CN101088123A - 一种用于选择光记录装置最优写入参数的方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种用于设置写入参数最优值的方法，所述写入参数最优值用在利用辐射束将信息写入光记录介质的光记录装置中。通过从多个曲线拟合函数中导出多个写入功率电平特征值(PChar)来找到写入参数最优值。每个写入功率电平特征值(PChar)具有相关联的写入功率电平(TV)初始值，并且通过比较写入功率电平特征值(PChar)和初始的写入功率电平来找到写入参数最优值。本发明还涉及一种光记录装置，用于在光记录介质上记录信息，该装置具有辐射光源，用于发射具有可控写入功率电平值的辐射束，用于在记录介质上记录信息。另外，本发明涉及一种利用辐射束照射记录介质来记录信息的光记录介质。

Description

一种用于选择光记录装置最优写入参数的方法
技术领域
本发明涉及一种用于设置写入参数最优值的方法，写入参数最优值用在利用辐射束将信息写入光记录介质的光记录装置中。本发明也涉及一种用于在光记录介质上记录信息的光记录装置，该装置包括辐射光源，用于发射具有可控写入功率电平值的、用于在记录介质上记录信息的辐射束。另外，本发明涉及一种利用辐射束照射记录介质来记录信息的光记录介质，该记录介质包括一个包含表示记录过程的控制信息的区域，由此可将信息记录在记录介质上。
背景技术
在光记录装置中，利用激光束的恰当功率将信息记录在光记录介质上是非常重要的。虽然介质制造商可以以无条件的方式给出该恰当功率(比如，预先记录在光盘上)，但是每种记录介质和记录装置组合的环境及装置到装置(apparatus-to-apparatus)的偏差使得必须采用可靠的光记录来寻找与正被讨论的所述记录介质相关的恰当功率。在本领域中存在一些已知的用于该目的的最优功率控制(OPC)常规方法(routine)，比如(用于CR-RW的)gamma-OPC、(用于CD-R和DVD+/-R的)beta-OPC和(用于BD-RE/R)的kappa-OPC。
在WO 02/41306中，描述了通过在光记录介质上写入一系列测试图案，从这些图案中形成读取信号然后处理该读取信号，从而设置光记录装置中辐射束的最优写入功率的方法。这种处理涉及拟合一个函数(优选为直线)到从读取信号获得的参数，而无需必须执行微分步骤。可从读取信号获得的这些参数之一就是调制(M)。曲线拟合过程需要一个或多个功率值，从而定义要进行拟合的区间。如果由于某些原因，曲线拟合导致用于写入参数的第一值不符合最优写入参数的要求，例如超出预设范围，WO02/41306则公开了一些可采用的措施。这些方法之一是迭代过程，其中用于写入参数的所述第一值被用来定义要进行拟合的第二区间。接着可以将作为结果的第二写入参数当成最优写入参数来进行评估(比如，与预设范围进行比较)。如果第二写入参数作为最优写入参数不符合要求，则可继续迭代，直到满足某个预设条件。
然而，对于某些光记录装置和光记录介质组合而言，存在一个固有问题，即，在获得最优写入参数之前，可能需要相当多的迭代步骤来进行这种迭代。因此，记录过程可能被延迟，导致某些用户感到不舒服。另外，在某些不合宜的光记录装置和光记录介质组合中，迭代可能并不向最优写入参数收敛。对于这样的一些情况，光记录装置将不能在记录介质上进行记录，从而导致发生故障。
通过参照将WO 02/41306的公开内容引入本申请，并将其考虑为本申请的一部分。
发明内容
本发明的目的在于提供一种通过获得在光学介质上进行光记录的写入参数最优值来解决现有技术中上述问题的方法。可以从写入参数的所述最优值中导出写入功率电平(P)的最优值(Popt)。本发明特别提供一种获取在光学介质上进行光记录的写入参数最优值的方法，由于该方法仅执行相对有限的计算，因此该方法很快。
该目的及一些其它目的在通过提供一种设置用于光记录装置的写入参数最优值的方法的本发明的第一方面中实现，其中光记录装置利用辐射束在光记录介质上写入信息，该方法包括步骤：
1)在记录介质上写入一系列测试图案，每个图案都用不同的辐射束写入功率电平(P)值写入，
2)读取这些图案，以便形成对应的读取信号部分，以及
3)从每个读取信号部分中导出读取参数值，
4)将多个函数曲线拟合到相关联的读取参数值和写入功率电平(P)值，其中每个函数都定义读取参数和写入功率电平(P)之间的关系，每个曲线拟合函数都具有对应的写入功率电平初始值(Pini)，
5)从每个曲线拟合函数中导出对应的多个写入功率电平特征值(PChar)，每个写入功率电平特征值(PChar)因此具有相关联的写入功率电平初始值(Pini)，以及
6)比较所述多个写入功率电平初始值(Pini)和每个与之相关的写入功率电平特征值(PChar)，从而设置写入参数最优值。
本发明用于在相当短的时间内获得至少一个写入参数最优值，这样相当有好处，但好处并非仅限于此。最优值表示利用本发明方法所获得的最优值，然而找到的写入参数最优值可能并非是可获得的写入参数最优值，例如，可以获得局部最优值而不是获得全局最优值。有益地，避免了非收敛迭代的问题。
读取参数可以是从记录在记录介质上的信息导出的读取信号振幅的调制(M)。用下来表达式计算调制(M)
M＝((IH-IL)/IH)·100，
其中IH是读取信号中的最高振幅，而IL是读取信号中的最低振幅，所述读取信号从信息载体上所记录的读取信息中导出，该信息载体包括较长的标记，诸如，当采用“8-14增强调制(EFM+)”编码时，标记长度为信道信号位(channel bit)长度的14倍。
多个曲线拟合函数中至少有一个函数具有这种形式
P·M＝α·(P-β)，
其中α和β具有由曲线拟合产生的值。用于至少一个函数的写入参数特征值(PChar)可以设置成基本等于β乘以第一倍增常数(κ)的值。一般而言，可以使用定义了读取参数和写入功率电平(P)之间关系的任意形状的任何函数。然而，应当注意，直线可以被非常容易和精确地曲线拟合。因此，将读取参数值和写入功率电平(P)值以曲线拟合成直线的方式排列是非常有好处的。另外，从直线拟合过程中清楚地确定β值，这相对于可能产生几个解的可选的拟合过程来说是非常有利的。
第一倍增常数(κ)可从包含表示记录过程的控制信息的记录介质上的一个区域中读出，凭此记录过程可在所述记录介质上记录信息。因此，介质制造商可以在光学介质上提供该信息。可选地，在校正过程中，可由用户确定倍增常数(κ)。
可以在预定的写入功率电平拟合范围内实现至少一个定义直线的函数的曲线拟合，其中利用与每个曲线拟合函数相关联的写入功率电平初始值(Pini)和范围因子(R)可以确定预定拟合范围的位置，其中R是百分数。拟合范围的上限可由Pini乘以(1+R)给出，而拟合范围的下限可由Pini乘以(1-R)给出。范围因子(R)的值可以是10％、20％或30％。写入功率电平初始值(Pini)的数量可以是2到40、5到30或10到20。
通过分离常数(S)乘以一个整数，多个写入功率电平初始值中的每个写入功率电平初始值可在数值上基本上互不相同。这是有好处的，因为关于写入功率电平初始值(Pini)的信息可以仅仅给出两个数。
表示多个写入功率电平初始值的信息可以从包含表示记录过程的控制信息的记录介质上的一个区域中读出，凭此记录过程可以在所述记录介质上记录信息。因此，介质制造商可在光学介质上提供这种信息，从而便于快速、精确地确定用于为所述光学介质记录信息的写入功率电平最优值(Popt)。
通过估计每个写入功率电平初始值(Pini)和每个与之相关的写入功率电平特征值(PChar)之间的数值差异，可以在步骤6中进行写入参数最优值的设置，写入参数最优值是具有最小数值差异的写入参数特征值(PChar)。这是有利的，因为这种方法很容易实施并很快得到结果。可选地，通过找到一条线与一条曲线之间的重合点，可以在步骤6中进行写入参数最优值的设置，其中在所述那条线上写入功率电平初始值(Pini)等于写入功率电平特征值(PChar)，所述曲线被拟合到每个写入功率电平初始值(Pini)及与之相关联的写入功率电平特征值(PChar)形成的多个点(Pini，PChar)上。有利地，该拟合曲线是一条直线。
本发明的方法可以提供一种设置辐射束的写入功率电平(P)最优值(Popt)的方法，该方法可用在利用具有写入功率电平(P)的辐射束在光记录介质上写入信息的光记录装置中，利用如上所述的方法来设置写入参数最优值，其中写入功率电平(P)最优值(Popt)设置成等于写入参数最优值乘以第二倍增常数(ρ)。注意，该写入功率电平(P)最优值(Popt)的定义不同于WO 02/41306的公开内容的定义，即对倍增常数的定义不同。所述写入功率电平最优值(Popt)可以定义为用于从在记录介质上记录的信息获得读取信号最小抖动的写入功率电平。另外，写入功率电平最优值(Popt)可以考虑到读取信号的稳定性，防止在写入功率电平最优值(Popt)附近发生变化。所述写入功率电平最优值(Popt)可以根据记录介质的目的而不同。因此，用于一次记录的写入功率电平最优值(Popt)可以不同于用于在记录介质同一区域上进行多次记录的写入功率电平最优值(Popt)。
可从包含表示记录过程的控制信息的记录介质上的一个区域读出第二倍增常数(ρ)，凭此记录过程可将信息记录在所述记录介质上。因此，光学介质制造商可以在标准化条件下确定第二倍增常数(ρ)并在光学介质上提供该信息。
在本发明的第二方面中，本发明提供一种用于实施根据本发明第一方面的方法的装置，该装置包括：
辐射光源，用于发射具有可控写入功率电平(P)值的、用于在记录介质上记录信息的辐射束，
控制单元，用于记录一系列测试图案，每个图案用不同的写入功率电平值记录，
读取单元，用于读出所述图案并形成对应的读取信号部分，
第一装置，用于从每个读取信号部分导出读取参数值，
第二装置，用于将定义读取参数和写入功率电平(P)之间关系的函数曲线拟合到读取参数值和写入功率电平(P)值，每个曲线拟合函数都具有对应的写入功率电平初始值(Pini)，以及
第三装置，用于从每个曲线拟合函数中导出对应的多个写入功率电平特征值(PChar)，每个写入功率电平特征值(PChar)因此具有相关联的写入功率电平初始值(Pini)，以及
第四装置，用于通过将多个写入功率电平初始值(Pini)和每个与之相关联的写入功率电平特征值(PChar)进行比较，从而设置写入参数最优值。尽管本发明的找到写入参数最优值的方式相对于已知的找到写入参数最优值的方式有若干优点，但是特别有利之处在于本发明可以通过本技术领域中已公知的装置来实施。
在本发明的第三方面中，本发明提供一种用于利用辐射束照射记录介质来记录信息的光记录介质，该记录介质包括一个包含表示记录过程的控制信息的区域，凭此记录过程可将信息记录在所述记录介质上，该控制信息包括用于记录过程的记录参数值，其中该控制信息包括表示用在根据本发明第一方面的方法中或者用在根据本发明第二方面的装置中的多个写入功率电平初始值(Pini)的信息。可在记录介质本身上提供控制信息是特别有利的，因为这使介质制造商能以一种有效率的方式将控制信息分配给用户。
此外，利用辐射束照射记录介质来记录信息的光记录介质可以包括一个包含表示记录过程的控制信息的区域，凭此记录过程可以将信息记录在所述记录介质上，该控制信息包括用于记录过程的记录参数值，其中该控制信息包括用在根据本发明第一方面的方法中的第一倍增常数(ρ)和第二倍增常数(κ)中至少之一。
附图说明
本发明的这些方面及其他方面将参照下文所述的实施例得以显现和说明。
参考附图，现在对本发明进行说明，其中
图1表示根据本发明的光记录装置的实施例示意图，
图2表示来自两个测试图案的两个读取信号部分，
图3是曲线图，显示所测得的调制乘以写入功率的乘积作为写入功率的函数以及多个曲线拟合函数，
图4是根据本发明的方法的流程图，以及
图5是曲线图，用在根据本发明设置写入参数最优值的实施例中。
具体实施方式
图1表示根据本发明的光记录装置和光记录介质1。记录介质1具有透明基底2和设于透明基底2之上的记录层3。记录层3包括适合于利用辐射束5记录信息的材料。所述记录材料可以是例如磁光材料、相变材料、染色材料、类似铜/硅的金属合金材料或任何其他合适的材料。信息可以以光学可检测区域(也称为标记)的形式记录在记录层3上。该装置包括用于发射辐射束5的辐射光源4(例如，半导体激光器)。辐射束经由分束器6、物镜7和基底2，然后被定向到记录层3。可选地，所述记录介质为空气入射式的，那么辐射束不经过基底直接入射到记录层3上。从介质1反射的辐射束被物镜7收集，穿过分束器6之后，落到检测系统8上，该系统8将入射辐射转成电检测器信号。所述检测器信号被用于电路9。所述电路9从所述检测器信号导出若干信号，诸如表示从记录介质1读出的信息的读取信号SR。辐射光源4、分束器6、物镜7、检测系统8和电路9共同形成读取单元90。
来自电路9的读取信号被第一处理器10处理，以便从读取信号中导出表示读取参数的信号。所导出的信号被馈送到第二处理器101，接着送到第三处理器102，这些处理器处理一系列读取参数值，然后从中导出用于控制激光器功率电平所必需的写入功率控制信号值。
写入功率控制信号被施加于控制单元12。表示将记录在记录介质1上的信息的信号13也被馈送到控制单元12。控制单元12的输出连接到辐射光源4。可用单个辐射脉冲记录记录层3上的标记，其功率由处理器102所确定的最优写入功率电平(Popt)确定。可选地，标记还可以通过一系列等长或不等长的辐射脉冲以及一个或多个由写入功率信号确定的功率电平来记录。
处理器可理解为适合于进行计算的任何装置，比如，微处理器、数字信号处理器、硬连线的模拟电路或场可编程电路。此外，第一处理器10、第二处理器101和第三处理器102可以是分离的设备，或者可选地，可以是合并成执行全部三种处理的单个设备。
在将信息记录到介质1之前，该装置通过执行根据本发明的方法，将其写入功率(P)设置为最优值(Popt)。这种方法示意性地描绘在图4所示的流程图中。
在第一步骤41中，所述装置在介质1上写入一系列测试图案。应当对这些测试图案进行选择，以便给出所期望的读取信号。如果从读取信号要导出的读取参数是关于测试图案的读取信号部分的调制(M)，那么测试图案将包括足够长的能够实现读取信号部分最大调制的标记。当根据所谓的“8-14调制(EFM)”对所述信息编码时，测试图案优选包括该调制方案的长I11标记。当根据所谓的“8到14增强调制”(Eight-to-Fourteen Plus Modulation(EFM+))对所述信息编码时，测试图案应包括这种调制方案的长I14标记。当根据所谓的“17PP调制”对所述信息编码时，测试图案优选包括这种调制方案的长I8标记。每个测试图案用不同的写入功率电平(P)记录。基于作为记录介质上控制信息而记录下来的指示功率电平(Pini)可以选择功率范围。在控制单元12的控制下，随后的测试图案可以用逐步增加的写入功率电平(P)记录。这些测试图案可以写入记录介质上的任意位置。可选地，它们可以写入记录介质上专门提供的测试区域。
在第二步骤42中，记录的测试图案被读取单元90读出，以便形成读取信号SR。图2表示从在两种不同写入功率电平写入的两个测试图案中获得的读取信号部分18和19。所示的图案包括如由信号部分15、16和17分别所指的一个短标记、一个长标记和一个短标记，它们在读取信号部分18和读取信号部分19中都存在。实际的图案可以包括数百个不等长或等长的标记。
在第三步骤43中，处理器10从读取信号SR中导出用于每个读取信号部分的读取参数。一个可能的读取参数是读取信号部分的最小振幅(对于在图2由“a”所指示的读取信号部分18)与同一读取信号部分的最大振幅(由“b”所指示)的比率。优选的读取参数是调制(M)，是由“c”所指示的读取信号最大峰-峰值与读取信号部分最大振幅“b”的比率。
在第四步骤44中，处理器101将多个函数拟合到相关联的读取参数值和写入功率电平(P)值。每个函数定义了读取参数和写入功率电平(P)之间的关系。作为每个曲线拟合函数的输入，提供对应的写入功率电平初始值(Pini)。所述写入功率可以取自记录测试图案期间的写入功率控制信号值，或者可选地，所述写入功率取自辐射功率测量值
在图3中，显示了曲线拟合过程的优选实施例的曲线图。竖坐标轴表示写入功率(P)乘以调制(M)，而横坐标轴表示写入功率(P)。每个点51分别表示所测得的调制(M)乘以写入功率(P)的值，以及写入功率(P)的值。
曲线拟合函数可具有本领域技术人员能够容易获得的多种不同数学形式。因此，一条曲线(例如多项式的)可以被拟合到正被讨论的写入功率电平初始值(Pini)附近的功率电平。
在图3的优选实施例中，为了说明性的目的而只显示了两个写入功率电平初始值Pini，1和Pini，2。通常施加10-20个不同的写入功率电平初始值(Pini)，但如有必要，则可以施加多达数百个不同的写入功率电平初始值(Pini)。在写入功率电平初始值Pini，1和Pini，2附近的预定义的区间(由箭头52和53示意性地指出的)中，图3中曲线的测量点51被拟合成具有如下形式的函数：
P·M＝α·(P-β)，
其中α和β是拟合常数。所述区间52和53可定义为写入功率电平初始值(Pini)的范围分数(range fraction)(R)，比如，写入功率电平初始值(Pini)的10％、20％、30％或40％，但也可以是预定义的常数，比如0.1或0.2mW。这些拟合函数是图3曲线图中的直线54和55。β值对应于与横坐标轴的交点56和57。所述直线54和55通过最小二乘法或其他适当的数学方法得到。
在第五步骤45中，处理器102执行预定义过程，以便从第四步骤的每个曲线拟合函数中导出多个写入功率电平特征值(PChar)。因此，每个写入功率电平特征值(PChar)由此具有相关联的写入功率电平初始值(Pini)。在优选实施例中，写入功率电平特征值(PChar)由下式给出
Pchar＝κ-β，
其中κ是第一倍增常数。κ从光记录介质读出。由于β的值取决于写入功率电平初始值(Pini)，因此写入功率电平特征值(PChar)是正被讨论的写入功率电平初始值(Pini)的函数，即，Pchar，i＝Pchar，i(Pini，i)，其中i是整数。注意，没有执行迭代步骤来找到写入功率电平特征值(PChar)。
在第六步骤46中，处理器102执行用于设置写入参数最优值的预定义过程。这是通过将多个写入功率电平初始值(Pini)与每个与之相关联的写入功率电平特征值(PChar)进行比较而实现的。在一个优选实施例中，通过估计每个写入功率电平初始值(Pini)与每个与之关联的写入功率电平特征值(PChar)之间的数值差异来进行这种比较。然后取具有最小数值差异的写入参数特征值(PChar)作为写入参数最优值。然而，本领域技术人员可以轻易地获得多种不同的比较方案，其中包括统计方法，所述统计方法有益于通过测定值的内部分散(inherentscattering)减少所述比较的敏感性。
随后，可以找到图1所示辐射束5的写入功率电平(P)最优值(Popt)。写入功率电平(P)最优值(Popt)被设置成等于写入参数最优值乘以第二倍增常数(ρ)；
Popt＝ρ·Pchar。
这样，获得了用于将信息写入光记录介质的写入功率电平(P)最优值(Popt)。
在图5中，显示了用于根据本发明的方法的第六步中可应用的比较过程的一个特别有意思的实施例。竖坐标轴表示写入功率电平特征值(PChar)，而横坐标轴表示写入功率电平初始值(Pini)。直线60是写入功率电平特征值(PChar)等于写入功率电平初始值(Pini)(即Pchar＝Pini)的直线。(Pini，PChar)的相关联的测量值被绘制为点61。为了图示说明的目的，仅仅显示了5个点61。然后，曲线62被拟合到点61，有利地，曲线62是线性曲线，但也可以采用其他适合的数学函数。在这种比较方案中，曲线62和直线60之间的交点63表示写入参数最优值。然而，在某些情况下，实验已经表明所拟合的曲线62不总与直线60相交，比如所拟合的曲线62可能具有与直线60相同的斜率或者拟合曲线62可能完全位于直线60之上或之下。在这种情况下，可采用本领域技术人员公知的更高级的分析方法(诸如查找拟合曲线62的第一或第二阶导数)，以便找到写入参数最优值。
可以想到，即使通过迭代找不到写入功率电平的值，也可以改变倍增常数(即，ρ和κ)值来找到写入参数最优值，从而尽可能地估计所找到的写入参数最优值的稳定性。类似地，可以以迭代方式来改变范围分数(R)，从而估定所找到的写入参数最优值及其稳定性。
虽然结合优选实施例对本发明进行了说明，但本发明不限制于本文中所提出的具体形式。相反，本发明的范围仅由所附权利要求限定。在权利要求中，术语“包括”和“包含”不排除存在其他的元件或步骤。另外，即使单独的特征可以包括在不同的权利要求中，但是这些特征可能有利地结合起来，并且不同权利要求所包含的内容并不意味特征组合不可行和/或没有益处。另外，单个引用不排除多个引用。因此，“一”、“第一”、“第二”等不排除是多个的情况。此外，权利要求中的附图标记不应当理解为是对本发明保护范围的限制。

Claims (15)

1、一种用于设置写入参数最优值的方法，写入参数最优值用在利用辐射束(5)将信息写入光记录介质(1)的光记录装置中，所述方法包括步骤：
1)在记录介质上写入一系列测试图案，每个图案用辐射束的写入功率电平(P)的不同值写入，
2)读出所述图案，以便形成对应的读取信号部分(18、19)，以及
3)从每个读取信号部分导出读取参数的值，
4)将多个函数曲线拟合到相关联的所述读取参数值和所述写入功率电平(P)值，每个函数定义所述读取参数和所述写入功率电平(P)之间的关系，每个曲线拟合函数具有对应的写入功率电平初始值(Pini)，
5)从每个所述曲线拟合函数中导出对应的多个写入功率电平特征值(PChar)，每个写入功率电平特征值(PChar)因此具有相关联的写入功率电平初始值(Pini)，以及
6)将所述多个写入功率电平初始值(Pini)和与其相关联的写入功率电平特征值(PChar)的每个值比较，从而设置写入参数最优值。
2、如权利要求1的方法，其中所述读取参数是从记录在所述记录介质(1)上的信息得出的读取信号的振幅的调制(M)。
3、如权利要求2的方法，其中所述多个曲线拟合函数中的至少一个函数具有P·M＝α·(P-β)的形式，其中α和β具有由曲线拟合产生的值，并且其中用于所述至少一个函数的所述写入参数特征值(PChar)设置成基本上等于β乘以第一倍增常数(κ)的值。
4、如权利要求3的方法，其中所述第一倍增常数(κ)从包含表示记录过程的控制信息的所述记录介质(1)上的区域读出，凭借所述记录过程可以将信息记录在所述记录介质上。
5、如权利要求3的方法，其中定义直线的所述至少一个函数的曲线拟合是在写入功率电平的预定拟合范围内实现的。
6、如权利要求5的方法，其中所述预定拟合范围的位置由与每个曲线拟合函数相关联的写入功率电平初始值(Pini)以及范围因子(R)确定。
7、如权利要求1的方法，其中基本上通过分离常数(S)乘以一个整数，使得多个写入功率电平初始值(Pini)中的每个写入功率电平初始值(Pini)在数值上互不相同。
8、如权利要求1的方法，其中表示所述多个写入功率电平初始值(Pini)的信息从包含表示记录过程的控制信息的所述记录介质(1)上的区域读出，凭借所述记录过程可以将信息记录在所述记录介质上
9、如权利要求1的方法，其中通过估计每个写入功率电平初始值(Pini)和每个与之相关联的写入功率电平特征值(PChar，)之间的数值差异，可以在步骤6中进行写入参数最优值的设置，写入参数最优值是具有最小数值差异的写入参数特征值(PChar)。
10、如权利要求1的方法，其中通过找到一条直线与一条曲线之间的重合点，可以在步骤6中进行写入参数最优值的设置，其中在所述重合点处写入功率电平初始值(Pini)等于写入功率电平特征值(PChar)，所述曲线被拟合到每个写入功率电平初始值(Pini)及与之相关联的写入功率电平特征值(PChar)的多个点(Pini，PChar)。
11、一种设置辐射束的写入功率电平(P)最优值(Popt)的方法，所述方法用在由具有写入功率电平(P)的辐射束(5)在光记录介质(1)上写入信息的光记录装置中，利用如权利要求1的方法来设置写入参数最优值，其中写入功率电平(P)的最优值(Popt)被设置成等于写入参数最优值乘以第二倍增常数(ρ)。
12、如权利要求11的方法，其中所述第二倍增常数(ρ)从包含表示记录过程的控制信息的所述记录介质(1)上的区域读出，凭借所述记录过程可将信息记录在所述记录介质上。
13、一种用于实施根据权利要求1的方法的光记录装置，所述装置包括：
辐射光源(4)，用于发射具有可控写入功率电平(P)值的、用于在所述记录介质上记录信息的辐射束(5)，
控制单元(12)，用于记录一系列测试图案，每个图案用不同的写入功率电平(P)值记录，
读取单元(90)，用于读出所述图案并形成对应的读取信号部分(18、19)，
第一装置(10)，用于从每个读取信号部分导出读取参数值，
第二装置(101)，用于曲线拟合一个定义所述读取参数和所述写入功率电平(P)之间关系的函数到所述读取参数值和所述写入功率电平(P)值，每个曲线拟合函数具有对应的写入功率电平初始值(Pini)，以及
第三装置(102)，用于从每个曲线拟合函数导出对应的多个写入功率电平特征值(PChar)，每个写入功率电平特征值(PChar)因此具有相关联的写入功率电平初始值(Pini)，以及
第四装置(102)，用于通过比较所述多个写入功率电平初始值(Pini)与每个与之相关联的写入功率电平特征值(PChar)，从而设置写入参数最优值。
14、一种利用辐射束(5)照射记录介质来记录信息的光记录介质(1)，所述记录介质包括一个包含表示记录过程的控制信息的区域，凭借所述记录过程能将信息记录在所述记录介质上，所述控制信息包括用于所述记录过程的记录参数值，其中所述控制信息包括表示在权利要求1的方法中或者在权利要求13的装置中使用的所述多个写入功率电平初始值(Pini)的信息。
15、一种利用辐射束(5)照射记录介质来记录信息的光记录介质(1)，所述记录介质包括一个包含表示记录过程的控制信息的区域，凭借所述记录过程可以将信息记录在所述记录介质上，所述控制信息包括用于所述记录过程的记录参数值，其中所述控制信息包括用于权利要求3的方法的第一倍增常数(ρ)和用于权利要求11方法中的第二倍增常数(κ)中的至少一个。
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