CN101046995A - 用于在光盘设备中调节聚焦伺服的方法和装置 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种在光盘设备中调节聚焦伺服的方法和装置。根据本发明的一个实施例，使用空白盘的跟踪误差信号粗略地调节聚焦伺服，在盘的预定区域中记录数据，然后使用所记录的数据的再现的信号的特性精确地调节聚焦伺服。在这种情况下，调节聚焦伺服以调节物镜的聚焦位置，预定区域是盘上所设的用以检测最优记录功率的区域。再现的信号的特性包括再现的RF信号的大小和/或抖动值。因此，本发明即使为空白盘，也能够最佳地调节聚焦伺服，并能够改进数据记录质量。

Description

用于在光盘设备中调节聚焦伺服的方法和装置
技术领域
本发明一般涉及一种用于在光盘设备中调节聚焦伺服的方法和装置，尤其涉及能够为其上没有记录数据的空白盘调节聚焦位置的一种对聚焦伺服的调节。
背景技术
为了从光盘中再现或在光盘上记录数据，需要调节诸如聚焦伺服和跟踪伺服等各种伺服。聚焦位置随盘的状态、机制和光学拾取头变化，并且极大地影响着再现质量尤其是记录质量，因此对聚焦位置的调节非常重要。
此外，近来一种具有两层记录层的双层盘已商业化以增加存储容量。然而，由于两记录层之间的间隔不宽，并且离光盘表面较远的记录层的再现和记录质量相对地恶化，所以双层盘是不利的。因此，精确调节双层盘以及典型光盘的聚焦位置的必要性进一步增加。
以下简述了一种用于调节聚焦位置的常规方法。
首先，对于其上存在记录数据的盘的情况，使用从记录数据中获得的再现的射频(RF)信号，和跟踪误差信号调节聚焦位置。
然而，对于其上没有记录数据的空白盘的情况，不能使用RF信号，因此仅使用跟踪误差信号来调节聚焦位置。
同时，如果在已使用跟踪误差信号为空白盘调节了聚焦位置后在空白盘上记录了数据，则光盘设备使用RF信号和跟踪误差信号检测最优聚焦位置，并将该最优聚焦位置作为空白盘的最优聚焦位置值记录在存储器中(电可擦可编程只读存储器：EEPROM)。随后，当插入空白盘时，使用所存储的聚焦位置值调节聚焦位置。
然而，仅使用跟踪误差信号来调节聚焦位置是不可靠的，因此难以检测数据记录所需的最优聚焦位置。此外，当针对任意空白盘所检测和存储的聚焦位置值被应用于另一空白盘时，由于盘之间的差异，难以最佳地调节聚焦位置。如果没有以这种方式最佳地调节聚焦位置，就会有在空白盘上记录质量恶化的问题。
发明内容
相应地，考虑上述在现有技术中出现的问题作出了本发明，并且本发明的一个目的在于提供一种最佳地调节空白盘的聚焦伺服的方法。
为了实现上述目的，本发明提供了一种在光盘设备中调节聚焦伺服的方法，包括：当插入空白盘时使用跟踪误差信号调节聚焦伺服；在盘的预定的区域中记录数据；以及根据记录数据的再现信号的特性调节聚焦伺服。
预定的区域可以是空白盘上所设的用以检测最优记录功率的区域。此外，用以调节聚焦伺服的跟踪误差信号可以是在跟踪伺服关(OFF)状态下检测到的误差信号。此外，记录在预定区域的数据可以是测试数据或伪数据。
再现信号的特性可以包括再现的射频(RF)信号的大小和/或再现射频信号的抖动值。在这种情况下，抖动值可以根据从再现的RF信号重建的数据的误码率来计算。此外，在调节聚焦伺服时可考虑再现的RF信号的大小与再现的RF信号的抖动值间的不同比例。
记录数据可包括：在光盘上的测试区中执行最优记录功率检测操作；以及使用通过最优记录功率检测操作检测到的记录功率在测试区中记录测试数据。
调节聚焦伺服的目标可以是物镜的聚焦位置。在这种情况下，关于所调节的聚焦位置的信息可以与盘的盘代码相关联地存储在光盘设备中。此外，关于所调节的聚焦位置的信息可以是被应用到致动器从而将物镜移动到该聚焦位置的电压值。
另外，本发明提供了一种调节聚焦伺服的装置，包括：光学单元，被配置成在盘上记录数据并从盘中读取数据；检测单元，被配置成根据从光学单元读取的信号检测跟踪误差信号以及RF信号；伺服单元，被配置成执行与数据记录和数据读取相关的伺服操作；以及控制单元，被配置成控制光学单元和伺服单元以在插入空白盘时使用从检测单元检测到的跟踪误差信号来调节聚焦伺服，在盘的预定区域中记录数据，以及根据记录数据的RF信号的特性重新调节聚焦伺服。
附图说明
根据以下具体说明和附图，将更为清楚地理解本发明的上述以及其它目的、特征和其它优点，其中：
图1示出了跟踪误差信号和再现的RF信号根据物镜与光盘记录层的相对位置的大小。
图2是示出了光盘设备的结构的框图，在所述光盘设备中根据本发明的一个实施例实现了一种调节聚焦伺服的方法；以及
图3是示出了根据本发明的一个实施例在光盘设备中调节聚焦伺服的方法的流程图。
具体实施方式
以下将参照附图对根据本发明在光盘设备中调节聚焦伺服的方法和装置的一个实施例进行详细的说明。
现在将参照附图，其中在所有不同附图中使用相同的标号来指定相同或类似的组件。
图1示出了跟踪误差信号和再现的RF信号根据物镜与光盘记录层的相对位置误差的大小。在其处再现的RF信号具有最大值的物镜的位置B，与在其处跟踪误差信号具有最大值的物镜的位置B′没有显著的差异，但是由于诸多原因它们不能精确地彼此重合。
在空白盘的情况下，由于盘上没有记录数据和不能获得再现的RF信号，所以仅使用跟踪误差信号来调节聚焦位置。对于其上已记录数据的盘的情况，使用再现的RF信号调节聚焦位置。
在本发明中，为空白盘使用跟踪误差信号来粗略地调节聚焦位置，并使用通过记录测试数据记录在盘的预定区域中的数据的再现的RF信号的特性来精确地调节。
图2是示出了在其中根据本发明的一个实施例实现了一种调节聚焦伺服的方法的光盘设备的构造的框图。
光盘设备包括：光学拾取头20，数字记录信号处理单元30a，数字再现信号处理单元30b，信道比特编码器40，光学驱动41、射频(RF)单元50，伺服单元60，驱动单元61、跟踪误差(TE)/RF检测单元70，微处理器80、以及存储器81。
数字记录信号处理单元30a将纠错码(ECC)等添加到输入数字数据，然后将输入的数字数据转换为记录格式。信道比特编码器40将已被转换为记录格式的数据重新转换成比特流。光学驱动41输出对应于输入信号的光学驱动信号，以及光学拾取头20响应于光学驱动信号在光盘10上记录数据，并且从光盘10的记录层读取数据。
RF单元50使用由光学拾取头20读取的信号生成聚焦误差信号、跟踪误差信号、以及RF信号，对RF信号执行滤波和波形整形，并作为二进制信号输出经滤波和波形整形的RF信号。数字再现信号处理单元30b使用其自身以二进制信号锁相的时钟信号从二进制信号再现原始数据，然后输出再现的原始数据。
驱动单元61驱动用于旋转光盘10的主轴电机，以及用于移动光学拾取头20的滑动电机(sled motor)。伺服单元60使用跟踪误差信号TE、聚焦误差信号FE以及光盘10的转速来控制驱动单元61的驱动。TE/RF检测单元70检测从RF单元50输出的跟踪误差信号和RF信号的大小。存储器81在其中存储从光盘10再现数据或在光盘10上记录数据所需要的各种控制数据。
微处理器80为插入的光盘10控制各种伺服，诸如聚焦伺服和跟踪伺服等。在空白盘的情况下，当与调节聚焦伺服相关联地调节光学拾取头20中所设的物镜的聚焦位置时，根据所检测的跟踪误差信号的强度粗略地调节聚焦位置，在光盘10的特定区域中记录测试数据，以及根据记录数据的再现的RF信号的特性精确地调节聚焦位置。
在上述构造中，存储器81通过使用诸如电可擦可编程只读存储器(EEPROM)等非易失性存储器设备来实现，并且存储每个盘代码(每个盘制造商)的参考记录功率和参考β值。
图3是示出了一种根据本发明的一个实施例在光盘设备中调节聚焦伺服的方法的流程图。以下，参照图2的构造，详细描述图3中根据本发明的调节聚焦伺服的方法。
如果插入了光盘10，微处理器80确定该光盘10是否是空白盘。对于该操作，微处理器80将光学拾取头20移到光盘10的预定区域，并根据该预定区域中是否已记录了数据来确定该光盘10是否是空白盘。
在这种情况下，该预定区域是测试区，在光盘10为数字通用盘(DVD)时可以是记录管理器(RMA)或引入区，而在光盘10为压缩盘(CD)时可以是程序存储区(PMA)。
如果在步骤S10确定光盘10为空白盘，微处理器80在步骤S11开启聚焦伺服，并在步骤S12根据由TE/RF检测单元70在聚焦伺服开(ON)/跟踪伺服关(OFF)状态下检测到的跟踪误差信号粗略地调节光盘10的物镜的聚焦位置。
在粗略地调节物镜的聚焦位置后，微处理器80在光盘10的测试区中执行最优功率控制(OPC)操作，由此检测最优记录功率。以下简略地描述OPC操作。
首先，微处理器80从存储器81读取与光盘10的盘代码相对应的参考记录功率，并在光盘10上的预定测试区中(例如功率校准区域(PCA)中的预定测试区)记录测试数据，同时根据所读取的参考记录功率以预定的增量改变记录功率。
在完成测试数据的记录后，微处理器80顺序地读取所记录的测试数据，并检测再现的RF信号中的β值。此外，微处理器80从所检测的β值和对应于该β值的相应记录功率中获得一个函数，并将存储在存储器81中的、对应于光盘10的盘代码的参考β值与该函数相比较，由此检测最优记录功率。
在已用这种方法检测到了光盘10的最优记录功率时，微处理器80在聚焦伺服开(ON)/跟踪伺服开(ON)状态下在光盘10的特定区域中(例如，测试区)再次记录预定的数据。在这种情况下，微处理器80在步骤S13使用所检测的最优记录功率来记录预定的数据。预定的记录数据可以是测试数据或伪数据。
在完成预定数据的记录后，微处理器80检测在读取记录数据时从RF单元50输出的再现的RF信号的大小、和再现的RF信号的抖动值，并由此在步骤S14根据所检测的RF信号的大小和/或抖动值来精确地调节物镜的聚焦位置。再现的RF信号的抖动值可以从根据从盘中读取的再现信号重建的数据的误码率(BER)获得。
在这种情况下，微处理器80精确地调节聚焦位置从而增加再现的RF信号的大小并最小化抖动值。此外，微处理器80在调节聚焦位置时可根据情况以不同的比例考虑RF信号的大小和抖动值。例如，再现的RF信号的大小的权重对抖动值的权重的比率可以设为5∶5或6∶4。
此后，微处理器80在步骤S15使用其中精确调节了聚焦位置的聚焦伺服记录用户所请求的数据。
同时，微处理器80可以将与精确调节的聚焦位置相关的信息与光盘10的盘代码相关联地存储在存储器81中。关于聚焦位置的信息可以是被应用到致动器以将物镜移到相应位置的电压值。在这种情况下，如果此后插入了具有相同盘代码的空白盘，则处理器80能够使用存储在存储器81中的值立即最佳地调节聚焦位置。
如上所述，本发明即使对空白盘也能够使用高度可靠的再现的RF信号来最佳地调节聚焦位置。
从而，本发明由于其能被用于最佳地调节即使是空白盘的聚焦伺服并能改进数据记录质量，所以是有利的。
虽然为了说明的目的公开了本发明的优选实施例，然而本领域的技术人员将理解各种修改、添加和替换是可能的，而不会背离在所附权利要求中公开的本发明的范围和精神。

Claims (13)

1.一种用于在光盘设备中调节聚焦伺服的方法，所述方法包括：
当插入空白盘时使用跟踪误差信号来调节聚焦伺服；
在所述盘的预定区域中记录数据；以及
根据所记录的数据的再现的信号的特性重新调节所述聚焦伺服。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预定区域是设置在所述空白盘上的用以检测最优记录功率的区域。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，用以调节所述聚焦伺服的所述跟踪误差信号是在跟踪伺服关状态下检测到的误差信号。
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，记录在所述预定区域中的所述数据是测试数据或伪数据。
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所再现的信号的所述特性包括所再现的射频信号的大小和/或所再现的射频信号的抖动值。
6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述抖动值根据从所再现的射频信号重建的数据的误码率来计算。
7.如权利要求5所述的方法，其特征在于，在调节所述聚焦伺服时，考虑所再现的射频信号的大小和所再现的射频信号的抖动值间的不同的比例。
8.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述记录数据包括：
在所述盘的测试区中执行最优记录功率检测操作；以及
使用通过所述最优记录功率检测操作检测到的记录功率在所述测试区中记录测试数据。
9.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述聚焦伺服的调节目标是物镜的聚焦位置。
10.如权利要求9所述的方法，其特征在于，还包括在所述光盘设备中存储关于所调节的聚焦位置的信息。
11.如权利要求10所述的方法，其特征在于，所述关于所调节的聚焦位置的信息是被施加于致动器以将所述物镜移到所述聚焦位置的电压值。
12.如权利要求10所述的方法，其特征在于，所述关于所调节的聚焦位置的信息与所述盘的盘代码相关联地存储。
13.一种用于调节聚焦伺服的装置，所述装置包括：
光学单元，被配置成在盘上记录数据和从所述盘读取数据；
检测单元，被配置成根据从所述光学单元读取的信号来检测跟踪误差信号和射频信号；
伺服单元，被配置成执行与数据记录和数据读取相关的伺服操作；以及
控制单元，被配置成控制所述光学单元和所述伺服单元以在插入空白盘时使用从所述检测单元检测到的跟踪误差信号调节聚焦伺服，在所述盘的预定区域中记录数据，以及根据所记录的数据的射频信号的特性重新调节所述聚焦伺服。
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WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

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