CN101192887A - 一种波长选择开关的自动测试系统及其方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种波长选择开关自动测试系统，包括依次通过光物理通道连接的光源产生装置、被测WSS模块以及光谱记录装置，及分别与上述三部分连接的系统控制装置；该系统控制装置控制光源产生装置产生测试需要的固定波长的序列信号，并控制被测WSS模块各个端口针对波长序列信号形成固定的指配关系；光谱记录装置将被测WSS模块各端口输出的光谱信息记录并返回；系统控制装置将该返回的光谱信息与预期结果比对，判断被测WSS模块的指配功能是否正常，并定位故障的被测WSS模块及其端口。本发明能够实现测试过程自动化及批量化，因而使出错率锐减及测试效率提高。

Description

一种波长选择开关的自动测试系统及其方法

技术领域

本发明涉及光网络密集波分复用(DWDM，Dense Wavelength DivisionMultiplexing)技术，尤其涉及DWDM系统中的可重构光分插复用器(ROADM，Reconfigurable Optical Add and Drop Multiplexer)之类模块的测试。

背景技术

随着DWDM技术的发展，对光网络的灵活性和可重构性要求变得越来越重要。在这种背景下，ROADM模块成为一种商家竞相应用的新技术。ROADM模块作为这一技术方案的核心器件，其性能是设备制造商最为关注的，该模块一般具有灵活指配的功能，即将任意输入波长带任意衰减量指配到任意上、下路端口。但目前缺少一种能够简便、完善地测试ROADM模块功能的装置及方法，即仅需使用较低成本就能实现对ROADM模块基本性能的全面测试。

目前ROADM模块出厂后由设备厂商应用到设备上，一般对该模块的测试有两种方法。一种是使用ROADM模块生产厂家提供的评估板以及专用软件进行测试，该方法因有条件的限制，通常只能在研发阶段使用。另一种更有意义的测试应该是在生产环节的测试，但目前一般是不进行测试，或者通过手动方式对模块的局部功能进行测试。由于ROADM模块功能强大，支持多个波长，因此，想完全靠手工对模块功能进行全面的覆盖测试往往不现实；即使进行测试，也极有可能出现人为错误。

波长选择开关(WSS，Wavelength Selecting Switch)模块系ROADM模块类最具复杂性的一种模块，因而对其测试也是ROADM模块测试中最典型和最难以实现的。因此，解决WSS模块的测试问题是ROADM模块测试的重要目标。

总之，现有技术亟需一种能够通过自动方式对ROADM模块类器件进行全面覆盖式测试的系统和方法。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种波长选择开关自动测试系统及其方法，能够自动化、批量化且操作简便地对波长选择开关的性能进行全面覆盖式地测试。

为了解决上述技术问题，本发明提供的一种波长选择开关WSS自动测试系统，包括：依次通过光物理通道连接的光源产生装置、被测WSS模块以及光谱记录装置，还包括分别与光源产生装置、被测WSS模块及光谱记录装置连接的系统控制装置；其中：

系统控制装置用于：控制光源产生装置产生测试被测WSS模块需要的所有固定波长的序列信号；控制被测WSS模块的各个端口针对波长序列信号形成固定的指配关系；光谱记录装置将被测WSS模块的各个端口依指配关系输出的光谱信息记录打印并返回；以及系统控制装置通过将该返回的光谱信息与预期结果比对，判断被测WSS模块的指配功能是否正常，并定位出指配功能失常的被测WSS模块及其端口。

进一步地，本发明上述WSS自动测试系统还具有以下特点：被测WSS模块包括通过物理通道连接的下路型模块和上路型模块，形成固定的指配关系是指：系统控制装置控制固定波长序列信号从下路型模块的波长选择端口下路，并控制固定波长序列信号从上路型模块的波长选择端口上路。

进一步地，本发明上述WSS自动测试系统还具有以下特点：下路型模块可用未加隔离器的上路型模块取代；或者，上路型模块可用未加隔离器的下路型模块取代。

进一步地，本发明上述WSS自动测试系统还具有以下特点：下路型模块和上路型模块各自具有N个，形成固定的指配关系是指：系统控制装置控制固定波长序列信号从N个下路型模块相应的波长选择端口下路，并控制固定波长序列信号从N个上路型模块相应的波长选择端口上路。

进一步地，本发明上述WSS自动测试系统还具有以下特点：该系统还包括与系统控制装置连接的终端装置，系统控制装置将返回的光谱信息以及被测模块及其端口的故障信息显示在该终端装置上。

为了解决上述技术问题，本发明提供的一种波长选择开关WSS自动测试的方法，包括步骤：

(a)正确连接测试系统中的光源产生装置、被测WSS模块、系统控制装置以及光谱记录装置；

(b)设定测试方案和测试策略，依照测试方案和测试策略控制被测模块的各个端口对光源产生装置产生的波长序列信号形成固定的指配关系，并将被测模块依该指配关系形成的光谱信息记录打印下来；

(c)将光谱信息与预期结果比对，根据比对结果判断被测模块的指配功能是否正常，并指示出故障的位置。

进一步地，本发明WSS自动测试的方法还具有以下特点：步骤(a)中的被测WSS模块包括下路型模块和上路型模块；步骤(b)形成固定的指配关系包括：调节下路型模块的波长选择端口，使波长序列信号分别从下路型模块的波长选择端口下路；调节上路型模块的波长选择端口，使波长序列信号分别从上路型模块的波长选择端口上路。

进一步地，本发明WSS自动测试的方法还具有以下特点：步骤(a)下路型模块和上路型模块各自具有N个；步骤(b)形成固定的指配关系包括：调节N个下路型模块的波长选择端口，使波长序列信号分别从N个下路型模块的波长选择端口下路；调节N个上路型模块的波长选择端口，使波长序列信号分别从N个上路型模块的波长选择端口上路。

进一步地，本发明WSS自动测试的方法还具有以下特点：步骤(c)将光谱信息的顺序及强度与预期结果比对，如果比对结果不一致，则根据有问题的波长信号定位故障端口，逐对减少下路型模块和上路型模块的组合并返回步骤(b)继续进行测试，以定位出指配功能失常的被测模块组。

进一步地，本发明WSS自动测试的方法还具有以下特点：步骤(c)在定位出指配功能失常的被测模块组后，将被测模块组中的一个模块用一功能相同的正常模块取代，并返回步骤(b)对被测模块组继续进行测试，以定位出指配功能失常的被测模块及其端口。

进一步地，本发明WSS自动测试的方法还具有以下特点：步骤(c)在定位出指配功能失常的被测模块组后，将被测模块组中的一个模块去掉，并返回步骤(b)对剩下的模块继续进行测试，以定位出指配功能失常的被测模块及其端口。

进一步地，本发明WSS自动测试的方法还具有以下特点：步骤(a)还包括正确连接测试系统的终端装置；步骤(b)还包括将记录下来的光谱信息显示在终端装置上；步骤(c)还将有故障的被测模块及其端口的信息显示在终端装置上。

本发明提供的WSS模块的自动测试系统及其方法的测试对象适用于所有的WSS类型的模块，包括任意端口数目和任意上下路类型的模块。采用本发明能够实现测试过程全自动化及批量化，因不需人工干预而使出错率锐减，且能方便地调整波长端口测试方案及完整地保存测试记录，并精准地确定故障模块及其端口，因而测试效率大大提高。另外，本发明系统的成本就其实现的功能而言较低。

附图说明

图1是本发明的WSS自动测试系统的原理框图；

图2是本发明的WSS自动测试方法的工作流程图。

具体实施方式

本发明提供的WSS自动测试系统，包括依次通过光物理通道连接的光源产生装置、被测WSS模块、光谱记录装置以及分别与这三种装置通过控制通道连接的系统控制装置、与该系统控制装置耦合的终端装置。其中，系统控制装置用于：控制光源产生装置产生测试被测WSS模块需要的所有固定波长序列信号；并控制被测WSS装置的各端口形成固定的波长信号指配关系；以及控制光谱记录装置将被测WSS模块的各端口输出的光谱信息记录并返回，还可控制将光谱信息打印或输出给终端装置显示。其中：被测WSS模块包括通过物理通道连接的上路型模块和下路型模块，或包括由多个上、下路型模块配对组成的模块，系统控制装置分别调节上、下路型模块的波长选择端口，使波长序列信号分别从下路型模块的波长选择端口下路，并使波长序列信号分别从上路型模块的波长选择端口上路；系统控制装置对光谱记录装置返回的光谱信息与预期结果比对，以判断所述被测模块的工作是否正常，并定位出故障的被测模块及其端口。

以下通过具体实施例和附图对本发明的技术方案进行详细阐述。

如图1所示，本发明提供的WSS模块的自动测试系统包括依次通过光物理通道连接的：光源产生装置A、下路型模块B(可以用没有加隔离器的上路型模块代替)、上路型模块D(可以用没有加隔离器的下路型模块代替)及光谱记录装置E，还包括分别与光源产生装置A、下路型模块B、上路型模块D及光谱记录装置E连接的系统控制装置F，同时，系统控制装置F还可与终端装置(譬如显示器，键盘等)连接。图1所示的C模块代表中途可以按同样方式接入多对下路型模块B和上路型模块D来一一进行测试。或者，由于被测模块有故障的毕竟是少数，因此，可以一次批量地对具多个(下路型模块B+上路型模块D)组合的C模块进行测试，遇有不正常情况再逐对地减少下路型模块B和上路型模块D的组合，直至定位找着故障所在模块为止。

其中，系统控制装置F(可由键盘操控)控制光源产生装置A(可以选择可调光转换器单元OTU，Optical Transponder Unit)依次产生出固定波长序列信号，假设为λ11，λ12，...，λ1n，...，λ21，...，λ2n，...，λ31，...，λ3n，...，λ41，...，λ4n，传输给(下路型模块B+上路型模块D)。

下路型模块B(或模块C中多个下路型模块B)和上路型模块D(或模块C中多个上路型模块D)假设其波长选择端口个数为4，即端口1至端口4；事实上端口数目可以任意选择。其中，系统控制装置F控制下路型模块B和上路型模块D形成固定波长的指配关系，即为各个模块对应端口指配一组固定的波长。譬如，为模块的端口1指配波长λ11至λ1n，为其端口2指配波长λ21至λ2n，......，为其端口4指配波长λ41至λ4n。

光谱记录装置E将被测模块输出的光谱信息记录打印，或将记录结果返回给系统控制装置F并通过终端装置显示出来，其中记录的光谱顺序应该和光源产生装置A产生的光谱顺序一致。

系统控制装置F考察光谱记录装置E记录的光谱信息是否和预期结果一致，如果发现记录的光谱和光源产生装置A产生的光谱顺序或强度出现不一致，则根据分析、判断及定位将故障模块及其端口的信息显示在终端装置上。

本发明提供的WSS模块的自动测试方法，包括如下步骤：

步骤1：按图1所示的原理框图连接好系统，并设定测试方案和测试策略；

步骤2：依照该测试方案和测试策略控制被测模块的各个端口对光源产生的波长序列信号形成一定的指配关系，并将依该指配关系形成的光谱信息记录下来；

步骤3：将该光谱信息与预期结果比对，根据比对结果判断被测模块是否工作正常以及定位指配功能失常的被测模块及端口。

上述方法步骤的详细流程可参照图2，该流程有如下步骤：

步骤201：按图1所示的原理框图将系统中各装置及被测模块连接好，并设定测试策略和测试方案；

步骤202：对被测的下路型模块B+上路型模块D完成固定端口的指配；

调节好下路型模块B(或模块C中的多个下路型模块B)的波长选择端口1至4，使波长λ11至λ1n从端口1下路，使波长λ21至λ2n从端口2下路，使波长λ31至λ3n从端口3下路，使波长λ41至λ4n从端口4下路；调节好上路型模块D(或模块C中的多个上路型模块D)的波长选择端口，使从下路型模块B输出的相应波长λ11，...，λ4n分别从上路型模块D的端口1到端口4上路。

步骤203：控制光源以轮流遍历的方式依次产生固定的一组波长序列信号；

步骤204：查看光谱信息返回结果是否正确，若正确执行步骤205，若不正确则执行步骤206；

考察光谱信息返回结果与预期结果是否一致，若发现返回的光谱和光源产生装置A产生的光谱顺序或强度出现不一致，则根据出现问题的波长信号定位指配关系不正常的端口。

步骤205：检查是否所有波长信号都遍历完毕，若是执行步骤208，若否则转回步骤203执行；

步骤206：记录指配关系不正常的端口；

步骤207：根据设定的策略判断是否继续测试其它波长和端口指配组合，若是执行步骤205，若否则执行步骤209；

步骤208：检查是否被测模块所有预定的端口都指配执行完毕，若是执行步骤209，若否则返回步骤202执行；

步骤209：查看并分析测试结果，针对指配关系不正常的端口通过人工方式逐对减少下路型模块B和上路型模块D的组合；

这样做的目的是为了最后定位出问题的模块是在哪一组。

步骤210：判断是否已经找出指配关系不正确的模块，若是执行步骤211；若否返回步骤202执行；

当定位了出问题的模块在哪一组后，要想继续定位在该组是下路型模块还是上路型模块的问题，往往需要反复几次上述流程的执行。通常可采用两种方式：一是用一个正常的下路型或上路型模块取代该组中相应的模块，再依上述流程进行测试，看结果是否正常，若正常则证明是被取代模块有问题；若依然不正常则证明是另一未被取代的模块出了问题。另一种方式适用于没有正常的模块存在的情况：将该组中其中的上路型模块(下路型模块也可)去掉，调整下路型模块的一组波长选择端口对光源产生的固定一组波长下路后，对其输出光谱结果直接观察，看是否正常，若正常则证明是去掉的那个模块有问题；若不正常则证明该模块有问题。

步骤211：显示故障模块及其端口。

采用本发明提供的自动测试系统能够对任何WSS类型的模块进行自动化及批量化地测试，测试过程操作简便，且除了需用人工方式确定测试对象外对测试对象本身的测试不需人工干预，因而能大大降低出错率，并能方便地调整波长端口测试方案，完整地保存测试记录，精准地确定故障模块及端口，从而使测试效率大大提高。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (12)

1.一种波长选择开关WSS自动测试系统，其特征在于，所述系统包括依次通过光物理通道连接的光源产生装置、被测WSS模块以及光谱记录装置，还包括分别与所述光源产生装置、所述被测WSS模块及所述光谱记录装置连接的系统控制装置；其中：

所述光源产生装置在所述系统控制装置的控制下产生测试所述被测WSS模块需要的所有固定波长的序列信号；

所述被测WSS模块的各个端口在所述系统控制装置的控制下针对所述固定波长序列信号形成固定的指配关系；

所述光谱记录装置将所述被测WSS模块的各个端口依所述指配关系输出的光谱信息记录打印并返回；

所述系统控制装置用于控制所述光源产生装置及所述被测WSS模块，并通过将返回的光谱信息与预期结果比对，判断所述被测WSS模块的各个端口指配功能是否正常，并定位出指配功能失常的所述被测WSS模块及其端口。

2.按照权利要求1所述的WSS自动测试系统，其特征在于，所述被测WSS模块包括通过物理通道连接的下路型模块和上路型模块，所述形成固定的指配关系是指：所述系统控制装置控制所述固定波长序列信号从所述下路型模块的波长选择端口下路，并控制所述固定波长序列信号从所述上路型模块的波长选择端口上路。

3.按照权利要求1所述的WSS自动测试系统，其特征在于，所述下路型模块可用未加隔离器的上路型模块取代；或者，所述上路型模块可用未加隔离器的下路型模块取代。

4.按照权利要求2所述的WSS自动测试系统，其特征在于，所述下路型模块和所述上路型模块各自具有N个，所述形成固定的指配关系是指：所述系统控制装置控制所述固定波长序列信号从所述N个下路型模块相应的所述波长选择端口下路，并控制所述固定波长序列信号从所述N个上路型模块相应的所述波长选择端口上路。

5.按照权利要求1所述的WSS自动测试系统，其特征在于，所述系统还包括与所述系统控制装置连接的终端装置，所述系统控制装置将所述返回的光谱信息以及所述被测模块及其端口的故障信息显示在所述终端装置上。

6.一种波长选择开关WSS自动测试方法，包括以下步骤：

(a)正确连接测试系统中的光源产生装置、被测WSS模块、系统控制装置以及光谱记录装置；

(b)设定测试方案和测试策略，依照所述测试方案和所述测试策略控制被测模块的各个端口对光源产生装置产生的波长序列信号形成固定的指配关系，并将被测模块依该指配关系形成的光谱信息记录打印下来；

(c)将所述光谱信息与预期结果比对，根据比对结果判断被测模块的指配功能是否正常，并指示出故障的位置。

7.按照权利要求6所述的WSS自动测试方法，其特征在于，步骤(a)中的所述被测WSS模块包括下路型模块和上路型模块；步骤(b)所述形成固定的指配关系包括：调节所述下路型模块的波长选择端口，使所述波长序列信号分别从所述下路型模块的所述波长选择端口下路；调节所述上路型模块的波长选择端口，使所述波长序列信号分别从所述上路型模块的所述波长选择端口上路。

8.按照权利要求7所述的WSS自动测试方法，其特征在于，步骤(a)所述下路型模块和所述上路型模块各自具有N个；步骤(b)所述形成固定的指配关系包括：调节N个所述下路型模块的波长选择端口，使所述波长序列信号分别从所述N个下路型模块的所述波长选择端口下路；调节N个所述上路型模块的波长选择端口，使所述波长序列信号分别从所述N个上路型模块的所述波长选择端口上路。

9.按照权利要求7或8所述的WSS自动测试方法，其特征在于，步骤(c)将所述光谱信息的顺序及强度与预期结果比对，如果比对结果不一致，则根据有问题的波长信号定位故障端口，逐对减少所述下路型模块和所述上路型模块的组合并返回步骤(b)继续进行测试，以定位出所述指配功能失常的被测模块组。

10.按照权利要求9所述的WSS自动测试方法，其特征在于，步骤(c)在定位出所述指配功能失常的被测模块组后，将所述被测模块组中的一个模块用一功能相同的正常模块取代，并返回步骤(b)对被测模块组继续进行测试，以定位出所述指配功能失常的被测模块及其端口。

11.按照权利要求9所述的WSS自动测试方法，其特征在于，步骤(c)在定位出所述指配功能失常的被测模块组后，将所述被测模块组中的一个模块去掉，并返回步骤(b)对剩下的模块继续进行测试，以定位出所述指配功能失常的被测模块及其端口。

12.按照权利要求10或11所述的WSS自动测试方法，其特征在于，步骤(a)还包括正确连接测试系统的终端装置；步骤(b)还包括将记录下来的所述光谱信息显示在所述终端装置上；步骤(c)还将有故障的被测模块及其端口的信息显示在所述终端装置上。