CN101110236A

CN101110236A - 光拾取装置

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Publication number: CN101110236A
Application number: CNA2007101366477A
Authority: CN
Inventors: 森和思; 日比野克俊; 永富谦司; 高木直之
Original assignee: Sanyo Electric Co Ltd
Current assignee: Sanyo Electric Co Ltd
Priority date: 2006-07-20
Filing date: 2007-07-18
Publication date: 2008-01-23
Anticipated expiration: 2027-07-18
Also published as: US20080019254A1; CN101110236B; JP2008027507A

Abstract

提供一种光拾取装置，从光源射出的激光由衍射光栅分割为主光束和两个副光束。在准直透镜和物镜之间配置有滤光器。在滤光器中以规定的图案配置有滤光部，该滤光部处于当激光以平行光的状态入射时的入射角就赋予最大的透过率或最大的反射率。滤光部成为以下图案：至少抑制由作为照射对象的记录层以外的层所反射的激光入射到副光束用传感器图案中。

Description

光拾取装置

技术领域

本发明涉及光拾取装置，尤其涉及一种适于在对层叠配置有多个记录层的光盘照射激光之际所使用的光拾取装置。

背景技术

在对CD(Compact Disc)或DVD(Digital Versatile Disc)等光盘进行信息记录再生的光盘驱动器中，配设有用于使激光会聚于光盘记录面上的光拾取装置。

图17表示光拾取装置的基本结构。图中，11为半导体激光器，12为衍射光栅，13为分光器，14为准直透镜，15为物镜，16为柱面透镜，17为光检测器。

从半导体激光器11输出的激光由衍射光栅分割为主光束(0级次衍射光)和两个副光束(±1级次衍射光)，入射到分光器13。透过分光器13的激光由准直透镜14变换为大致平行光，由物镜15分别聚光在光盘记录面上。

来自光盘的反射光逆着光盘入射时的光路行进，其一部分由分光器13反射。并且，由柱面透镜16导入像散之后，聚光在光检测器17的受光面上。此外，如图17所示的结构例中，作为聚焦误差的检测方法使用像散法。

图18A是表示光盘记录面上的3光束(主光束、副光束)的光斑配置的图。此外，该图表示在配置有沟槽(groove)和槽间平坦区(land)的光盘上3束光聚光后的状态。

如图18A所示，在记录再生动作时，主光束聚光在沟槽上，两个副光束分别聚光在夹持该沟槽的两侧的槽间平坦区上。此外，该光斑配置用来良好地进行基于后述的差动推挽法的跟踪误差检测。

图18B是表示光盘记录面上的主光束和两个副光束的光强度分布的图。

对光盘的记录仅由主光束来进行，两个副光束在跟踪误差信号和聚焦误差信号的生成中被使用。在此，主光束的光强度设定得比副光束的光强度高数级。这是为了在记录之时高效地利用来自半导体激光11的激光输出。即，对光盘的记录速度越是记录面上的激光的强度变高就越变为高速。因此，按照记录中使用的主光束的强度分配的量要高数级的方式，将来自半导体激光11的激光输出分配为主光束和副光束。

此外，主光束和副光束的光强度比由衍射光栅12的衍射效率(通常为光栅深度)来决定。通常，主光束的强度设为副光束的强度的10～18倍。该比率直接反映为光检测器17的受光面上的主光束和副光束的强度比。

图19A是说明基于差动推挽法的跟踪误差检测的原理的图。

图19A中，171、172、173是配置在光检测器17上的4分割传感器。主光束由4分割传感器171接收，两个副光束分别由4分割传感器172、173接收。此外，图19A示出了4分割传感器171、172、173上的主光束和副光束的聚光光斑。另外，在各光斑内示意表示有光强度分布，按照越是光强度高的部分越接近涂黑裂瓣(黒の塗りつぶし)的方式施加阴影。

如图19A那样由A～L表示4分割传感器171、172、173的各传感器部，当传感器部A～L的检测输出分别为PA～PL时，差动推挽信号(DPP)由以下式赋予。

DPP＝{(PA+PB)-(PC+PD)}-k1·{(PE+PF+PI+PJ)-(PG+PH+PK+PL)}

...(1)

在此，系数k1相当于副受光部的灵敏度倍率，按照主光束的检测输出与两个副光束的检测输出的合计相等的方式进行设定。

如上述图18A所示，当处于主光束聚光在信息道(沟槽)的中心位置的状态时，光检测器17的受光面上的主光束和两个副光束的光斑状态变为图19A的(a-2)的状态。此时，各光斑的光强度分布相对4分割传感器的一个分隔线成为对称。从而，当对上述式(1)进行运算时，差动推挽信号(DPP)就成为DPP＝0。

从上述图18A所示的状态，当主光束沿径向方向(纸面上下方向)变位时，光检测器17的受光面上的主光束和两个副光束的光斑状态变为图19A的(a-1)或(a-3)。此外，图19A的(a-1)及(a-3)分别表示主光束从信息道中心起在光盘外周方向及内周方向产生信息道偏离时的状态。

此时，受光面上的主光束和两个副光束的光强度分布成为偏向纸面左右方向的任意方的状态。将图19A的(a-1)和(a-3)进行比较而得知，各光斑内的光强度分布的偏斜方向根据主光束的信息道偏离方向而成为逆方向。另外，主光束和副光束中，光强度的偏斜方向相反。

从而，当进行上述式(1)的运算时，差动推挽信号(DPP)在图19A的(a-1)的状态中成为负值，在(a-3)的状态中成为正直。由此，基于差动推挽信号(DPP)，能检测光盘上的主光束的信息道偏离。

此外，所谓的1光束推挽法中，仅根据主光束生成推挽信号，以此为基础来检测主光束的信息道偏离。但是，根据该方法，由光盘的倾斜和物镜的光轴偏离等而在推挽信号中产生DC偏置(offset)，由此而使信息道偏离的检测精度劣化。与此相对，在上述差动推挽法中，由于DC偏置通过(1)的运算而被删除，因此能提高信息道偏离的检测精度。

图19B是说明基于差动像散法的聚焦误差检测的原理图。此时，光检测器17的受光面上的主光束和副光束的聚光光斑根据聚焦偏离(focusshift)从圆形状变化为椭圆形状。

主光束聚焦于光盘记录面上时，光检测器17的受光面上的主光束和副光束的光斑形状如图19B的(b-2)那样成为大致圆形状。与此相对，当主光束的焦点位置相对光盘记录面向前后偏离时，光检测器17的受光面上的主光束和副光束的光斑形状变形为图19B的(b-1)或(b-3)。

此时，差动像散信号(DAS)由以下式赋予。

DAS＝{(PA+PC)-(PB+PD)}-k2·{(PE+PG+PI+PK)-(PF+PH+PJ+PL)}

...(2)

在此，k2是具有与上述的k1相同的意思的系数。

在图19B的(b-2)所示的处于聚焦(on focus)的状态下，由于光检测器17的受光面上的主光束和副光束的光斑形状为大致圆形状，因此当进行式(2)的运算时，差动像散信号(DAS)就变为DAS＝0。与此相对，若主光束的焦点位置从记录面起向前后偏离，则各光束的光斑形状如图19B的(b-1)、(b-3)所示，随着聚焦偏离的方向而在不同的方向上变化为椭圆形，于是，当进行式(2)的运算时，差动像散信号(DAS)或成为负(图19B的(b-1)时)或者成为正(图19B的(b-3)时)。由此，基于差动像散信号(DAS)，能检测光盘记录面上的主光束的聚焦偏离。

但是，与信息道偏离检测的情况相同，在检测聚焦偏离的情况下，也能仅根据主光束来生成聚焦误差信号。但是，若仅根据主光束来生成聚焦误差信号，则当光盘上的光斑横断信息道时，推挽信号作为噪音重叠于聚焦误差信号，由此产生不能得到良好的聚焦误差的信号的问题。与此相对，上述的像散法中，通过上述式(2)的运算，作为噪音的推挽信号被删除，因此能得到良好的聚焦误差信号。

如上所示，为了实现跟踪误差信号和聚焦误差信号的高精度化，基于副光束的检测信号起着重要的作用。

然而，受到针对光盘的记录信息的高容量化的请求，正开发着层叠配置有多个记录层的光盘(以下，称作“多层光盘”)且使其商品化。目前逐步商品化的第二代DVD中，也能层叠配置与波长400nm左右的蓝色激光对应的记录层。

在这种多层光盘中，也能使用上述差动推挽法及差动像散法。但是，当对多层光盘使用这些方法时，来自记录再生对象以外的记录层的反射光(杂散光)入射到光检测器17，由此产生聚焦误差信号和跟踪误差信号的精度下降的问题。即是所谓的基于杂散光的信号劣化的问题。

图20A、B表示使激光聚光在具有两个记录层的多层光盘上时的杂散光的产生状态。在这些图中，信号光(来自记录再生对象的记录层的反射光)由实线表示，杂散光由虚线表示。

图20A表示来自光拾取装置的激光聚光在记录层L1上时的情况。此时，透过记录层L1且由记录层L0反射的光成为杂散光。由记录层L0反射的光成为以比记录层L1距物镜15更远的位置为起点的发散光，因此透过物镜15之后成为比平行光稍微收敛(会聚)的状态。从而，准直透镜14所产生的焦点比光检测器17的受光面更接近光盘侧，从而，在光检测器17的受光面上成为扩散得较大的光斑。

图20B是表示来自光拾取装置的激光聚光在记录层L0上的情况的图。此时，由记录层L1反射的光成为杂散光。由记录层L1反射的光成为以比记录层L0更接近物镜15的位置为起点的发散光，因此透过物镜15之后成为比平行光稍微发散的状态。从而，准直透镜14所产生的焦点比光检测器17的受光面更远离光盘，从而在光检测器17的受光面中成为扩散得较大的光斑。

图21是表示光检测器17的受光面上的杂散光的照射状态的图。此时，杂散光以覆盖4分割传感器171、172、173全部的方式照射在受光面上。此外，杂散光具有基于主光束和两个副光束的三个杂散光，副光束的杂散光也以与主光束的杂散光重叠的方式入射在受光面上。但是，由于副光束的杂散光具有对聚焦误差信号和跟踪误差信号的影响几乎不成问题的光强度，因此图21中为了简便仅示出了主光束的杂散光。

图22是表示光检测器17的受光面上的信号光和杂散光的光强度分布的图。如图所示，杂散光的峰值强度比基于主光束的信号光的峰值强度低得多。为此，杂散光对主光束的影响并不成问题。与此相对，副光束的位置的杂散光的光强度与基于副光束的信号光的强度相当接近，因此杂散光对副光束的信号光的影响就成为大问题。

如上所述，副光束在跟踪误差信号和聚焦误差信号的高精度化中起着重要的作用。因此，当杂散光的光强度接近副光束所产生的信号光的强度时，对跟踪误差信号和聚焦误差信号带来较大的影响，其结果，存在光拾取装置全体的性能显著降低之虞。

在此，作为解除上述问题的方法，提出了以下的方法。

图23A是第一方法的光拾取装置的结构例。该结构例中，在激光的光路中插入遮光部件，由设置在该遮光部件上的遮光部遮断杂散光。此时，光检测器的受光面上的主光束和副光束的光斑状态和杂散光的照射状态如图23B所示。

如图23B所示，根据该结构例，可防止杂散光对4分割传感器的入射。但是，其反面，信号光的一部分也由遮光部同样遮断，因此在光检测器的受光面上的主光束和副光束的光斑内产生反射光的欠缺区域(图23B中由“N”表示的区域)。此时，尤其主光束的信号光光斑内的欠缺成为问题。即，该欠缺产生在光强度较强的光斑中央部，因此产生RF信号和聚焦误差信号的品质显著下降的问题。

图24A是第二方法的光拾取装置的结构例。该结构例中，在准直透镜和物镜之间的平行光中配置有具有两个临界角面(第一临界角面、第二临界角面)的棱镜。在此，第一临界角面和第二临界角面仅对规定的入射角(临界角)以上的光进行反射。因此，杂散光在第一临界角面中其一半部分被遮断，在第二临界角面中残余的半部分被遮断。

此时，临界角条件敏锐，因此如图24B所示，光检测器的受光面上的杂散光几乎消失。但是，其反面，基于副光束的信号光在从平行光状态偏离的状态下入射到棱镜，因此在入射到第一临界角面和第二临界角面之际同样被遮断，如图24B所示，在光检测器的受光面上无法导入副光束的信号光。

发明内容

本发明的主要局面的光拾取装置，具备：光源，射出所述激光；衍射光栅，将所述激光分割为主光束和两个副光束；物镜，使所述主光束和两个副光束会聚在记录层上；准直透镜，配置在所述光源和所述物镜之间的光路中；滤光器，配置在所述准直透镜和所述物镜之间，且以规定的图案配置有滤光部，该滤光部处于所述激光以平行光的状态入射时的入射角就赋予最大的透过率或最大的反射率；和光检测器，具有分别独立接收所述主光束和所述两个副光束的来自所述记录层的反射光的主光束用传感器图案和副光束用传感器图案。在此，所述滤光部按以下图案配置在所述滤光器中，该图案至少抑制由作为照射对象的记录层以外的层所反射的所述激光入射到所述副光束用传感器图案中。

根据该局面的光拾取装置，至少抑制杂散光入射到副光束用传感器图案。从而，提高根据副光束用传感器图案的输出所生成的各种误差信号的精度。

附图说明

图1表示实施方式相关的光拾取装置的结构。

图2示意表示实施方式的滤光部的透过率特性。

图3A、3B表示实施方式的滤光部的结构例。

图4A、4B、4C表示实施方式的滤光部的结构例。

图5A、5B表示实施方式的滤光部的结构例。

图6A、6B表示实施方式的滤光部的结构例。

图7A、7B表示实施方式的滤光部的图案和杂散光的照射状态。

图8表示实施方式的信号光和杂散光的光强度分布。

图9A、9B表示实施方式的滤光部的图案和杂散光的照射状态。

图10A、10B表示实施方式的滤光部的图案和杂散光的照射状态。

图11表示实施方式的光拾取装置的变更例。

图12A、12B表示实施方式的滤光部的图案和杂散光的照射状态。

图13A、13B表示实施方式的滤光部的图案和杂散光的照射状态。

图14A、14B是说明实施方式的滤光部的形成方法的图。

图15表示实施方式的光拾取装置的变更例。

图16A、16B表示实施方式的滤光部的图案和透过率特性。

图17表示背景技术的光拾取装置的结构。

图18A、18B表示光盘上的激光的照射状态和光强度分布。

图19A、19B表示光检测器上的主光束和副光束的状态。

图20A、20B是说明背景技术的杂散光的光路的图。

图21表示背景技术的杂散光的照射状态。

图22表示背景技术的信号光和杂散光的光强度分布。

图23A、23B是说明背景技术的杂散光的抑制技术的图。

图24A、24B是说明背景技术的杂散光的抑制技术的图。

具体实施方式

本发明的上述及其他的目的和新颖的特征，在对照以下所示的实施方式的说明和以下的附图后，会更清楚。但是，附图是专门用于进行说明的图，并非限定该发明的范围。

图1表示实施方式的光拾取装置的结构。此外，对与图17的结构例同一部件附加相同的符号并省略其说明。

本实施方式中，在准直透镜14和物镜15之间的光路中配置有滤光器20。在该滤光器20中部分地形成有用于赋予依赖于入射角而不同的透过率的滤光部20a(参照图7A)。通过滤光器20，抑制杂散光对副光束的影响。由此跟踪误差信号等的各种信号的精度可确保为实用级别。

图2示意表示滤光部20a的透过率特性。在滤光部20a具有以入射角A为中心持有±α的宽度的透过率分布。当按照与滤光部20a的光轴平行的方式使光入射时，入射角A＝0°。此外，作为实施方式，入射角A＝0°的情况也当然可能。

接着，对滤光部20a的结构例进行说明。

图3A、3B表示通过在基板201上形成多层膜202来构成滤光部20a时的例子。多层膜202例如按图3B所示那样，以夹持中心层C的方式在其上下层叠由多个成对(pair)层A、B构成的周期多层膜来形成。在此，成对层A、B由两种材料构成。

作为一例，基板201使用SiO₂，中心层使用TiO₂，对于用于构成成对层1及2的材料1和材料2可分别使用TiO₂和SiO₂。

本结构例中，越增加成对层的成对数，图2所示的透过率分布的宽度α就变得越小。另外，通过适当调整各参数值，能变更入射角A。作为设计值的一例，在中心层的厚度P＝0.441μm、成对层的材料1的厚度R＝0.144μm及材料2的厚度Q＝0.07μm、成对数上下一共设为8对时，针对波长405nm可得到A＝0°、α＝0.39°的透过率特性。

图4A、4B、4C表示通过在基板211上形成波导层212和微细光栅213来构成滤光部20a时的例子。微细光栅213例如按图4A、4B所示那样，通过在厚度G的波导层212上以一定间距L配置具有一定的宽度D及高度H的凸部来形成。本结构例中，与上述图3A、3B的情况同样，通过适宜调整各参数值，能变更入射角A和宽度α。

作为一例，在基板211使用玻璃、波导层212使用麻粒(Coning)#7059玻璃(科宁(コ一ニング)会社制造)、光栅层213的凸部使用TiO₂、光栅层213的凹部使用空气的情况下，当各个参数设为G＝0.160μm，L＝0.200μm，D＝0.120μm及H＝0.231μm时，作为相对波长405nm的透过率特性，可得到A＝0°、α＝0.23°。此时，透过率分布成为一维方向(凸部的厚度方向)。为了在二维方向上找到透过率分布，准备两个图4A的元件且将这些元件按光栅方向相差90°的方式重叠，或者在基板211的背面侧制作另一个波导层213和光栅方向改变90°后的光栅层213即可。另外，如图4C所示，使图4A、4B的光栅层213在其长边方向以一定间隔细分化，形成具有二维周期结构的光栅层也可。

图5A、5B表示通过微细百叶窗(blind)结构来构成滤光部20a时的例子。如图5B所示，微细百叶窗结构，通过以间距S配置厚度T宽度U的吸收层221且进一步在吸收层221之间配置透过层222来形成。本结构例中，也与上述图3A、3B及图4A、4B、4C的情况同样，通过适当调整各参数值，能变更入射角A和宽度α。

作为一例，当透过层222使用SiO₂、吸收层221使用铝、S＝19.8μm、T＝0.2μm、U＝940μm时，作为相对波长405nm的透过率特性，可得到A＝0°、α＝0.31°。通过使透明薄片上蒸镀了铝的层重叠后、进行切断为所希望的长度(U)来得到这样的结构。此外，作为设计例如吸收层221使用铝，但是并不限定于此，只要是吸收在光拾取装置中所使用的光源的波长的材料则任意材料也可，例如也可以是粘接剂。

此外，图5A、5B的结构例中，在一维方向上(吸收层221的间距方向)赋予透过率分布，但是为了在二维方向上赋予透过率分布，或者准备两个图5A、5B的元件且将这些元件按吸收壁方向相互相差90°的方式重叠使用，或者如图6A的俯视图所示那样，也可通过使用在吸收材料231中以一定间距配置一定直径的透过孔232的二维细微遮蔽(blind)结构来实现。此外，较深的微细的遮蔽结构，可如图6B所示那样通过制作比较大的二维遮蔽结构并对它进行加热后拉伸且将缩小为相似形状的部分切断而得到。该制作工序的一半作为光纤制作方法被公知。

以上，示出了滤光器20a的结构例，但是滤光部20a的结构并不限定于此，当然也可使用通过其他方法及结构所制作的滤光部。

(结构例1)

图7A表示滤光器20的结构例。

该结构例中，在夹持入射光束光轴(入射光束的中心)且在光盘切线方向隔开的矩形的两个区域形成有滤光部20a。在此，两个矩形区域相对入射激光的光轴成为180度旋转对称的形状。滤光部20a的透过率特性为例如A＝0°、α＝0.2°。此外20b是透明部。

图7B表示使用图7A的滤光器时的光检测器17的受光面上的激光的入射状态。此外，图中杂散光减光部的边界不是表示光的有无的边界，而表示以图2中的透过率0.5所衰减(减光)的光进行入射的位置。另外，杂散光减光部的位置可通过调整图7A所示的滤光部20a的配置位置而被调整。

入射到滤光部20a的杂散光中的、越是相对滤光部20a的入射角较大的杂散光，越被衰减得更多。从而，杂散光虽然也入射到图7B的杂散光减光部，但如图8所示，由于在副光束的入射位置中杂散光被衰减为几乎不成问题的级别，所以不会给误差信号的生成带来影响。

另外，主光束的信号光(来自记录再生对象的记录层的反射光)全部对滤光部20a以入射角0°进行入射，因此，如图7B所示，在信号光的光斑内不会产生减光部，从而能得到良好的RF信号。

此外，副光束的信号光相对滤光部20a以从平行光稍微偏离后的状态入射，因此在副光束的光斑内产生通过滤光部20a进行衰减减光后的减光部“M”，但是如图7A所示，两个滤光部20a在光盘切线方向配置，由滤光部20a产生的减光部“M”通过柱面透镜16的像散作用而被旋转90°，因此减光部“M”如图7B所示那样在对推挽信号影响较小的方向(得不到信号的差分的方向)排列。从而，减光部“M”对跟踪误差信号的影响极小，由此即使产生减光部“M”，也能得到良好的跟踪误差信号。

另外，两个滤光部20a如上所述，相对入射激光的光轴成为180度旋转对称的形状，因此在副光束的光斑区域内产生的两个减光部“M”在传感器图案上相对激光的光轴也成为180度旋转对称的形状。从而，对于在生成基于副光束光斑的推挽信号之际相互相减的两个信号，这两个减光部“M”就变得影响相等，从而，能抑制减光部对推挽信号的影响。

由此，本结构例中，不会以实用水平损害各种信号，能抑制杂散光对信号光的坏影响。

(结构例2)

图9A表示滤光器20的其他结构例。

该结构例中，在除去入射光束中心附近的圆形部20b的区域形成有滤光部20a。滤光部20a的透过率特性为例如A＝0°、α＝0.2°。

图9B表示使用图9A的滤光器时的光检测器17的受光面上的激光的入射状态。如图9B所示，该结构例中，主光束的全周围被减光。从而，与上述结构例1同样，能抑制杂散光对副光束的信号光的影响。

此外，本结构例中，副光束的信号光的周边区域由滤光部20a减光，因此副光束的信号光的光斑直径与上述结构例1的情况相比，变得较小。根据发明者的验证，副光束的信号光的光斑直径与圆形部20b的直径大致对应。

但是，副光束的信号光的光斑直径，通过与各个光拾取装置的光学系统匹配而使滤光器20的圆形部20b的直径最佳化，从而可调整为在实用上没有问题的水平。

另外，在该结构例的情况下，在主光束的信号光的光斑内根本不产生减光部，因此能得到良好的RF信号。由此在这样的本结构例中，不会以实用水平损害各种信号，能抑制杂散光对信号光的坏影响。

此外，上述两个结构例中，将滤光部20a的透过率特性的倾斜角A设定为A＝0°，这是将滤光器20相对平行光光轴垂直地配置所产生的。但是，在将滤光器20相对平行光光轴垂直地配置时，可产生在朝向物镜15的往路中由滤光器20表面所反射的激光入射到光检测器17的问题。为了避免该问题，优选使滤光器20相对平行光光轴稍微倾斜地配置，但是在这种情况下，必要使滤光部20a的透过率特性中的倾斜角A与滤光器20的倾斜角相等。

(结构例3)

图10A表示滤光器20的其他结构例。

该结构例是将图7A所示的结构例1的滤光部20a在光盘径向方向拉伸所形成的。在结构例1的情况下，可能存在以下的情况：当滤光器20固定在光路中时，为了进行跟踪动作，随着物镜15在径向方向移动而使图7B所示的杂散光减光部沿上下方向移动，光强度强的杂散光部分会入射到副光束的信号光的光斑范围。与此相对，本结构例中，滤光部20a沿光盘径向方向被拉伸，因此，即使随着物镜15的变位而杂散光减光部在上下方向移动，光强度强的杂散光部分也不会入射到副光束的信号光的光斑范围内。从而能生成良好的误差信号。

本结构例中，通过将滤光部20a在光盘径向方向拉伸而解除物镜15的变位所引起的问题，但是，如图11所示，通过将滤光器20固定于用于保持物镜15的支架30，而使滤光器20与物镜15连动就可解除该问题，。

(结构例4)

图12A表示滤光器20的其他结构例。

该结构例是将图7A所示的结构例1的滤光器20a形成圆形所作成的。此时，杂散光减光部成为图12B所示的圆形。该结构例易于适用于利用图6B所示的方法制作滤光器20a的情况。两个滤光部20a相对入射激光的光轴成为180度旋转对称的形状。该结构例的效果与结构例1相等。

此外，本结构例中，与上述结构例3相同，通过将滤光部20a在光盘径向方向拉伸，或者使滤光器20与物镜15连动，就能抑制基于物镜15的变位的问题。

(结构例5)

图13A表示滤光器20的其他结构例。

该结构例是将滤光部20a沿光盘切线方向形成为条纹状所作成的。当使用本结构例的滤光器20时，光检测器17的受光面上的激光的入射状态如图13B所示。此时，入射到滤光器20的杂散光在滤光器中央部周边处于接近平行光的状态，因此不会由滤光部20a减光，而照射到光检测器17的受光面。因此，向4分割传感器171的周边如图13B所示那样照射杂散光。在副光束的信号光的光斑内与图7A、7B的情况相同地产生减光部“M”，但是该减光部“M”是图7B中的两个减光部“M”相连后的减光部。

本结构例中的效果与结构例1相同。此外，本结构例中，使滤光部20a形成为条纹状，因此滤光器20的形成变得容易。例如，本结构例中，在大面积的基板上制作多个滤光部20a，将它切断为规定的大小，就能得到滤光器20。

此外，本结构例中，与上述图11的情况相同，通过滤光器20与物镜15连动，就能抑制基于物镜15的变位的问题。

(滤光部的形成方法)

对上述结构例的滤光部20a的图案形成方法进行说明。

图14A是使用广泛公知的光刻技术的形成方法，在形成具有上述图3A、3B及图4A、4B、4C的结构的滤光器20a时使用。即，该方法中，最初在基板整个面上形成滤光器结构，在其之上以所希望的图案形成掩模部材之后，例如通过离子束蚀刻去除露出在掩模以外的滤光器结构。其后，去除掩模部材，可得到所希望的图案的滤光部21a。

图14B是将已图案化后的滤光器部件由粘接剂等固定在基板上的方法，在形成具有图5A、5B及图6A、6B的结构的滤光部20a时使用。

此外，上述实施例中，在基板上配置了滤光部，但是也可以在位于光拾取装置的光路中的其他光学部件(例如λ/4波片等)的表面上形成滤光部。

(光学系统的变更例)

以上描述中，在光路中配置了透过型滤光器20，但是通过在光路中配置反射型的滤光器，也能发挥与上述相同的杂散光去除功能。图15是表示使用反射型的滤光器时的结构例。此外，对与图17的结构例相同的部件附加相同的符号，省略其说明。

该结构例中，在准直透镜14和物镜15之间配置立起镜21，在该立起镜面上以规定的图案形成滤光部21a。

图16A表示反射面21b上的滤光部21a的图案的例子。这可得到与上述图7A、7B所示的结构例1等效的效果。图16B表示滤光部21a的反射率的入射角依赖性的示意图。在使镜面的倾斜角B(参照图15)设为45°时，入射角A被设定为A＝45°。本结构例中的滤光部21a除上述的多层膜结构、波导和微细光栅结构组合后的结构外，可以使用所谓的线栅结构(基于导电材料的光栅结构)来形成。

以上，如说明那样，根据本实施方式，能有效地抑制杂散光对副光束的信号光的影响。从而，能生成良好的误差信号。

此外，本实施方式中，如图2所示，滤光器部20a、21a的透过率分布不会如矩形那样峭立，而比较缓慢地变化。因此即使副光束(信号光)的入射角从规定的入射角稍微偏离，也不会急速引起基于滤光器部20a、21a的副光束(信号光)的减光，从而能有效地抑制传感器图案上的副光束(信号光)的减光。

本实施方式的情况下，相对副光束受光用传感器图案的杂散光的入射抑制和副光束(信号光)的光量确保相互处于折衷(trade off)关系。从而，如图2所示，通过将滤光部20a、21a的透过率分布设为比较缓和的分布，能调整得将相对副光束受光用传感器图案的杂散光的入射允许至在实用水平上没有问题的范围、且使副光束(信号光)的减光变得极少。除此之外，通过使透过率分布比较缓慢地变化，能使光拾取装置制作时的滤光器20的安装姿势允许误差变大。从而，能使滤光器20的安装之时的位置调整变得简单。

本发明并不限定于上述的实施方式。本发明的实施方式在本技术方案的范围所示的技术的思想的范围内能适当地进行变更。

Claims

1.一种用于对光盘照射激光的光拾取装置，具备：

光源，其射出所述激光；

衍射光栅，其将所述激光分割为主光束和两个副光束；

物镜，其使所述主光束和两个副光束会聚在记录层上；

准直透镜，其配置在所述光源和所述物镜之间的光路中；

滤光器，其配置在所述准直透镜和所述物镜之间，且以规定的图案配置有滤光部，该滤光部处于当所述激光以平行光的状态入射时的入射角就赋予最大的透过率或最大的反射率；和

光检测器，具有分别独立接收所述主光束和所述两个副光束的来自所述记录层的反射光的主光束用传感器图案和副光束用传感器图案，

所述滤光部按以下图案配置在所述滤光器中，该图案至少抑制由作为照射对象的记录层以外的层所反射的所述激光入射到所述副光束用传感器图案中。

2.根据权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于，

在夹持入射激光的光轴且在所述光盘的切线方向隔开的两个区域配置有所述滤光部。

3.根据权利要求2所述的光拾取装置，其特征在于，

所述两个区域相对入射激光的光轴为180度旋转对称的形状。

4.根据权利要求2所述的光拾取装置，其特征在于，

在所述准直透镜和所述光检测器之间的光路中配置有用于导入像散的光学元件。

5.根据权利要求2所述的光拾取装置，其特征在于，

所述滤光器按照与所述物镜连动的方式相对所述物镜被一体化。

6.根据权利要求2所述的光拾取装置，其特征在于，

所述两个区域分别是矩形区域，

这两个矩形区域中，所述光盘的径向方向的宽度大于所述切线方向的宽度。

7.根据权利要求2所述的光拾取装置，其特征在于，

所述两个区域是圆形区域，

这两个圆形区域中，所述光盘的径向方向的宽度大于所述切线方向的宽度。

8.根据权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于，

在以横断入射激光的光轴的方式沿所述光盘的切线方向拉伸的区域配置有所述滤光部。

9.根据权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于，

在距入射激光的光轴一定直径以上的区域配置有所述滤光部。

10.根据权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于，

通过在所述激光透过的光透过性部件上形成以下角度依赖性的滤光器结构来构成所述滤光部，该角度依赖性的滤光器结构中，处于当所述激光以平行光的状态入射时的入射角就赋予最大的透过率。

11.根据权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于，

通过在对所述激光进行反射的镜面上形成以下角度依赖性的滤光器结构来构成所述滤光部，该角度依赖性的滤光器结构中，处于当所述激光以平行光的状态入射时的入射角就赋予最大的反射率。