CN101140762B - 用于将读取/写入磁头载入至自旋支架的方法和装置 - Google Patents

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Abstract

用于将读取/写入磁头载入至自旋支架的装置，所述装置具有载入区域，以接收至少一个待测试的磁头。所述装置还具有第一工作站，所述第一工作站具有粗略定位器，所述粗略定位器被设置为对所述磁头进行粗略的定位。第一自动设备设置为从所述载入区域拾起所述磁头并将所述磁头传送至所述粗略定位器。所述装置具有平台，所述平台具有对所述磁头进行测试的测试工作站。所述平台具有精细定位器，所述精细定位器设置为对所述磁头进行再次精细的定位。第二自动设备设置为从所述第一工作站拾起所述磁头并将所述磁头传送至对所述磁头进行再次精细定位的所述精细定位器，从所述精细定位器拾起磁头并将所述磁头传送至所述测试工作站。

Description

用于将读取/写入磁头载入至自旋支架的方法和装置
技术领域
本发明涉及用于将读取/写入磁头载入至自旋支架的方法和装置。
背景技术
已公知的是采用自旋支架来测试硬盘组件的各种部件，尤其是诸如读取/写入磁头和磁盘介质之类的部件。这种测试能够在制造生产环境中执行，在所述环境中，典型地，每一磁头和部分磁盘在被组装入硬盘组件之前进行测试，以确保它们能够执行所要求的标准。也可以在研发设定(setting)中采用自旋支架执行测试。
自旋支架典型地包括平台(deck)(例如为花岗岩的)，所述平台通常以某种方式与外部振动源隔离开，以避免这些振动源影响测试结果的精度。主轴连接至平台以保持和旋转所述磁盘。这里典型地为具有一体的直流无刷马达的空气轴承(air bearing)的主轴。
所述自旋支架还具有所谓的“测试套”(test nest)，所述测试套适于在测试的过程中保持读取/写入磁头并适于电连接至所述磁头。测试套安装在圆盘上，所述圆盘可在所述平台的表面上移动，典型地在空气轴承上，从而能够将磁头移动至磁盘表面下的期望位置。圆盘典型地通过非常精确的x-y定位工作台进行定位，而且由空气轴承支撑并具有线性解码器，而可以使圆盘的位置被精确地确定。通过应用真空还可以将圆盘和/或x-y工作台向下锁定至花岗岩，从而当圆盘在期望位置时，将防止圆盘运动。圆盘大体上具有一些设置，以将磁头载入至磁盘的测试表面或从磁盘的测试表面载出磁头以使磁头从磁盘测试表面上的测试数据的磁道读取或写入磁盘测试表面上的测试数据的磁道。圆盘还大体上具有一些设置，诸如设置在圆盘和测试套之间的纳米定位器，以使磁头相对测试磁道进行非常细微的定位的变化。
当通过自旋支架测试磁头时，重要的是将磁头相对磁盘以较高的精度进行定位。因此重要的是将磁头以较高的定位精度载入至测试套。同样重要的是连续进行测试的磁头的定位是不断进行重复的。特别是，重要的是控制磁头的x-y位置(即，在平行于磁盘表面的x-y平面中磁头的位置)和磁头的θ位置(即，磁头在x-y平面中的旋转位置)。磁头在x-y定位中的差异使装置产生将磁头定位在磁盘上的数据的测试磁道上方的能力。在θ定位中的差异使磁头在定位于磁盘上的测试磁道上方时产生歪斜。
在生产环境中通过自旋支架测试读取/写入磁头时，测试装置典型地包括：结合有接收工作台的自旋支架，其中磁头被载入及载出至装置；以及自动装置，用于在自旋支架和接收工作台中的多个区域之间移动磁头。待测试的磁头通常被传送至接收工作台，所述接收工作台采用排列在浅盘(tray)中的磁头万向节组件(HGA)的形式。所述浅盘将保持10或20个排列成排的HGA。自动装置包括非常精确的线性致动器，所述线性致动器在自旋支架的相应部分上延伸并具有拾取设备，以沿其路线将HGA拾起及随后放下。
为了将HGA载入至装置，线性致动器将拾取设备移动至在接收工作台中接收的浅盘上，并且拾取设备拾起个别的HGA。拾取设备随后将磁头移动至所谓的定位器。定位器通常被安装之平台并被设置为对HGA进行x、y和θ的精确定位(即，精细定位)。由于定位器和圆盘经由平台而彼此重合，当HGA由定位器进行精细定位时，HGA相对圆盘的位置以及由此相对磁盘的位置将进行设定。当对磁头进行精确定位时，拾取设备从定位器拾起HGA并将HGA传送至圆盘的测试套。测试套通常具有夹持器设置，所述夹持器设置用于夹持HGA的基板的轴套孔以将HGA保持在适当的位置。随后，磁头被载入至磁盘用于进行测试。
所述自动装置的缺点在于其产生的振动。重要的是因为振动会影响测试结果的精度，因此应尽可能地将自旋支架与振动隔离开。因此，考虑将自动装置与自旋支架的平台隔离开。然而，将自动装置与自旋支架隔离开意味着自动装置将不能以相同的精度将HGA设置在定位器上。而且，当通过自动装置将HGA从定位器传送至测试套时，在自动装置与平台隔离开时通过定位器实现的精细定位会一定程度地损失。
发明内容
根据本发明的第一方案，在此提供用于将读取/写入磁头载入至自旋支架的装置，所述装置包括：载入区域，用于接收至少一个待测试的磁头；第一工作站，具有粗略定位器，所述粗略定位器被设置为对所述磁头进行粗略的定位；第一自动设备，设置为从所述载入区域拾起所述磁头并将所述磁头传送至所述粗略定位器；平台，具有对所述磁头进行测试的测试工作站，所述平台具有精细定位器，所述精细定位器设置为对所述磁头进行再次精细的定位，并且所述平台具有第二自动设备，所述第二自动设备设置为从所述第一工作站拾起所述磁头并将所述磁头传送至对所述磁头进行再次精细定位的所述精细定位器，从所述精细定位器拾起所述磁头并将所述磁头传送至所述测试工作站。
这样，当所述装置设置有粗略定位器时，所述粗略定位器可以被用于消除对磁头进行定位有关的精度不高的问题。具有额外的精细定位器的平台使精细定位器与所述平台重合，并由此与主轴和磁盘重合。这样可以对磁头进行非常精确地定位。使用两个定位器和两个自动设备可以使平台从所述装置的剩余部分隔离开，而同时通过在平台上具有精细定位器和自动装置仍然能够实现对磁头进行精确的定位。
在实施例中，所述载入区域和所述第一自动设备与所述平台机械地隔离开。从而使所述自旋支架与载入区域和其自动装置隔离开，其中所述自动装置典型地充当影响自旋支架性能的外部干扰和振动源。
在实施例中，所述第一工作站与所述平台机械地隔离开。
在实施例中，所述平台上具有可移动工作台，其中所述可移动工作台保持所述测试工作站，所述可移动工作台可从在所述平台上的对所述磁头进行测试的第一位置向在所述平台上的从所述第一自动设备接收所述磁头的第二位置移动。
在实施例中，所述可移动工作台包括圆盘，所述圆盘通过在所述圆盘和所述平台之间应用真空而向下锁定至所述平台。
在实施例中，所述第一工作站具有磁化磁头组装置，当所述磁头由所述粗略定位器接收时，所述磁头可对磁头组进行磁化。
在实施例中，所述第一工作站具有去分路器件，当所述磁头由所述粗略定位器接收时，所述磁头可被去分路。
在实施例中，所述第一工作站具有：锥形销，用于与组合有所述磁头的磁头万向节组件的基板中的轴套孔对准；以及两个倾斜的销，用于在其中接收及引导所述磁头万向节组件的悬浮臂。
在实施例中，所述精细定位器包括：第一锥形销，用于接收在组合有所述磁头的磁头万向节组件的轴套孔中；以及第二锥形销，用于接收在所述磁头万向节组件的加工槽中。
根据本发明的第二方案，在此提供将读取/写入磁头载入至自旋支架的方法，其中所述自旋支架包括平台，所述方法包括：1)使用第一自动设备将所述磁头从载入区域传送至第一工作站，所述第一工作站是粗略定位器，所述载入区域和所述第一自动设备均与所述平台隔离开，而所述粗略定位器安装至所述平台；2)使用所述粗略定位器对所述磁头执行粗略的精确定位操作；3)使用第二自动设备将所述磁头从所述粗略定位器传送至精细定位器，所述精细定位器和所述第二自动设备安装至所述平台；4)使用所述精细定位器对所述磁头执行精细的精确定位操作；5)使用所述第二自动设备将所述磁头从所述精细定位器传送至安装至所述平台的测试工作站。
在实施例中，所述方法包括在所述第一工作站对所述磁头执行去分路的操作。
在实施例中，所述方法包括在所述第一工作站对所述磁头执行磁化磁头组的操作。
在实施例中，对于单个磁头权利要求10的步骤以1)至5)的字面顺序进行。
在实施例中，第一磁头和第二磁头由所述自旋支架同时进行处理，对所述第一磁头执行步骤1)和2)，而同时对所述第二磁头执行步骤3)、4)和5)。
附图说明
现将通过参考附图的实例的方式描述本发明的实施例，其中：
图1示出了典型的磁头万向节组件；
图2示意性地示出了根据本发明的实施例从用于将磁头载入测试装置的装置的实例上方观察的平面图；
图3示出了测试套的截面图；
图4示出了第一、粗略定位器的截面图；以及
图5示出了第二、精细定位器的截面图。
具体实施方式
图1示出了可由自旋支架进行测试的类型的典型的HGA100。所述HGA100具有磁性的读取/写入磁头101以从磁盘读取及写入磁盘。磁头101被支撑在滑动器102上，所述滑动器102气动地形成以适当的高度在磁盘表面上方“漂移”的形状，从而从磁盘读取及写入磁盘。磁头101和滑动器102连接至悬浮臂103或载入杆(load beam)。悬浮臂103可以设置有在磁盘表面上方漂移磁头101时所必须的悬浮状态。悬浮臂103还具有形成在其中的加工槽104。悬浮臂103连接至基板(base plate)105。悬浮臂103与基板105略微呈一定角度。基板105在其中部具有轴套孔(boss hole)106，HGA100可以通过所述轴套孔106而保持。扭曲电路107从磁头101处引出，由悬浮臂103和基板105支撑并从基板105相对磁头101的端部伸出。扭曲电路107在一个端部107a连接至磁头101，而在其另一个端部107b(称为尾部)于电接点108中终止。这些接点108允许通过自旋支架电子设备(electronic)而形成至HGA100的连接。磁头101对静电荷非常敏感并易于由此而损坏。为了防止这种损坏，典型地HGA100从制造商接收有附连的分路片(shunt tab)109，所述分路片109使扭曲电路107中的电连接短路以防止静电荷产生。在对HGA100进行测试的自旋支架中或当组装至磁头磁盘组件时HGA100被用于读取或写入数据之前，所述分路片109必须被去除。
参考图2，自旋支架1包括平台2。平台2由花岗岩制成并具有高度打磨的表面。平台2安装在隔振机座(mounts)(未示出)上，以将自旋支架1与外部振动隔离。
自旋支架1具有安装至平台2的桥部3。所述桥部3支撑主轴组件4，以将待测试的磁盘5保持在倒置的构造(即主轴组件4固定有磁盘5的端部位于最下部)。
结合图3参考图2，自旋支架1具有所谓的“测试套”20，所述测试套20适于在测试的过程中保持HGA100并使自旋支架电子设备电连接至HGA电接点108。测试套20具有夹持器机构21以保持HGA100。夹持器机构21包括多个夹持器指22(在本实例中为四个)，所述夹持器指22具有径向向外伸出的耳状物23。夹持器指22可以通过如气体致动器(pneumatic actuator)而向上启动(fire)或致动，所述夹持器指22彼此相向地向内枢转而能够穿过HGA100的基板105中的轴套孔106。夹持器指22随后可以通过如另一个气体致动器而被缩回，从而夹持器指22再次向外打开而使耳状物23在轴套孔106周围接合基板105并相对测试套20拉动基板105。为了释放HGA100，夹持器指22被再次向上致动以释放基板105。
在一个实施例中，测试套20安装在可移动工作台上，所述可移动工作台可在平台2的表面上方移动。在图中示出的实施例中，可移动工作台包括由空气轴承(未示出)安装在平台2上的圆盘25，并且所述可移动工作台可以通过非常精确的x-y定位工作台30定位，所述x-y定位工作台30同样由空气轴承(未示出)支撑并具有线性解码器(未示出)，而可以使圆盘25的位置被精确地确定。圆盘25能够将磁头以非常高的精度移动至期望位置。例如，圆盘25在测试的过程中使用以在磁盘5的表面下将磁头101移动至磁盘5上的具体磁道。圆盘25以及x-y工作台30的x和y元件通过真空的应用向下锁定至平台2的表面。从而当圆盘25在期望的位置时可以防止圆盘25运动。当然，测试套20和x-y定位工作台30的其它器件也是可行的。例如，堆叠的器件也是可行的，其中测试套20被支撑在可移动工作台上，所述可移动工作台被承载在x-y定位工作台30的顶部上，而不是使测试套20在直接位于平台2顶部上的圆盘25上。类似的，x-y定位工作台30的x和y元件可以一个在另一个上进行堆叠，而不是两个均直接在平台2的顶部上。
圆盘25还具有载入/载出机构(未示出)，以将磁头101载入至磁盘5的测试表面或从磁盘5的测试表面将磁头101载出而将磁头101在正确的z高度并水平地定位以从磁盘5的测试表面上的测试数据的磁道读取或写入磁盘5的测试表面上的测试数据的磁道。圆盘25还具有设置在圆盘25和测试套20之间的纳米定位器(未示出)，所述纳米定位器使磁头101相对测试磁道进行非常细微的定位的变化。
自旋支架1还包括自动装置，以接收HGA100并且将HGA100自动地定位至及载入至测试套，如将在下文进行描述。
待测试的HGA100被传送至排列在浅盘110中的装置1。HGA100通常以10或20个HGA100一排排列在各浅盘110中，HGA100分别设置为使其磁头101指向上方。
自旋支架1具有浅盘接收工作台60，以接收待测试的HGA100的浅盘110。浅盘接收工作台60具有两个工作面61a、61b，以保持多组圆盘110。操作者可以将待测试的一组圆盘110设置在第一工作面61a中。来自第一组61a的顶部圆盘110由自动装置63传送至第一工作面操作区域(bank working area)62a，在圆盘110中的HGA100由装置1从所述第一工作面操作区域62a进行处理。当对浅盘110中的HGA100进行的测试完成时，圆盘110则通过自动装置63移动至第二工作面操作区域62b，并且随后移动至在第二工作面61b中成组的圆盘110的底部。通过装置1以所述方式依次对圆盘110进行处理并移动，直到第一组61a被测试完。操作者随后将第一组61b的浅盘110的已测试的HGA100去除，并将新的组载入至第一工作面61a。可选择的是新的组110可在特别的基础上添加至第一工作面61a的顶部。装置还能够反向地进行操作，即对来自第二工作面61b的浅盘110进行处理并将所述浅盘110移动至第一工作面61a。
结合图4参考图2，装置1还具有粗略定位器工作站39。所述粗略定位器工作站39远离自旋支架1的平台2安装。粗略定位器工作站39具有粗略定位器40，所述粗略定位器40具有轴套销41和一对门柱(goalpost)42(一个在图4的截面图中示出)，所述门柱采用从粗略定位器工作站39的最上方表面向上伸出的销的形式。轴套销41远离粗略定位器工作站39向上逐渐变细而大体呈锥形。门柱42向着粗略定位器工作站39彼此相向而聚合。当HGA100适当地设置在粗略定位器40上时，轴套销41接合HGA100的基板105中的轴套孔106，由此将HGA100沿x-y方向进行定位。门柱42在其间接收HGA100的悬浮臂103，并当HGA100向下前进至粗略定位器40上时，由于存在在之间引导悬浮臂103的聚合门柱42而对HGA100进行大致的θ定位。其它的销43可以设置在门柱42附近以接合HGA100的加工槽104，从而改善通过粗略定位器40获得的定位。而且，真空孔道44设置在轴套销41的大体位置中。低压可作用于这些孔道44以将HGA100向下保持在粗略定位器40上，同时HGA100等待通过第一自动处理器70和第二自动处理器80(将在下文进行讨论)中一个或另一个拾起。
在实施例中，当HGA100位于粗略定位器工作站39中时，在HGA100上执行去分路(deshunt)及磁化磁头组(headset)的操作。去分路是使分路片109穿孔输出(punch out)的过程，所述分路片109被用于使HGA100的磁头101的端子短路(如上所述)，从而磁头101可被用于读取/写入数据。磁化磁头组是在磁头附近形成强大的磁场的过程，以设定磁头101读取及写入传感器的磁畴的方向，从而磁头101可被用于读取/写入数据。磁化磁头组及去分路的操作可同时执行。这些操作可以通过任何传统方法实现，在此不再进行详细地描述。
装置具有第一自动处理器70，所述第一自动处理器70在浅盘接收工作台60和粗略定位器工作站39上方运行。所述第一自动处理器70包括线性定位器71和拾取设备72，所述拾取设备72可沿所述线性定位器71在横向的位置定位。线性定位器71可以是伺服控制的，并包括线性解码器(未示出)，以获得更高的定位精度。
拾取设备72包括：推送器(kicker)73；以及端部执行器74，设置在所述推送器73的端部上。所述推送器73能够经由空气致动或伺服控制马达或者其它适当的致动器而沿z方向移动端部执行器74，从而使端部执行器74竖直的升高或降低。
端部执行器74具有大体平面及正方形的最下部表面，所述最下部表面具有四个大体上靠近最下部表面各拐角的真空孔道。这些孔道可连接至真空源。孔道被排列为可以与HGA100的基板105上的位置对准。
由此当HGA100设置在拾取设备72下方时，推送器73可被致动以降低端部执行器74而与HGA100的基板接触或接近地设置在HGA100的基板上方。随后，真空可被作用至端部执行器74的孔道，从而环境空气压力会使基板被压紧至端部执行器74的下表面。由此HGA100利用真空被吸至或抽吸至端部执行器74上而将HGA100保持在适当的位置。随后推送器73被向上致动，由此拾起(pick up)HGA100。第一线性定位器71随后可以被致动以横向地移动拾取设备72和HGA100。
第一自动处理器70设置为能够从第一操作区域62a中的浅盘110拾起HGA100，并将所述HGA100传送至粗略定位器40。粗略定位器40可以接收定位和定向具有相当大变化的HGA100，并对所述HGA100进行更精确地定位。因为在浅盘110中HGA100的位置不能很好地控制，因此对HGA100进行更精确地定位是必须的。
浅盘工作台60、第一自动处理器70以及粗略定位器工作站39离开平台2设置。这样有助于使自旋支架1与振动隔离开。
结合图5参考图2，装置1具有精细定位器工作站49，所述精细定位器工作站49设置在平台2上。精细定位器工作站49具有精细定位器50，所述精细定位器50具有逐渐变细的轴套销51，以接合HGA100的基板105的轴套孔106，并由此对HGA100沿x-y方向进行定位。精细定位器50还具有逐渐变细的θ销53，以接合HGA100的悬浮臂103的加工槽104。门柱53(一个在图5的截面图中示出)还可以设置为帮助将HGA100引导至精细定位器50中。当HGA100设置在精细定位器50上时，轴套销51接合HGA100的轴套孔106，而θ销53接合HGA100的加工槽104，由此在x-y定位中和沿θ方向可以对HGA100进行精细地定位。应当注意的是因为HGA100在任何时候实际上都不留置在精细定位器工作站49上，因此将真空孔道设置在精细定位器工作站49(类似于粗略定位器工作站39的真空孔道44)上一般也不是必须的。相反，HGA100被向下推向精细定位器50上以获得需要的精细定位，并随后再次被快速地升高以移动至测试套20(如将在下文进行讨论的)。
装置具有第二自动处理器80，所述第二自动处理器80在粗略定位器40、精细定位器50以及测试套20上方运行。所述第二自动处理器80包括线性定位器81和拾取设备82，所述拾取设备82可沿所述线性定位器81在横向的位置定位。线性定位器81可以是伺服控制的，并包括线性解码器(未示出)，以获得更高的定位精度。由于第二自动处理器80的线性定位器81(第二线性定位器81)部分地需要进行更高精度的定位，因此第二线性定位器81比第一自动处理器70的线性定位器71(第一线性定位器71)更精确。
第二自动处理器80的拾取设备82与第一自动处理器70的拾取设备72类似。然而，第一拾取设备72具有一个推送器(第一推送器73)，所述推送器具有相应的端部执行器(第一端部执行器74)，而第二拾取设备82具有两个推送器83a、83b(第二推送器83a和第三推送器83b)，所述推送器83a、83b并排地安装，并且分别具有相应的端部执行器84a、84b(第二端部执行器84a和第三端部执行器84b)。
第二自动处理器80设置为能够从粗略定位器50拾起HGA100，并将所述HGA100传送至精细定位器40，反之亦然；并且能够从精细定位器40拾起HGA100，并将所述HGA100传送至测试套20，反之亦然。由于测试套20在圆盘25上，并且本身可由x-y定位器30移动，因此测试套20至少具有一个预定测试套载入位置，在此测试套20可以从第二拾取设备82接收HGA100。第二自动处理器80需要以较高的精度移动各HGA100，从而当HGA100移动至测试套20进行测试时，不会影响由精细定位器50获得的对HGA100的精细定位。为了获得这种精度，第二自动处理器80沿移动HGA100的方向较短，从而相比第一自动处理器70能够获得更高的精度。为了使第二自动处理器80尽可能地短，粗略定位器工作站39、精细定位器工作站40以及测试套载入位置靠近地进行设置。而且，为了简化自动装置，第一浅盘工作面操作区域62a和第二浅盘工作面操作区域62b、粗略定位器40、精细定位器50、推送器83a、83b、以及测试套20均被同线地设置。第二自动处理器80安装至平台2，以使均安装至平台2的精细定位器50和测试套20实现较好的重合。
为了将HGA100从浅盘载入区域中浅盘110移动至测试套20，可以执行以下的步骤：
1.第一自动处理器70移动至浅盘接收工作台60，并从浅盘110拾起未测试的HGA100。
2.第一自动处理器70移动至粗略定位器工作站39，并将未测试的HGA100设置在粗略定位器40上。
3.第一自动处理器70返回至浅盘接收工作台60。
3.在为测试的HGA100上执行磁化磁头组及去分路。
4.第二自动处理器80使用第二推送器83a和端部执行器84a从粗略定位器40拾起未测试的HGA100。
5.第二自动处理器80移动至精细定位器50，并将未测试的HGA100设置在精细定位器50上，从而对HGA100进行精细定位。
6.第二自动处理器80从精细定位器50拾起HGA100，并将HGA100移动至测试套20上方的位置，夹持器22被启动，而未测试的HGA100从第二自动处理器80释放。
7.接下来，圆盘25将HGA100移动至磁盘5，圆盘25被锁定，从而在执行对HGA100的测试时，自动处理器70、80的所有运动均停止。
8.对磁头101的测试完成之后，圆盘25将HGA100移动回至其HGA载入位置，而已测试的HGA100由第二自动处理器80的第三端部执行器84b拾起。
9.第二自动处理器80移动至粗略定位器工作站39并将已测试的HGA100设置器件在粗略定位器40上(注意，当将已测试的HGA100返回至浅盘载入工作台时，精细定位器50被绕过)。
10.第一自动处理器70移动至粗略定位器工作站39并拾起已测试的HGA100。
11.第一自动处理器70移动至浅盘工作台，并将已测试的HGA100设置器件回浅盘110中。
因为第二自动处理器80的拾取设备82具有两个分离的带有相应端部执行器84a、84b的推送器83a、83b，并由此能够同时保持两个HGA100，因此，可以覆盖两个HGA载入/载出循环，从而上述步骤对于两个HGA100可以同时执行。这样将使测试HGA100的循环时间缩短。特别是，对第一HGA100进行测试的同时，第二未测试的HGA100在粗略定位器工作站39中适当的位置等待。当对第一HGA100的测试完成时，第二自动处理器80将第二拾取设备82移动至粗略定位器工作站39并使用第二推送器83a和端部执行器84a从粗略定位器40拾起未测试的HGA100。随后，未测试的HGA100将第二拾取设备82间断地移动至测试套载入/载出位置，并通过第三推送器83a和端部执行器84b拾起已测试的HGA100。接着第二自动处理器80通过第二推送器83a和端部执行器84a将未测试的HGA100设置在测试套20上。当未测试的HGA100被移动至磁盘5并载入至磁盘5时，已测试的HGA100经由上述步骤返回至浅盘工作台，而新的HGA100从浅盘110移动至粗略定位器40。
尽管尤其通过参考示出的实例对本发明的实施例进行了描述，然而应当理解，可以在本发明的范围内，对所描述的实施例进行变化和修改。

Claims (12)

1.一种用于将读取/写入磁头载入至自旋支架的装置，所述装置包括：
载入区域，用于接收至少一个待测试的磁头；
第一工作站，具有粗略定位器，所述粗略定位器被设置为对所述磁头进行粗略的定位；
第一自动设备，设置为从所述载入区域拾起所述磁头并将所述磁头传送至所述粗略定位器；
平台，具有对所述磁头进行测试的测试工作站，其中，所述载入区域和所述第一自动设备与所述平台机械地隔离开，所述第一工作站与所述平台机械地隔离开，所述平台具有精细定位器，所述精细定位器设置为对所述磁头进行再次精细的定位，并且所述平台具有第二自动设备，所述第二自动设备设置为从所述第一工作站拾起所述磁头并将所述磁头传送至对所述磁头进行再次精细定位的所述精细定位器，且从所述精细定位器拾起所述磁头并将所述磁头传送至所述测试工作站。
2.根据权利要求1所述的装置，其中，所述平台上具有保持所述测试工作站的可移动工作台，所述可移动工作台从在所述平台上的对所述磁头进行测试的第一位置向在所述平台上的从所述第一自动设备接收所述磁头的第二位置移动。
3.根据权利要求2所述的装置，其中，所述可移动工作台包括圆盘，所述圆盘通过在所述圆盘和所述平台之间应用真空而向下锁定至所述平台。
4.根据权利要求1所述的装置，其中，所述第一工作站具有磁化磁头组装置，当所述磁头由所述粗略定位器接收时，所述磁头可通过该磁头组装置而成为磁化磁头组。
5.根据权利要求1所述的装置，其中，所述第一工作站具有去分路器件，当所述磁头由所述粗略定位器接收时，所述磁头被去分路。
6.根据权利要求1所述的装置，其中，所述粗略定位器具有锥形销，用于与组合有所述磁头的磁头万向节组件的基板中的轴套孔对准；以及两个倾斜的销，用于在其间接收及引导所述磁头万向节组件的悬浮臂。
7.根据权利要求1所述的装置，其中，所述精细定位器包括第一锥形销，用于接收在组合有所述磁头的磁头万向节组件的轴套孔中；以及第二锥形销，用于接收在所述磁头万向节组件的加工槽中。
8.一种将读取/写入磁头载入至自旋支架的方法，其中所述自旋支架包括平台，所述方法包括：
1)使用第一自动设备将所述磁头从载入区域传送至第一工作站，所述第一工作站具有粗略定位器，所述载入区域和所述第一自动设备均与所述平台隔离开，而所述粗略定位器被远离所述平台安装；
2)使用所述粗略定位器对所述磁头执行粗略的精确定位操作；
3)使用第二自动设备将所述磁头从所述粗略定位器传送至精细定位器，所述精细定位器和所述第二自动设备安装至所述平台上；
4)使用所述精细定位器对所述磁头执行精细的精确定位操作；
5)使用所述第二自动设备将所述磁头从所述精细定位器传送到安装至所述平台上的测试工作站。
9.根据权利要求8所述的方法，所述方法包括在所述第一工作站对所述磁头执行去分路的操作。
10.根据权利要求8或9所述的方法，所述方法包括在所述第一工作站对所述磁头执行磁化磁头组的操作。
11.根据权利要求8所述的方法，其中，以1)至5)的字面顺序来对于单个磁头执行权利要求8的步骤。
12.根据权利要求11所述的方法，其中第一磁头和第二磁头由所述自旋支架同时进行处理，在对所述第一磁头执行步骤1)和2)的同时对所述第二磁头执行步骤3)、4)和5)。
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Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8179134B2 (en) * 2008-06-30 2012-05-15 Hitachi High-Technologies Corporation Handling robot of magnetic head assembly, magnetic head test method and magnetic head tester
GB2481340B (en) 2009-05-07 2013-10-23 Xyratex Tech Ltd Apparatus and method for receiving and positioning a read/write head to a disk for testing and method of removing a tested read/write head from test apparatus
US8176794B2 (en) * 2009-06-16 2012-05-15 Seagate Technology Llc Unmounted head gimbal assembly clamping plate
US8098460B1 (en) 2009-06-30 2012-01-17 Western Digital Technologies, Inc. Dual-state clamping mechanism
US8094414B1 (en) 2009-07-09 2012-01-10 Western Digital Technologies, Inc. Head gimbal assembly mounting mechanism
WO2011048075A2 (en) 2009-10-22 2011-04-28 Xyratex Technology Limited Spinstands for testing a head gimbal assembly
US8487609B2 (en) 2010-12-14 2013-07-16 Microphysics, Inc. Testing apparatus with read head holder having a gas jet pointing into a channel
US8339747B1 (en) 2011-03-11 2012-12-25 Western Digital Technologies, Inc. Removable actuator assemblies for testing head gimbal assemblies of a storage device
US8705209B2 (en) 2011-10-14 2014-04-22 Western Digital Technologies, Inc. Suspension clamp for clamping a disk drive suspension to an actuator arm
US9773515B2 (en) 2015-04-15 2017-09-26 Guzik Technical Enterprises HGA loader with optical alignment for automated magnetic head testing
US11391787B2 (en) * 2020-03-05 2022-07-19 Seagate Technology Llc HGA circuitry testing systems, methods, and devices

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6229664B1 (en) * 1998-08-24 2001-05-08 International Business Machines Corporation Head-disk interface tester with optically servo controlled rotary voice coil motor actuator
CN1689074A (zh) * 2002-09-20 2005-10-26 安捷伦科技有限公司 自旋支架及磁头/磁盘测试装置

Family Cites Families (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US18314A (en) * 1857-09-29 Improved marine propelling apparatus
US53251A (en) * 1866-03-13 Improvement in attaching and hinging covers to stoves, tea-kettles
US21523A (en) * 1858-09-14 Improvement in breech-loading fire-arms
JPH02294919A (ja) * 1989-05-09 1990-12-05 Hitachi Electron Eng Co Ltd 磁気ヘッドアセンブリのハンドリング機構
DE69221565T2 (de) 1991-08-30 1998-02-12 Canon Kk Kopfpositionierungsgerät
US5315372A (en) 1993-01-04 1994-05-24 Excel Precision, Inc. Non-contact servo track writing apparatus having read/head arm and reference arm
US5627698A (en) 1994-10-14 1997-05-06 International Business Machines Corporation Servo information recording method and apparatus for an enclosed data storage system
US6603629B1 (en) 1996-09-03 2003-08-05 Excel Precision, Inc. Non-contact servo track writing apparatus and method
US5696653A (en) 1996-12-13 1997-12-09 Phase Metrics Tooling for holding a head gimbal assembly
US5774295A (en) 1997-03-14 1998-06-30 Excel Precision, Inc. Servo track writing technique
GB2330189B (en) * 1997-10-10 2001-06-27 Havant Internat Ltd Vibration damping system and servowriter
US6531867B1 (en) 1998-06-17 2003-03-11 Dover Instrument Corp. High stability spin stand platform with air bearing micropositioning stage
AU7021800A (en) * 1999-09-20 2001-04-24 Westwind Air Bearings Ltd. Manufacture of data storage devices
JP2001311606A (ja) 2000-04-28 2001-11-09 Canon Inc 位置ずれ検出装置及び該装置を用いた磁気記録装置
JP4182463B2 (ja) 2000-07-19 2008-11-19 富士電機デバイステクノロジー株式会社 磁気ディスク評価装置およびその方法
AU2001292726A1 (en) 2000-09-19 2002-04-02 Microesystems, Inc. Interface component a positioning system and method for designing an interface component
US6930850B2 (en) * 2000-11-13 2005-08-16 Kyodo Denshi System Co., Ltd. Head clamping apparatus for magnetic disk tester and magnetic disk tester
US6867949B1 (en) 2001-04-19 2005-03-15 Maxtor Corporation Vibration-damped push-pin assembly for disk drive servo writing
US7154699B2 (en) * 2001-07-02 2006-12-26 Seagate Technology Llc High bandwidth large stroke spin-stand
JP3987811B2 (ja) * 2003-03-20 2007-10-10 株式会社日立ハイテクノロジーズ Ｘｙステージ、ヘッドキャリッジおよび磁気ヘッドあるいは磁気ディスクのテスタ
US7529635B2 (en) 2004-02-12 2009-05-05 Seagate Technology, Llc Method and apparatus for head gimbal assembly testing
US7131346B1 (en) * 2004-10-15 2006-11-07 Western Digital (Fremont), Inc. Spin stand testing system with fine positioner for head stack assembly
US7171845B2 (en) * 2005-02-16 2007-02-06 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Apparatus for measurement of friction force at the interface of a slider and rotating disk
US7221532B1 (en) * 2005-05-06 2007-05-22 Maxtor Corporation Disk drive servo writing using stylus to sense vibration between an actuator arm and a servo writer push-arm
US7133244B1 (en) * 2005-08-12 2006-11-07 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Method and system for optimizing servo track writing motor current profile to reduce written-in high-frequency repeatable runout track mis-registration
US7345842B2 (en) * 2005-08-12 2008-03-18 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Method and system for optimized servo track writing motor current profile to reduce written-in high-frequency repeatable runout track mis-registration

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6229664B1 (en) * 1998-08-24 2001-05-08 International Business Machines Corporation Head-disk interface tester with optically servo controlled rotary voice coil motor actuator
CN1689074A (zh) * 2002-09-20 2005-10-26 安捷伦科技有限公司 自旋支架及磁头/磁盘测试装置

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Publication number Publication date
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