ILi=P零-Pi测+Pi校。
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