CN101149330B - 跌落测试系统及测试方法 - Google Patents

Abstract

一种跌落测试系统，包括一个定位控制器、一个用于对待测试件进行取像和测量该待测试件位置的取像定位装置、一个用于取放待测试件的取放装置以及一个根据所述取像定位装置的测量取像结果来控制该取放装置的控制装置。所述控制装置分别与所述取像定位装置、取放装置及定位控制器电气相连。所述定位控制器在所述控制装置的作用下控制所述取放装置作业。该取放装置在控制装置及定位控制器的控制下，取放待测试件来对其进行跌落测试。该跌落测试系统可以自动取放待测试件，提高了测试速度与测试效率。

Description

跌落测试系统及测试方法

技术领域

本发明关于一种跌落测试系统，尤其涉及一种适用于相机镜头模组的跌落测试系统及测试方法。

背景技术

随着科技的不断发展，携带式电子装置如移动电话，应用日益广泛，同时也日渐趋向于轻巧、美观和多功能化，其中照相功能是近年流行的移动电话的附加功能。应用于移动电话的数码相机模组不仅要满足轻薄短小的要求，其还须具有较高的性能与品质，所以在数码相机镜头模组组装完毕后，都要对其进行跌落测试，其主要目的是为了测试镜头模组上的元件，特别是滤光片，是否会因受掉落撞击的影响而脱离镜筒。

目前的跌落测试系统是由人工将待测试件固定于一实心塑胶长方体上，由1.5米的高度自由落下，来对长方体三个方向的平面进行若干次测试来达到对待测试件测试的目的。

在人工测试时，每次自由落下会有高度的误差，且若测试数量大的时候，测试速度与测试效率都会受到很大的影响。

发明内容

有鉴于此，有必要提供一种能提高测试速度与效率的跌落测试系统及测试方法。

一种跌落测试系统，包括一个定位控制器、一个用于对待测试件进行取像和测量该待测试件位置的取像定位装置、一个用于取放待测试件的取放装置以及一个根据所述取像定位装置的测量取像结果来控制该取放装置的控制装置。所述控制装置分别与所述取像定位装置、取放装置及定位控制器电气相连。所述定位控制器在所述控制装置的作用下控制取放装置作业。该取放装置在控制装置及定位控制器的控制下，取放待测试件来对其进行跌落测试。

一种跌落测试方法，包括下列步骤：

提供上述的跌落测试系统；

提供一待测试件，且置于定位控制器的基座上；

由取像定位装置把待测试件位置的图像及数据传送给控制装置；

由控制装置对取像定位装置取得的待测试件的图像及数据进行分析，得到所要获取的待测试面及该取放装置获取待测试件所需的移动量；

取放装置在定位控制器与控制装置的共同控制下，利用取放装置获取所述待测试件，同时将获得待测试件的信号数据反馈给控制装置；

定位控制器在控制装置的控制下，提升取放装置到所要求的测试高度；

取放机构在控制装置的控制下，让待测试件自由落下。

该跌落测试系统及测试方法在取像定位装置、取放装置及控制装置的共同作用下自动取放待测试件，而且每次待测试件被提高的高度可控制为一样，所以在大幅提高了测试速度的同时，还可以提高被测试件的测试效果。

附图说明

图1是本发明实施例的跌落测试系统的立体结构示意图；

图2是本发明实施例的待测试件的立体结构示意图；

图3是图1所示的跌落测试系统的测试方法流程图；

图4是所述跌落测试系统获取待测试件时所需定位点的示意图；

图5是所述跌落测试系统变换测试面的跌落状态图；

图6是所述跌落测试系统获取待测试件的上表面的状态图；

图7是所述跌落测试系统获取待测试件侧面的状态图。

具体实施方式

为了对本发明作更进一步的说明，举一较佳实施例并配合附图详细描述如下。

请参阅图1，本发明实施例的跌落测试系统10包括一个定位控制器11、一个用于测量待测试件20位置和对该待测试件20进行取像的取像定位装置12、一个用于取放待测试件20的取放装置13以及一个根据所述取像定位装置12的测量取像结果来控制该取放装置13的控制装置14，所述控制装置14分别与所述取像定位装置12、定位控制器11及取放装置13电气相连。

所述定位控制器11可以为一三轴控制器，包括一个基座111和一个与基座111相连的定位控制臂112，优选地，所述定位控制臂112垂直相连于基座111。

所述取像定位装置12为电荷耦合摄影机，与所述定位控制器11的定位控制臂112相连。

所述取放装置13用于获取待测试件20以进行跌落测试，该取放装置13包括一个第一滑筒131、一个机械手臂132、一个第二滑筒133、一个连接于第二滑筒133的转轴134以及一个连接于转轴134的取放机构137。

该第一滑筒131套设于所述基座11的定位控制臂112上。该第一滑筒131可绕该定位控制臂112旋转还可以沿该定位控制臂112上下滑动。

该机械手臂132与所述第一滑筒131相连，且可随该第一滑筒131活动。

该第二滑筒133套设于所述机械手臂132上，且该第二滑筒133可沿该机械手臂132滑动。

该转轴134为一绞链式转轴，包括一个第一连杆135与一个与该第一连杆135以绞链方式相连的第二连杆136。该第二连杆136可以绕第一连杆135在二维平面内转动，即第一连杆135与第二连杆136轴线所构成的平面内。

该取放机构137与所述第二连杆136相连，用于获取待测试件20，该取放机构137可以为电磁铁、吸嘴及夹爪。本实施例中所述取放机构137为电磁铁。

所述控制装置14可以为一微处理装置，该控制装置14可识别处理有关数据，并输出结果。本实施例中，所述控制装置14为一台中央处理器，其内安装有可识别并处理相关数据的程序。

该控制装置14与所述基座11的定位控制臂112、所述取像定位装置12及所述取放装置13相连，且可根据取像定位装置12的输出结果控制所述取放装置13作业，即取放待测试件20，同时，取放装置13也反馈给控制装置14该取放装置13的取放状态的信息。

请参阅图2，所述待测试件20包括一个待测试元件21与一个用于容置该待测试元件21的金属容器22。该待测试元件21可以为一已组装完毕的镜头模组。该金属容器22可以被电磁铁137所获取。

请参阅图3，以本发明实施例为例，对所述待测试件20进行跌落测试，测试步骤包括：

步骤一：提供上述的跌落测试系统10，包括一个定位控制器11、一个取像定位装置12、一个取放装置13以及一个控制装置14；

步骤二：提供上述的待测试件20，包括一个待测试元件21与一个金属容器22，且该待测试件20置于基座111上；

步骤三：由取像定位装置12测得待测试件20位置的数据及图像并将所得的数据及图像传送给控制装置14；

步骤四：由控制装置14对取像定位装置12取得的待测试件20的图像及数据进行分析，分别得到取放装置13所要获取的待测试表面及取放装置13获取待测试件20所需的移动量，并将该待测面及所需移动量传送给控制装置14；

步骤五：机械手臂132在定位控制器11的定位控制臂112与控制装置14的共同控制下，利用取放机构137获取所述待测试件20，同时将获得待测试件20的获取信号反馈给控制装置14；

步骤六：定位控制器11的定位控制臂112在控制装置14的控制下，提升机械手臂132到所要求的测试高度；

步骤七：取放机构137在控制装置14与机械手臂132的控制下，让待测试件20自由落下。本实施例为给电磁铁断电让待测试件20落下。

如此即完成了一次该待测试件20的跌落测试，如要对该待测试件进行多次重复的测试，重复上述步骤三到步骤七即可。

本实施例中待测试件20自由落下的高度可以为1.5米。

所述取放装置13获取待测试件20时所需的移动量与所要获取的待测试表面都是由取像定位装置12与控制装置14配合测试得到，并由控制装置14控制取放装置获取待测试件20。

请参阅图1和图4，对所述取放装置13获取待测试件20时所需的移动量的确定包括以下步骤，首先，在定位控制器11的基座111上且在所述取像定位装置12取像范围内任意画四个不重复的定位点113，在该定位点113所形成的范围内定义原点，然后测量各定位点113到原点的实际距离，便得到一个存储在控制装置14内的二维定位网络。当待测试件20跌落在所述取像定位装置12的取像范围内时，经取像定位装置12对其取像，利用该二维定位网络，对待测试件20的位置数据经过控制装置14的分析计算，便得到取放装置12移动至待测试件20跌落位置所需的距离，即取放装置13所需的移动量。

对所述取放装置13获取待测试件20时所要获取的待测试表面的确定包括下列步骤，首先，由所述取像定位装置12对置于基座111上且在所述取像定位装置12取像范围内的待测试元件20取像，即获得待测试件20的影像，然后将取得的影像传送给控制装置14，经该控制装置14内置的控制程序将待测试件20的三个不同方向的面设置为三种不同的灰阶颜色，使该待测试件20在取像定位装置12取得的影像中所显示的灰阶明显不同，最后利用此灰阶分别来判断测试哪一个面朝上，再利用长短边的不同来判断另外两个方向的面，从而控制装置14确定出取放装置12所要获取的待测试表面。

请参阅图5，在取放装置12获得待测试件20以后，当需要转换测试面时，可通过该取放装置12的转轴134的第二连杆136的转动，转换待测试表面。同时，请参阅图6及图7，取放机构137可以通过获取待测试件20的相对于基座111的上表面及各个侧面来获取待测试件20来达到转换待测试表面的目的。本实施例中，对待测试件20的三个面的每个面进行三次跌落测试。

该跌落测试系统10因有定位控制器11、取像定位装置12、取放装置13及控制装置14的配合作业，可自动对待测试件20的三个面进行无数次的跌落测试，节省了人力，同时又提高了测试速度与效率。

另外，本领域技术人员还可在本发明精神内做其它变化，只要其不偏离本发明的技术效果，都应包含在本发明所要求保护的范围之内。

Claims (10)

1.一种跌落测试系统，其特征在于：包括一个定位控制器、一个用于对待测试件进行取像和测量该待测试件位置的取像定位装置、一个用于取放待测试件的取放装置以及一个根据所述取像定位装置的测量取像结果来控制该取放装置的控制装置，所述控制装置分别与所述取像定位装置、取放装置及定位控制器电气相连，所述定位控制器在该控制装置的作用下控制所述取放装置作业，该取放装置在所述控制装置及定位控制器的控制下，取放待测试件来对其进行跌落测试。

2.如权利要求1所述的跌落测试系统，其特征在于：所述定位控制器包括一基座和一个与该基座相连的定位控制臂，该定位控制臂用于控制所述取放装置绕该定位控制臂旋转或上下滑动。

3.如权利要求1所述的跌落测试系统，其特征在于：所述取像定位装置为电荷耦合摄影机。

4.如权利要求1所述的跌落测试系统，其特征在于：所述取放装置包括一个与所述定位控制器相连的机械手臂、一个滑动套设于该机械手臂的滑筒、一个与该滑筒相连的转轴以及一个与转轴相连的取放机构，所述取放机构用于获取待测试件。

5.如权利要求4所述的取放装置，其特征在于：所述取放机构为一电磁铁、吸嘴或夹爪，该取放机构可通过与滑筒相连的转轴在二维平面内转动。

6.一种跌落测试方法，包括下列步骤：

提供一如权利要求1至5任一项所述的跌落测试系统；

提供一待测试件，且置于定位控制器上；

由取像定位装置测量待测试件位置的数据及图像并将该数据及图像传送给控制装置；

由控制装置对取像定位装置取得的待测试件的数据及图像进行分析，得到取放装置所要获取的待测试表面及取放装置获取待测试件所需的移动量；

取放装置在定位控制器与控制装置的共同控制下，获取所述待测试件，同时将获得待测试件的信号数据反馈给控制装置；

定位控制器在控制装置的控制下，提升取放装置到所要求的测试高度；

取放装置在控制装置的控制下，让待测试件自由落下。

7.如权利要求6所述的跌落测试方法，其特征在于：所述待测试件跌落测试所需要的高度为1.5米。

8.如权利要求6所述的跌落测试方法，其特征在于：所述待测试件包括一个待测试元件与一个用于容置该待测试元件的金属容器。

9.如权利要求6所述的跌落测试方法，其特征在于，所述取放装置获取待测试件时所需的移动量的确定包括下列步骤：

在定位控制器上且在所述取像定位装置取像范围内任意画四个不重复的定位点；

在该四个定位点所形成的范围内定义原点；

测量各定位点到原点的实际距离，得到一个存储在控制装置内的二维定位网络；

利用该二维定位网络，经过控制装置的分析计算，得到取放装置移动至待测试件跌落位置所需的距离，即取放装置所需的移动量。

10.如权利要求6所述的跌落测试方法，其特征在于，所述测试表面的确定包括下列步骤：

由所述取像定位装置对置于定位控制器上且在所述取像定位装置取像范围内的待测试件取像；

将取得的影像传送给控制装置，经该控制装置将待测试件的三个不同方向的表面设置为三种不同的灰阶颜色，使该待测试件在取像定位装置取得的影像中所显示的灰阶不同；

利用此灰阶分别来判断确定朝上的待测试件的表面，再利用长短边的不同来判断另外两个方向的表面，从而该控制装置确定所要获取的待测试表面。

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