CN101084544A

CN101084544A - 优化校准系统

Info

Publication number: CN101084544A
Application number: CNA2005800438443A
Authority: CN
Inventors: T·P·范恩德特
Original assignee: Koninklijke Philips Electronics NV
Current assignee: Koninklijke Philips NV
Priority date: 2004-12-20
Filing date: 2005-12-13
Publication date: 2007-12-05
Also published as: US20090290461A1; KR20070087659A; WO2006067675A1; JP2008524764A; TW200636704A; EP1829033A1

Abstract

一种光学扫描设备通过一束辐射光束扫描介质。所述设备具有提供光束的头、控制所述光束产生扫描光斑的光束控制装置、基于从介质所反射的辐射产生扫描信号的前端单元、以及用于根据检测到的误差调节光束控制单元的调节单元。光束控制参数，如聚焦偏移量，通过基于至少源自第一校准程序的第一校准值(48)和源自第二校准程序的第二校准值(49)的一个折衷值来调节。第一和第二校准程序不同，且被设置成用于在不同的校准条件下对相同的光束控制参数提供各自的校准值，例如基于抖动的校准和基于摆动检测的校准。

Description

优化校准系统

技术领域

本发明涉及一种通过辐射光束扫描介质的设备，该设备包括：提供所述光束的头、用于控制所述光束在所述介质的扫描层上产生扫描光斑的光束控制装置、以及与所述头耦合用于基于从所述介质所反射的辐射光产生扫描信号的前端单元。

本发明进一步涉及一种通过辐射光束扫描介质的方法，该方法包括控制所述光束在所述介质的扫描层上产生扫描光斑，和基于从介质所反射的辐射光产生扫描信号。

背景技术

日本专利申请2000-123692，公开为JP2001-307330，描述了一种用于扫描在介质上的扫描层的光盘设备，例如用于在光记录载体的记录层上记录数据的光盘设备。所述光记录设备配备有伺服控制系统，将来自头的一束光聚焦成记录载体记录层的轨道上的一个扫描光斑。伺服控制系统被设置成考虑到操作条件的不同而进行调节。所说的调节所述设备可以通过一个学习程序进行校准，或者可以当在所述设备中安装介质时从主机接受学习信息。也可以当出现许多错误时，例如多次重试时，执行学习程序。众所周知的伺服调节系统存在的一个问题是，在实际中在校准程序期间找到的学习值不能始终如一地解决出现在如今的复杂扫描装置中的错误。

发明内容

因此，本发明的目的是提供一种扫描设备中的校准系统，以减少在复杂扫描条件下错误的出现。

根据本发明的第一个方面，所述目的用在开始段落中限定的扫描设备来实现，所述扫描设备包括：调节装置，通过对光束控制装置中的光束控制参数调节一个折衷值，根据所检测到的错误调节光束控制装置，所述折衷值至少基于源自第一校准程序的第一校准值和源自第二个校准程序的第二个校准值，所述第一和第二校准程序不同，并且被设置成用于在不同的校准条件下对同一个光束控制参数提供各自的校准值。

根据本发明的第二个方面，所述目的用在开始段落中限定的方法来实现，所述方法包括：通过对光束控制参数调节一个折衷值，根据所检测到的错误调节光束，所述折衷值至少基于源自第一校准程序的第一个校准值和源自第二校准程序的第二个校准值，所述第一和第二个校准程序不同并且被设置成用于在不同的校准条件下对同一个光束控制参数提供各自的校准值。

测量的效果是，为了调节单个光束控制参数，比如聚焦偏移量(focus offset)，多个不同的校准值被结合到单个折衷值中。在不同条件下，已经确定不同的校准值。根据在使用期间发生的错误选择校准程序。基于嵌入到装置中关于错误类型以及错误和可能的调节之间关系的现有知识，应用适当的校准程序和校准值。这样做的好处是，为了解决实际发生的错误，确定一个适当的折衷设置。

本发明也基于下面的认识。在复杂的、高密度的光记录中，一个优化的校准系统可以用来找到最佳设置，如在优选的情况下对读出信号的最佳设置。发明人已看到，这样的一个优化系统仍然会可能在复杂扫描情况下遭遇错误状况。例如，单个光束参数可以以不同的方式影响两个不同的信号，如数据读出信号和径向伺服控制信号，也就是，用于数据读出信号所检测到的第一最优化校准值可以和用于伺服控制信号的第二校准值不同。有利的是，所述折衷值给两种状况提供了可操作的解决办法，在最优化第一种扫描状况的同时，防止了在第二种扫描状况下引起相当有害的结果。

在所述设备的一个实施例中，光束控制装置被设置成用于控制扫描光斑的聚焦位置，光束控制参数是用于偏离聚焦位置的偏离参数。这样做的好处是，基于不同校准条件的偏移量校准值，控制了在扫描过程中影响各种元件的聚焦偏移量。

在所述设备的一个实施例中，其中所述扫描层具有许多基本上平行的轨道的图案，所述光束控制装置被设置成用于控制扫描光斑相对于轨道的横向位置，所述光束控制参数是用于偏离所述横向位置的偏移量参数，在特殊情况下，所述图案是基本上同心圆的，且所述横向位置是径向位置。这具有的好处是，基于不同校准条件的偏移量校准值，影响扫描过程中的各种元件的横向或径向偏移量得到了控制。

在所述设备的一个实施例中，所述前端单元被设置成用于产生一个主检测信号和一个次检测信号作为扫描信号，所述主检测信号用于检测扫描层上轨道内的标记，所述次检测信号用于检测扫描光斑相对于轨道的位置，所述第一校准程序是基于主检测信号的主要品质参数的偏离校准程序，所述第二校准程序是基于次检测信号的次要品质参数的偏离校准程序。特别地，主要品质参数可以是基于由于所述标记而产生的主要扫描信号的信号元件的抖动，和/或次检测信号可以是由于轨道的横向变化而产生的推挽式信号，在特殊情况下，横向变化是摆动。这具有的优点的是，折衷值基于第一校准、第二校准而被应用，所述第一校准基于主要扫描信号的品质参数，例如在读信号中数据的抖动，所述第二校准基于来自次检测器的信号的次要品质参数，例如来自次检测器的推挽信号的幅度，或者检测在摆动中编码的地址时的许多错误。因此，要防止最优化主要读出信号导致产生因轨道错误的检测而引起的错误，例如在检测编码在轨道的摆动中的地址信息时产生的错误。

所述设备的一个实施例被设置用于扫描一种介质，所述介质至少包括在第一聚焦设置(focus setting)的第一扫描层和在第二聚焦设置的第二扫描层，以及所述调节装置被设置成用于对偏移量参数调节一个折衷值，所述折衷值基于来自在第一扫描层第一校准程序对偏移量参数的第一校准值，和来自在第二扫描层第二校准程序对偏移量参数的第二校准值。在多层记录载体中的不同层(它们位于介质中不同深度的位置)具有不同的最优化校准值，例如对于基于最小化抖动的主要读出信号。然而，在特定情况下，比如说，在层深度或层类型事先不知道的情况下，所述折衷值的优点是可以获得可操作的扫描结果。

根据本发明的设备的进一步优选实施例在进一步的权利要求中给出。

附图说明

本发明的这些和其他一些方面通过参考在下面说明中的例子以及参考附图所描述的实施例变得易懂且被进一步清楚地阐述，所述附图中：

图1a显示了一种盘形的记录载体，

图1b显示了记录载体的截面，

图1c显示轨道的摆动的例子，

图2显示具有光束调节系统的扫描设备，

图3显示具有最优化校准系统的光盘系统，

图4显示聚焦偏移量和用于抖动和摆动的校准值，

图5显示在光学设备中基本错误处理图，

图6显示根据错误调节光束控制，

图7显示多层光盘。

在上面所述图中，对应于已经描述过的元件的元件具有相同的附图标记。

具体实施方式

图1a示出了具有轨道9和中心孔10的盘形的记录载体11。轨道9根据多匝螺旋图案而设置，在信息层上形成了基本平行的轨道。记录载体可以是光盘，它具有可记录型的信息层。可记录盘的例子是CD-R、CD-RW和DVD+RW。在可记录型的记录载体上的轨道9由在空白记录载体制造期间所提供的预浮凸(pre-embossed)的轨道结构(例如预刻沟槽)来标示。利用沿轨道记录的光学可检测标记将记录的信息表示在信息层上。这些标记由物理参数的变化(例如反射的变化)而形成，由此具有与它们的周围环境相比不同的光学特性。

图1b是沿着可记录型的记录载体11的b-b线而取的截面，其中透明衬底15具有记录层16和保护层17。轨道结构由例如预刻沟槽14形成，它使得在扫描期间读/写头能沿着轨道而行。预刻沟槽14可以被实施为是锯齿形凹槽或隆起(elevation)，或者可以由和预刻沟槽材料具有不同光学特性的材料构成。轨道结构也可以由规则扩展的子轨道形成，这些子轨道周期性地使得产生伺服信号。记录载体可以用来携载实时信息，例如视频或音频信息，或其他信息，如计算机数据。

图1c显示了轨道摆动的例子。图中显示了轨道的横向位置的周期性变化，也称为摆动。这些变化使得在辅助检测器中产生附加信号，例如在由扫描设备的头中的中心光斑中的次检测器或部分检测器所产生的推挽沟道中产生附加信号。所述摆动例如是频率调制的，且位置信息在调制中被编码。包含以这种方式编码的盘控制信息的可写入CD系统中如图1c所示的现有技术摆动的一个全面的描述可以在US4,901,300(PHN 12.398)和US5,187,699(PHQ 88.002)中找到。需要指出，公知的是，其他横向变化由扫描头中的(次)检测器通过被反射的辐射的变化(比如轨道宽度的变化，轨道附近的前置坑(Prepit)等)来检测。

图2显示了一种具有光束调节系统的扫描设备。该设备提供有用于扫描在记录载体11的扫描层上的轨道的装置，这些装置包括：用于旋转记录载体11的驱动单元21，头22，用于将来自头22的扫描光斑23定位在扫描层上的光束控制单元25，光束控制单元25和控制单元20。所述头22包括一种已知类型的光学系统，用于产生辐射光束24，该辐射光束24被引导穿过光学元件，以在记录载体信息层的轨道上产生辐射光斑23。辐射光束2 4由辐射光源(如激光二极管)产生。所述头进一步包括(没有显示出)聚焦致动器和传送装置(sledge)以及循轨致动器，所述聚焦致动器通过沿着所述光束的光轴方向移动辐射光束24的焦点，将所述光束聚焦成轨道上的光斑，所述循轨致动器用于在轨道中心上在轨道的扫描方向的横向方向上定位光斑23。对于盘形介质横向方向就是径向方向。轨道致动器可以包含用于径向移动光学元件的线圈，或可选地被设置成用于改变反射元件的角度。循轨和聚焦致动器由来自光束控制单元25的致动器信号驱动。对于读动作，被信息层反射的辐射光由可以被头22内常规类型的检测器(如四象限二极管)检测到，用于产生耦合到用于产生各种扫描信号的前端单元31的检测器信号，其包括用于循轨和聚焦的主检测器信号33和次检测器信号35。次检测器信号35被耦合到光束控制单元25以便控制所述聚焦致动器。主检测器信号33由常规类型的读处理单元30进行处理，读处理单元30包括解调器、反格式化程序和取得信息的输出单元。

控制单元20控制扫描，如用于信息的记录或读取，也可被设置成用于接收用户或主机的命令。控制单元20通过控制线26(例如系统总线)和设备中的其他单元连接。控制单元20包括控制电路，如微处理器，程序存储器和如下描述的用于执行程序和功能的接口。控制单元20也可以被实施为逻辑电路中的状态机。

所述设备可以提供有记录装置，用于在可写入或可重写类型的记录载体(如CD-R或CD-RW或DVD+RW或BD)上记录信息。记录装置与头22和前端单元31合作，来产生写辐射光束，所述记录装置包含：写处理装置，用于处理输入信息以产生驱动头22的写信号，其中写处理装置包括输入单元27、格式化程序28和调制器29。对于写信息，辐射光束的功率由调制器29控制，以在记录层中产生光学可检测的标记。这些标记可以是任何光学可读形式，例如采用反射系数和它们周围不同的平地(area)的形式，这在诸如染料、合金或相变材料这样的材料中记录时得到，或者采用偏振方向和它们周围不同的平地的形式，这在磁光材料中记录时获得。

在一个实施例中，输入单元27包括对输入信号的压缩装置，如模拟音频和/或视频信号，或者数字非压缩的音频/视频信号。用于MPEG标准的视频信号的压缩装置已进行了描述，MPEG-1在ISO/IEC 11172中被定义，MPEG-2在ISO/IEC 13818中被定义。可选地，输入信号可以根据这样的标准已经被编码。

在操作中，光束控制单元25采用一组光束控制参数来控制光束的各个方面。光束控制参数的第一个例子和达到正确的焦点有关，被称为聚焦偏移量。聚焦偏移量给控制焦点的次检测器信号和/或致动器信号提供一个可调节的设置点。聚焦偏移量可以例如补偿光学系统或检测器在头中位置的偏离。光束控制参数的一个类似的例子被称为径向偏移量，来补偿扫描光斑的横向位置。另外的光束控制参数可以和光束的功率、光束中一定信号成分的定时等有关。实际上，光束控制可以(部分地)实施为软件或实施于其他单元中，如激光功率控制单元或来自记录单元的信号图案。需要注意的是，光束控制参数可以要求在设备制造期间校准或测量，或可能在设备使用过程中受到老化、温度或其他实际操作条件的影响，例如以上参照JP 2001-307330所讨论的。

所述设备具有光束调节单元32，用于通过对光束控制单元的选定的光束控制参数调节一个折衷值，来根据检测到的误差调节光束控制单元25，其中所述折衷值至少基于源自第一校准程序的第一校准值和源自第二校准程序的第二校准值。第一和第二校准程序是不同的，即不同是因为它们在不同的校准条件下被执行并且它们被设置成对相同的光束控制参数提供各自的校准值。例如，聚焦偏移量值可以通过对设定点调节一个折衷的聚焦偏移量值而在光束控制单元内得到调节。聚焦偏移量值由光束调节单元32确定，该单元基于和主扫描信号中抖动有关的检测误差执行第一校准功能，以及基于推挽信号的摆动检测中的误差执行第二校准程序。校准和调节功能的进一步详细的例子参照图3-7讨论。聚焦调节单元也可以(部分地)实施为控制单元20中的软件功能，并且可以使用在光束控制单元25、在前端单元31、或在读出单元30中可提供的信号处理电路，来检测检测器信号的所选定的品质参数。

图3显示的是具有最优化校准系统的光盘系统。图中示出了光驱41的功能图。光驱具有：称为基本引擎(BE)42的一部分，用于执行介质11的扫描；称为数据通道(DP)43的一部分，用于控制扫描部分和处理待读或待记录的数据。数据部分43具有一个主接口45，用于和主机(如计算机或视频记录系统)通信，基本引擎具有光学扫描系统44，用于扫描介质11，如光盘，如箭头所示意性指示的。光驱提供有校准系统40，基于在操作使用期间发生的错误被触发并且应用现有知识来分析错误。基于所述分析，执行基本引擎的调节，其中从很多校准值中计算出折衷值来，并应用到基本引擎42中，如下面详细解释的。由于该折衷值，优化了在实际工作条件下实际设备的整体性能。

在操作中，光驱执行各种来自主机命令或直接用户行为所要求的操作，比如在记录载体中记录数据或从记录载体中读数据，或者当用户在光驱中插入一个新的记录载体时，检测盘的类型。在操作期间，各种错误都可能发生，且BE和DP可以包括错误恢复功能，如重试功能，改变检测或控制参数(如带宽)，或运行校准程序。通常，BE将试着以错误发生的级别从错误中恢复。在这一级别下，一些系统信息可以提供用来改正错误。如果在BE中不可能恢复，那么一条错误信息将报告给DP。传统地，DP可以只是重复命令，同时考虑到可以由主机预先确定或设置的命令逾时(time-out)。如果不可能恢复，则一条致命的错误将报告给主机。

根据本发明的光驱将发生的错误存储在错误存储器中，如存储在存储相关方面(如错误类型或偏离量或品质指示器(qualityindicator))的错误表格内。还有，在正常操作期间，将监测和存储进一步的标准，如信号品质参数(如信号从目标值的偏离)，或在数据读出期间的许多可校正误差。

所述光驱提供有一种分析功能来检测来自错误存储器的图案或级别。分析功能是基于设计光驱所熟知的系统知识和实际设备的研发和制造过程中的进一步的问题。例如，许多错误的发生不仅是由于在OPU中光学参数的扩展，而且因为在IC中的扩展。关于某种类型的错误与减轻这些问题的可能的折衷值之间的关系的知识被嵌入到所述设备中。所述折衷值可以要求校准程序和/或前面测量的校准值，这些值也包含在光驱中。

基本上，某个控制参数的优化的校准将使用一定的品质参数(如抖动)来完成。传统地，单一的校准提供了系统中所需的最优化边缘(margin)，以在光存储盘上读或写期间具有最优化性能。但是，例如由于在OPU元件中的扩展，其他操作功能(如摆动检测)将会失去边缘而引起错误。因此确定了第二校准值，并用于计算所述折衷值。

图4示出了用于抖动和摆动的聚焦偏移量和校准值。图中，横轴给出的是用于聚焦偏移量的值，如单位是nm，或作为修正值。抖动曲线46表示来自第一校准程序的对抖动的测量值，而摆动曲线47表示来自第二校准程序的对摆动的测量值。这些值的品质标示在纵轴上，值越低表明品质越好。注意，来自抖动校准程序的聚焦偏移量的最佳抖动校准值48具有-40nm的值。然而，来自摆动校准程序的聚焦偏移量的最佳摆动校准值49具有大约+150hm的值，由箭头指示。

如所述图中所示，在用于抖动和摆动的校准值之间存在差别。传统地，所述结果将是边缘在摆动部分中失去(导致较低的信噪比SNR)，这可能在盘上的摆动地址读出方面出现问题(所述地址编码于预刻凹槽中的摆动中，称为ADIP)。因为读/写系统是基于ADIP地址读出，所以可以预计一些错误。所述系统(BE)将试图通过例如重试来恢复，如下面参考图5所解释的。如果所述系统不能恢复这个错误，那么一个致命的错误将由DP传给主机。在这个例子中，由于最佳抖动和摆动之间的不同，传统的方式将引起错误。解决办法是，当检测到这样的错误时，基于折衷聚焦偏移量值设定聚焦单元，如FO＝(-40+150)/2＝+55。因此，通过检测这种类型的错误、选择合适的校准程序、最后根据许多不同的校准值的折衷值调节光束控制单元，系统故障机制的知识被应用。

图5示出了光学设备中的基本错误处理图。图的上部分表示基本引擎51的错误处理功能。首先，检测到一个问题53，例如在试图进入指定地址的数据扇区时的一个错误，或低的读出信号质量。在恢复程序54中，BE可以执行一些恢复步骤，如重试和/或调节相关参数，如激光功率。结果，BE在错误列表55中提供错误消息，例如包括致命错误、被恢复的错误和其他问题。如果发生致命错误，则BE报告给数据路径52，如果逾时值允许重试，DP可以决定运行这样的重试，否则，DP报告致命错误给主机。

图6示出了依据错误调节光束控制。这个图是图5的一个扩展版本。错误列表55给出了在基本引擎部分51中可能发生的所有可能BE错误的概观。分析机制61通过调节基本引擎中的参数，例如与光束控制有关的参数(如聚焦或径向偏移量，或光功率)，来确定将使用哪一折衷方案实现基本引擎部分的适当恢复。依据错误列表中报告的错误，分析机制61将检测问题的可能原因。随后，在校准步骤62中，判定是否可提供足够的信息用于确定一个折衷值，以及信息是否足够可靠。根据所报告的有关的但不同的错误，选择校准值以结合到折衷值中。校准值可以从存储器中取得(例如在制造或以前的校准过程所测得的)或者当时间允许时可以开始新的校准程序，如后台处理(background process)。当校准值可提供时，计算出所述折衷值，并运行调节程序63，以将所述折衷值(多个折衷值)运用到基本引擎中相关单元，如光束控制单元。

对于问题的每个根本原因，错误相关校准系统可以将一些错误汇集成错误概图或图案，如对于某种盘类型发生几种错误类型。所述系统将登记在特定条件下对于所述光驱发生每一集合的多少错误，例如对一种特定类型或品牌的记录载体。如果某一错误集合经常出现，那么将采取某一预定的折衷动作。这些针对不同错误的折衷动作，作为现有知识(如作为分析学习机制63的一部分)存储在校准系统中。现有知识在所述光驱研制期间被收集，或在产品校准期间被聚集起来。

在一个实施例中，分析机制63也存储以前经历的结果，如错误类型和各自校正的折衷动作以及那些调节后的最终错误图案。通过考虑这种过去的经历，实际上校准系统正学习精细调整这些调节。例如，对一个特定光盘类型，以前的经历可能是抖动和摆动两者之间的折衷，该值是通过给出一个处于两个最佳值之间的额外聚焦偏移量得出，如上面用图4所解释的。在所述调节之后，学习机制确定所述恢复是否成功，例如测量一个新的错误级别或信号质量的级别。如果成功，则被调节的参数将被存储在存储器中，例如EEPROM，并进一步用于那种光盘类型的光驱中。

对于特定的介质类型和/或实际的设备扫描元件，特定的错误和有关的校准以及折衷计算可以被存储在扫描设备的校准系统中，如数据库结构中，其中存储错误类型、图案或错误类型的组合、相关的控制参数、和待执行的校准程序、以及折衷值的计算规则。尤其是，对于多层型的介质，光束控制单元可以要求一些调节和特定的校准条件。

图7示出了多层光盘。L0是第一记录层70，L1是第二记录层71。第一透明层73覆盖第一记录层，间隔层72将两个记录层70和71隔开，衬底层74显示在第二记录层71的下面。第一记录层70所在的位置距离记录载体的入射面77比第二记录层71更近。显示激光束在第一状态75聚焦在L0层上，而在第二状态76聚焦在L1层上。多层光盘可提供用作只读预记录盘，如DVD-ROM或DVD-Video。最近已出现一种双层DVD+R盘，而具有三层或更多记录层的可写的或可重写的光存储介质也被考虑。每个记录层由所谓的材料层的堆叠形成。每个记录层将要被扫描，针对每一层可以找到不同的校准值，例如设定一个聚焦偏移量值。最佳的聚焦位置可以依赖于衬底厚度、杂散光的数量、电子驱动设备、甚至记录层的类型等。

需要注意的是，聚焦偏移量调节对于多层光盘是尤其相关的，这是因为由于多个记录层的深度的范围的缘故使得球面像差比较大。在一个实施例中，记录设备被设置成用来确定与多层型记录载体的不同层有关的不同聚焦偏移量作为记录期间的聚焦偏移量。因此，聚焦调节单元32被设置成用于对于待被记录的不同层分别执行聚焦偏移量确定。特别的是，聚焦调节单元32对每一层可以在存储器内分别存储确定的偏移量值，且当在特定层上进行附加记录时检索对该层以前确定的偏移量值。然而，在特定情况下，读错误仍可能发生，例如当必须用聚焦偏移量的单一设置对几个层进行扫描时，或者在光盘类型、尤其层数、或者层或介质的类型还未知的光盘类型检测过程期间。

在一个实施例中，光盘类型检测过程被如下实施。首先，使用来自设备中的设备存储器(如EPROM)的初始聚焦偏移量值，该初始聚焦偏移量值是在设计和/或制造期间在校准程序中确定的。该初始聚焦偏移量值例如是基于单层(SL)类型的光盘。作为下一步，启动径向初始化过程，例如检测具有预先记录的光盘类型信息的记录载体的区域。然而，如果在实际中记录载体碰巧是双层(DL)类型，那么原始的光盘类型检测过程仍是成功的。然而，经过一些老化后，或者在设备元件和/或介质类型的不利组合中，可能发生光盘类型检测错误。光盘类型检测错误的数量可以被计数并被存储，并且在发生了预定数量的这种错误后，即超过了光盘类型检测错误的错误阈值后，设定聚焦偏移量的折衷值。所述折衷值可以是在来自对于SL类型光盘的校准程序的聚焦偏移量值与来自DL类型光盘的校准程序的聚焦偏移量值之间的内插值。所述校准值可以在设备的制造期间分开存储在设备存储器中，或者至少一个校准值可以由在现场在设备使用期间所执行的校准程序确定或升级，即当已知的光盘类型被安装并被成功检测时。可选地，对于特定错误条件的折衷值可以被存储。

通过运用折衷值，光学系统通过运用不同条件之间的折衷值，可以更加稳定地防止由低的边缘引起的错误(例如由于元件偏离了平均值)。通过组合来自不同条件的校准值，所述边缘在不同的参数上有效地扩展。因而，对于因关键元件的扩展或介质的未预料到的特性引起的偏离平均值的驱动，依然给用户提供一种适当运行的光驱。

尽管本发明主要通过用于控制扫描光盘的光束进行的解释说明，但是本发明也适用于其他记录载体，如矩形光存储卡、磁光盘或需要控制扫描介质上的层的光斑的其他任意类型的信息存储系统。而且，本发明通过对径向偏移量的聚焦偏移量应用折衷值的一些例子进行阐述，而且其他系统参数，比如辐射光束的功率，可以影响各种扫描条件，而且可以基于在至少两个不同校准程序中检测到的折衷值进行调节。还有，三个或更多不同的校准值，例如出厂校准值，一些以前现场校准值、以及从安装当前介质时所执行的校准程序得到的实际校准值，可以结合在一起。

需要注意的是，在该文件中单词“包括”不排除除了那些已经列出的元件或步骤之外存在其他元件或步骤，并且在一个元件之前的单词“一个”并不排除存在多个这种元素，任何附图标记不限定权利要求的范围，本发明可以采取硬件或软件的方式实施，且几个“装置”或“单元”可以用硬件或软件的相同部件表示。此外，本发明的范围不限于这些实施例，且本发明在于上面所述的每一个新颖特征或特征的组合。

Claims

1.用于通过辐射光束(24)来扫描介质(11)的设备，所述设备包括：

-用于提供所述光束的头(22)，

-光束控制装置(25)，用于控制所述光束以在所述介质(11)的扫描层上产生扫描光斑，

-前端单元(31)，其与所述头耦合，用于基于从所述介质反射的辐射光产生扫描信号(33)，以及

-调节装置(32)，用于通过对光束控制装置的光束控制参数调节基于至少源于第一校准程序的第一校准值和源于第二校准程序的第二校准值的折衷值，根据所检测到的错误调节光束控制装置(25)，所述第一和第二校准程序不同，且被设置成用于在不同的校准条件下对相同光束控制参数提供各自的校准值。

2.根据权利要求1的设备，其中所述光束控制装置被设置成用于控制扫描光斑的聚焦位置，且所述光束控制参数是用于偏移聚焦位置的偏移量参数。

3.根据权利要求1的设备，其中所述扫描层具有基本上平行轨道的图案，所述光束控制装置被设置成用于控制扫描光斑相对于轨道的横向位置，所述光束控制参数是用于偏移横向位置的偏移量参数，在特殊情况下，所述图案基本上是同心圆的，且所述横向位置是径向位置。

4.根据权利要求2或3的设备，其中

-所述前端单元(31)被设置成用于产生主检测器信号和次检测器信号作为扫描信号，所述主检测器信号用于检测扫描层上轨道内的标记，所述次检测器信号用于检测扫描光斑相对于轨道的位置；

-所述第一校准程序是基于主检测器信号的主要品质参数的偏移量校准程序，所述第二校准程序是基于次检测器信号的次要品质参数的偏移量校准程序。

5.根据权利要求4的设备，其中主要品质参数是基于因所述标记而引起的主扫描信号的信号元件的抖动。

6.根据权利要求5的设备，其中次检测器信号是因轨道的横向变化而产生的推挽式信号，在特殊情况下，所述横向变化是摆动。

7.根据权利要求2或3的方法，其中所述设备被设置成用于扫描一种介质，该介质至少包括在第一聚焦设置下的第一扫描层和在第二聚焦设置下的第二扫描层，以及

-所述调节装置(32)被设置用于对偏移量参数调节一个折衷值，该折衷值基于来自在第一扫描层第一校准程序对所述偏移量参数的第一校准值和来自在第二扫描层第二校准程序对偏移量参数的第二校准值。

8.根据权利要求2或3的设备，其中所述调节装置(32)被设置成用于对偏移量参数调节一个折衷值，该折衷值是基于来自第一校准程序的对偏移量参数的第一校准值和来自第二校准程序的对偏移量参数的第二校准值，所述第一校准程序用于从扫描层读取标记，所述第二校准程序用于在扫描层进行写标记。

9.根据权利要求1的设备，其中所述调节装置(32)被设置用于所述根据检测到的错误调节光束控制装置(25)，所述调节通过

-检测错误的量级，

-检测在所说量级内的至少一种类型的错误，以及

-执行至少一种校准程序和/或根据错误类型选择至少一个校准值。

10.一种通过辐射光束(24)扫描介质(11)的方法，所述方法包括：

-控制所述光束以在介质(11)的扫描层上产生扫描光斑，

-基于从所述介质所反射的辐射光产生扫描信号(33)，以及

-通过对光束控制参数调节一个折衷值，根据所检测到的错误调节所述光束，所述折衷值基于至少源于第一校准程序的第一校准值和源于第二校准程序的第二校准值，其中所述第一和第二校准程序不同，并且被设置成用于在不同的校准条件下对相同的光束控制参数提供各自的校准值。