CN111049577A - 一种光缆衰耗测试的专用光源设备 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种光缆衰耗测试的专用光源设备，包括：壳体和设置在壳体上的多个发光控制模块、多个发光模块、交直流转换电路以及接头组件；所述交直流转换电路与变电站市电输出端子连接，用于为所述发光控制模块和所述发光模块提供电源，每个发光控制模块用于控制对应的发光模块发射光，所述接头组件包括多个对应于发光模块的固定座、连接纤和光纤接头，所述固定座设置在所述壳体的上部，所述连接纤一端与所述固定座连接，另一端与所述光纤接头连接，所述光纤接头用于与光缆终端盒耦合器连接。本发明能够提高测试效率和保障光缆使用质量。
Description
技术领域
本发明涉及一种通信光缆测试领域，具体涉及一种光缆衰耗测试的专用光源设备。
背景技术
目前，光缆测试工作使用的主要手段是使用仪表，其中仪表分为两种，分别为专用光源和光功率计，进行收发测试，需要光缆两端派驻人手，同步开展测试工作，测试时，需要保证两端测试人员通信畅通，确保两边测试人员收的测试指令正常和正确。
测试使用的光源使用的是五号干电池，若维护保养不当，电池的电量容易耗尽，导致测试数据不准确或者无法正常开展测试，影响工作进度，并且光源均不能长时间待机。
对于光缆站端的光纤配线架，一般使用的是FC的光纤接头耦合器，该种接头存在的主要问题是经常插拔测试连接线对光纤配线架中的耦合器的使用寿命会造成较大影响，进一步影响光缆的传输质量。
在变电站进行光纤测试时，光缆两端的站点均需要安排人员驻站测试，在保证安全的情况下，进入变电站工作时，每个变电站均至少保证两名人员在现场，完成一个光缆测试需要至少四名工作人员。
光源仪器每次仅仅能够对其中一个线芯发光，测试其他的线芯时，需要不断更换线芯，重复执行仪器测试程序，程序较为复杂，重复工作较多，主要具有如下缺点：
1、测试时需要占用较多的人力、物力，给工作现场的安全管控增加难度；
2、现有光源采用的电池供电模式不可靠，不能彻底解决电源供电风险；
3、采用一对一的测试方式，过程复杂且测试过程中极易误碰其他线缆，引起其他线缆设备故障；
4、经常测试连接线，拔插对耦合器的寿命会造成较大影响；
5、测试过程中不容易发现相邻线芯位置错乱的情况。
因此，亟待需要提供一种省时省力、提高测试效率和保障光缆使用质量的光缆测试设备。
发明内容
本发明实施例提供一种光缆衰耗测试的专用光源设备，该设备能够省时省力、提高测试效率和保障光缆使用质量。
本发明采用的技术方案为：
本发明实施例提供一种光缆衰耗测试的专用光源设备，包括：壳体和设置在壳体上的多个发光控制模块、多个发光模块、交直流转换电路以及接头组件，其中，所述发光模块和所述交直流转换电路设置在所述壳体内部，所述接头组件设置在所述壳体上端；所述交直流转换电路与变电站市电输出端子连接，用于为所述发光控制模块和所述发光模块提供电源，每个发光控制模块用于控制对应的发光模块发射光，所述接头组件包括多个对应于发光模块的固定座、连接纤和光纤接头，所述固定座设置在所述壳体的上部，所述连接纤一端与所述固定座连接，另一端与所述光纤接头连接，所述光纤接头用于与光缆终端盒耦合器连接，其中，在所述光纤接头与所述光缆终端盒耦合器处于连接状态时，通过操作所述发光控制模块控制所述发光模块发射光，发射的光依次通过所述固定座、所述连接纤和所述光纤接头进入所述缆终端盒耦合器中。
可选地，所述发光控制模块和所述发光模块至少为6个。
可选地，所述发光控制模块为开关。
可选地，所述光纤接头的长度为1.5～2cm。
可选地，所述连接纤的长度为1m。
可选地，所述发光模块发射的光源的波长为1310～1550nm。
可选地，所述发光模块的发光功率为7dbm。
本发明实施例提供的光缆衰耗测试的专用光源设备，由于包括多个发光模块，可以同时对多个纤芯发送稳定的光信号，能够使得一个人能够完成测试工作，从而能够节约成本和提高测试效率。此外，供电电源采用市电供电，可以有效保障供电可靠性。
附图说明
图1为本发明实施例提供的光缆衰耗测试的专用光源设备的结构示意图。
图2为本发明另一实施例的发光控制模块的控制原理示意图。
具体实施方式
为使本发明要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图及具体实施例进行详细描述。
如图1所示，本发明实施例提供的光缆衰耗测试的专用光源设备，包括：壳体1和设置在壳体1上的多个发光控制模块4、多个发光模块5、交直流转换电路3以及接头组件，其中，所述发光模块5和所述交直流转换电路3设置在所述壳体1内部，所述接头组件设置在所述壳体上端；所述交直流转换电路与变电站市电输出端子连接，用于为所述发光控制模块4和所述发光模块5提供电源，每个发光控制模块4用于控制对应的发光模块5发射光，所述接头组件包括多个对应于发光模块5的固定座6、连接纤7和光纤接头8，所述固定座6设置在所述壳体1的上部，所述连接纤7一端与所述固定座连接，另一端与所述光纤接头8连接，所述光纤接头8用于与光缆终端盒耦合器连接，其中，在所述光纤接头8与所述光缆终端盒耦合器处于连接状态时，通过操作所述发光控制模块4控制所述发光模块5发射光，发射的光依次通过所述固定座、所述连接纤7和所述光纤接头8进入所述缆终端盒耦合器中。
进一步地，在本发明实施例中，交直流转换电路3可通过电源连接线2与发光控制模块4连接，用于将输入的220V的市电转换为5V的直流电，提供给发光控制模块4和发光模块5。由于本发明实施例中，测试使用的电源是市电，而不是电池，因此能够提供稳定可靠的电源。
进一步地，在本发明一实施例中，所述发光控制模块4和所述发光模块5至少为6个，这样可以同时对6条线芯发送稳定的光信号，并能在对端及时发现错线、乱线的情况。在一优选示例中，所述发光控制模块4和所述发光模块5的数目可为6的偶倍数，例如可为12个、24个、48个等。本发明由于设置了多个发光模块，因此，可以一个测试人员先在一个站点先进行线芯连接，待连接之后，去另一个站点进行测试，能够节约成本和提高测试效率。
在本发明实施例中，发光控制模块4可为开关，可为现有形式的任何开关，开关的电路元件可固定在壳体内部，用于开启和关闭开关的操作部可布置在壳体1的外部，便于测试人员操作。每个发光控制模块4与对应的发光模块5连接，在将光纤接头8插入光缆终端盒耦合器中时，可通过按压操作部来实现发光模块5的开启，以发射光。在该实施例中，通过一个发光控制模块独立控制一个发光模块5，使得发光模块5的控制变得容易。
在本发明一优选实施例中，可使用一个发光控制模块来控制多个发光模块5，而不是一个发光控制模块控制一个发光模块。在使用一个发光控制模块例如一个开关控制多个发光模块的情况下，控制原理可如图2所示。如图2所示，发光控制模块4可包括第一端和多个第二端，其中，第一端与交直流转换电路3电连接，第二端可包括全开端401，空端408，以及多个控制端，例如，包括6个独立控制对应发光模块5的第一到第六控制端402到407。全开端401电连接到第一到第六或门，作为或门的一路输入。第一到第六控制端402-407分别电连接到第一到第六或门，作为或门的另一路输入。第一到第六或门的输出分别电连接到对应的发光模块5。优选的，全开端、空端和多个控制端可位于同一平面的圆周上。当开关拨动到第一到第六控制端中的任一个时，对应的发光控制模块5发光，当开关拨动到全开端401时，所有的发光模块5均发光，当开关拨动到空端408时，所有的发光模块5均不发光。如此，可仅通过一个开关就可实现多个发光模块的控制，能够节约成本。
也就是说，在本发明实施例中，可根据需要选择通过一个或者多个发光控制模块4来控制发光模块5。
发光模块5可设置在固定座的正下方位置处，可为发射光的激光发生器，在一个示例中，发光模块发射的光的波长可为1310～1550nm，发光模块的发光功率可为7dbm。
进一步地，在本发明实施例中，固定座6可为中空结构，其一端可固定在壳体1的上部对应于发光模块5的位置处，另一端与连接纤7连接。连接纤7的一端可通过熔接方式与固定座6连接，另一端可通过熔接方式与光纤接头8连接，用于将发光模块发射的光源传播给光纤接头8。光纤接头8具有与光缆终端盒耦合器相适配的测试接口9，光纤接头8可为ST、SC、FC或LC光纤接头等，在一优选示例中，可为FC光纤接头。在为FC光纤接头的情况下，可在FC光纤接头的螺帽内部可套设一个弹簧，这样，在不需要固定接头的法兰盘上，旋转螺帽可以与法兰盘保持距离。此外，本发明实施例中，连接纤和光纤接头的长度都比现有技术的长，在一个示例中，连接纤7的长度可为1m左右，光纤接头的长度可为1.5～2cm，这样，由于较长的连接纤和光纤接头，使得插入耦合器中更加容易，从而能够减少耦合器的磨损率，提高测试效率和速度。
本发明实施例的光缆衰耗测试的专用光源设备在测试A站和B站间的光缆时，可包括以下步骤：
(1)测试前，在A站测试人员先将设备的电源安装好并接通。
(2)接着，打开开关，对多根测试线例如6根测试线进行测量，以保证线缆正常、发光正常。
(3)然后，将6根测试线接至相应的光缆终端盒耦合器内。
(4)最后，测试人员前往B站，使用光功率计对之前的6根线芯进行测试并进行记录。完成测试工作。
以上所述实施例，仅为本发明的具体实施方式，用以说明本发明的技术方案，而非对其限制，本发明的保护范围并不局限于此，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改或可轻易想到变化，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改、变化或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明实施例技术方案的精神和范围，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。
Claims (7)
1.一种光缆衰耗测试的专用光源设备，其特征在于，包括：壳体和设置在壳体上的多个发光控制模块、多个发光模块、交直流转换电路以及接头组件，其中，所述发光模块和所述交直流转换电路设置在所述壳体内部，所述接头组件设置在所述壳体上端；所述交直流转换电路与变电站市电输出端子连接，用于为所述发光控制模块和所述发光模块提供电源，每个发光控制模块用于控制对应的发光模块发射光，所述接头组件包括多个对应于发光模块的固定座、连接纤和光纤接头，所述固定座设置在所述壳体的上部，所述连接纤一端与所述固定座连接，另一端与所述光纤接头连接，所述光纤接头用于与光缆终端盒耦合器连接，其中，在所述光纤接头与所述光缆终端盒耦合器处于连接状态时，通过操作所述发光控制模块控制所述发光模块发射光，发射的光依次通过所述固定座、所述连接纤和所述光纤接头进入所述缆终端盒耦合器中。
2.根据权利要求1所述的光缆衰耗测试的专用光源设备，其特征在于，所述发光控制模块和所述发光模块至少为6个。
3.根据权利要求1所述的光缆衰耗测试的专用光源设备，其特征在于，所述发光控制模块为开关。
4.根据权利要求1所述的光缆衰耗测试的专用光源设备，其特征在于，所述光纤接头的长度为1.5～2cm。
5.根据权利要求1所述的光缆衰耗测试的专用光源设备，其特征在于，所述连接纤的长度为1m。
6.根据权利要求1所述的光缆衰耗测试的专用光源设备，其特征在于，所述发光模块发射的光源的波长为1310～1550nm。
7.根据权利要求1所述的光缆衰耗测试的专用光源设备，其特征在于，所述发光模块的发光功率为7dbm。
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