CN101038764A

CN101038764A - 光盘和光盘装置

Info

Publication number: CN101038764A
Application number: CNA2007100874354A
Authority: CN
Inventors: 大间知范威; 松丸祐晃; 中村直正; 山本亮介; 中居司
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 2006-03-17
Filing date: 2007-03-16
Publication date: 2007-09-19
Also published as: JP2007250136A; TW200805334A; EP1835499A3; US20070217319A1; EP1835499A2

Abstract

本发明提供了一种光盘，包括：形成于透明基片层上的第一信息层，具有包括第一凸起平面部分和第一凹入平面部分的第一导槽(X₁、Y₁、Z₁)，所述第一凸起平面部分具有第一宽度(X₁)并且靠近所述光入射侧形成，所述第一凹入平面部分具有第二宽度(Y₁)，与第一凸起平面部分之间具有第一高度差(Z₁)，并且靠近所述光入射侧的相对侧形成；以及形成于粘合层上的第二信息层，具有包括第二凸起平面部分和第二凹入平面部分的第二导槽(X₂、Y₂、Z₂)，所述第二凸起平面部分具有第三宽度(Y₂)并且靠近所述光入射侧形成，所述第二凹入平面部分具有第四宽度(X₂)，与第二凸起平面部分之间具有第二高度差(Z₂)，并且靠近所述光入射侧的相对侧形成。

Description

光盘和光盘装置

技术领域

本发明的一个实施例涉及一种多层光盘和光盘装置，该多层光盘能够从光入射面侧对多个记录膜来记录和再现信息，该光盘装置能够执行该记录和再现。

背景技术

用作信息记录介质的光盘遵照DVD标准而被广泛的利用，该光盘能够记录视频图像和音乐内容。这种光盘包括：只再现型，一种能够仅仅将信息记录一次的一次写入型光盘；和重写型等，其由计算机的外部存储器或记录视频等代表。遵照DVD标准的光盘具有这样一种结构，在该结构中，每个的厚度均是0.6mm(公称)的两个基片彼此结合，物镜的NA是0.6，另外用于记录/再现的激光束的波长是650nm。近年来，人们一直期望增加存储容量。有几种增加存储容量的技术的例子，这些例子为：缩短光源的波长；增加物镜的孔径的数值；改进调制/解调技术；改进格式化效率；进行多层化等等。在HD DVD标准中，使用波长大约为405nm的蓝色激光来显著地提高记录密度从而增加容量，另外物镜的NA设置为0.65，从而实现与当前DVD的亲和性。然而，为了进一步增加容量，已经推广了多层信息记录介质。

在这种多层信息记录介质中，针对具体每层应该多大这个问题，专利文献1(日本专利申请公开No.2005-4944)描述了一种满足预定公式的光盘，该光盘中，光透射基片和中间层的折射率分别是n1和n2；第一和第二信息层的沟槽深度分别是d1和d2；沟槽宽度分别是W1和W2；轨道间距分别是p1和p2。

然而，在专利文献1的传统技术中，存在一个问题，该问题是：为了实现对来自非再现层的信号泄漏进行限制以及在来自激光束入射面的深度上的记录层中以低功率实现记录处理操作，针对记录层的导槽具体应该多大并没有提供精确值。

发明内容

本发明的目的在于提供一种光盘，所述光盘具有特定大小的导槽，需要所述导槽来限制非再现层的信号泄漏以及在位于一定深度的记录层中以低功率实现可靠记录处理操作。

考虑到以上条件来研究本发明，本发明提供了一种光盘，所述光盘包括：

透明基片层，设置在光入射侧；

第一信息层(R1)，具有包括第一凸起平面部分和第一凹入平面部分的第一导槽(X₁、Y₁、Z₁)，所述第一凸起平面部分具有第一宽度(X₁)并且靠近所述光入射侧而形成，所述第一凹入平面部分具有第二宽度(Y₁)，与所述第一凸起平面部分之间具有第一高度差(Z₁)，并且靠近所述光入射侧的相对侧而形成，所述第一信息层形成于所述透明基片层上；

粘合层(7)，形成于所述信息层上；以及

第二信息层(R2)，具有包括第二凸起平面部分和第二凹入平面部分的第二导槽(X₂、Y₂、Z₂)，所述第二凸起平面部分具有第三宽度(Y₂)并且靠近所述光入射侧而形成，所述第二凹入平面部分具有第四宽度(X₂)，与所述第二凸起平面部分之间具有第二高度差(Z₂)，并且靠近所述光入射侧的相对侧而形成，所述第二信息层形成于所述粘合层上，

其中，所述第一和第二导槽的周期P(μm)具有从0.35μm到0.8μm范围内的值，并且在所述第一宽度(X₁)、所述第二宽度(Y₁)、所述第一高度差(Z₁)、所述第三宽度(Y₂)、所述第四宽度(X₂)和所述第二高度差(Z₂)中，通过使用常量Q₁和Q₂，具有如下关系：

Q₁＝2Z₁/(P-X₁-Y₁)，

Q₂＝2Z₂/(P-X₂-Y₂)，

0.9＜Q₂/Q₁＜1.5，

并且，满足1＜X₁/Y₁＜4，0.25＜X₂/Y₂＜1。

在包括多个记录层的光盘中，提供了一种光盘，所述光盘具有特定大小的导槽，需要所述导槽来限制非再现层的信号泄漏以及在位于一定深度的记录层中以低功率实现可靠记录处理操作。

附图说明

图1是示出根据本发明实施例的双层光盘的导槽的大小的例子的截面图；

图2是示意图，示出了根据本发明实施例的双层光盘中的基片的每个参数对ΔCNR1、ΔCNR2以及ΔL的影响的例子(第一测试数据)；

图3是示意图，示出了根据本发明实施例的双层光盘中的基片的每个参数对ΔCNR1、ΔCNR2以及ΔL的影响的例子(第二测试数据)；

图4是示意图，示出了根据本发明实施例的双层光盘中的基片的每个参数对ΔCNR1、ΔCNR2以及ΔL的影响的例子(第三测试数据)；

图5是示意图，示出了根据本发明实施例的双层光盘中的基片的每个参数对ΔCNR1、ΔCNR2以及ΔL的影响的例子(第四测试数据)；

图6是示意图，示出了根据本发明实施例的双层光盘中的基片的每个参数对ΔCNR1、ΔCNR2以及ΔL的影响的例子(第五测试数据)；

图7是示意图，示出了根据本发明实施例的双层光盘中的基片的每个参数对ΔCNR1、ΔCNR2以及ΔL的影响的例子(第六测试数据)；

图8是示意图，示出了根据本发明实施例的双层光盘中的基片的每个参数对ΔCNR1、ΔCNR2以及ΔL的影响的例子(第七测试数据)；

图9是示意图，示出了根据本发明实施例的双层光盘中的基片的每个参数对ΔCNR1、ΔCNR2以及ΔL的影响的例子(第八测试数据)；

图10是示出根据本发明实施例的双层光盘的其它结构的例子的截面图；

图11是示出根据本发明实施例的双层光盘的其它结构的例子的截面图；

图12是示出根据本发明实施例的双层光盘的其它结构的例子的截面图；

图13是示出根据本发明实施例的双层光盘的其它结构的例子的截面图；

图14是框图，示出了处理根据本发明实施例的双层光盘的光盘装置的例子；

图15是示出根据本发明实施例的双层光盘的通用参数设置例子的示意图；

图16是示意图，示出了摆动形状和根据本发明实施例的双层光盘的地址位区域中的地址位之间的关系；

图17是示意布局图，示出了与根据本发明实施例的双层光盘的主要布局位置和次要布局位置有关的摆动数据单元的内部；

图18是示意图，示出了与根据本发明实施例的双层光盘的摆动地址信息中的数据结构有关的实施例；

图19是示意图，示出了根据本发明实施例的双层光盘上的调制区域的布局位置；

图20是示意图，示出了测量根据本发明实施例的双层光盘的Wppmax和Wppmin的方法；

图21是具体示意图，示出了根据本发明实施例的双层光盘的摆动信号和轨道移位信号；

图22是示意图，示出了测量根据本发明实施例的双层光盘的(I1-I2)pp信号的方法；

图23是框图，示出了用于测量与根据本发明实施例的双层光盘的摆动信号的平方波长有关的NBSNR的电路；

图24是示意图，示出了用于测量根据本发明实施例的双层光盘的NBSNR的方法；

图25是曲线图，示出了以根据本发明实施例的双层光盘的相位调制为基础的摆动信号的频谱分析仪检测信号特性的例子；以及

图26是曲线图，示出了以根据本发明实施例的双层光盘的相位调制为基础的摆动信号的频谱分析仪波形的例子。

具体实施方式

现在将参照附图来详细描述本发明的实施例。图1是截面图，示出了根据本发明实施例的双层光盘的结构的例子。

<根据本发明的光盘的第一实施例：图1>

(结构，材料等)

图1是截面图，示出了根据本发明实施例的双层光盘的导槽的大小的例子。如图1所示，在根据本发明的光盘D中，从入射激光束侧顺序提供了：透明基片1、介电层2、记录层3、介电层4、反射层5、介电层6、粘合层(中间层)7、介电层8、记录层9、介电层10、反射层11和基片12。

通常使用厚度为0.08mm到0.6mm的基片1。在径向方向上以0.35μm到0.8μm为预定间隔在圆周方向上形成多个寻道导槽。通常使用厚度从0.6mm到1.1mm的基片12。在径向方向上以预定间隔在圆周方向上形成多个寻道导槽。尽管图1中导槽形成于基片1和基片12上，但是它们可以形成于粘合层(中间层)7中或者可以设置为它们的组合。此外，尽管透明基片1透射用于信息记录和再现的波长从390nm到420nm激光束的光，并且使用折射率从1.50到1.70的材料(诸如聚碳酸酯)，但是基片12可以不透射光。对于粘合层而言，这里采用了紫外线固化树脂、胶带等，其中，该紫外线固化树脂、胶带等能够透射用于信息记录/再现中的激光束的波长的光。

对于介电层2、4、6、8和10，采用了ZnS-SiO₂、SiO₂、AlN、TiO₂、Nb₂O₅、Ta₂O₅、SiN等等。对于记录层3和9，优选地采用相变记录层，该记录层由Ge-Sb-Te系合金、Ge-Sb-Bi-Te系合金、Ge-Bi-Te系合金、Ge-Sb-In-Te系合金、Ge-Bi-In-Te系合金、Ge-Sb-Bi-In-Te系合金、Ge-Sn-Sb-Te系合金、Ge-Sn-Sb-Bi-Te系合金Ag-In-Sb-Te系合金、In-Ge-Sb-Te系合金、Ag-In-Ge-Sb-Te系合金等构成。在使用这些材料的情况下，优选地在相变记录膜的一面或两面上设置具有结晶促进功能的膜。此外，考虑到耐环境性或重复记录属性，使用ZnS-SiO₂等。反射层5和11采用Ag合金、Al合金等。考虑到光学特性和覆写特性来确定这些层的每层的材料和膜厚度。

在介电层2和4的每个与记录层3之间或者在介电层8和10的每个与记录层9之间，为了改进擦除特性或改进覆写特性，由ZrO₂、Cr₂O₃、GeN、CrN、Ta₂O₅、HfO₂、HfON、SiO₂、SiC、SiN等构成的其它介电层可以独立地插入到一侧或两侧，或者可以通过将它们进行组合而混合。在双层光盘中，通过从透明基片1侧来照射聚焦到物镜上的激光束，来执行第一信息层R1和第二信息层R2的记录/再现。

此外，对于记录层3和9，这里使用了菁颜料、酞菁颜料等，这些颜料能够比吸收用于记录和再现的激光束的波长的光更显著地吸收大量长波长光。对于反射膜，可以使用实质包括Ag、Au、Cu、Al、Ti等的金属膜。在这种情况下，可以不提供每个介电层。

(要建立的关系式)

在图1中，第一信息层和透明基片1上的导槽是不规则的，其周期P(μm)在0.35到0.8μm的范围内，其中，凸出平面部分定义为X₁(μm)；凹入平面部分定义为Y₁(μm)；它们的高度差定义为Z₁(μm)；形成于作为第二信息层的基片12上的凹入平面部分定义为X₂(μm)；凸出平面部分定义为Y₂(μm)；以及它们的高度差定义为Z₂(μm)。单轨道记录之后和外围轨道记录之后CNR的差定义为ΔCNR1；然后，记录到非再现层的相同半径部分之后CNR的差定义为ΔCNR2，其中，所述CNR的每一个定义为第一信息层和第二信息层的和。此外，针对用于记录到第一信息层的激光功率，用于记录到第二信息层所需的激光功率定义为ΔL。用于记录所需的激光功率定义为能够记录充分标记(最大标记长度为50dB或更多)的功率。在双层光盘中，当ΔCNR1＜1.0dB，ΔCNR2＜2.0dB时，可以达到能以作为HD DVD的估计指示器的SbER(模拟位误差率，参考：Y，Nagai：Jpn.J.Appl.phys.42(2003)971.)来实现再现的误码率。当ΔL＜1.5时，能够通过使用实际可用的蓝色激光来执行到第二信息层的记录。具体地讲，可以满足下面公式：

Q₁＝2Z₁/(P-X₁-Y₁)，

Q₂＝2Z₂/(P-X₂-Y₂)，

0.9＜Q₂/Q₁＜1.5，

1＜X₁/Y₁＜4，0.25＜X₂/Y₂＜1，或者Q₁＝2Z₁/(P-X₁-Y₁)，

Q₂＝2Z₂/(P-X₂-Y₂)，

0.9＜Q₂/Q₁＜1.5，

0.25＜X₁/Y₁＜1，1＜X₂/Y₂＜4，

此外，当ΔL＜1.4时，即使在2X或更高的高速记录中，也可以执行到第二信息层的记录。具体地讲，可以满足下面公式：

Q₁＝2Z₁/(P-X₁-Y₁)，

Q₂＝2Z₂/(P-X₂-Y₂)，

1＜Q₂/Q₁＜1.2，

1＜X₁/Y₁＜4，0.25＜X₂/Y₂＜1，或者Q₁＝2Z₁/(P-X₁-Y₁)，

Q₂＝2Z₂/(P-X₂-Y₂)，

1＜Q₂/Q₁＜1.2，

0.25＜X₁/Y₁＜1，1＜X₂/Y₂＜4，

形成于这个基片上的不规则高度的差Z₁和Z₂优选地为0＜Z₁＜λ/2n，0＜Z₂＜λ/2n(其中，“n”应该是具有第一信息层的基片的折射率)。当Z₁，Z₂＞λ/2n时，很难实现反射光量、推挽信号幅值和导槽的不规则性传递的兼容。

此外，具体地讲，在使用激光束波长为从400到410nm以及NA为0.65的光学系统的情况下，优选使用厚度为从560μm到600μm的基片。如果形成于第一信息层和第二信息层之间的粘合层的厚度太小，则来自非再现层的泄漏增加。如果厚度太大，则在第二信息层中球面象差的影响变得严重，因此期望该厚度在20μm到35μm的范围内。具体地讲，希望第一基片的厚度X(μm)是f(n)-13μm或更多；希望第一信息层和第二信息层之间形成的粘合层的厚度Y(μm)是20μm或更大，并且满足X+Y≤f(n)+30μm以及f(n)+1μm＜X+Y/2。这里，满足f(n)＝(A₁×n³)(n²+A₂)/(n²-1)(n²+A₃)×1000(μm)，其中，“n”是第一透明基片的折射率，A₁是0.26200，A₂是-0.32400，A₃是0.00595。第一信息层和第二信息层之间形成的粘合层的厚度可以在20μm到35μm的范围内。如果厚度是20μm或更小，则层间串扰严重，如果厚度是35μm或更大，则由于球面象差的影响导致记录功率增加。

希望的是，针对用于执行记录/再现的激光束的波长而言，任何层的反射率在3％到10％的范围内；同时希望第二信息层的反射率是第一信息层的反射率的0.8到1.2倍。如果反射光量小，则在记录/再现设备侧SN比率变小，从而需要3％或更大的反射率。然而，在高反射率的情况下，由记录膜吸收的光量同时地减少，并且记录灵敏度显著降低。此外，如果再现层和非再现层之间的反射率差增加，则高反射率层到低反射率层的信号泄漏增加。因此，希望两个信息层之间的反射率差为±20％或更小。

能够通过使用TEM、SEM等观察光盘的横截面来测量根据本发明的导槽的平面部分的不规则性。

关于针对根据本发明的双层光盘来执行记录/再现的记录/再现设备，除了当前的记录/再现设备以外，还需要以下机制：识别插入的光盘包括多少层的机制；在每层上执行聚焦的机制；和针对每个聚焦的信息记录层执行记录/再现的机制。此外，根据情况光学系统需要球面象差纠正机制。

通过使用上述盘结构和盘制造方法、材料以及记录/再现设备，对能够执行记录的双层盘中的两个信息层以实际记录功率能够获得好的记录/再现信号质量，从而能够提高记录容量。

<根据本发明实施例的推导关系式的测试数据>

下面将详细描述用于推导出规定了导槽的每个关系式的测试数据的每项，，需要该导槽来限制来自非再现层的信号泄漏以及在位于第一实施例中上述深度处的记录层中以低功率实现可靠记录处理操作。

(第一测试数据：图2)

现在，将描述图2所示的根据本发明的第一测试数据。采用厚度为590μm的聚碳酸酯基片来制造可重写型双层盘，并且通过波长为405nm的激光束来执行记录/再现估计。盘结构为透明基片/介电层/记录层/介电层/反射层/介电层/粘合层/介电层/记录层/介电层/反射层/基片；ZnSiO₂用于介电层，Ge₄Sb₂Te₇用于记录层；Ag合金用于反射层；用于透射记录/再现波长的光的材料用于粘合层；以及厚度定义为25μm。将层结构设置为：第一信息层的反射率是5.2％；透射率是53％；第二信息层的反射率是5.1％。在第一信息层和第二信息层中，不规则地形成导槽，并且采用了其周期P(μm)为0.4μm的基片。

形成于作为第一信息层的透明基片上的凸出平面部分定义为X₁(μm)；凹入平面部分定义为Y₁(μm)；它们的高度差定义为Z₁(μm)；形成于作为第二信息层的基片上的凹入平面部分定义为X₂(μm)；凸出平面部分定义为Y₂(μm)；以及它们的差定义为Z₂(μm)。单轨道记录之后和外围轨道记录之后CNR的差定义为ΔCNR1；然后，记录到非再现层的相同半径部分之后CNR的差定义为ΔCNR2，其中，所述CNR的每一个定义为第一信息层和第二信息层的和。此外，针对用于记录到第一信息层的激光功率，用于记录到第二信息层所需的激光功率定义为ΔL。用于记录所需的激光功率定义为能够记录充分标记(最大标记长度为50dB或更多)的功率。图2示出了双层盘的Q₂/Q₁、ΔCNR1、ΔCNR2和ΔL，其中，X₁/Y₁＝3以及X₂/Y₂＝0.33恒定，并且分别定义了P-X₁-Y₁、P-X₂-Y₂、Z₁和Z₂。

通过使用这个测试数据发现：获得ΔCNR1＜1.0dB以及ΔCNR2＜2.0dB来获得能以作为HD DVD的估计指示器的SbER实现再现的误码率，并且发现：当在ΔL＜1.5的实际记录功率下实现记录时，应满足0.9＜Q₁/Q₂＜1.5。此外，我们发现：在2X或更大的高速记录中，在ΔL＜1.4的实际记录功率下实现记录时，1.0＜Q₁/Q₂＜1.2被满足。

(第二测试数据：图3)

在第二测试数据中，示出了当X₁/Y₁＝1.5以及X₂/Y₂＝0.67恒定，并且图3分别示出了P-X₁-Y₁、P-X₂-Y₂、Z₁和Z₂时，双层盘的Q₂/Q₁、ΔCNR1、ΔCNR2和ΔL。

为了获得以作为HD DVD的估计指示器的SbER能实现再现的误码率，发现应获得ΔCNR1＜1.0dB以及ΔCNR2＜2.0dB并且发现：当在ΔL＜1.5的实际记录功率下实现记录时，应满足0.9＜Q₁/Q₂＜1.5。此外，在2X或更大的高速记录中发现：在ΔL＜1.4的实际记录功率下实现记录时，1.0＜Q₁/Q₂＜1.2被满足。

(第三测试数据：图4)

在第三测试数据中，图4示出了当P-X₁-Y₁＝0.096，P-X₂-Y₂＝0.092，X₁/Y₁＝2.5，Z₁＝0.031，以及Z₂＝0.032时，双层盘中X₂/Y₂对ΔCNR1、ΔCNR2和ΔL的影响。

当0.25＜X₂/Y₂＜1时，尽管获得ΔCNR1＜1.0dB，ΔCNR2＜2.0dB以及记录功率ΔL＜1.5来获得能以作为HD DVD的估计指示器的SbER实现再现的误码率，但是发现：在与0.25＜X₂/Y₂＜1不同的情况下，不能够获得ΔCNR1＜1.0dB、ΔCNR2＜2.0dB以及记录功率ΔL＜1.5。

(第四测试数据：图5)

在第四测试数据中，图5示出了X₁/Y₁对P-X₁-Y₁＝0.096、P-X₂-Y₂＝0.092、X₂/Y₂＝0.33，Z₁＝0.031以及Z₂＝0.032的双层盘中的ΔCNR1、ΔCNR2和ΔL的影响。

当1＜X₁/Y₁＜4时，获得ΔCNR1＜1.0dB，ΔCNR2＜2.0dB以及记录功率ΔL＜1.5来获得能以作为HD DVD的估计指示器的SbER实现再现的误码率。然而，如果1＜X₁/Y₁＜4不成立，则发现：不能够获得ΔCNR1＜1.0dB，ΔCNR2＜2.0dB以及记录功率ΔL＜1.5。

(第五测试数据：图6)

在第五测试数据中，示出了双层盘的Q₂/Q₁、ΔCNR1、ΔCNR2和ΔL，其中，X₁/Y₁＝0.33以及X₂/Y₂＝3是恒定的，并且图6分别示出了P-X₁-Y₁、P-X₂-Y₂、Z₁和Z₂。

我们发现：当获得ΔCNR1＜1.0dB以及ΔCNR2＜2.0dB时0.9＜Q₂/Q₁＜1.5成立，从而获得能以作为HD DVD的估计指示器的SbER实现再现的误码率，并且发现：在ΔL＜1.5的实际记录功率下实现了记录。此外发现，即使在等于或大于2X的高速记录下，当在ΔL＜1.4的实际记录功率下实现记录时，1.0＜Q₂/Q₁＜1.2也被满足。

(第六测试数据：图7)

在第六测试数据中，示出了双层盘的Q₂/Q₁、ΔCNR1、ΔCNR2和ΔL，其中，X₁/Y₁＝0.67以及X₂/Y₂＝1.5是恒定的，并且图7分别示出了P-X₁-Y₁、P-X₂-Y₂、Z₁和Z₂。

(第七测试数据：图8)

图8示出了在第七测试数据中，X₂/Y₂对P-X₁-Y₁＝0.096、P-X₂-Y₂＝0.092、X₁/Y₁＝0.4，Z₁＝0.031以及Z₂＝0.032的双层盘中的ΔCNR1、ΔCNR2和ΔL的影响。

当满足1＜X₂/Y₂＜4时，获得ΔCNR1＜1.0dB，ΔCNR2＜2.0dB以及记录功率ΔL＜1.5从而获得能以SbER实现再现的误码率。然而，如果1＜X₂/Y₂＜4不成立，则发现不能够获得ΔCNR1＜1.0dB，ΔCNR2＜2.0dB以及记录功率ΔL＜1.5。

(第八测试数据：图9)

图9示出了在第八测试数据中，X₁/Y₁对P-X₁-Y₁＝0.096、P-X₂-Y₂＝0.092、X₂/Y₂＝3，Z₁＝0.031以及Z₂＝0.032的双层盘中的ΔCNR1、ΔCNR2和ΔL的影响。

当满足0.25＜X₂/Y₂＜1时，获得ΔCNR1＜1.0dB，ΔCNR2＜2.0dB以及记录功率ΔL＜1.5从而获得能以SbER实现再现的误码率。然而，如果0.25＜X₂/Y₂＜1不成立，则发现不能够获得ΔCNR1＜1.0dB，ΔCNR2＜2.0dB以及记录功率ΔL＜1.5。

<第二实施例：图10>

第二实施例规定：第一信息层22的导槽设置在透明基片21上，第二信息层24的导槽设置在透明基片25上。这里，在粘合层23上没有设置导槽。

即，如图10所示，图1中设置在第一信息层12和第二信息层14中的导槽分别形成在透明基片21和基片25上。以这种方式，获得了上述的第一到第五测试数据。

此外，形成在这些第一和第二信息层中的导槽能够仅仅在靠近激光束入射侧的导槽中执行记录。此外，形成在这些第一和第二信息层中的导槽能够仅仅在远离激光束入射侧的导槽中执行记录。相似地，优选地执行：在形成在第一和第二信息层中的导槽中都执行记录。

<第三实施例：图11>

第三实施例规定：第一信息层32的导槽设置在粘合层33上，第二信息层34的导槽也设置在粘合层33上。这里，导槽没有设置在透明基片31和基片35中。

即，如图11所示，图1中设置在第一信息层12和第二信息层14中的导槽形成在粘合层33上。有时候，粘合层33可以由包含多种材料的多层形成。在这种方式下，可以获得上述的第一到第五测试数据。

此外，形成在这些第一和第二信息层中的导槽能够仅仅在靠近激光束入射侧的导槽中执行记录。此外，形成在这些第一和第二信息层中的导槽能够仅仅在远离激光入射侧的导槽中执行记录。相似地，优选地执行：在形成在第一和第二信息层中的导槽中都进行记录。

<第四实施例：图12>

第四实施例规定：第一信息层42的导槽设置在透明基片41上，第二信息层44的导槽设置在粘合层43上。这里，导槽没有设置在基片45中。

即，如图12所示，图1中的设置在第一信息层12中的导槽形成在透明基片41上，设置在第二信息层14中的导槽形成在粘合层43中。有时候，粘合层43可以由包含多种材料的多层形成。在这种方式下，可以获得上述的第一到第五测试数据。

<第五实施例：图13>

第五实施例规定：第一信息层52的导槽设置在粘合层53上，第二信息层54的导槽设置在基片55上。这里，导槽没有设置在透明基片51中。

即，如图13所示，图1中的设置在第一信息层52中的导槽形成在粘合层53中，设置在第二信息层54中的导槽形成于基片55上。有时候，粘合层53可以由包含多种材料的多层形成。在这种方式下，可以获得上述的第一到第五测试数据。

<第六实施例：图14>

第六实施例规定用于执行上述的双层光盘的记录/再现处理操作的光盘装置的例子。图14是示出了处理根据本发明实施例的双层光盘的光盘装置的例子的框图。

在光盘装置110中，示出了具有记录功能的数字电视，同时将调谐器等定义为源。此外，优选地，该光盘装置110是具有调谐器、记录功能等的硬盘记录器。

因此，在下面参照图14对实施例的描述中，将针对具有记录功能的数字电视进行详细描述，但通过从图14分离显示器126也可以理解为对具有实际相同功能的硬盘记录器的描述。

在图14中，作为数字电视的光盘装置110具有两种类型的盘驱动器。该光盘装置具有用于驱动作为第一介质的硬盘H的硬盘驱动单元118、和用于旋转地驱动光盘D并且执行信息的读/写操作的光盘驱动单元119，该光盘D作为第二介质，是一种能够构建视频文件的信息记录介质。此外，控制单元130经由数据总线B连接到每个单元，从而控制整个操作。然而，在执行本发明的情况下，光盘驱动单元119不总是必需的构成部件。

此外，图14的光盘装置110基本上包括：编码器单元121，用于对图像记录侧进行配置；MPEG解码器单元123，用于对再现侧进行配置；和控制单元130，用于控制设备主体的操作。光盘装置110具有输入侧选择器116和输出侧选择器117。输入侧选择器116连接到诸如LAN的通信单元111、所谓的卫星广播(BS/CS)数字调谐器单元112、所谓的地面数字/模拟调谐器单元113，并且将信号输出到编码器单元121。此外，卫星天线连接到BS/CS数字调谐器单元112，地面天线连接到地面数字/模拟调谐器单元113。此外，光盘装置100具有：编码器单元121；信号编辑单元120，用于接收编码器单元121的输出，并且执行诸如数据编辑的期望数据处理；以及硬盘驱动单元118和光盘驱动单元119，连接到信号编辑单元120。此外，光盘装置110具有：MPEG解码器单元123，用于从硬盘驱动单元118和光盘驱动单元119接收信号，然后将接收的信号解码；编码器单元121；缓冲器单元122；MPEG解码器单元123；多路复用器单元128；多路分离器单元129；控制单元130；保留设置单元/保留图像记录单元142；和节目表产生单元143。这些单元中的每个经由数字总线B连接到控制单元30。此外，选择器单元117的输出提供到显示器126，或者经由与外部装置进行通信的接口单元127提供到该外部装置。

此外，光盘装置110具有经由数据总线B连接到控制单元130的操作单元132，并且接收用户的操作或遥控器R的操作。这里，遥控器R实现与设置在光盘装置110的主体上的操作单元132的操作基本相同的操作，并且实现诸如来自硬盘驱动单元118和光盘驱动单元119或调谐器操作的记录/再现指令和编辑指令的多种设置以及保留的图像记录的设置等等。

(基本操作)

—记录处理操作

现在，将详细描述包括其它实施例的记录操作。作为光盘驱动器110的输入侧，通信单元111(如LAN)连接到外部装置，从而例如经由诸如互联网的通信信道经由调制解调器等来与节目信息提供服务器进行通信，或者下载广播内容等等。此外，BS/CS数字调谐器单元112和地面数字/模拟调谐器单元113经由天线选择广播信号作为信道，将选择的信号进行解调，输入视频图像信号和语音信号，以及对各种类型的广播信号产生响应。例如，以上信号覆盖了地面模拟广播、地面数字广播、BS模拟广播、BS数字广播、CS数字广播等等，并且不限于这些信号。此外，以上情况不仅仅包括只提供一个部件，还包括这样一种情况：设置两个或三个或更多地面调谐器单元和BS/CS调谐器单元来并行操作以响应于保留图像记录的请求。

此外，先前描述的通信单元111可以是IEEE1394接口并且能够通过网络从外部装置接收数字内容。此外，尽管没有示出，但是还可以从输入终端接收亮度信号、色差信号、视频图像信号(如复合信号)和语音信号。这些信号选择性地提供到编码器单元121，同时由控制单元130等控制的选择器116来控制输入。

编码器单元121具有：视频和音频模拟/数字转换器、视频编码器和音频编码器，该转换器将由选择器116输入的模拟视频信号或模拟音频信号进行数字化。此外，这个编码器单元还包括辅助视频图像编码器。编码器单元121的输出转换成预定的MPEG压缩格式等，然后该转换的输出提供给上述的控制单元130。

此外，没有必要总是包括BS/CS数字调谐器112等，另外优选的是，经由数据输入终端从外部提供调谐器，从而经由选择器单元16将接收的数字信号提供到编码器单元121或控制单元130。

这里，图12的设备能够将由编码器单元121编码的信息(视频、音频、辅助视频图像数据的包等等)和所产生的管理信息经由控制单元130提供给硬盘驱动单元118或光盘驱动单元119，并且能够将提供的信息项记录在硬盘驱动单元118或光盘D上。此外，记录在硬盘驱动单元118或光盘D中的信息能够经由控制单元130和光盘驱动单元119而记录在光盘D或硬盘驱动单元118中。

信号编辑单元120能够执行编辑处理操作，诸如部分地删除记录在硬盘驱动单元118或光盘D中的多个节目的视频对象或者将不同节目的对象进行连接。

—再现处理操作等等

现在将详细描述包括其它实施例的再现主要记录的信息的处理操作。

MPEG解码器单元123具备视频处理器，该视频处理器用于在解码的主视频图像上正确地组合解码的辅助视频图像，然后在主视频图像上叠加并输出菜单、高亮按钮、字幕或其它辅助视频图像。

尽管没有示出，但是MPEG解码器单元123的输出音频信号由数字/模拟转换器进行模拟转换，然后经由选择器单元117提供给扬声器，或者另一种选择是经由接口单元(I/F)127而提供给外部装置。选择器单元117由来自控制单元130的选择信号所控制。这样，当来自调谐器单元12和13的每个的数字信号被直接监视时，选择器单元117能够直接地选择已经通过编码器单元121的信号。

根据本实施例的光盘装置110因此具有广泛的功能，并且针对多个源使用光盘D或硬盘驱动单元118执行记录/再现处理操作。

<第七实施例：图15到图26>

第七实施例详细指明：作为上述HD DVD的双层光盘标准的例子。图15是示意图，示出了根据本发明实施例的双层光盘的通用参数设置例子。

(双层盘的参数)

参照图15，下面将描述根据本发明的双层光盘的参数。如图15所示，针对根据本发明的双层光盘，单层结构中的用户可用记录容量的值是15GB，双层结构中的用户可用记录容量的值是30GB。

相似地，针对单层结构和双层结构示出了使用波长和物镜的NA值。此外，针对单层结构和双层结构，示出了数据位长度、信道位长度、最小标记/凹坑长度(2T)、最大标记/凹坑长度(13T)、轨道间距以及物理地址设置方法的值，来作为(A)在系统导入区域和系统导出区域中的数值，和(B)在数据导入区域、数据区域、中间区域和数据导出区域中的数值。

此外，针对单层结构和双层结构，还示出：信息存储介质的外直径、信息存储介质的总厚度、中心孔的直径、数据区域DTA的内半径、数据区域DTA的外半径、扇区大小、ECC、ECC块大小、调制系统、可纠错误码长度以及线速度。

此外，针对单层结构和双层结构，信道位传送率和用户数据传送率还示出为(A)在系统导入区域和系统导出区域中的数值以及(B)在数据导入区域、数据区域、中间区域和数据导出区域中的数值。

(双层光盘的摆动结构)

现在，将参照附图于此详细描述作为根据本发明的双层光盘的HDDVD。具体地讲，首先描述其摆动结构和特性。

图16示出了在根据本发明的双层光盘中分配位的方法。如图16的左侧所示，首先从一个摆动的开始位置摆动到外圆周侧的摆动图案称作NPW(正相位摆动)，然后分配数据“0”。如右侧所示，首先从一个摆动的开始位置摆动到内圆周侧的摆动图案称作IPW(逆相位摆动)，然后分配数据“1”。

接下来，摆动数据单元#0560到#11571的内部由16个摆动的调制区域598和68个摆动的非调制区域592和593组成。本实施例的主要特征在于：非调制区域592和593与调制区域的占空比显著增大。由于沟槽区域和槽岸区域总是以预定频率摆动，所以非调制区域592和593应用了利用非调制区域592和593的PLL(锁相环)，使得能够稳定地取样(产生)当再现记录在信息存储介质中的记录标记时要被使用的基准时钟和当新记录记录标记时要被使用的记录基准时钟。

当控制从非调制区域592和593移动到调制区域598时，通过使用四个摆动或六个摆动来设置用作调制开始标记的IPW区域。然后，分配如图17(c)和17(d)所示的摆动数据区域，使得出现摆动地址区域(地址位#2到#0)，在检测到作为这次调制开始标记的IPW区域以后该摆动地址区域被紧接着进行摆动调制。图17(a)和17(b)示出了与以后描述的图18(c)中所示的摆动汇点区域580相对应的摆动数据单元#0560的内部的内容。图17(c)和17(d)示出了与从图18(c)的段信息727到CRC码726的摆动数据部分相对应的摆动数据单元的内容。图17(a)和17(c)示出了与以后描述的调制区域的主要位置701相对应的摆动数据单元的内部。图17(b)和17(d)示出了与调制区域的次要位置702相对应的摆动数据单元的内部。如图17(a)和17(b)所示，6个摆动分配到摆动汇点区域580中的IPW区域，4个摆动分配到由IPW区域包围的NPW区域。如图17(c)和17(d)所示，摆动数据部分将四个摆动分配到IPW区域和所有地址位区域#2到#0中的每一个。

图18示出了关于包含在一次写入型信息存储介质中的摆动地址信息中的数据结构的实施例。在图18(a)中，为了便于比较，示出了包含在重写型信息存储介质中的摆动地址信息中的数据结构。图18(b)和18(c)示出了关于包含在一次写入型信息存储介质中的摆动地址信息中的数据结构的两个实施例。

在摆动地址区域610中，对12个摆动设置3地址位。即，1地址位包括连续的4个摆动。如上所述，本实施例采用了这样一种结构，即，每3地址位分散后再分配地址信息。如果摆动地址信息610集中记录在信息存储介质中的一个位置中，则当灰尘或划痕触及表面时，所有信息变得难于检测。如本实施例所述，有益效果如下：每3地址位分散后再分配摆动地址信息610，这3地址位包括在摆动数据单元560到576的一个中；按每3地址位的整数倍地址位所收集的信息被记录；并且即使在由于灰尘或划痕的影响而使得难于检测包含在一个位置中的信息的情况下，也能够检测另外的数据项。

如上所述，摆动地址信息610以分散方式分配并且每1物理段完全分配摆动地址信息610，从而使得可以每物理段地识别地址信息。因此，当信息记录/再现设备提供访问时，可以以物理段为单位得知当前位置。

通过采用根据一个实施例的NRZ技术，在摆动地址区域610中连续的4个摆动中相位不改变。利用这个特性，设置了摆动汇点区域580。即，针对摆动汇点区域580设置了在摆动地址信息610中不能够产生的摆动图案，从而使得识别摆动汇点区域580的布局位置变得容易。本实施例的特征在于，针对采用连续4个摆动配置1个地址位的摆动地址区域586和587，在摆动汇点区域580的位置以非4个摆动的长度来设置1个地址位长度。即，在摆动汇点区域580中，如图17(a)和17(b)所示，摆动位设置为“1”的区域(IPW区域)被称作与4摆动不同的“6摆动→4摆动→6摆动”。如图17(c)和17(d)所示，设置了在摆动数据部分不能够发生的摆动图案改变。针对摆动汇点区域580利用上述的改变摆动周期的方法作为用来设置在摆动数据部分不能够产生的摆动图案的具体方法，本实施例的特性在于：

(1)能够稳定地连续进行摆动检测(摆动信号判断)，而不会使关于在摆动信号检测单元执行的摆动的沟槽位置的PLL失真；

(2)由于由摆动信号检测单元执行的地址位边界位置的移位，使得可以更加容易地执行摆动汇点区域580和调制开始标记561和582的检测。此外，本实施例的特征还在于：以12摆动周期形成摆动汇点区域580，并且摆动汇点区域580的长度符合3地址位长度。这样，通过将包含在一个摆动数据单元#0560中的所有调制区域(16摆动)分配到摆动汇点区域580，降低了摆动地址信息610的开始位置(摆动汇点区域580的布局位置)的检测难度。该摆动汇点区域580被分配到物理段中的第一摆动数据单元。这样，产生了如下有益效果：摆动汇点区域580被分配到物理段中的开始位置，从而仅仅通过检测摆动汇点区域580的位置就能够容易地取样物理段的边界位置。

如图17(c)和17(d)所示，在摆动数据单元#1561到#11571中，用作调制开始标记的IPW区域分配到开始位置，该开始位置在地址位#2到#0之前。在分配到它们之前的位置上的非调制区域592和593中，连续产生NPW波形，从而在摆动信号检测单元检测从NRW到IPW的变换并且将调制开始标记的位置进行取样。

作为参考，在图18(a)中所示的重写型信息存储介质中记录了摆动地址信息610的以下内容。

(1)物理段地址601

---指示包含在轨道(信息存储介质221中的一圈)中的物理段号的信息。

(2)带地址602

---该地址指示包含在信息存储介质221中的带号。

(3)奇偶校验信息605

---在从摆动地址信息610再现时，该信息被设置用于纠错。将从保留信息604到带地址602的14地址位以地址位为单位个别地相加，显示该相加结果是奇数还是偶数。设置奇偶校验信息605的值，使得针对包括该地址奇偶校验信息605的1地址位的全部15地址位通过以地址位为单位进行异或获得的结果变成“1”。

(4)统一区域608

---如上所述，每个摆动数据单元的内部设置为包括16个摆动的调制区域598和68个摆动的非调制区域592和593，并且非调制区域592和593与调制区域598的占空比显著增大。此外，非调制区域592和593的占空比的增加，提高了取样(产生)再现基准时钟或记录基准时钟的精确度和稳定度。NPW区域在统一区域608的内部完全连续，并且变成在一致相位下的非调制区域。

图18(a)示出了分配到上述的每个信息项的地址位的数目。如上所述，摆动地址信息610的内部分别按3地址位分开，并且被分散和分配在每个摆动数据单元中。即使由于信息存储介质的表面上的灰尘和划痕导致产生突发错误，该错误延伸超过不同摆动数据单元的可能性也很低。因此，进行发明，使得跨越作为记录相同信息项的位置的不同摆动单元的计数降低到最小，并且使得每个信息项的变换和摆动数据单元的边界位置彼此一致。这样，即使由于信息存储介质的表面上的灰尘和划痕导致产生突发错误并且不能够读取具体信息，也能够通过读取记录在任何其它摆动数据单元中的其它信息项来提高摆动地址信息的再现可靠性。

如图18(b)和18(c)所示，在一次写入型信息存储介质中，像在重写型信息存储介质中一样，摆动汇点区域580分配在物理段的开始位置，便于物理段的开始位置或相邻物理段之间的边界位置的检测。像上述的摆动汇点区域580中的摆动汇点图案一样，图18(b)所示的物理段上的类型标识信息721指示物理段中调制区域的布局位置。这样，存在下面有益效果：能够提前预测相同物理段中的其它调制区域598的布局位置，并且能够准备检测下一个即将来临的调制区域，从而使得可以提高在调制区域中信号检测(判断)精确度。

图18(b)中所示的一次写入型信息存储介质中的层数目信息722代表指示的是单面的1记录层还是单面的2记录层。该信息表示为：

-当设置为“0”时，在单面的1记录层介质或单面的2记录层的情况下的“L0层”(激光束入射侧的前层)。

-当设置为“1”时，单面的2记录层的“L1层”(激光束入射侧的深度侧的层)。

物理段顺序信息724指示相同物理段块中的相对物理段的布局顺序。从与图18(a)比较可以清楚看出，在摆动地址信息610中的物理段顺序信息724的开始位置与重写型信息存储介质中的物理段地址601的开始位置一致。通过将物理段顺序信息位置调整到重写型，介质类型之间的兼容性被增强。此外，在既可使用重写型信息存储介质又可一次写入型信息存储介质的信息记录/再现设备中，通过共享使用摆动信号的地址检测控制，可以实现简化。

图18(b)所示的数据段地址725用数字描述了关于数据段的地址信息。如上所述，在本实施例中1个ECC块包括32个扇区。因此，分配在具体ECC块中的开始位置的扇区的物理扇区号的最低有效5位与分配到相邻ECC块中的开始位置的扇区的扇区号一致。在设置物理扇区号来使得分配到ECC块中的开始位置的扇区的物理扇区号的最低有效5位变成“00000”的情况下，存在于相同ECC块中的所有扇区的物理扇区号的最低有效第6位和随后的位彼此一致。因此，存在于相同ECC块中的扇区的物理扇区号的最低有效5位数据被消除，然后通过仅仅对关于最低有效第6位和随后的位的数据进行取样所获得的地址信息被定义为ECC块地址(或ECC块地址号)。通过摆动调制预先记录的数据段地址725(或物理段块号信息)与上述的ECC块地址一致。因此，如果通过数据段地址显示关于依靠摆动调制的物理段块的位置信息，则产生下面有益效果：数据量逐5位地减少，与通过物理段号显示信息的情况相比，简化了访问时的当前位置检测。

在图18(b)和18(c)所示的CRC码726的情况下，即使关于从物理段的类型标识信息721到数据段地址725的24地址位的CRC码(纠错码)和从段信息727到物理段顺序信息724的24地址位的CRC码部分错误地读取了摆动调制信号，也能够通过该CRC码726来部分地修正这样错误读取的信号。

在一次写入型信息存储介质中，等价于保留的15地址位的区域被分配到统一区域609，并且从第12到第16数据单元的5个摆动数据单元的内部全部作为NPW(调制区域598不存在)。

图18(c)中所示的物理段块地址728作为对用7个物理段配置1个单元的每个物理段块所设置的地址。与数据导入DTRDI中的第一物理段块有关的物理段块地址被设置为“1358h”。包括数据区域DTA，从数据导入DTLDI中的第一物理段块到数据导出DTLDO中的最后物理段块，逐一顺序地增加物理段块地址的值。

物理段顺序信息724表示1个物理段块中的物理段的顺序，针对第一物理段设置为“0”，针对最后物理段设置为“6”。

图18(c)中所示的实施例的特征在于：物理段块地址728被分配到物理段顺序信息724之前的位置。例如，如在表18所示的RMD字段1中一样，经常通过该物理段块地址来管理地址信息。在根据这些管理信息项访问预定物理段块地址的情况下，摆动信号检测单元首先检测图18(c)中所示的摆动汇点区域580的位置，然后从紧接着记录在摆动汇点区域580之后的信息开始来顺序将信息解码。在物理段块地址存在于物理段顺序信息724之前的位置的情况下，可以首先将物理段块地址解码，并且判断其是否是预定物理段块地址而不用将物理段顺序信息724解码。因此，存在有益效果：使用摆动地址提高了可访问性。

段信息727的内部由类型标识信息721和保留区域723组成。

本实施例的特征在于：类型标识信息721紧接着分配在图18(c)中的摆动汇点区域580之后。如上所述，尽管没有示出，但是摆动信号检测单元首先检测图18(c)中的摆动汇点区域580，然后从紧接着记录在摆动汇点区域580之后的信息开始顺序解码信息。因此，通过将类型标识信息721紧接着分配到摆动汇点区域580之后，能够进行物理段中调制区域的布局位置检验，从而可以使用摆动地址来实现高速度访问处理。

(测量摆动检测信号的方法)

参照图20所示的流程图，描述用于测量摆动检测信号的最大幅值(Wppmax)和最小幅值(Wppmin)以规定再现信号质量从而将摆动信号的串扰量限制为等于或小于特定量的方法。如步骤ST01所示，摆动信号输入到频谱分析仪。这里，该频谱分析仪的参数设置如下：

中心频率 697kHz

频率宽度 0Hz

分辨带宽度 10kHz

视频带宽度 30Hz

接下来，在步骤ST02，通过改变盘的旋转频率来调整线速度，从而以预定值设置摆动信号频率。

在本实施例中，由于使用H格式，所以摆动的信号频率的预定值被设置为697kHz。

现在将描述测量摆动检测信号的载波水平的最大值(Cwmax)和最小值(Cwmin)的例子。

由于根据本实施例的一次写入型存储介质使用CLV(恒定线速度)记录系统，所以相邻轨道之间的摆动相位根据轨道位置而改变。在相邻轨道之间的摆动相位一致的情况下，摆动检测信号的载波水平变得最高，然后获得最大值(Cwmax)。此外，当相邻轨道之间的摆动相位相反时，在相邻轨道的串扰的影响下摆动检测信号变得最低，从而获得最小值(Cwmin)。因此，在沿着轨道从内圆周到外圆周来执行寻道的情况下，要被检测的摆动检测信号的载波的幅值以4轨道周期波动。

在本实施例中，逐4轨道地检测摆动载波信号，然后逐4轨道地测量最大值(Cwmax)和最小值(Cwmin)。然后，在步骤S03中，一对最大值(Cwmax)和最小值(Cwmin)被存储为30或更多对的数据。

接下来，在步骤ST04中使用下面的计算公式来从最大值(Cwmax)和最小值(Cwmin)的平均值计算最大幅值(Wppmax)和最小幅值(Wppmin)。

在下面的公式中，R表示频谱分析仪的端电阻值。现在将描述从Cwmax和Cwmin计算Wppmax和Wppmin的公式。

在dBm单位系统中，0dBm＝1mW定义为基准。这里，当获得功率Wa＝1mW时的电压幅值Vo如下：

Wao

＝IVo

＝Vo×Vo/R

＝1/1000W。

因此，获得Vo＝(R/1000)^1/2。

接下来，获得摆动幅值Wpp[V]与由频谱分析仪监视的载波水平Cw[dBm]之间的关系如下。这里，Wpp是正弦波，因此当该幅值表示为有效值时，其满足：

Wpp-rms＝Wpp/(2×2^1/2)

得到Cw＝20×log(Wpp-rms/Vo)[dBm]。

因此，其满足：

Cw＝10×log(Wpp-rms/Vo)²

当在上述公式中进行对数变换时，其满足：

(Wpp-rms/Vo)²

＝10^(Cw/10)

＝{[Wpp/(2×2^1/2)/Vo]}²

＝{Wpp/(2×2²)/(R/1000)^1/2}²

＝(Wpp²/8)/(R/1000)

Wpp2²

＝(8×R)/(1000×10^(Cw/10))

＝8×R×10^(-3)×10^(Cw/10)

＝8×R×10^(Cw/10)(-3)

Wpp＝{8×R×10^(Cw/10)(-3)}^1/2 (61)

现在，图21示出了摆动信号和轨道移位检测信号的特性。

接下来，尽管没有示出，但是作为由图21(a)所示的光头检测的轨道移位检测信号的信号(I1-I2)被输入到摆动信号检测单元。

现在将描述存在于信息记录/再现单元中的光头的内部结构。如图21(a)所示，从半导体激光器1021发出的激光束通过准直透镜1022而变成平行光束。该平行光束通过分束器1023而聚焦在物镜1028上。然后，该聚焦的光束照射到信息存储介质1001的预制沟槽区域1011。预制沟槽区域1011执行很小摆动。从摆动的预制沟槽区域1011反射的光束穿过物镜1028；该穿过的光束被分束器1023反射；该反射的光束通过聚焦透镜1024照射到光检测器1025。

光检测器1025由光检测单元1025a和光检测单元1025b组成。能够获得从各检测单元1025a和1025b检测的信号I1和信号I2之间的差，然后，尽管没有示出，但是这些信号被输入到摆动信号检测单元。如图21(a)所示，光头能够检测推挽系统的摆动信号和轨道移位检测信号中的任何一个。

当轨道环路处于ON时，摆动频率的带宽高于寻道带宽，从而能够从光头检测到摆动信号。这里，当相邻轨道之间的预制沟槽的摆动相位彼此相同时，获得最大幅值Wppmax。当摆动相位反向时，在相邻轨道的串扰的影响下摆动信号幅值降低，并且获得最小幅值Wppmin。

在本发明中，进行发明创造来指明在最大幅值(Wppmax)和最小幅值(Wppmin)之间的条件，并且实现更稳定的摆动检测。即，将摆动信号检测单元设计为：即使摆动检测信号的幅值改变为最大值的3倍，也能够稳定进行信号检测。此外，希望在串扰的影响下摆动检测信号的幅值的改变率等于或小于1/2。

因此，在本实施例中，采取了中间值，并且把通过用允许的摆动信号的最大值除以摆动信号的最小值所获得的值(Wppmax/Wppmin)设置为2.3或更小。

在本实施例中，(Wppmax/Wppmin)的值被设置为2.3或更小，然而鉴于摆动信号检测单元的性能，即使值(Wppmax/Wppmin)为3或更大，也能够稳定检测信号。此外，在高精确度执行摆动信号检测的情况下，(Wppmax/Wppmin)的值可以是2或更小。预制沟槽区域1011的摆动幅值被设置为满足上述的条件。

如图21(b)所示，在轨道环路处于OFF的情况下，从光头出现轨道移位检测信号。此时，轨道移位检测信号的最大幅值表示为(I1-I2)pp。通过获得从光检测单元1025a检测的信号I1和从光检测单元1025b检测的信号I2之间的差获得该值(I1-I2)pp。因此获得的信号通过关闭频率(截止频率)为30kHz的低通滤波器后被信号处理。该低通滤波器由主要滤波器组成。此外，通过未记录区域中的未记录数据区域(DTA)和数据导入区域(DTLDI)或数据导出区域(DTLDO)来测量值(I1-I2)pp。

现在将参照图22来描述用于测量轨道移位检测信号的幅值(I1-I2)pp的方法。

在步骤ST11中，从图21(a)中所示的光头获得的信号(I1-I2)pp被输入到关闭频率(截止频率)fc＝30kHz的低通滤波器。

在步骤ST12中，响应于低通滤波器输出逐轨道地测量幅值，并且累积30个或更多采样。

在步骤ST13中，通过采取在步骤ST12中获得的采样的平均值获得(I1-I2)pp。

尽管没有示出，但是摆动信号检测单元通过使用相同检测器电路来检测摆动信号和轨道移位检测信号，从而能够通过一个检测器电路来处理(共享)两个工作，因此能够促进电路简化。

(测量NBSNR的方法)

现在，参照图24所示的流程图来描述用于测量NBSNR的具体方法。首先，400条或更多轨道是连续的随机数据被记录在信息存储介质上(步骤ST21)。接下来，在步骤ST21中记录的轨道上无轨道跳跃地执行寻道，测量载波水平和噪声水平(步骤ST22)。根据按照步骤ST22测量的载波水平和噪声水平之间的差获得NBSNR。

现在，将描述为何将平方电路(图23中的1033)用于测量摆动检测信号的C/N比的原因。如图25所示，在H格式实施例中，通过相位调制提供摆动检测信号。在相位调制的情况下，如图25(a)所示，在相位的变换部分(NPW和IPW之间)的变换部分α出现一些频率分量。

因此，当通过频谱分析仪1034分析图25(a)中所示的摆动检测信号的波长时，如图26所示，在载波的外围出现大的峰值。因此，指明噪声水平变得困难。

相反，如图25(b)所示，当采用通过相位调制所调制的摆动检测信号的平方时，IPW区域和NPW区域之间的波形的平方变得相同。因此，诸如相位变换的部分没有出现，获得了非常稳定的信号，并且消除了图26所示的载波信号的外围的高耸部分。结果，获得了单个峰值的载波水平的信号。

本领域技术人员能够根据上述多种实施例来实现本发明。此外，对本领域技术人员显而易见的是，可以构思出这些实施例的多种变型例子。即使一个人不具备发明创造能力，也能够将本发明应用到多种实施例。因此，在不脱离公开的原理和新颖特征的情况下，本发明覆盖了宽的范围并且不限于上述的实施例。

Claims

1.一种光盘，其特征在于：包括：

透明基片层，设置在光入射侧；

第一信息层，具有包括第一凸起平面部分和第一凹入平面部分的第一导槽(X₁、Y₁、Z₁)，所述第一凸起平面部分具有第一宽度(X₁)并且靠近所述光入射侧而形成，所述第一凹入平面部分具有第二宽度(Y₁)，与所述第一凸起平面部分之间具有第一高度差(Z₁)，并且靠近所述光入射侧的相对侧而形成，所述第一信息层形成于所述透明基片层上；

粘合层，形成于所述信息层上；以及

第二信息层，具有包括第二凸起平面部分和第二凹入平面部分的第二导槽(X₂、Y₂、Z₂)，所述第二凸起平面部分具有第三宽度(Y₂)并且靠近所述光入射侧而形成，所述第二凹入平面部分具有第四宽度(X₂)，与所述第二凸起平面部分之间具有第二高度差(Z₂)，并且靠近所述光入射侧的相对侧而形成，所述第二信息层形成于所述粘合层上，

Q₁＝2Z₁/(P-X₁-Y₁)，

Q₂＝2Z₂/(P-X₂-Y₂)，

0.9＜Q₂/Q₁＜1.5，

并且，满足1＜X₁/Y₁＜4，0.25＜X₂/Y₂＜1。

2.一种光盘，其特征在于：包括：

透明基片层，设置在光入射侧；

粘合层，形成于所述信息层上；以及

Q₁＝2Z₁/(P-X₁-Y₁)，

Q₂＝2Z₂/(P-X₂-Y₂)，

1＜Q₂/Q₁＜2，

并且，满足1＜X₁/Y₁＜4，0.25＜X₂/Y₂＜1。

3.一种光盘，其特征在于：包括：

透明基片层，设置在光入射侧；

粘合层，形成于所述信息层上；以及

Q₁＝2Z₁/(P-X₁-Y₁)，

Q₂＝2Z₂/(P-X₂-Y2)，

0.9＜Q₂/Q₁＜1.5，

并且，满足0.25＜X₁/Y₁＜1，1＜X₂/Y₂＜4。

4.一种光盘，其特征在于：包括：

透明基片层，设置在光入射侧；

粘合层，形成于所述信息层上；以及

Q₁＝2Z₁/(P-X₁-Y₁)，

Q₂＝2Z₂/(P-X₂-Y₂)，

1＜Q₂/Q₁＜2，

并且，满足0.25＜X₁/Y₁＜1，1＜X₂/Y₂＜4。

5.如权利要求1到4所述的光盘，其特征在于：所述第一和第二导槽的第一高度差(Z₁)和第二高度差(Z₂)分别满足0＜Z₁＜λ/2n，0＜Z₂＜λ/2n，其中，“n”是具有所述第一信息层的基片的折射率。

6.如权利要求1到4所述的光盘，其特征在于：所述透明基片层的厚度在580μm到600μm的范围内。

7.如权利要求1到4所述的光盘，其特征在于：所述粘合层的厚度在20μm到35μm的范围内。

8.如权利要求1到4所述的光盘，其特征在于：针对在390nm到420nm范围内的激光束的波长，所述透明基片层、所述第一和第二信息层以及所述粘合层每一个均具有从3％到10％的折射率。

9.如权利要求1到4所述的光盘，其特征在于：所述第二信息层的折射率处在所述第一信息层的折射率的0.8到1.2倍的范围内。

10.如权利要求1到4所述的光盘，其特征在于：在形成于所述第一和第二信息层中的导槽中，仅仅针对靠近所述激光入射侧的导槽执行记录。

11.如权利要求1到4所述的光盘，其特征在于：在形成于所述第一和第二信息层中的导槽中，仅仅针对远离所述激光入射侧的导槽执行记录。

12.如权利要求1到4所述的光盘，其特征在于：在形成于所述第一和第二信息层中的导槽中，针对这两个导槽都执行记录。

13.一种光盘装置，所述光盘装置针对如权利要求1到4之一所述的光盘来执行信息记录处理操作和再现处理操作。