CN101038763A

CN101038763A - 光盘和光盘设备

Info

Publication number: CN101038763A
Application number: CNA2007100792208A
Authority: CN
Inventors: 大间知范威; 松丸祐晃; 山本亮介
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 2006-03-17
Filing date: 2007-02-09
Publication date: 2007-09-19
Also published as: EP1835493A3; TW200809843A; EP1835493A2; JP2007250137A; US20070217321A1

Abstract

一种光盘具有：设置在光入射面的透明基片层(11)；具有深度为第一深度(H1)的第一沟槽的第一信息层(12)；设置在所述第一信息层上的粘合层(13)；以及具有深度为第二深度(H2)的第二沟槽并且不可逆地在其中记录信息的第二信息层(14)，所述第二深度比所述第一深度更深；其中，所述第一深度和所述第二深度不大于λ/2n，所述第一沟槽和所述第二沟槽的宽度不大于0.3μm；所述第一沟槽和所述第二沟槽的轨道间距不大于0.45μm；所述第一信息层和所述第二信息层包括在从390nm到420nm的用于记录和再现信息的激光束波长λ的范围内具有光吸收性的有机染料材料。

Description

光盘和光盘设备

技术领域

本发明的一个实施例涉及一种能够从光入射平面向多层记录薄膜进行信息记录和再现的多层型光盘和一种执行所述记录和再现操作的光盘设备。

背景技术

关于作为信息记录介质的光盘，能够记录视频和音乐内容的DVD标准的光盘被广泛使用。这种光盘的例子包括只播放型、信息可被记录一次的一次写入型、和由计算机和录像机的外部存储器呈现的可重写型。DVD标准的光盘具有将厚度为0.6mm(标称)的两片基片彼此粘贴的结构。物镜的NA为0.6，并且记录/再现中使用的激光束的波长为650nm。

近年来需要越来越高的存储容量。作为提高存储容量的方法，现在已经有加长光源的短波、提高物镜的数值孔径值、改进调制解调技术、提高格式效率、增加层数等。在HD DVD标准中，采用了波长大约为405nm的蓝色激光，从而极大增强了记录密度并且提高了容量。另外，由于物镜的NA被设置为0.65，所以实现了与当前DVD的兼容。然而，为了进一步提高容量，现在正在着手进行多层信息记录介质的开发。

在这样的多层信息记录介质中，把有机染料材料和无机染料材料用作记录层的沟槽的材料，并且同时，记录层的沟槽深度的有关信息也是公知的。

然而，在现有系统中没有公开的是在记录层的沟槽使用有机染料材料的情况下如何设置沟槽深度等。更具体地讲，不能通过汽相沉积来处理有机染料材料，并且仅通过在液态下涂覆材料的方法来把有机染料材料固定到沟槽上。例如，在有机染料材料未流到沟槽深度的情况下，会出现包括记录层使用寿命缩短和可靠性下降的缺陷。

发明内容

本发明的一个目的在于通过提供导槽深度的标准等来把有机染料材料精确地涂覆到记录层的导槽上从而提供高可靠性光盘。

一种光盘，包括：

设置在光入射面的透明基片层；

具有第一深度的第一沟槽；

第一信息层，所述第一信息层中记录有信息；

粘合层；

具有第二深度的第二沟槽，所述第二深度比所述第一深度更深；以及

第二信息层，所述第二信息层中记录有信息，其中

通过使用波长λ，所述第一深度和所述第二深度不大于λ/2n，

所述第一沟槽和所述第二沟槽的宽度不大于0.3μm；

所述第一沟槽和所述第二沟槽的轨道间距不大于0.45μm；

所述第一信息层和所述第二信息层包括在从390nm到420nm的用于记录和再现信息的激光束波长λ的范围内具有光吸收性的有机染料材料。

本发明的另一目的在于提供一种双层可记录光盘，其在记录层的导槽中使用有机染料材料并且具有导槽深度等各种标准，从而提高所述光盘的操作可靠性。

附图说明

现在将参照附图来描述实现本发明实施例的一般结构。所述附图和相关描述被提供来描述本发明实施例并且不限制本发明的范围。

图1是示出根据本发明实施例的双层可记录光盘中的沟槽的尺寸的示例的横截面图；

图2是示出根据本发明实施例的双层可记录光盘的层结构的示例的横截面图；

图3是示出根据本发明实施例的双层可记录光盘的层结构的示例的横截面图；

图4是示出在根据本发明实施例的双层可记录光盘中，(第一信息层沟槽深度H1)/(第二信息层沟槽深度H2)对第一信息层的信号波动宽度的影响的示例的曲线图；

图5是示出在根据本发明实施例的双层可记录光盘中，H1/H2对第一信息层的记录和再现特性的影响的示例的曲线图；

图6是示出在根据本发明实施例的双层可记录光盘中，H1/H2对第一信息层耐久时间和第二信息层耐久时间的影响的示例的曲线图；

图7是示出在根据本发明实施例的双层可记录光盘中，当第一信息层的沟槽深度H1恒定时H1/H2对第一信息层的信号波动宽度的影响的示例的曲线图；

图8是示出在根据本发明实施例的双层可记录光盘中，当第一信息层的沟槽深度H1恒定时H1/H2对记录和再现特性的影响的示例的曲线图；

图9是示出在根据本发明实施例的双层可记录光盘中，当第一信息层的沟槽深度H1恒定时H1/H2对第一信息层耐久时间和第二信息层耐久时间的影响的示例的曲线图；

图10是示出在根据本发明实施例的双层可记录光盘中的比较示例1、2、和3中，H1/H2对第一信息层的信号波动宽度的影响的示例的曲线图；

图11是示出在根据本发明实施例的双层可记录光盘中的比较示例1、2、和3中，H1/H2对记录和再现特性的影响的示例的曲线图；

图12是示出在根据本发明实施例的双层可记录光盘中的比较示例1、2、和3中，H1/H2对第一信息层耐久时间和第二信息层耐久时间的影响的示例的曲线图；

图13是示出根据本发明实施例的双层可记录光盘的另一结构的示例的横截面图；

图14是示出根据本发明实施例的双层可记录光盘的另一结构的示例的横截面图；

图15是示出根据本发明实施例的双层可记录光盘的另一结构的示例的横截面图；

图16是示出根据本发明实施例的双层可记录光盘的另一结构的示例的横截面图；

图17是示出对根据本发明实施例的双层可记录光盘进行操作的光盘设备的示例的框图；

图18是示出根据本发明实施例的双层可记录光盘的一般参数设置示例的说明性示图；

图19是示出在根据本发明实施例的双层可记录光盘中的地址位区中的摆动形状和地址位的说明性示图；

图20是示出在根据本发明实施例的双层可记录光盘中与调制区的主要位置和次要位置有关的摆动数据单元中的布置的说明性示图；

图21是示出根据本发明实施例的双层可记录光盘的摆动地址信息中的数据结构的说明性示图；

图22是示出根据本发明实施例的双层可记录光盘中的调制区的布置空间的说明性示图；

图23是示出对根据本发明实施例的双层可记录光盘中的Wppmax和Wppmin进行测量的方法的说明性示图；

图24是示出根据本发明实施例的双层可记录光盘中的摆动信号和轨道位移信号的特性的说明性示图；

图25是示出对根据本发明实施例的双层可记录光盘中的(I1-I2)pp信号进行测量的方法的说明性示图；

图26是示出对于根据本发明实施例的双层可记录光盘中的摆动信号的矩形波形来测量NBSNR的测量电路的框图；

图27是示出对根据本发明实施例的双层可记录光盘中的NBSNR进行测量的方法的说明性示图；

图28是示出根据本发明实施例的双层可记录光盘中的经过相位调制的摆动信号的频谱分析仪检测信号特性的示例的曲线图；以及

图29是示出根据本发明实施例的双层可记录光盘中的经过相位调制的摆动信号的频谱分析仪波形的示例的曲线图。

具体实施方式

以下将参照附图来描述根据本发明的各个实施例。通常，根据本发明的一个实施例，光盘包括：设置在光入射面的透明基片层；第一信息层，其形成在所述透明基片层上并具有深度为第一深度的第一沟槽，所述第一信息层不可逆地在其中记录信息；设置在所述第一信息层上的粘合层；以及第二信息层，其形成在所述粘合层上并且具有深度为比所述第一深度更深的第二深度的第二沟槽，所述第二信息层不可逆地在其中记录信息，其中通过使用波长λ，所述第一深度和所述第二深度不大于λ/2n，所述第一沟槽和所述第二沟槽的宽度不大于0.3μm，所述第一沟槽和所述第二沟槽的轨道间距不大于0.45μm，所述第一信息层和所述第二信息层包括在从390nm到420nm的用于记录和再现信息的激光束波长λ的范围内具有光吸收性的有机染料材料。在本发明一个实施例中，沟槽是凹入的并且为摆动导向轨道。在一个实施例中，槽岸是凸起的并且为沟槽之间的区域。在一个实施例中，轨道间距是在沟槽中心和相邻沟槽的中心之间测得的距离。

以下将参照附图来更详细地描述根据本发明的实施例。图1是示出根据本发明实施例的双层可记录光盘的结构的示例的横截面图。

根据本发明的光盘的第一实施例

结构和材料

图1是示出根据本发明实施例的双层可记录光盘中的沟槽的尺寸的示例的横截面图。图2是示出其层结构的示例的横截面图。图3是示出其层结构的示例的横截面图。图1仅示出了基片，而图2示出了在基片上形成信息记录层并且基片彼此粘合的状态。

如图1所示，在根据本发明的光盘D中，透明基片11、第一信息层12、粘合层(中间层)13、第二信息层14、和基片15从入射激光束面按上述顺序布置。聚碳酸酯(PC)基片或玻璃基片可被用作基片11或15。在所述基片或所述粘合层中，一般形成有用于使记录和再现信息的激光束寻轨的沟槽。在图1中，第一信息层12中形成的沟槽的深度是H1nm，并且第二信息层14中形成的沟槽的深度是H2nm。

在该光盘中，由物镜聚焦的激光束从透明基片11一面照射，从而在第一信息层12和第二信息层14中记录信息并从中再现信息。

同时，在第一信息层12和第二信息层14中，优选的是，已经记录了信息的已记录区的反射系数高于未记录信息的未记录区的反射系数。然而，本发明不限于此。

如图2所示，第一信息层具有将记录层22和反射层23顺序地层叠在透明基片21上的结构。粘合层24、作为第二信息层的记录层25、和反射层26层叠在其上。

而且，如图3所示，在某些情况下将电解质薄膜层38插入到粘合层34和作为第二信息层的记录层35之间。可采用在比用于记录和再现的激光束波长短的波长下吸收率最大的有机染料材料(H到L极)、或在比用于记录和再现的激光束波长长的波长下吸收率最大的有机染料材料(L到H极)来作为用于第一信息层和第二信息层的记录层。考虑到诸如记录薄膜的分辨率之类的记录和再现特性，优选的是，采用菁蓝染料、酞菁染料等，这些染料在比用于记录和再现的激光束波长长的波长侧具有最大吸收率。可把主要由银、金、铜、铝、钛等制成的金属薄膜用作反射薄膜。

在用于记录和再现信息的激光束波长不小于390nm且不大于420nm、且使用了有机染料材料的双层可记录光盘中，第一信息层中形成的沟槽的深度H1被做得比第二信息层中形成的沟槽的深度H2浅。因此，可防止由于来自非再现层的信号的泄入而导致的记录和再现信号质量的下降，并且可使得第一信息层和第二信息层的环境耐久度相同。优选的是，H1和H2都比λ/2n浅。如果它们变得比λ/2n深，则调制程度的下降变大，并且不能获得优选的记录和再现特性。

沟槽深度测试等

对于第二信息层的沟槽深度H2被固定并且第一信息层的沟槽深度H1被设为满足H1/H2为0.85至1.1的双层可记录盘，对记录和再现信号从非再现层的泄入和环境耐久度进行比较。

图4示出在记录和再现第一信息层的信号时的信号波动宽度。在此示出的信号波动宽度为波动幅度与信号幅度之比(％)。由于来自非再现层的信号的泄入的影响，所述信号波动宽度在对再现层的信号进行记录和再现的频率处产生波动，并且因为所述波动宽度对再现特性影响极大，所以所述信号波动宽度优选地很小。随着H1/H2的下降，所述信号波动宽度轻微下降。

图5示出作为此时记录和再现特性的SbER(模拟位误码率，参考文献：Y.Nagai：Jpn.J.Appl.Phys.42(2003)971.)的结果。已经确定在信号波动宽度中没有大的改变，但是在H1＜H2＜1.0的情况下SbER有很大改善。这是因为当信号波动宽度变得比某一值小时，其难以对SbER产生影响。

图6示出在该盘中第一信息层耐久时间和第二信息层耐久时间之间的关系。这里的耐久时间指的是在85℃和相对湿度85％的条件下到记录标记被加速时的时间，并且加速之前记录的标记可被没有困难地再现。理想情况是，第一信息层的耐久时间等于第二信息层的耐久时间。然而，如果差为±10％，就不会有实际问题。换言之，能够发现在一个实施例中，需要0.9≤(第一信息层耐久时间)/(第二信息层耐久时间)≤1.1的条件。

从图6可知，在H1/H2＜1.0的情况下满足该条件。在所述双层可记录光盘中，必须在第一信息层中把记录薄膜制得很薄从而保证光透射率。然而，通过控制H1和H2，把有机染料材料涂覆得平坦均匀，并且可使得在高温高湿环境下的耐久度与在所述深度下布置的信息记录层的耐久度相同。

所使用的基片的厚度被设置为不小于580μm且不大于600μm。如果第一信息层和第二信息层之间所形成的粘合层的厚度太薄，则来自非再现层的泄入变大，并且如果所述厚度太厚，则球面象差的影响在所述第二信息层变强。因此，期望的是，所述厚度为不小于20μm且不大于35μm。具体地讲，期望的是，第一基片的厚度X不小于f(n)-13μm，第一信息层和第二信息层之间所形成的粘合层的厚度Y不小于20μm，并且满足dX+Y≤f(n)+30μm且f(n)+1μm≤X+Y/2的条件。在此，获得f(n)＝(A1×n³)(n²+A2)/(n²-1)(n²+A3)×1000(μm)，其中n为第一基片的折射率，A1为0.26200，A2为-0.32400，并且A3为0.00595。通过满足该条件，在第一信息层和第二信息层中获得优选的记录和再现特性变得可能。而且，从高密度记录的观点看，第一信息层和第二信息层中形成的沟槽的宽度不大于0.3μm。在如上所述沟槽很窄的情况下，本发明实施例的影响变得明显。而且，第一沟槽和第二沟槽中的轨道间距不大于0.45μm。

而且，期望的是，第一信息层和第二信息层对用于记录和再现的激光束的反射系数不小于3％且不大于10％。如果反射的光量很少，则在记录和再现设备侧SN比变得不足，因此在某些实施例中，不小于3％的反射系数是必需的。然而，当反射系数很高时，记录薄膜吸收的光量下降，并且记录灵敏度下降。为了能够以相同的光量来对两个信息层记录信息，在特定实施例中需要在第一信息层的透射率为40％至55％的光盘中把反射系数设置为不高于10％。而且，再现层的反射系数和非再现层的反射系数之间的差增大，从具有高反射系数的层到具有低反射系数的层的信号的泄入变大。因此，期望的是，来自所述两个信息层的反射系数之间的差不大于±20％。

关于把信息记录到根据本发明实施例的双层可记录盘并从中再现信息的记录和再现设备，除了需要当前的记录和再现设备之外，还需要用于识别所插入的光盘具有多少层的机构、用于在每一层上聚焦的机构、和用于对所聚焦的每一信息记录层执行记录和再现的机构。而且，在某些情况下，还需要用于根据情况对光学系统执行球面象差处理的机构。

通过使用该盘结构、盘制造方法和材料、以及上述记录和再现设备，可从双层可记录盘中的两个信息层获得优选再现信号质量和环境耐久度，从而提高记录容量。

导致第一实施例的各种情况的测试数据

第一测试数据

以下将描述根据本发明实施例的测试数据。通过使用厚度为590μm的聚碳酸酯基片来制造双层可记录盘，并且对记录和再现进行评估。该盘的结构为透明基片/记录薄膜/反射薄膜/粘合薄膜/记录薄膜/反射薄膜/基片。在比用于记录和再现的激光束波长长的波长侧具有最大吸收率的有机染料材料被用于记录薄膜，并且银合金被用于反射薄膜。注意，第一信息层被构成为在405nm的波长处具有45％的光透射率。而且，如图15所示，关于每一信息层的沟槽，在透明基片91中形成第一信息层92，并且在粘合层93中形成第二信息层94。关于所形成的沟槽的深度，第二信息层深度H2被设置为50nm，并且第一信息层深度H1被做成能使得H1/H2从0.85变到1.1，从而制造和评估该盘。沟槽的宽度为0.2μm，并且粘合层的厚度为25μm。

通过使用具有405nm的波长和0.65的NA的光头来把信息记录到上述双层可记录盘并从上述双层可记录盘再现信息。该盘以6.6m/s的线速度转动，时钟频率被设置为64.8MHz，随机记录2T到11T的信号，并且测量信号的波动宽度和SbER。由于来自非再现层的信号的泄入的影响，信号波动宽度在对再现层的信号进行记录和再现的频率处产生波动。然而，因为其对再现特性有很大影响，所以所述波动宽度优选地很小。

图7示出了在对第一信息层记录和再现信号时的信号波动宽度。在此示出的信号波动宽度为波动幅度与信号幅度的比(％)。该信号波动宽度随着H1/H2下降而轻微下降。图8示出了当时作为记录和再现特性的SbER的结果。已经确定在信号波动宽度中没有大的改变，但是在H1＜H2＜1.0的情况下SbER有很大改善。这是因为即使当信号波动宽度很小时也会极大地影响记录和再现信号，但是在以SbER进行评估的情况下，当信号波动宽度极小时，所述影响也就很小。图9示出了在该盘中第一信息层耐久时间和第二信息层耐久时间之间的关系。这里的耐久时间指的是在85℃和相对湿度85％的条件下记录标记被加速的情况下的时间。理想情况是，第一信息层的耐久时间基本等于第二信息层的耐久时间。不过，如果差为±10％，就不会有实际问题。换言之，期望的是0.9≤(第一信息层耐久时间)/(第二信息层耐久时间)≤1.1的条件，但是在H1/H2＜1.0的情况下满足该条件。为了保证光透射率，必须使得所述记录薄膜在第一信息层中很薄。然而，通过控制H1和H2，把有机染料材料涂覆得平坦均匀，并且可使得在高温高湿环境下的耐久度与在所述深度下布置的信息记录层的耐久度相同。

第二测试数据

在第一测试数据中，第二信息层深度H2被设置为70nm，并且第一信息层深度H1被做成使得H1/H2从0.85变到1.1，从而制造该盘，并且评估记录和再现特性和环境耐久度。如图8和9所示，以和第一测试数据中的方式相同的方式，获得出色的SbER，并在H1/H2＜1.0的第一信息层和第二信息层中获得相等的耐久时间。

第三测试数据

在第一测试数据中，第二信息层深度H2被设置为90nm，并且第一信息层深度H1被做成使得H1/H2从0.85变到1.1，从而制造该盘，并且评估记录和再现特性和环境耐久度。如图8和9所示，以和第一测试数据中的方式相同的方式，获得出色的SbER，并在H1/H2＜1.0的第一信息层和第二信息层中获得相等的耐久时间。

比较示例1

在第一测试数据中，评估当粘合层厚度被设置为15μm时的记录和再现特性以及环境耐久度。因为该粘合层很薄，不考虑图10所示的H1/H2，来自再现层的信号的泄入变大了大约10％。因此，如图11所示，不考虑H1/H2，SbER大约为1.0E-4。图12示出了耐久时间的结果。不存在粘合层厚度的影响，并在H1/H2＜1.0的第一信息层和第二信息层中获得相等的耐久时间。

比较示例2

在第一测试数据中，评估当粘合层厚度被设置为45μm时的记录和再现特性以及环境耐久度。因为该粘合层很厚，如图10所示，来自非再现层的信号的泄入很小。然而，在球面象差的影响下，如图11所示记录和再现特性下降。图12示出了耐久时间的结果。不存在粘合层厚度的影响，并在H1/H2＜1.0的第一信息层和第二信息层中获得相等的耐久时间。

比较示例3

在第一测试数据中，当沟槽深度为0.5μm时，如图10和11所示，可确定与第一测试数据相同的趋势。而且，因为沟槽宽度很宽，所以不考虑图12所示的H1/H2而在第一信息层和第二信息层中获得了相等的耐久时间。

第二实施例

第二实施例说明，在透明基片71中设置第一信息层22的沟槽，并且在基片75中设置第二信息层74的沟槽。在此，粘合层73中未设置沟槽。

更具体地讲，如图13所示，在透明基片71和基片75中分别形成了在图1中的第一信息层12和第二信息层14中设置的沟槽。在此实施例中，获得上述第一到第三测试数据和比较示例1和2的记录和再现特性。

而且，关于第一和第二信息层中形成的沟槽，可仅对靠近激光束入射面的沟槽执行记录。而且，关于第一和第二信息层中形成的沟槽，可仅对远离激光束入射面的沟槽执行记录。以相同的方式，优选的是，对第一和第二信息层中形成的沟槽都执行记录。

第三实施例

第三实施例说明，在粘合层83中设置第一信息层82的沟槽，并且在粘合层83中设置第二信息层84的沟槽。在此，在透明基片81和基片85中未设置沟槽。

更具体地讲，如图14所示，在粘合层83中形成了在图1中的第一信息层12和第二信息层14中布置的沟槽。在某些情况下，粘合层83可能为由多种材料制成的多层。同样在此实施例中，获得上述第一至第三测试数据和比较示例1和2的记录和再现特性。

第四实施例

第四实施例说明，在基片91中设置第一信息层92的沟槽，并且在粘合层93中设置第二信息层94的沟槽。在此，在基片95中未设置沟槽。

更具体地讲，如图15所示，在透明基片91中形成了在图1中的第一信息层12中设置的沟槽，并且在粘合层93中形成了在第二信息层14中设置的沟槽。在某些情况下，粘合层93可能为由多种材料制成的多层。在此实施例中，同样也获得上述第一至第三测试数据和比较示例1和2的记录和再现特性。

第五实施例

第五实施例说明，在粘合层103中设置第一信息层102的沟槽，并且在基片105中设置第二信息层104的沟槽。在此，在透明基片101中未设置沟槽。

更具体地讲，如图16所示，在粘合层103中形成了在图1中的第一信息层12中设置的沟槽，并且在基片105中形成了在第二信息层104中设置的沟槽。在某些情况下，粘合层103可能为由多种材料制成的多层。在此实施例中，同样也获得上述第一至第三测试数据和比较示例1和2的记录和再现特性。

第六实施例

第六实施例说明在上述双层可记录光盘上执行记录和再现处理的光盘设备的示例。图17是示出对根据本发明实施例的双层可记录光盘进行操作的光盘设备的示例的框图。

作为光盘设备110，具有作为源的调谐器等的具备记录功能的数字电视机被作为示例示出。而且，优选的是，光盘设备110是具有调谐器等并具有记录功能的硬盘记录器。

因此，在以下参照图17对实施例的描述中，对具有记录功能的数字电视机进行详细说明。然而，通过从图17中分离出显示126，该说明也可被解释为对具有相同功能的硬盘记录器的说明。

在图17中，作为数字电视机的光盘设备110具有两种盘驱动器。即，光盘设备110具有硬盘驱动单元118和光盘驱动单元119。硬盘驱动单元118驱动作为第一介质的硬盘H。光盘驱动单元119转动并驱动作为可构成作为第二介质的视频文件的信息记录介质的光盘D。而且，控制单元130通过数据总线B与每一单元连接，从而控制整个操作。然而，在本发明实施例中，光盘驱动单元119并不总是必要的部件。

图17中的光盘设备110具有构成记录侧的编码器单元121、构成再现侧的MPEG解码器单元123、和控制作为主要部件的设备主体的操作的控制单元130。光盘设备110具有输入侧的选择器单元116和输出侧的选择器单元117。诸如LAN之类的通信单元111、通常所说的卫星广播(BS/CS)数字调谐器单元112、和通常所说的地面数字/模拟调谐器单元113连接到输入侧的选择器单元116，并且信号被输出到编码器单元121。而且，卫星天线与BS/CS数字调谐器单元112相连接，并且地面天线与地面数字/模拟调谐器单元113相连接。而且，所述光盘设备110具有编码器单元121、接收编码器单元121的输出并执行诸如数据编辑之类的所期望的数据处理的信号编辑单元120、和连接到信号编辑单元120的硬盘驱动单元118和光盘驱动单元119。光盘设备110还具有从硬盘驱动单元118和光盘驱动单元119接收信号并解码信号的MPEG解码器单元123、编码器单元121、缓冲器单元122、MPEG解码器单元123、多路复用单元128、分离单元129、控制单元130、定时器设置单元/定时器记录单元142、和节目表产生单元143。这些单元通过数据总线B与控制单元130相连接。而且，选择器单元117的输出被提供给显示器126，或者通过与外部装置执行通信的接口单元127提供给外部装置。

而且，光盘设备110具有操作单元132，其通过数据总线B连接到控制单元130，并且其接收用户操作和遥控器R的操作。在此，遥控器R基本上允许进行与由设置在光盘设备110的主体中的操作单元132所作操作相同的操作。遥控器R可对硬盘驱动单元118和光盘驱动单元119作出记录和再现指示，并且作出编辑指示和进行诸如调谐器操作和定时器记录设置之类的各种设置。

基本操作

记录处理

接下来，将详细描述包括其它实施例的记录时的操作。作为光盘设备110的输入端，诸如LAN的通信单元111与外部装置连接，经由诸如互联网之类的通信路径借助例如调制解调器来与节目信息提供服务器通信，并且下载广播内容等。而且，BS/CS数字调谐器单元112和地面数字/模拟调谐器单元113通过天线选择广播信号来解调信号，并且接收视频信号和音频信号。调谐器单元与各种广播信号相对应。其例子包括地面模拟广播、地面波、数字广播、BS模拟广播、BS数字广播、和CS数字广播，但是本发明不限于此。另外，本发明不限于仅仅一个调谐器的布置，而是其包括布置有两个或三个地面广播调谐器单元和BS/CS调谐器单元的情况，并且它们根据对定时器记录操作的请求并行操作。

上述通信单元111可以是IEEE1394接口，并且可从网络上的外部装置接收数字内容。通信单元111还可从输入终端(未示出)接收亮度信号、色差信号、合成的视频信号、和音频信号。信号的输入由控制单元130所控制的选择器单元116等来进行控制，并且被选择性地提供给编码器单元121。

编码器单元121具有用来对选择器单元116输入的模拟视频信号和模拟音频信号进行数字化的视频和音频的模拟和数字转换器、视频编码器、和音频编码器。其还包括子画面编码器。编码器单元121的输出被转换为诸如MPEG之类的预定压缩格式，并且被提供给上述控制单元130。

而且，BS/CS数字调谐器112等不必内置。优选的是，它们通过数据输入终端在外部布置，并且通过选择器单元116把接收到的数字信号提供给编码器单元121和控制单元130。

在此，图17中的设备可经由控制单元130把编码器单元121所编码的信息(视频、音频、子画面数据等的包)和创建的管理信息提供给硬盘驱动单元118或光盘驱动单元119，并且把它们记录到硬盘驱动单元118或光盘D中。而且，该设备可经由控制单元130和光盘驱动单元119把记录在硬盘驱动单元118或光盘D中的信息记录到光盘D和硬盘驱动单元118中。

可执行编辑处理，包括删除记录在硬盘驱动单元118和光盘D中的多个节目的视频对象的一部分、和接合不同节目的对象等。

再现处理等

接下来将详细描述包括其它实施例的再现主要记录的信息的处理。MPEG解码器单元123具有视频处理器，其把解码过的主画面和解码过的子画面适当结合，并且在主画面上输出菜单、加亮按钮、重叠的字幕和其子画面。

MPEG解码器单元123的输出音频信号由数字/模拟转换器(未示出)经由选择器单元117进行模拟转换，并被提供给扬声器，或者经由I/F单元27提供给外部装置。由来自控制单元130的选择信号控制选择器单元117。因此，当直接监控来自各个调谐器单元12和13的数字信号时，选择器单元117可直接选择已通过编码器单元121的信号。

本实施例的光盘设备110具有这样的全面功能，并且通过光盘D或硬盘驱动单元118对多个源执行记录和再现处理。

第七实施例

第七实施例详细说明作为上述HD DVD的双层光盘的标准的示例。图18是示出根据本发明实施例的双层可记录光盘的一般参数设置示例的说明性示图。

双层光盘的参数

以下将参照图18来描述根据本发明的双层光盘的参数。关于本发明的双层光盘，如图18所示，在一层结构中可用记录容量是15G字节，并且在双层结构中是30G字节。

关于一层结构和双层结构，以相同的方式示出了所使用的波长、物镜的NA值。而且，作为系统导入区和系统导出区中的(A)数值，而且进一步，作为数据导入区、数据区、中间区、和数据导出区中的(B)数值，关于一层结构和双层结构示出了数据位长度、通道位长度、最小标记/凹坑长度(2T)、最大标记/凹坑长度(13T)、轨道间距、和物理地址设置方法的值。

而且，关于一层结构和双层结构，已经示出了信息记录介质的外直径、信息记录介质的总厚度、中心孔的直径、数据区DTA的内半径、数据区DTA的外半径、扇区大小、ECC、ECC块大小、调制方法、可纠错的错误长度、和线速度。

而且，关于一层结构和双层结构，作为系统导入区和系统导出区中的(A)数值，而且进一步，作为数据导入区、数据区、中间区、和数据导出区中的(B)数值，示出了通道位传送速率和用户数据传送速率。

双层光盘的摆动结构

接下来，关于作为根据本发明的双层光盘的HD DVD，将参照附图来详细描述尤其关于摆动结构的特性。

图19中示出了根据实施例的双层光盘中的位地址分配方法。如图19中的左侧所示，首先从一个摆动的开始位置弯曲前进到外圆周侧的一个摆动图案被称作NPW(正常相位摆动)，并且对其分配数据“0”。如图19中的右侧所示，首先从一个摆动的开始位置弯曲前进到内圆周侧的一个摆动图案被称作IPW(反转相位摆动)，并且对其分配数据“1”。

如图20所示，各个摆动数据单元#0560至#11571的内容每一个均配置有16个摆动的调制区598和68个摆动的非调制区592和593。本实施例的一个极佳特性在于非调制区592和593与调制区的占用比被做得足够大。在非调制区592和593中，沟槽区或槽岸区总是在恒定频率下摆动。因此，可通过使用非调制区592和593来制成PLL(锁相环)，并且稳定地提取(产生)将用于再现记录在信息记录介质上的记录标记的标准时钟或将用于重新记录标记的记录标准时钟。

在从非调制区592和593转移到调制区598的情况下，通过使用4个摆动或6个摆动来设置作为调制开始标记的IPW区。在图20的(c)和(d)中所示的摆动数据部分，进行布置从而检测到正好在作为调制开始标记的IPW区之后的被摆动调制后的摆动地址区(地址位#2到#0)。图20的(a)和(b)示出了与下面将描述的图21的(c)所示的摆动下沉区580相对应的摆动数据单元#0560中的内容，并且图20的(c)和(d)示出了与图21的(c)中的从段信息727到CRC码726的摆动数据部分相对应的摆动数据单元的内容。图20的(a)和(c)示出了与下面将描述的调制区的主要位置701相对应的摆动数据单元的内容，并且图20的(b)和(d)示出了与调制区的次要位置702相对应的摆动数据单元。如图20的(a)和(b)所示，在摆动下沉区580中，对IPW区分配6个摆动，并且对由IPW区环绕的NPW区分配4个摆动。如图20的(c)和(d)所示，在摆动数据部分中，对IPW区和全部地址位区#2到#0分配4个摆动。

图21示出了在可记录信息记录介质中的摆动地址信息中的数据结构。为了进行比较，在图21的(a)中示出了可重写信息记录介质中的摆动地址信息的数据结构。在图21的(b)和(c)中示出了可重写信息记录介质中的摆动地址信息的数据结构的实施例。

在摆动地址区610中，以12个摆动来设置3个地址位。即，连续的四个摆动构成一个地址位。以此方式，本实施例具有在每三个地址位分配和布置地址信息的结构。当在信息记录介质中的一个部分中集中记录摆动地址信息610时，如果在介质表面出现灰尘或损伤，那么检测全部信息就变的很困难。在该实施例中，在包括在摆动数据单元560至576之一中的每三个地址位(12个摆动)分配和布置摆动地址信息610，并且在每三个地址位的一整体多地址位记录所收集的信息。因此，即使由于灰尘或损伤而难以在一个部分检测到信息，也可检测到其它信息。

分配并布置摆动地址信息610，并且布置摆动地址信息610从而完成上述每一物理段，由此可知每一物理段的地址信息。结果，当信息记录和再现设备访问时，可以以物理段为单位来了解当前位置。

通过把NRZ方法用作实施例，相位在摆动地址信息610中的连续四个摆动中不改变。通过使用此特性，设置摆动下沉区580。即，摆动地址信息610中不能出现的摆动图案被设置给摆动下沉区580，从而识别摆动下沉区580的布置位置变得容易。本实施例的特征在于，关于四个摆动构成一个地址位的摆动地址区586和587，一个地址位长度被设置为摆动下沉区580处中的四个摆动的长度以外的长度。更具体地讲，在摆动下沉区580中，在图20的(c)和(d)中所示的摆动数据处中不能出现的摆动图案变化被设置给图20的(a)和(b)中所示的摆动位变为“1”的区(IPW区)。在摆动图案变化中，设置与四个摆动不动的“六个摆动→四个摆动→六个摆动”。当如上所述用来改变摆动周期的方法被用作用来把摆动数据处中不能出现的摆动图案设置给摆动下沉区580的具体方法时，获得以下优点。

1)可在不破坏在摆动信号检测单元中执行的与摆动槽位置有关的PLL的情况下来稳定地连续进行摆动检测(确定摆动信号)。

2)可通过在摆动信号检测单元中执行的对地址位边界位置的位移来容易地检测摆动下沉区580和调制开始标记561和582。本实施例的特征在于，以12个摆动的周期来形成摆动下沉区580，并且摆动下沉区580的长度被做得与三个地址位的长度相同。因此，通过把一个摆动数据单元#0560中的全部(16个摆动的)调制区分配给摆动下沉区580，提高对摆动地址信息610的开始位置(摆动下沉区580的布置位置)检测的容易程度。该摆动下沉区580布置在物理段中的第一摆动数据单元中。通过在物理段中的头部位置布置摆动下沉区580，可通过检测摆动下沉区580的位置来容易地提取物理段的边界位置。

如图20的(c)和(d)中所示，在地址位#2到#0之前，在摆动数据单元#1561到#11571中的头部位置处布置作为调制开始标记的IPW区。在其之前的位置处布置的非调制区592和593中，NPW波形连续。因此，在摆动信号检测单元中，检测到从NPW到IPW的改变，并且提取调制开始标记的位置。

作为参考，以下内容被记录为图21的(a)中所示的可重写信息记录介质中的摆动地址信息610的内容。

1)物理段地址601

其是示出了一个轨道(在信息记录介质221中的一周)中的物理段号的信息。

2)带地址602

其示出了信息记录介质221中的带号。

3)奇偶信息605

其为在从摆动地址信息610进行再现时为错误检测设置的信息。该信息把14个地址位以地址位为单位单独地从定时器信息604添加到带地址602，并且显示添加结果是偶数还是奇数。奇偶信息605的值设置来使得以地址位为单位对包括地址奇偶信息605的一个地址位的总共15个地址位取异或的结果变为“1”。

4)统一区608

如上所述，每一摆动数据单元中的内容被设置为由16个摆动的调制区598和68个摆动的非调制区592和593来构成，并且非调制区592和593与调制区598的占用比被做得足够大。而且，非调制区592和593的占用比被加宽，并且再现标准时钟或记录标准时钟的提取(产生)的精度和稳定性被进一步提高。在统一区608中，全部NPW区连续，统一区608变为具有统一相位的非调制区。

图21的(a)示出了对上述各个信息的分配的地址位的号码。如上所述，将摆动地址信息610的内容每三个地址位分开，并且在每一摆动数据单元中分配和布置所述摆动地址信息的内容。即使由于信息记录介质表面上的灰尘或损伤导致出现突发错误，该错误扩展到不同的摆动数据单元的可能性也是极低的。因此，遍历作为记录了相同信息的位置的不同摆动数据单元的次数尽可能地减小，并且各个信息的分割线和摆动数据单元的边界位置被做得彼此匹配。因此，即使由于信息记录介质表面上的灰尘或损伤导致出现突发错误并且特定信息不能被读取，也可读取记录在其它摆动数据单元中的其它信息，这提高了摆动地址信息的再现可靠性。

如图21的(b)和(c)中所示，还是在可记录信息记录介质中，以和可重写信息记录介质中相同的方式在物理段的头部位置分配摆动下沉区580，从而易于检测物理段的头部位置或相邻物理段之间的边界位置。在图21的(b)中所示的物理段的类型标识信息721中，以和上述摆动下沉区580中的摆动下沉图形相同的方式，来指示物理段中的调制区的布置位置，从而可提前预测相同物理段中的其它调制区598的布置位置。因此，可提前准备对紧接着的调制区的检测，这使得能够提高调制区中的信号检测(调整)的精度。

图21的(b)中所示的可记录信息记录介质中的层号信息722示出了是一面单记录层还是一面双记录层的记录层被显示，并且

-如果其为“0”，则意味着一面单记录层介质或在一面双记录层情况下的“L0层”(激光束入射面的前一层)，并且

-如果其为“1”，则意味着一面双记录层的“L1层”(激光束入射面的后一层)。

物理段次序信息724示出了相同的物理段块中的相关物理段的布置顺序。如同在与图21的(a)进行的比较所示，摆动地址信息610中的物理段次序信息724的头部位置与可重写信息记录介质中的物理段地址601的头部位置相匹配。通过把物理段次序信息位置设置到可重写类型，可提高介质类型之间的兼容性。另外，通过在可使用可重写型记录介质和可记录信息记录介质的信息记录和再现设备中共享使用了摆动信号的地址检测控制程序，可进行简化。

图21的(b)中的数据段地址725以数字描述了数据段的地址信息。如上所述，在本实施例中一个ECC块由32个扇区构成。因此，在指定ECC块中的头部布置的扇区的物理扇区号的低五位与在相邻ECC块中的头部位置布置的扇区的扇区号相一致。当物理扇区号被设置为在ECC块中的头部布置的扇区的物理扇区号的低五位变为“00000”时，同一ECC块中存在的全部扇区的物理扇区号低第六位及其以上的值彼此一致。因此，同一ECC块中存在的扇区的物理扇区号的低五位的数据被移除、且仅低第六位及其以上的数据被提取的地址信息被作为ECC块地址(或ECC块地址号)。以摆动调制预先记录的数据段地址725(或物理段块号信息)与上述ECC块地址相一致。因此，当经过摆动调制的物理段块的位置信息由数据段地址显示时，与物理扇区号所显示的数据流相比，每五位数据量会下降，并且在访问时的当前位置检测变得简单。

图21的(b)和(c)中的CRC码726是关于从类型标识信息721到物理段的数据段地址725的24个地址位的CRC码(校错码)、或者是关于从段信息727到物理段次序信息724的24个地址位的CRC码。即使摆动调制信号被部分误读，它们也可由CRC码726部分校正。

在可记录信息记录介质中，与剩余的15个地址位相等的区被分配给统一区609，并且从第12到第16五个摆动数据单元的内容全部是NPW(即，不存在调制区598)。

图21的(c)中的物理段块地址728是对由七个物理段构成一个单元的每一物理段块设置的地址，并且把关于数据导入DTRDI中的第一物理段块的物理段块地址设置为“1358h”。从数据导入DTLDI中的第一物理段块到数据导出DTLDO中的最后物理段块，包括数据区DTA，物理段块地址的值按顺序增加1。

物理段次序信息724示出了一个物理段块中的各个物理段的次序，并且“0”被设置给第一物理段，并且“6”被设置给最后的物理段。

图21的(c)所示的实施例的特征在于，在物理段次序信息724之前的位置布置物理段块地址728。例如，如同表18中所示的RMD字段1，地址信息通常由物理段块地址来管理。在根据管理信息访问预定物理段块地址的情况下，摆动信号检测单元首先检测图21的(c)所示的摆动下沉区580的位置，之后，从正好在摆动下沉区580之后记录的信息开始顺序地解释信息。当在物理段次序信息724之前的位置存在物理段块地址时，首先解释物理段块地址，从而可在不解释物理段次序信息724的情况下确定是否存在预定的物理段块地址。因此，改善了通过使用摆动地址的可访问性。

由类型标识信息721和保留区723来构成段信息727的内容。

还是在图21的(c)中，本实施例的特征在于，正好在摆动下沉区580之后布置类型标识信息721。如上所述，在摆动信号检测单元(未示出)中，首先检测图21的(c)所示的摆动下沉区580的位置，其后，从正好记录在摆动下沉区580之后的信息开始顺序地解释信息。因此，通过正好在摆动下沉区580之后布置类型标识信息721，可即时确定物理段中的调制区的布置位置，因此，可实现通过使用摆动地址的高速访问处理。

测量摆动检测信号的方法

为了调整再现信号质量从而把摆动信号的串扰量控制在特定水平或更低，以下将参照图23的流程图来描述测量摆动检测信号的最大幅度(Wppmax)和最小幅度(Wppmin)的方法。由于以下流程图可被作成电路块，所以流程图的每一步骤均可被定义为块。如步骤ST01所示，摆动信号被输入到频谱分析仪。在此，频谱分析仪的参数被设置为如下所示。

中心频率 697kHz

频率间隔 0Hz

分辨率带窗口 10kHz

视频带窗口 30Hz

接下来，在步骤ST02，改变盘的旋转速度，从而摆动信号频率变为预定值，并且调整线速度。

由于在本实施例中使用H格式，所以摆动信号频率的预定值被设置为697kHz。

接下来，将描述对摆动检测信号的载波水平的最大值(Cwmax)和最小值(Cwmin)进行测量的示例。

由于恒定的线速度(CLV)记录方法被用在本实施例的可记录存储器中，所以，相邻轨道之间的摆动相位随轨道位置而改变。如果相邻轨道之间的摆动相位相同，则摆动检测信号的载波水平变为最高，并且其变为最大值(Cwmax)。当相邻轨道之间的摆动相位变得彼此相反，则在相邻轨道间的串扰的影响下，摆动检测信号变为最小，并且其可变为最小值(Cwmin)。因此，在沿着从内圆周到外圆周方向寻轨的情况下，检测到的摆动检测信号的载波的大小以4轨道的周期波动。

在本实施例中，每4个轨道就检测一次摆动信号，并且测量每4个轨道的最大值(Cwmax)和最小值(Cwmin)。在步骤ST03，该对最大值(Cwmax)和最小值(Cwmin)被累积为30对的数据或更多。

接下来，通过使用以下计算等式，在步骤ST04中，从最大值(Cwmax)和最小值(Cwmin)的平均值计算最大幅度(Wppmax)和最小幅度(Wppmin)。

在以下等式中，R表示频谱分析仪的终结电阻值(terminatedresistance value)。接下来，将说明从Cwmax和Cwmin的值转换Wppmax和Wppmin的等式。

在dBm单位体系中，标准是0dBm＝1mW。因此，如下计算电功率Wa变为1mW的电压幅度Vo。

Wao

＝IVo

＝Vo×Vo/R

＝1/1000W

因此，得

Vo＝(R/1000)^1/2

接下来，由频谱分析仪观察到的摆动幅度Wpp[V]和载波电平Cw[dBm]之间的关系变为如下所示。在此，由于Wpp是正弦波，所以该幅度被校正为如下所示的有效值。

Wpp-rms＝Wpp/(2×2^1/2)

Cw＝20×log(Wpp-rms/Vo)[dBm]

因此，得

Cw＝10×log(Wpp-rms/Vo)²

当对上述对数进行变换时，建立以下公式。

(Wpp-rms/Vo)²

＝10^(Cw/10)

＝{[Wpp/(2×2^1/2)]/Vo}²

＝{[Wpp/(2×2²)]/(R/1000)^1/2}²

＝(Wpp²/8)/(R/1000)

WPP2²

＝(8×R)/(1000×10^(Cw/10))

＝8×R×10^-3×10^(Cw/10)

＝8×R×10^(Cw/10)(-3)

Wpp＝{8×R×10^(Cw/10)(-3)}^1/2 (61)

现在，图24中示出了摆动信号和轨道位移检测信号的特性。

作为图24的(a)示出的光头所检测到的轨道位移检测信号的信号(I1-I2)被输入到摆动信号检测单元(未示出)。

以下将描述在信息记录和再现单元中存在的光头的结构。如图24的(a)所示，从半导体激光器1021发射的激光束通过准直透镜1022形成平行光，并且该平行光通过分束器1023由物镜1028聚焦，并且照射到信息记录介质1001的预制沟槽区1011。预制沟槽区1011轻微摆动。从预制沟槽区1011反射的光再次穿过物镜1028，并且由分束器1023反射并通过聚光透镜1024照射到光检测器1025。

光检测器1025由光检测单元1025-1和光检测单元1025-2构成。获得从光检测单元1025-1和1025-2分别检测到的信号I1和I2之间的差，并且该信号被输入到摆动信号检测单元(未示出)。图24所示的光头可检测推挽类型的摆动信号和轨道位移检测信号二者。

由于在轨道环路为ON时摆动频率的频带比寻轨频带高，所以从光头检测到摆动信号。在此，当相邻轨道之间的预制沟槽的摆动相位相等时，获得最大幅度Wppmax，并且在反转相位的情况下，在相邻轨道串扰的影响下摆动信号幅度下降，并且获得最小幅度Wppmin。

在本实施例中，进行这样的设计，使得在最大幅度(Wppmax)和最小幅度(Wppmin)之间的条件被规定以获得更加稳定的摆动检测。即，设计摆动信号检测单元使得即使在摆动检测信号的幅度值改变3次时，也可稳定地检测信号。而且，期望的是，在串扰的影响下，摆动检测信号的幅度的变化比率不大于1/2。

因此，在本实施例中，取其中间值，并且通过用摆动信号的最小值除可允许的摆动信号的最大值(Wppmax÷Wppmin)所获得的值被设置为不大于2.3。

在本实施例中，(Wppmax÷Wppmin)的值被设置为不大于2.3。然而，从摆动信号检测单元性能的观点看，即使(Wppmax÷Wppmin)的值被设置为不大于3，也可稳定地检测信号。而且，在执行更精确地摆动检测的情况下，(Wppmax÷Wppmin)的值可被设置为不大于2.0。设置预制沟槽区1011的摆动幅度以满足上述条件。

当轨道环路如图24(b)所示为OFF时，从光头出现轨道位移检测信号。此时的轨道位移检测信号的最大幅度被指示为(I1-I2)pp。通过确定从光检测单元1025-1检测到的信号I1和从光检测单元1025-2检测到的信号I2之间的差获得(I1-I2)pp的值。所获得的信号通过关闭频率(截止频率)为30kHz的低通滤波器，其后被处理。低通滤波器由初级滤波器构成。而且，在未记录的数据区(DTA)和未记录区的数据导入区(DTLDI)或数据导出区(DTLDO)中测量(I1-I2)pp的值。

现在，将参照图25来描述测量轨道位移检测信号的幅度值(I1-I2)pp的方法。

由于以下流程图可被做成电路块，所以流程图的每一步骤均可被定义为一块。在步骤ST11中，从图24的(a)示出的光头获得的信号(I1-I2)被输入到关闭频率(截止频率)fc为30kHz的低通滤波器。

在步骤ST12，针对低通滤波器的输出测量每一轨道的幅度值，并且累积不少于30个采样。

通过获得在步骤ST12所获得的采样的平均值，在步骤ST13获得(I1-I2)pp。

摆动信号检测单元(未示出)检测摆动信号，并且还通过使用相同的检测电路检测轨道位移检测信号。通过由摆动信号检测单元(未示出)来检测摆动信号和轨道位移检测信号二者，可由一个检测电路处理(一起使用)两个任务，因此，可简化该电路。

NBSNR测量方法

现在，将参照流程图27描述测量NBSNR的特定方法。由于以下流程图可被做成电路块，所以流程图的每一步骤均可被定义为一块。首先，连续的400个或更多轨道的随机数据被记录到信息记录介质(步骤ST21)。接下来，当在不跳轨的情况下对在步骤ST21记录的轨道执行寻轨时，测量载波电平和噪音电平(步骤ST22)。根据在步骤ST22中测得的载波电平和噪音电平之差来获得NBSNR(步骤ST23)。

接下来将说明把平方电路(图26中的1033)用于测量摆动检测信号的C/N比的原因。如图28所示，在使用H格式的实施例中，通过相位调制给出摆动检测信号。在相位调制的情况下，存在图28的(a)中所示的相位改变部分(NPW和IPW之间)的切换部分α处的很多频率分量。因此，当图28的(a)中的摆动检测信号的波形由频谱分析仪1034分析时，在图29所示的载波周围出现大的峰值。这使得难以调整噪音电平。

与此相比，当如图28的(b)所示取由相位调制所调制的摆动检测信号的平方时，在IPW区和在NPW区中的平方波形变得相同。因此，不存在类似于相位的切换部分的部分，可获得非常稳定的信号，并且在图29中的载波信号周围不会出现上升的部分。因此，可获得单峰的载波电平值。

根据如上所述的各个实施例，本领域技术人员可实现本发明，而且，本领域技术人员可以很好地理解可对这些实施例做各种调整，并且在不作创新的条件下应用于各个实施例。因此，本发明的范围不与在此描述的原理和新特性相矛盾，并且不限于上述实施例。

虽然已经描述了本发明的某些实施例，但是这些实施例仅仅是以示例的方式示出，并且并不意味着限制本发明的范围。实际上，在此描述的新方法和系统可以以其它形式实施；而且，可在不脱离本发明的精神的情况下对在此描述的方法和系统的形式进行各种省略、替代和改变。所附权利要求及其等同物意在覆盖将落在本发明的范围和精神内的这些形式或变化。

Claims

1.一种光盘，其特征在于包括：

设置在光入射面的透明基片层(11)；

第一沟槽，其深度为第一深度(H1)；

第一信息层(12)，所述第一信息层中记录有信息；

粘合层(13)；

第二沟槽，其深度为第二深度(H2)，所述第二深度比所述第一深度更深；以及

第二信息层(14)，所述第二信息层中记录有信息，其中

通过使用波长λ，所述第一深度和所述第二深度不大于λ/2n，

所述第一沟槽和所述第二沟槽的宽度不大于0.3μm；

所述第一沟槽和所述第二沟槽的轨道间距不大于0.45μm；

2.如权利要求1所述的光盘，其特征在于，所述第一沟槽形成在所述第一信息层中，并且所述第二沟槽形成在所述第二信息层中。

3.如权利要求1所述的光盘，其特征在于，所述透明基片层的厚度不小于580μm且不大于600μm。

4.如权利要求1所述的光盘，其特征在于，所述粘合层的厚度不小于20μm且不大于35μm。

5.如权利要求1所述的光盘，其特征在于，所述透明基片层、所述第一信息层、所述第二信息层、和所述粘合层对所述波长的激光束的反射系数不小于3％且不大于10％。

6.如权利要求1所述的光盘，其特征在于，来自所述第二信息层的反射系数不小于来自所述第一信息层的反射系数的0.8倍且不大于来自所述第一信息层的反射系数的1.2倍。

7.如权利要求1所述的光盘，其特征在于，在所述第一信息层和所述第二信息层中，已经记录了信息的已记录区的反射系数高于未记录信息的未记录区的反射系数。

8.如权利要求2所述的光盘，其特征在于，在所述第一信息层和所述第二信息层中所形成的沟槽中，仅对靠近激光束入射面的沟槽进行记录。

9.如权利要求1所述的光盘，其特征在于，所述第一沟槽形成在所述透明基片层中，并且所述第二沟槽形成在一基片层中，所述基片层形成于所述第二信息层上。

10.如权利要求1所述的光盘，其特征在于，所述第一沟槽形成在所述透明基片层中，并且所述第二信息层中的所述第二沟槽形成在所述粘合层中。

11.如权利要求1所述的光盘，其特征在于，所述第一沟槽形成在所述粘合层中，并且所述第二信息层中的所述第二沟槽形成在一基片层中，所述基片层形成于所述第二信息层上。

12.如权利要求1所述的光盘，其特征在于，所述第一沟槽和所述第二沟槽二者都形成在所述粘合层中。

13.一种光盘设备，其特征在于包括：

处理器电路，用于与至少一个光盘通信，所述光盘包括：

设置在光入射面的透明基片层(11)；

第一沟槽，其深度为第一深度(H1)；

第一信息层(12)，所述第一信息层中记录有信息；

粘合层(13)；

第二信息层(14)，所述第二信息层中记录有信息，其中

通过使用波长λ，所述第一深度和所述第二深度不大于λ/2n，

所述第一沟槽和所述第二沟槽的宽度不大于0.3μm；

所述第一沟槽和所述第二沟槽的轨道间距不大于0.45μm；

14.如权利要求13所述的光盘设备，其特征在于，所述处理器电路被配置来在所述光盘上记录信息。

15.如权利要求13所述的光盘设备，其特征在于，所述处理器电路被进一步配置来再现存储在所述光盘上的信息。

16.如权利要求13所述的光盘设备，其特征在于，还包括：在所述透明基片层中形成所述第一沟槽，并且在一基片层中形成所述第二沟槽，所述基片层形成于所述第二信息层上。

17.如权利要求13所述的光盘设备，其特征在于，还包括：在所述透明基片层中形成所述第一沟槽，并且在所述粘合层中形成所述第二沟槽。

18.如权利要求13所述的光盘设备，其特征在于，还包括：在所述粘合层中形成所述第一沟槽，并且在一基片层中形成所述第二沟槽，所述基片层形成于所述第二信息层上。

19.如权利要求13所述的光盘设备，其特征在于，还包括：在所述粘合层中形成所述第一沟槽和所述第二沟槽。

20.如权利要求13所述的光盘设备，其特征在于，所述透明基片层的厚度不小于580μm且不大于600μm。