CN101119185B - 自动等化器装置及其数字眼图侦测单元与方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种自动等化器装置和等化器装置内部参数的调整方法，以及相应的眼图侦测单元与方法。此自动等化器装置包括等化器单元、取样单元以及眼图侦测单元，其中等化器单元将第一信号等化处理为第二信号，取样单元过取样第二信号并依据取样数据判断第二信号的逻辑状态，眼图侦测单元处理取样数据，并依据处理结果输出表示眼图是否正常的侦测信号，而等化器单元还依据侦测信号而决定是否调整其参数。本发明采用简单的硬件结构即可侦测出输入信号的眼图是否正常，实现对等化器内部参数的准确调整。

Description

自动等化器装置及其数字眼图侦测单元与方法

技术领域

本发明是有关于一种信号接收装置，且特别是有关于在信号接收装置中一种具有眼图侦测功能的自动等化器及其数字眼图侦测单元与方法。

背景技术

随着数字时代的来临，数字产品与可携式产品持续领导潮流，各种关键技术与应用高度结合，产品设计走向高速、简单与个性化。有线/无线信号传输速度日益提高，产品设计者将必须面对更多信号完整性(SignalIntegrity)与传输介质频宽是否足够的挑战。一般来说，当传输介质频宽不够时，高速的信号会被衰减较多，如此一来眼图(eye diagram)会因此而不佳，以致造成错误位(Bit error)。

为了让在特定的传输介质(例如RG-58 coaxial cable)中传递更快速的信号，传统上是将被衰减的高频信号补偿回来，如此一来就可以传更快的信号而不会产生错误位，这就是所谓的等化器(equalizer)扮演的功能。等化器可以置于发射端也可放在接收端，但是置于发射端的等化器因为无法直接侦测到传输介质的频率响应，所以其等化器参数需由使用者决定，而无法自动调整，除非接收端将所侦测到的信号再回送给发射端。因接收端的信号为经由传输介质传递而来，所以只要侦测其眼图就可以知道传输介质的频率响应，因此在接收端的等化器可以自动调整。

在眼图侦测方面，已知的作法是去测量差动信号的「眼图」。经由对眼图加以量化及分析，可以判定传输信号品质优劣及信号时序偏移量。

图1所绘示为已知一种具有眼图侦测功能的接收装置的架构图。已知的眼图侦测器110包含了比较器111、112与相位内插器113。眼图侦测作法为利用比较器111、112侦测眼图的高度，并利用相位内插器侦测眼图的宽度，以便实际侦测出眼图的大小。再依照不同需求来对等化器120的参数进行调整，以达到补偿频宽并改善接收到的信号品质的目的。相关技术的详细内容请参照美国专利公告号US 6784653B2以及2005年电机电子工程师协会(Institute of Electrical and Electronic Engineers，IEEE)的固态电路期刊第40卷第12期第2689-2699页(IEEE JOURNAL OF SOLID-STATECIRCUITS，VOL.40，NO.12，DECEMBER 2005)「A 10-Gb/s Two-DimensionalEye-Opening Monitor in 0.13-μm Standard CMOS」等已知技术。

然而，已知的眼图侦测器由于需要比较器与相位内插器来做眼图侦测，因而将造成芯片使用面积增加并且增加耗电量的缺点。尤其在操作频率不断提升的趋势下，前述缺点更加不容忽视。

发明内容

本发明的目的在于提供一种自动等化器装置，藉由简单的硬件结构即可实现对等化器内部参数的准确调整。

本发明的另一目的在于提供一种等化器装置内部参数的调整方法，可以简单方便地侦测出输入信号眼图是否正常，并实现对等化器内部参数的准确调整。

本发明的再一目的包括提供一种眼图侦测单元，可用较少的元件以及更低的耗电量，达到侦测眼图的目的。

本发明的又一目的包括提供一种眼图侦测方法，可以简单方便地实现对输入信号眼图是否正常的侦测。

基于上述及其他目的，本发明提出一种自动等化器装置，用来将所接收的第一信号转换为第三信号，此自动等化器装置包括等化器单元、取样单元以及眼图侦测单元。其中等化器单元用来接收第一信号并进行等化处理，并将处理结果输出为第二信号，取样单元则电性连接于等化器单元，取样单元接收第二信号并对第二信号进行过取样(over-sampling)，以得出多个取样数据，眼图侦测单元电性连接于取样单元与等化器单元，眼图侦测单元用以处理取样单元的取样数据，输出一表示眼图是否正常的侦测信号；其中，该等化器单元还根据该侦测信号来确定是否调整其内部参数。

依照本发明的较佳实施例所述自动等化器装置，上述的等化器单元包括等化器与演算单元。等化器依据内部参数接收第一信号并进行等化处理，并将处理结果输出为第二信号。演算单元则电性连接于眼图侦测单元与等化器，用以决定上述内部参数并输出给等化器，其中演算单元还根据眼图侦测单元输出的侦测信号来确定是否调整其内部参数。

从另一观点来看，本发明提出一种眼图侦测单元。此眼图侦测单元应用于自动等化器装置中，此眼图侦测单元包括了逻辑电路，此逻辑电路用来接收对等化处理后信号进行过取样得到的过取样数据，判断该些取样数据中是否有连续设定数目以上的取样数据落在眼图中，并据以输出一侦测信号。

依照本发明的较佳实施例所述眼图侦测单元，当所过取样的点中有设定数目以上落在眼图中时，侦测信号电平保持为第一电平，反之，侦测信号电平将暂时转态为第二电平。

依照本发明的较佳实施例所述眼图侦测单元，所述逻辑电路包括N组输入数据，其中N-M+1组数据是从N个连续取样数据中按不同方式取出连续的M个取样数据得到的；另外M-1组数据是从该N个连续取样数据中按不同方式去掉中间的N-M个连续取样数据后，将余下的前部取样数据的反相信号和后部取样数据或者余下的后部取样数据的反相信号和前部取样数据作为一组得到的；所述逻辑电路在该N组数据中有任意一组的M个输入的电平都相同时，则判断有该设定数目及以上的连续取样数据落在眼图中，输出的该侦测信号电平保持为一第一电平，反之，输出的该侦测信号的电平为一第二电平，其中N为过取样倍数，M为该设定数目。

依照本发明的较佳实施例所述眼图侦测单元，上述的逻辑电路包括N个异或门与一个与非门。其中N个异或门中每一个异或门分别接收一组取样数据，与非门的输入端接收N个异或门的输出，与非门输出端输出侦测信号。

从另一观点来看，本发明提出一种眼图侦测方法，包括步骤：a.过取样一经等化处理后的输入信号，以获得多个取样数据；b.判断该些取样数据中是否连续设定数目以上取样数据落在眼图中；以及c.根据该判断结果侦测该输入信号的眼图是否正常。

依照本发明的较佳实施例所述眼图侦测方法，上述步骤b中，是从N个连续取样数据中按不同方式取出连续的M个取样数据，得到N-M+1组数据；以及从该N个连续取样数据中按不同方式去掉中间的N-M个连续取样数据后，将余下的前部取样数据的反相信号和后部取样数据或者余下的后部取样数据的反相信号和前部取样数据作为一组，得到另外M-1组数据，共N组数据；当该N组数据中有任意一组的M个输入的电平都相同时，则判断有该设定数目及以上的连续取样数据落在眼图中，并在步骤c中判定该输入信号的眼图正常，否则，判定该输入信号的眼图异常；其中，N为过取样倍数，M为该设定数目。

依照本发明的较佳实施例所述眼图侦测方法，上述步骤b中是分别对上述N组输入数据进行异或运算，获得N个异或运算结果；然后将该些异或运算结果进行与非运算，获得该判断结果。

从另一观点来看，本发明提出一种等化器装置内部参数的调整方法，包括步骤：a.对输入的第一信号进行等化处理，得到第二信号，然后对该第二信号进行过取样，获得多个取样数据；b.判断该些取样数据中是否有设定数目及以上的连续取样数据落在眼图中；c.根据该判断结果侦测该输入信号的眼图是否正常，并输出一侦测信号；以及d.根据该侦测信号来确定是否调整该等化器装置的内部参数。

依照本发明的较佳实施例所述眼图侦测方法，所述步骤c中若侦测出该输入信号的眼图为正常，则输出的该侦测信号于设定时间内保持为一第一电平，所述步骤d中不对该内部参数进行调整；所述步骤c中若侦测出该输入信号的眼图为异常，则输出的该侦测信号转态为一第二电平，所述步骤d中对该内部参数进行调整。

本发明利用对输入信号采用过取样技术，并藉由判断取样数据，以侦测眼图是否正常，并以此决定是否要对等化器进行参数的调整。本发明可大幅减少使用元件的数量，不但能减少芯片面积，另外还可降低耗电量，达到省电效果。另外，藉由对等化器进行内部参数的调整，将能达到降低位错误率并提升传输品质的效果。

为让本发明的上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂，下文将结合实施例，参照附图，作详细说明。

附图说明

图1是已知的一种具有眼图侦测自动等化器装置的架构图。

图2是本发明一较佳实施例所述的一种具眼图侦测自动等化器装置的架构图。

图2A是图2所述的自动等化器装置中信号传送时序图。

图3是本发明一较佳实施例所述的眼图侦测单元中逻辑电路的电路图。

图4A～4C是本发明一较佳实施例所述的眼图侦测结果为正常的示意图。

图5是本发明一较佳实施例所述的眼图侦测结果为异常的示意图。

具体实施方式

位错误率(bit error rate，简称为BER)，代表侦测错误的比例数目，为一种数字系统品质的量测方法的参考。举例来说，如果每100个决定有1个错误，则BER即为1除以100也就是0.01。对于信号传送系统的接收装置而言，过取样(Over-sampling)技术便被广泛用来降低位错误率，并增强对信号的抖动(jitter)的容忍度。在以下实施例中将使用过取样技术作为侦测信号品质的量测方法。

图2是按照本发明一较佳实施例所绘的一种具眼图侦测的自动等化器装置架构图。此自动等化器装置包括等化器单元210、取样单元203以及眼图侦测单元205。其中眼图侦测单元205包括逻辑电路206；等化器单元210包括等化器201以及演算单元207。于本实施例中，取样单元203可以是时钟数据恢复电路。

首先，等化器201接收第一信号Si(在本实施例中输入等化器201的第一信号Si为一差动信号)，等化器201依据内部参数而对第一信号Si进行等化处理后，输出第二信号S1至取样单元203，在本实施例中第二信号S1为一全振幅(full swing)信号。取样单元203接收第二信号S1后，使用过取样技术对第二信号S1进行取样以获得多个取样数据Ds，其中取样单元203还依据取样数据Ds判断第二信号S1的逻辑状态，并将判断结果输出为第三信号Sout。于本实施例中，逻辑电路206是利用取样单元203内部所产生的取样数据Ds进行逻辑运算。此逻辑电路206用来判断目前的眼图是否够好(good enough)而不会或不易产生错误位，这也就是数字眼图侦测的概念，在此只要判断出够好而不至于产生错误位即可。当取样数据Ds中连续一预定数量以上(例如一半以上)的取样数据电平保持为某一值时，则于一段时间之内，逻辑电路206输出的侦测信号Sd将保持在为第一电平，反之，输出的侦测信号Sd将会暂时落到第二电平。在本实施例中，第一电平例如为高电平，而第二电平例如为低电平。所以只有当侦测信号Sd于一段时间内保持在第一电平时，则表示眼图为够好。而侦测信号Sd持续为第一电平的时间多久才可判眼图为够好，则需根据不同应用而有不同的设计，对于熟悉本领域的人员而言，此仅为设计的选择，并不对本发明的范围作限定。于本实施例中可以由演算单元207来确定前述时间的长短。逻辑电路206将侦测信号Sd传送至演算单元207。演算单元207目的之一即是判断侦测信号Sd保持为第一电平的时间是否够久，如果够久则表示其眼图够好，则演算单元207保留此一适当的内部参数而不调整。若于一段时间内，侦测信号Sd有出现低电平的情形，表示第二信号S1的眼图不良，亦即表示演算单元207目前所输出的内部参数并不适用，则演算单元207将控制等化器201以调整其内部参数，直到逻辑电路206输出的侦测信号Sd于一段时间内皆保持在高电平。

此领域具有通常知识者可以任何方式实现等化器单元210与取样单元203，例如采用本说明书所述及的已知技术实现。为方便说明，以下实施例将假设取样单元203是时钟数据恢复电路，并假设取样单元203是以五倍取样率来对第二信号S1进行取样。

图2A是按照本发明一较佳实施例所绘图2自动等化器装置中的信号时序图，请同时参见图2与图2A。首先，等化器201接收第一信号Si(在本实施例中为一差动信号)。等化器201依据内部参数而对第一信号Si进行等化处理后，输出第二信号S1至取样单元203。在本实施例中，第二信号S1为一全振幅(full swing)信号，第二信号S1的JP片段表示第一信号Si因受到噪声等因素影响，发生抖动(jitter)现象，若取样数据是位于JP片段中，则取样数据的电平为不确定值。第二信号S1的SP片段表示信号未受到噪声等因素干扰，若取样数据是位于SP片段中，则取样数据的电平将互为一致。图2A中所标示「最小振幅」代表输入信号(第一信号Si)的最小振幅，其使等化器201可以将输入端的小振幅信号转为全振幅(full swing)信号，却不至于产生过大的抖动(jitter)而使得错位(bit error)发生。

在本实施例中，将假设取样单元203是以五倍过取样的技术来取样第二信号S1。图2A中D0、D1、...、D4分别表示取样单元203内部取样数据Ds中第1个至第5个取样数据。由图2A可知D1、D2、D3落在眼图中，而D0与D4则否，以此得知取样数据D1～D3的电平值必为相同，而取样时序落于眼图外的取样数据D0、D4的电平则为不确定值。再将取样数据Ds(在本实施例为取样数据D0～D4)输入逻辑电路206，以产生侦测信号Sd。其中，若等化器201接收到的第一信号Si品质良好，即第一信号Si振幅较大，则得出的眼图将较长，此时取样数据不易落于眼图以外，代表眼图够好而不至于产生错误位。相反的，若等化器201接收到的第一信号Si在受噪声等因素干扰下，则第一信号Si振幅较小，则得出的眼图将较短，此时取样数据易落于眼图以外，代表眼图不够好而产生错误位。

图3是按照本发明一较佳实施例所绘的眼图侦测单元中逻辑电路的电路图。请同时参见图2与图3，其中D0～D4分别表示取样数据Ds中第1个至第5个取样数据，取样数据D3B与D4B分别代表取样数据D3与D4的反相信号，301、303、305、307、309为异或门(XOR)，310为与非门(NAND)。其中各个异或门的输出都连接到与非门310的输入端，与非门310输出侦测信号Sd。在本实施例中，眼图侦测单元中逻辑电路206是藉由多个异或门与一个与非门所组成，但不以此为限。

图4A～4C是按照本发明一较佳实施例所绘的眼图侦测结果为正常的示意图。在本实施例中，为方便说明，仅以五倍过取样为例子作说明，但实际上自当不以此为限。

首先请同时参见图2与图4A，取样单元203以五倍过取样对第二信号S1作取样并得出取样数据，分别为D0、D1、D2、D3、D4。由图可知，由于取样数据D1、D2、D3的取样时序落于眼图中，因此取样数据D1～D3的值必为相同。取样时序落于眼图外的取样数据D0、D4为不确定值。

将取样值D0～D4作为图3中的5个异或门301～309的输入，再将各异或门301～309的输出结果输入与非门310。以图4A为例，由于D1、D2、D3的电平值皆相同，因此异或门303输出的值为0。另外，由于取样数据D0、D4的值不同于取样数据D1～D3，因此异或门301、305、307、309输出为1。由上述可知，异或门301～309的输出依序为1、0、1、1、1。将异或门301～309的运算结果输入与非门310做与非运算后，得到的侦测信号Sd保持在高电平，表示在五个取样数据中，至少有连续三个取样数据落在眼图中，因此第一信号Si的眼图侦测结果正常，演算单元207可以保持目前的内部参数不变。

图4B则为眼图侦测结果为正常的另一较佳实施例示意图。请参见图4B，取样单元203以五倍过取样对第二信号S1作取样并得出取样数据，分别为D0、D1、D2、D3、D4。由图可知，由于取样数据D0、D1、D4的取样时序落于眼图中，因此取样数据D0、D1、D4B的值必为相同。取样时序落于眼图外的取样数据D2、D3为不确定值。由于D0、D1、D4B的电平值皆相同，因此异或门307输出的值为0。另外，由于取样数据D2、D3的值不同于取样数据D0、D1、D4B，因此异或门301、303、305、309输出为1。由上述可知，异或门301～309的输出依序为1、1、1、0、1，输入与非门310做与非运算后，得到的侦测信号Sd保持在高电平，表示在五个取样数据中，至少有连续三个取样数据落在眼图中，因此第一信号Si眼图侦测结果正常，演算单元207可以保持等化器201的参数不变。由图4B可知，即使取样单元203的取样相位并不正确，亦即过取样数据的位置并非在正中央，逻辑电路206仍然可以依据取样数据D0～D4判断出第一信号Si的眼图是否够好。

图4C为眼图侦测结果为正常的另一较佳实施例示意图。取样单元203以五倍过取样对第二信号S1作取样并得出取样数据D0～D4。由图可知，由于取样数据D0～D4的取样时序均落于眼图中，因此取样数据D0～D4的值必为相同。由于D0～D4的电平值皆相同，因此异或门301、303、305输出的值为0。另外，由于取样数据D3B、D4B的值不同于取样数据D0～D4，因此异或门307、309输出为1。由上述可知，异或门301～309的输出依序为0、0、0、1、1，输入与非门310做与非运算后，得到的侦测信号Sd保持在高电平，表示在五个取样数据中，至少有连续三个取样数据落在眼图中，因此第一信号Si眼图侦测结果正常，演算单元207保持等化器201的参数不变。由图4C可知，由于图4C的第一信号Si的高度与图4A第一信号Si不同，所得到的眼图也因此不同。然而，即使图4A与图4C的眼图不同，但是最后经过逻辑电路206的运算后，得到的侦测信号Sd皆保持在高电平，因此眼图侦测结果的正确性并不因此而受影响。只要取样数据中有连续一半以上的取样数据电平相同，即可判断出眼图的侦测结果为正常(表示眼图够好而不至于产生错误位)。

以上是过取样倍数为5，连续3个取样数据落在眼图中时侦测眼图为正常的一个示例。当过取样倍数为N，判断眼图为正常时的落入眼图中的连续取样数据数目设定为M时，按相同原理，该逻辑电路应包括N组输入数据，其中N-M+1组数据是从N个连续取样数据中按不同方式取出连续的M个取样数据得到的；另外M-1组数据是从该N个连续取样数据中按不同方式去掉中间的N-M个连续取样数据后，将余下的前部取样数据的反相信号和后部取样数据或者余下的后部取样数据的反相信号和前部取样数据作为一组得到的；所述逻辑电路在该N组数据中有任意一组的M个输入的电平都相同时，则判断有该设定数目M及以上的连续取样数据落在眼图中，输出的该侦测信号电平保持为一第一电平，反之，输出的该侦测信号的电平为一第二电平。具体的，可以将该N组数据分别输入N个异或门，将再该N个异或门的输出连接到一个与非门的输入端，则该与非门的输出即为该侦测信号。当该侦测信号为高电平时，表示眼图正常，反之，表示眼图异常。不过熟悉本领域的人员可以根据该逻辑设计出很多等同的逻辑电路，这些变换也应当属于本发明的保护范围。

此外，为了提高量测上的准确性，防止噪声等因素影响检测结果，我们可以藉由延长量测时间(例如由1毫秒(ms)延长至10毫秒)，换言之，也就是于不同时间进行多次的取样动作，以提高眼图侦测结果的可信度。至于量测时间可视需要作调整。

图5是按照本发明一较佳实施例所绘的眼图侦测结果为异常的示意图。取样单元203以五倍过取样对第二信号S1作取样并得出取样数据，分别为D0、D1、D2、D3、D4。由图可知，由于只有取样数据D1、D2的取样时序落于眼图中，因此取样数据D1、D2的值必为相同。取样时序落于眼图外的取样数据D0、D3、D4为不确定值。由于只有D1、D2的电平值相同，因此异或门301～309输出的值有时皆会为1(亦即无法保持至少其中之一为0的情形)。由上述可知，异或门301～309的输出经由与非门310做与非运算后，得到的侦测信号Sd无法保持在高电平(亦即有时为低电平)，表示在五个取样数据中，并未出现至少连续三个取样数据落在眼图中，因此第一信号Si眼图侦测结果异常，演算单元207需要对等化器201的参数进行调整。演算单元207的调整方式例如是在演算单元207内建一个查找表(look uptable)，其中包含多组预设参数。演算单元207并包含一计时器，用以计时侦测信号Sd保持在高电平的时间。当侦测信号Sd于一段时间内保持为高电平，也就是眼图侦测结果正常时，演算单元保持目前于该查找表中所选择的一组预设参数作为所输出的内部参数。当侦测信号Sd有时为低电平，也就是眼图侦测结果异常时，演算单元207便选取另外一组预设参数给等化器201以作为调整。若等化器201的参数调整后，侦测信号Sd仍有时会转态为低电平，表示眼图侦测结果仍为异常，此时演算单元207便再选取一组未使用过的参数给等化器201，直到侦测信号Sd最终保持在高电平为止。

综上所述，本发明利用过取样技术以侦测输入信号眼图是否正常，并以此决定是否要对等化器进行参数的调整。本发明的侦测眼图装置与已知技术相较下，已知技术是由一个回馈电路对输入信号作补偿，使用的方法包括利用比较器侦测眼图的高度，并利用相位内插器侦测眼图的宽度，以实际侦测出眼图的大小，而本发明利用数字眼图侦测方法，以过取样输入信号，以获得多个取样数据的方式进行数字眼图侦测，使用本发明的架构将使用元件大幅减少，因此可缩小芯片面积以降低成本，另外还可降低耗电量，达到省电效果。

虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，但本发明所述装置及方法并不仅仅限于说明书和实施方式中所列运用，它完全可以被适用于各种适合本发明的领域，对于熟悉本领域的人员而言可容易地实现另外的优点和进行修改，因此在不背离权利要求及等同范围所限定的一般概念的精神和范围的情况下，本发明并不限于特定的细节、代表性的设备和这里示出与描述的图示示例。

Claims (19)

1.一种自动等化器装置，用以将所接收的一第一信号转换为一第三信号，其特征在于包括：

一等化器单元，用以接收该第一信号并进行等化处理，并输出一第二信号；

一取样单元，电性连接于该等化器单元，该取样单元接收并对该第二信号进行过取样(over-sampling)，以得出多个取样数据，其中该取样单元还依据该些取样数据判断该第二信号的逻辑状态，并将判断结果输出为该第三信号；以及

一眼图侦测单元，电性连接于该取样单元与该等化器单元，该眼图侦测单元用于侦测该些取样数据中是否有设定数目及以上的连续取样数据落在眼图中，进而输出一表示眼图是否正常的侦测信号；

其中，该等化器单元还根据该侦测信号判断眼图是否够好来确定是否调整其内部参数。

2.根据权利要求1所述的自动等化器装置，其特征在于：该眼图侦测单元侦测到该些取样数据中有设定数目及以上的连续取样数据落在眼图中时，输出的该侦测信号电平为一第一电平，反之，输出的该侦测信号电平将暂时转态为一第二电平。

3.根据权利要求1所述的自动等化器装置，其特征在于：所述等化器单元包括：

一等化器，其依据上述内部参数接收该第一信号并进行等化处理，并将处理结果输出为该第二信号；以及

一演算单元，电性连接于该眼图侦测单元与该等化器，用以决定上述内部参数并输出给该等化器，其中该演算单元根据该侦测信号来确定是否调整其内部参数。

4.根据权利要求3所述的自动等化器装置，其特征在于：所述演算单元包括：

一查找表，其包含多组预设参数；以及

一计时器，用以记录该侦测信号保持在第一电平的时间；

其中该演算单元在该查找表中选择其中一组预设参数作为上述内部参数，且该演算单元还根据该侦测信号的电平与该计时器的计时结果来决定是否于该查找表中选择其他组预设参数作为该内部参数。

5.根据权利要求3所述的自动等化器装置，其特征在于：

该眼图侦测单元侦测到该些取样数据中有设定数目及以上的连续取样数据落在眼图中时，输出的该侦测信号电平为一第一电平，反之，输出的该侦测信号电平将暂时转态为一第二电平；

该演算单元检测到所述侦测信号的电平在一段时间内保持为一第一电平时，不调整该内部参数；当该侦测信号电平转态为一第二电平时，则调整该内部参数。

6.根据权利要求1所述的自动等化器装置，其特征在于：所述眼图侦测单元包括一逻辑电路，该逻辑电路用以判断该些取样数据中是否有设定数目及以上的连续取样数据落在眼图中，并据以输出该侦测信号。

7.根据权利要求6所述的自动等化器装置，其特征在于：所述逻辑电路包括N组输入数据，其中N-M+1组数据是从N个连续取样数据中按不同方式取出连续的M个取样数据得到的；另外M-1组数据是从该N个连续取样数据中按不同方式去掉中间的N-M个连续取样数据后，将余下的前部取样数据的反相信号和后部取样数据或者余下的后部取样数据的反相信号和前部取样数据作为一组得到的；所述逻辑电路在该N组数据中有任意一组的M个输入的电平都相同时，则判断有该设定数目及以上的连续取样数据落在眼图中，输出的该侦测信号电平保持为一第一电平，反之，输出的该侦测信号的电平为一第二电平，其中N为过取样倍数，M为该设定数目。

8.根据权利要求7所述的自动等化器装置，其特征在于：所述逻辑电路包括：

N个异或门，每一异或门分别接收该N组输入数据中的一组；以及

一与非门，其输入端接收该些异或门的输出，输出端输出该侦测信号。

9.一种数字眼图侦测单元，应用于一自动等化器装置中，其中该眼图侦测单元包括：

一逻辑电路，用以接收对等化处理后信号进行过取样得到的过取样数据，判断该些取样数据中是否有连续设定数目以上的取样数据落在眼图中，并据以输出一侦测信号。

10.根据权利要求9所述的数字眼图侦测单元，其特征在于：所述眼图侦测单元在所述过取样的点中有设定数目以上落在眼图中时，输出的侦测信号电平保持为第一电平，反之，输出的侦测信号电平将暂时转态为第二电平。

11.根据权利要求9所述的数字眼图侦测单元，其特征在于：所述逻辑电路包括N组输入数据，其中N-M+1组数据是从N个连续取样数据中按不同方式取出连续的M个取样数据得到的；另外M-1组数据是从该N个连续取样数据中按不同方式去掉中间的N-M个连续取样数据后，将余下的前部取样数据的反相信号和后部取样数据或者余下的后部取样数据的反相信号和前部取样数据作为一组得到的；所述逻辑电路在该N组数据中有任意一组的M个输入的电平都相同时，则判断有该设定数目及以上的连续取样数据落在眼图中，输出的该侦测信号电平保持为一第一电平，反之，输出的该侦测信号的电平为一第二电平，其中N为过取样倍数，M为该设定数目。

12.根据权利要求10所述的数字眼图侦测单元，其特征在于：所述逻辑电路包括：

N个异或门，每一异或门分别接收该N组输入数据中的一组；以及

一与非门，其输入端接收该些异或门的输出，输出端输出该侦测信号。

13.一种数字眼图侦测方法，包括：

a.过取样一经等化处理后的输入信号，以获得多个取样数据；

b.判断该些取样数据中是否连续设定数目以上取样数据落在眼图中；以及

c.根据该判断结果侦测该输入信号的眼图是否正常。

14.根据权利要求13所述的数字眼图侦测方法，其特征在于：

所述步骤b中，是从N个连续取样数据中按不同方式取出连续的M个取样数据，得到N-M+1组数据；以及从该N个连续取样数据中按不同方式去掉中间的N-M个连续取样数据后，将余下的前部取样数据的反相信号和后部取样数据或者余下的后部取样数据的反相信号和前部取样数据作为一组，得到另外M-1组数据，共N组数据；

当该N组数据中有任意一组的M个输入的电平都相同时，则判断有该设定数目及以上的连续取样数据落在眼图中，并在步骤c中判定该输入信号的眼图正常，否则，判定该输入信号的眼图异常；

其中，N为过取样倍数，M为该设定数目。

15.根据权利要求14所述的数字眼图侦测方法，其特征在于：所述步骤b中是分别对该N组输入数据进行异或运算，获得N个异或运算结果；然后将该些异或运算结果进行与非运算，获得该判断结果。

16.一种等化器装置内部参数的调整方法，包括以下步骤：

a.对输入的第一信号进行等化处理，得到第二信号，然后对该第二信号进行过取样，获得多个取样数据；

b.判断该些取样数据中是否有设定数目及以上的连续取样数据落在眼图中；

c.根据该判断结果侦测该输入信号的眼图是否正常，并输出一侦测信号；以及

d.根据该侦测信号来确定是否调整该等化器装置的内部参数。

17.根据权利要求16所述的等化器装置内部参数的调整方法，其特征在于：

所述步骤b中，是从N个连续取样数据中按不同方式取出连续的M个取样数据，得到N-M+1组数据，以及从该N个连续取样数据中按不同方式去掉中间的N-M个连续取样数据后，将余下的前部取样数据的反相信号和后部取样数据或者余下的后部取样数据的反相信号和前部取样数据作为一组，得到另外M-1组数据，共N组数据；

当该N组数据中有任意一组的M个输入的电平都相同时，则认为有该设定数目及以上的连续取样数据落在眼图中，其中，N为过取样倍数，M为该设定数目。

18.根据权利要求16所述的等化器装置内部参数的调整方法，其特征在于：所述步骤c中若侦测出该输入信号的眼图为正常，则输出的该侦测信号于设定时间内保持为一第一电平，所述步骤d中不对该内部参数进行调整；以及

所述步骤c中若侦测出该输入信号的眼图为异常，则输出的该侦测信号转态为一第二电平，所述步骤d中对该内部参数进行调整。

19.根据权利要求17所述的等化器装置内部参数的调整方法，其特征在于：所述步骤b中是分别对该N组输入数据进行异或运算，获得N个异或运算结果；然后将该些异或运算结果进行与非运算，获得该判断结果。

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