CN101006500A - 光学扫描设备 - Google Patents

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CN101006500A CNA2005800282929A CN200580028292A CN101006500A CN 101006500 A CN101006500 A CN 101006500A CN A2005800282929 A CNA2005800282929 A CN A2005800282929A CN 200580028292 A CN200580028292 A CN 200580028292A CN 101006500 A CN101006500 A CN 101006500A
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Koninklijke Philips Electronics NV
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Abstract

一种光学扫描设备,用于扫描记录载体(22),该记录载体具有外表面(24),且光学扫描设备包括:辐射源系统(2),被设置用于产生射束;具有出射面(76)的物镜系统(20),被设置在辐射源系统与记录载体之间且提供在物镜系统的出射面与记录载体的外表面之间的间隙中射线的消散波耦合;辐射探测器装置,用于检测与记录载体相互作用后的射线。辐射探测器装置被设置来产生代表物镜系统的出射面与记录载体的外表面之间的倾斜未对准的倾斜误差信号(α,β)。辐射探测器装置被设置通过检测表示在出射面的消散波耦合的有效性方面变化的射线中的信息来产生倾斜误差信号。

Description

光学扫描设备
技术领域
本发明涉及用于扫描记录载体的光学扫描设备,尤其涉及使用射线的消散波耦合(evanescent coupling)来扫描记录载体的光学扫描设备。
背景技术
在特殊类型的高密度扫描设备中,固体浸没透镜(SIL)被用来将射束聚焦成扫描光点射到记录载体的信息层。SIL的出射面与记录载体的外表面之间的一定距离,例如25nm,对于使射束从SIL到记录载体消散波耦合是可取的。消散波耦合可被称为受抑全内反射(FTIR)。这样的系统被叫做近场系统,该名字得自于在SIL的出射面处由消散波所形成的近场。一种例示的光学扫描设备可以使用蓝色激光器且发射具有大约405nm波长射束的这样的辐射源。
在扫描记录载体期间,将保持SIL的出射面与记录载体的外表面之间的消散波耦合。该消散波耦合的有效性可以随出射面与外表面之间的间隙的距离的变化而变化。随着远离想要的间隙距离的增加,耦合有效性将趋向于下降从而扫描光点的质量也将降低。例如,如果扫描操作涉及从记录载体读取数据,则该有效性下降将导致正被读取的数据质量的降低,可能将错误引入数据信号中。
在非近场系统中,例如高密度盘(CD)、数字通用光盘(DVD)或蓝光光盘,已经公知记录载体相对于物镜系统的光轴的倾斜未对准在写入信息层或从信息层读取期间会对扫描光点的质量产生负面影响。
倾斜未对准方面的变化可以归因于记录载体的不均匀的平面性。这可能是由于光盘翘曲,也可能由于环境因素(如随时间变化的高温)或由于记录载体的低质量制作工艺。可选地,或另外地,倾斜未对准可能由于扫描设备内记录载体没有卡紧而引起。
对于不是近场型的光学扫描设备,公知的是允许测量和校正记录载体的倾斜未对准的系统。一种常用的系统涉及使用倾斜检测器来检测记录载体的倾斜未对准且基于该检测到的倾斜未对准的程度校正该倾斜未对准。一种不同的常用系统涉及在首先写入记录载体然后读取期间执行优化程序。那么读取数据的质量被确定为倾斜未对准的函数。这允许该倾斜未对准被校正,如果需要的话。
使用用于检测记录载体的倾斜未对准的常用倾斜检测器因所涉及的公差非常小而在近场系统中不会提供足够的精确度,而且还会要求物镜系统相对于倾斜检测器高度对准。超过这么小的公差可能导致SIL与记录载体之间的接触,可能损坏SIL和/或记录载体。
使用用于测量和估计近场系统中的倾斜未对准的优化程序,类似于已知的系统,是不实用的。
发明内容
本发明的目的是提供一种光学扫描设备,其使用消散波通过使光学扫描设备与记录载体之间的倾斜未对准能够被检测和校正而精确且高效地扫描记录载体。
根据本发明,提供一种用于扫描记载的光学扫描设备,所述记录载体具有外表面,其中所述光学扫描设备包括:
a)辐射源系统,被设置用于产生射束;
b)物镜系统,具有出射面,该物镜系统被设置在所述辐射源系统与所述记录载体之间且提供在物镜系统的出射面与记录载体的外表面之间的整个间隙中射线的消散波耦合;以及
c)辐射探测器装置,用于检测与记录载体相互作用后的射线,
其特征在于,辐射探测器装置被设置来产生代表物镜系统的出射面与记录载体的外表面之间的倾斜未对准的倾斜误差信号,
其中辐射探测器装置被设置通过检测射线中的信息来产生所述倾斜误差信号,该射线中的信息表示在整个出射面上所述消散波耦合有效性方面变化。
对于使用消散波耦合来扫描记录载体的近场系统,对想要的倾斜对准级别的偏离在记录载体的扫描期间对正在被写入和/或读取的数据的质量和精度有着不利的影响。使用消散波耦合的近场系统具有相对小的机械公差的容限,超过这个容限,消散波耦合的有效性恶化。超过这些公差容限的对想要的倾斜对准级别的偏离会引起有效性恶化,因而对数据质量及精度产生不利的影响。另外,这种偏离将使SIL与记录载体接触,可能使系统损坏和/或发生故障。
随着倾斜未对准的变化,在所述间隙中消散波耦合的有效性在整个出射面上变化。因此,在第一出射面区域处在所述间隙中消散波耦合的有效性可能不同于在第二出射面区域处在所述间隙中消散波耦合的有效性。通过检测表示在整个出射面区域的有效性变化的信息,可以产生倾斜误差信号。
在本发明的实施例中,光学扫描设备包括倾斜未对准控制系统,其被设置成根据所述倾斜误差信号调节倾斜未对准。
所述倾斜误差信号可以用来校正倾斜未对准,使得可以提高在整个出射面区域消散波耦合的有效性。因此,可以相对高质量和高精确度地扫描记录载体。另外,倾斜未对准的检测和校正不涉及任何在光盘上写数据。因此,倾斜未对准校正过程相当快且不一定需要使用记录载体的数据容量。
根据本发明的实施例,可以检测和调节关于第一倾斜轴和第二倾斜轴的倾斜未对准。这通过另外检测在第三出射面区域和第四出射面区域处在所述间隙中消散波耦合的有效性来实现。
在本发明的一些实施例中,由辐射源系统所产生的射线是射束而所述设备在射束中引起散焦使得射束不聚焦到记录载体的外表面上,由此增加在出射面上的光点直径。
优选地,在这些实施例中,所述设备被设置以引起射束散焦,使得射束在出射面处的截面区域覆盖出射面的整个区域的至少四分之一。
该射束在出射面处的光点具有增加的直径,使得射束的截面区域覆盖出射面的整个区域的至少四分之一。该增加的直径导致第一、第二、第三和第四出射面区域的增加。这使得能够检测到更大量的在整个出射面上消散波耦合的有效性信息,从而使得能够进行更精确的倾斜未对准的调节。
在本发明的一个实施例中,在记录载体已被安装到所述设备内之后在起动过程中进行倾斜未对准的调节,以产生校正的倾斜对准,在起动后保持所述校正的倾斜对准且在整个所述记录载体上在不同的点扫描记录载体时使用。
通过在起动过程中产生校正的倾斜对准以及在起动后保持所述校正的倾斜对准,可以精确地扫描记录载体,而不需要在起动过程之后的扫描记录载体期间调节倾斜未对准。
在本发明的一种不同的实施例中,所述倾斜未对准的调节是在记录载体已被安装在所述设备内之后进行,其中所述倾斜未对准在整个所述记录载体上在不同的点扫描记录载体时被调节。
通过在整个所述记录载体上在不同的点调节倾斜未对准,可以精确地扫描具有可变的表面倾斜度的记录载体,例如,在记录载体为光盘的情况下在整个半径上扫描记录载体。这样的记录载体可以被制作得质量不高,或可能已变差,例如因为生产时翘曲或因环境条件而变差。
本发明的进一步的特征和优点通过参照附图的例子而给出的本发明的优选实施例的下述说明而变得更加明白。
附图说明
图1示意性示出了根据本发明实施例的光学扫描设备。
图2示出了根据本发明实施例的用于检测倾斜误差信号的探测器装置。
图3示意性示出了根据本发明实施例的具有想要的倾斜对准的物镜系统与记录载体。
图4和图5显示根据本发明实施例的物镜系统的出射面。
图6示意性示出了根据本发明实施例的具有关于第一倾斜轴的倾斜未对准的物镜系统和记录载体。
图7显示根据本发明实施例的用于检测射束光点信息的探测器装置。
图8示意性示出了根据本发明实施例的具有关于第一倾斜轴的不同倾斜未对准的物镜系统和记录载体。
图9显示根据本发明实施例的用于检测射束光点信息的探测器装置。
图10示意性示出了根据本发明不同实施例的物镜系统和记录载体。
图11示意性示出了根据本发明不同实施例的物镜系统和记录载体。
图12示意性示出了根据本发明不同实施例的物镜系统和记录载体。
具体实施方式
图1示意性示出了根据本发明实施例的用于扫描记录载体的光学扫描设备。
所述光学扫描设备包括辐射源系统,该辐射源系统被设置以产生射束。在这个实施例中,辐射源系统是激光器2,射束是具有预定波长λ(例如大约405nm)的激光光束3。在起动过程以及光学扫描设备扫描记录载体过程中,沿光学扫描设备的光轴OA(未示出)前进的射束3由准直透镜4准直,且其截面强度分布由光束整形器6整形。然后射束3经过非偏振分束器8,接着经过偏振分束器10,然后由第一聚焦调节透镜12和第二聚焦调节透镜14聚焦。通过在聚焦调节方向15移动第一聚焦调节透镜12实现射束3的聚焦。光学扫描设备的物镜系统20包括物镜16,其将聚焦波前引入射束3。物镜系统20还包括固体浸没透镜(SIL)18,其由支架19固定到物镜16上。支架19确保物镜16与SIL18保持对准和间隔距离。物镜系统具有出射面,该出射面是平面的且是SIL18的出射面。
由光学扫描设备待扫描的记录载体22设置在光学扫描设备内的安装元件23上。安装元件23包括夹持装置(未示出),其确保记录载体22在扫描期间牢固且准确地保持在安装元件23上的适当位置。在记录载体22被牢固地保持在适当位置的情况下,安装元件23在本实施例中提供记录载体22相对于辐射扫描光点旋转的平移,该辐射扫描光点用于扫描记录载体22的数据轨道。在这个实施例中,轨道在垂直于光轴OA的方向上旋转。记录载体22具有面向SIL18的出射面的外表面24。在这个实施例中记录载体22由硅形成,外表面24是记录载体22的信息层表面,通过该表面射束进入记录载体22。
光学扫描设备具有光轴(未示出),物镜系统20设置在激光器2与记录载体22之间的光轴上。物镜系统20提供射束3在SIL18的出射面与记录载体22的外表面24之间的间隙中的消散波耦合。在SIL18的出射面与记录载体22的外表面24之间存在倾斜未对准。
可以记录的最大信息密度(例如在信息载体上)与聚焦到信息层上的扫描位置上的射线光点尺寸成反比。最小的光点尺寸由两个光学参数的比值决定:射线的波长λ与物镜系统的数值孔径(NA)。物镜(如SIL)的NA被定义为NA=nsin(θ),其中n为射束聚焦的介质的折射率,θ是在该介质中射线的聚焦圆锥的半角。显而易见的是,对于在空气中聚焦或经过平面平行板(例如平面的记录载体)聚焦的物镜的NA的上限是1。如果射束在高折射率介质中被聚焦且传播到达物体而在透镜和物体之间在介质空气介质界面没有折射,则透镜的NA可以大于1。这可以被实现,例如通过聚焦到具有半球形的SIL的出射面中心,SIL非常靠近物体。在这种情况下,有效的NA是NAeft=nNA0,n是半球透镜的折射率,NA0是聚焦透镜在空气中的NA。进一步增加NA的可能性是使用具有超半球形的SIL,其中超半球形SIL将射束折射向光轴且将其聚焦在超半球形中心下面。在后面的情况下有效NA是NAeft=n2NA0。重要的是注意到大于1的有效NAeft仅存在于距离SIL的出射面非常短的距离(也称为近场),其中存在消散波。在这个实施例中,出射面是射线接触到物体之前物镜系统的最后折射面。该短距离通常小于射束波长λ的十分之一。
当物体是光学记录载体且该光学记录载体的外表面被设置在该短距离内时,射线通过消散波耦合从SIL传送到记录载体。这意味着在记录载体的写入或读出期间SIL与记录载体之间的距离(也称为间隙尺寸)将小于数十纳米,例如,对于使用蓝色激光辐射源产生具有波长λ等于约405nm和物镜系统的NA为1.9的射束的系统,上述间隙尺寸大约为25nm。
所述光学扫描设备具有第一检测路径以及第二检测路径,这两条路径都被设置在由记录载体22反射之后的射束的路径上。
在所述光学扫描设备的第一检测路径上,设置折叠式反射镜30以及用于将探测射束聚焦到第一偏振辐射检测器34上的会聚透镜32。
在由记录载体22反射射束之后,所反射的射线沿光轴OA前进且通过物镜系统20、第二和第一调焦透镜14、12、以及偏振分束器,然后沿第一检测路径经过折叠式反射镜30并且由会聚透镜32聚焦到第一偏振辐射检测器34上。
在光学扫描设备的第二、不同的、检测路径上设置非偏振分束器44、用于将检测射束聚焦到第二偏振辐射检测器48上的会聚透镜46、非偏振分束器50、用于将检测射束聚焦到第三偏振辐射检测器上的会聚透镜52,在这个实施例中,推挽式检测器54、折叠式反射镜62、以及会聚物镜64用于确保具有预定量散焦的检测射束光点落到检测器装置上,该检测器装置用于检测射束与记录载体相互作用之后的辐射。在这个实施例中的辐射检测器装置包括象限探测器66且被设置以产生代表SIL18的出射面与记录载体22的外表面24之间的倾斜未对准的倾斜误差信号。倾斜误差信号是通过检测被反射的射束在整个出射面上强度分布的信息、即在检测射束中的信息来产生。该强度分布表示在整个出射面上消散波耦合的有效性变化。象限探测器66的检测象限区域被单独地电连接到辐射检测器装置的信号处理电路67。该信号处理电路67被电连接到倾斜未对准控制系统的控制单元68,该倾斜未对准控制系统被设置来根据倾斜误差信号改变倾斜未对准。该倾斜未对准控制系统还包括倾斜未对准变化系统(未示出),其在这个实施例中是电连接到控制单元68的致动器(未示出)。控制单元68被设置来控制致动器,该致动器被设置来调节物镜系统20的倾斜,由此改变倾斜未对准。在由记录载体22反射射束之后,已到达偏振分束器10的被反射的射线前进经过非偏振分束器8到达第二检测路径。被反射的射线前进经非偏振分束器44,然后经过会聚透镜46到达第二偏振辐射检测器48,以及经非偏振分束器50和会聚透镜52到达推挽式检测器54。下面说明由象限探测器66正在检测的被反射的射线。
在光学扫描设备的扫描操作(如读取或写入数据)期间,所述设备使用两个偏振辐射检测器。第二偏振辐射检测器48用于检测被偏振与聚焦到记录载体22上的射束平行的、且包含从信息层读取的信息的射线。第一偏振辐射检测器34检测被偏振与聚焦到记录载体22上的射束的偏振方向垂直的射线。
为了控制所述间隙的距离,需要适当的误差信号。如Sony所详细说明的以及这里所引用的(T.Ishimoto et al.,Proceedings of OpticalData Storage 2001 in Santa Fe),一个好的间隙信号(GS)从被反射的射线得到,该被反射的射线具有与聚焦到记录载体上的射束的偏振态垂直的偏振态。射束的大部分射线在出射面和外表面反射之后变成椭圆形偏振。当经偏振器观察被反射的射线时这形成了公知的马耳他十字(Maltese Cross)。通过使用偏振光学及单个光电探测器汇集该马耳他十字的所有光来生成GS。GS由聚焦到第一检测器34上的检测射束的低频(例如从DC到约30kHz)部分得到。
在该扫描操作(例如数据记录)中,由激光器2发射非常短的高功率激光脉冲。这些脉冲动态地改变(平均)激光功率,导致相应于出射面与外表面24之间的间隙尺寸的GS方面也产生相应的变化,以及对于光学扫描设备,由于间隙伺服系统,也导致间隙方面的变化。例如,如果激光功率突然增加,则GS也会增加。但是,间隙伺服系统将减少空隙尺寸以再达到想要的间隙尺寸。当激光功率改变时(例如由于温度偏移)在数据读取期间发生类似的效应。
推挽式检测器54从检测射束中检测在记录载体22的信息层的轨道上射束光点的径向跟踪误差。推挽式检测器54检测被偏振与聚焦到记录载体22上的射束的偏振方向平行的射线。
现在参照图2和图3,显示象限探测器66相应地具有第一、第二、第三和第四检测象限区域A、B、C、D。在倾斜未对准检测过程中,检测射束光点70落到象限探测器66上。检测射束光点70具有预定程度的散焦,如下面所说明的。
倾斜未对准包括关于第一倾斜轴78的倾斜未对准,该第一倾斜轴78垂直于光轴OA。倾斜未对准还包括关于第二倾斜轴80的倾斜未对准,该第二倾斜轴80基本上垂直于光轴OA及第一倾斜轴78。
象限探测器66包括由第二和第四检测象限区域B、D组成的第一检测区域、由第一和第三象限区域A、C组成的第二检测区域、由第一和第二象限区域A、B组成的第三检测区域、以及由第三和第象限区域C、D组成的第四检测区域。参照图4和图5,出射面76(如图4和图5中所图示说明的且沿着从记录载体22到物镜系统20的光轴OA的方向观看)包括第一出射面区域E以及第二出射面区域F,这两个区域被相互移置到第一倾斜轴78的相对两侧。出射面还包括第三出射面区域G以及第四出射面区域H,这两个区域被相互移置到第二倾斜轴80的相对两侧。
在倾斜未对准检测过程中,第一、第二、第三以及第四检测区域A、B、C、D的每个被设置来检测在检测射束光点70中的信息,该检测射束光点70表示在出射面76与外表面24之间消散波耦合的有效性。信号处理电路67被设置来产生第一检测器信号α1,其代表在整个第一出射面区域E的消散波耦合的有效性。类似地,信号处理电路67被设置来产生第二检测器信号α2,其代表在整个第二出射面区域F的消散波耦合的有效性,产生第三检测器信号β1,其代表在整个第三出射面区域G的消散波耦合的有效性,以及产生第四检测器信号β2,其代表在整个第四出射面区域H的消散波耦合的有效性。
第一检测器信号α1是由第二象限区域所产生的第二象限区域信号以及由第四象限区域所产生的第四象限区域信号的和。第二检测器信号α2是由第一象限区域所产生的第一象限区域信号以及由第三象限区域所产生的第三象限区域信号的和。第三检测器信号β1是由第一象限区域所产生的第一象限区域信号以及由第二象限区域所产生的第二象限区域信号的和。第四检测器信号β2是由第三象限区域所产生的第三象限区域信号以及由第四象限区域所产生的第四象限区域信号的和。
对于每个检测区域,在整个出射面区域(例如第一出射面区域E)的消散波耦合的有效性,通过检测落到相应检测区域(例如第一检测区域)的检测射束光点70的射线强度来检测。落到检测区域上的相对高强度射线表示在整个相应出射面区域上的消散波耦合的相对低的有效性。相对照,落到检测区域上的相对低强度射线表示在整个相应出射面区域上的消散波耦合的相对高的有效性。
信号处理电路67被设置来根据等式1和2的关系产生第一倾斜误差信号α:
α = α 1 - α 2 α 1 + α 2 - - - ( 1 )
α = ( B + D ) - ( A + C ) ( B + D ) + ( A + C ) - - - ( 2 )
另外,信号处理电路67被设置来根据等式3和4的关系产生第二倾斜误差信号β:
β = β 1 - β 2 β 1 + β 2 - - - ( 3 )
β = ( A + B ) - ( C + D ) ( A + B ) + ( C + D ) - - - ( 4 )
控制单元68被设置来根据第一倾斜误差信号α改变关于第一倾斜轴78的倾斜未对准以及根据第二倾斜误差信号β改变关于第二倾斜轴80的倾斜未对准。
如图2中所示,检测射束光点70的截面区域具有表示想要的倾斜未对准的特性的均匀的辐射强度。因此,第一、第二、第三以及第四检测器信号α1、α2、β1、β2大约相等并且从而第一和第二倾斜误差信号α、β使得控制单元68不必改变倾斜未对准。
图3所示的实施例中的物镜系统20的SIL18具有锥形超半球形形状,具有面向外表面24的出射面76。出射面76的直径大约为40μm,SIL的NA为1.9。图2图示说明了想要的倾斜未对准,其中出射面76基本上平行于外表面24,且出射面76和外表面24基本垂直于光轴OA。
图3显示了物镜系统20和记录载体22具有想要的倾斜未对准,使得在光学扫描设备的扫描操作(例如数据写入过程中)期间,扫描射束的光线81被聚焦到记录载体22的信息层24的光点82。这在外表面24和出射面76之间的间隙的距离小于射束波长λ的约十分之一时被实现。这确保获得对于出射面76的整个区域在整个间隙中的有效消散波耦合。在数据写入的例子中,聚焦的光点将允许数据被精确地写到信息层24上。当不存在想要的倾斜未对准时,记录载体的信息层24上的光点82的质量受到影响。
图6、7、8和9显示系统存在对想要的倾斜未对准偏离的情况。在这种情况下,倾斜未对准是关于第一倾斜轴78的。图6和图7显示倾斜未对准是关于第一倾斜轴78在一个方向上倾斜的情形。图8和图9显示倾斜未对准是关于第一倾斜轴78在与上述方向相对方向上倾斜的情形。对于非想要的倾斜未对准,出射面76与外表面24基本上不相互平行,且外表面24和/或出射面76基本上不垂直于光轴OA。
在倾斜未对准直校正过程中,光学扫描设备被设置引起射束3散焦,使得射束3不聚焦在记录载体22内,由此增加射束3在出射面76的光点的直径。引起射束3散焦使得射束3在出射面76的截面覆盖出射面76的整个区域的至少四分之一,优选为出射面76的整个区域的至少二分之一,更优选为出射面76的几乎整个区域。在这个实施例中,在出射面76上的被散焦的光点的直径至少为10μm,优选约为20μm。通过在调焦方向15上适当地移动第一调焦透镜12而引起散焦。
参照图6和图7,在倾斜未对准检测过程中,射束3的光线84经过物镜系统20而打到记录载体22的外表面24上。如从图4所能看到的,在光轴OA的左手侧(从而对应于第一出射面区域E)的出射面76与外表面24之间的间隙比对应于第二出射面区域F的光轴OA的右手侧的间隙相对要小。在这个实施例中记录载体22具有的半径r位于外表面24的平面中且从记录载体24的中心点向外延伸。该中心点与第一倾斜轴78和第二倾斜轴80之间的交点重合。所述间隙在整个第一出射面区域E在沿半径r从中心点向外的方向上的尺寸逐渐变小。所述间隙在整个第二出射面区域F在沿半径r从中心点向外的方向上的尺寸逐渐变大。当光线84打到外表面24上时,一部分光线84透射过外表面24,然后在记录载体22内被吸收和被反射,而一部分光线84被外表面24反射。
被反射和被吸收的光线84的比例取决于所述间隙的尺寸。当所述间隙比想要的大时,在整个间隙中的消散波耦合的有效性相对低,较少的光线经所述间隙传送到外表面24。这使得更大比例的光线84被出射面76的内侧表面全内反射。到达外表面24的那部分光线84被外表面24反射且一部分透射过外表面24。这些光线可以被形成记录载体22和/或外表面24的材料所吸收,或者在与进入层(entrance layer)24和/或信息层的结构特征(如凹坑和凸起)相互作用时由于光线的相消干涉而被吸收。
如图6中所示,当在整个第二出射面区域F的间隙比想要的大时,在整个第一出射面区域E的间隙比想要的小。在这种情形下,消散波耦合在整个第一出射面区域E具有相对高的有效性,且经过第一出射面区域E的更大比例的光线84被透射到外表面24。结果,经过第一出射面区域E的更大比例的光线84被外表面24吸收且在记录载体22内。因此更少的光线被外表面24以及出射面76的内侧面反射。
射线84由物镜系统20的SIL18的出射面76和外表面24反射将信息引入到由物镜系统所反射的射线3中,所述射线3表示物镜系统和记录载体3之间射线的消散波耦合的有效性。被反射的光线86形成检测射束,该射束沿光轴OA前进经过第二和第一调焦透镜14、12、偏振分束器10、非偏振分束器8,然后沿第二检测路径经过非偏振分束器44、非偏振分束器50、另一非偏振分束器56、折叠式反射镜62、以及物镜64到象限探测器66。
图7显示依照关于第一倾斜轴78在一个方向上的倾斜未对准,落在象限探测器66上的检测射束光点88。检测在整个第一检测区域90上总强度相对低的检测射束,该总强度相对低的检测射束对应于在整个第一出射面区域E由出射面76的内侧面和外表面24反射的区域上的低比例的光线84。检测在整个第二检测区域92的总强度相对高的检测射束,该总强度相对高的检测射束对应于在第二出射面区域F由出射面76的内侧面和外表面24反射的区域上的相对高比例的光线84。
通过检测在整个第一检测区域90的射线的相对低的总强度,产生具有相对低幅值的第一检测器信号α1。通过检测在整个第二检测区域92的射线的相对高的总强度,产生具有相对高幅值的第二检测器信号α2。信号处理电路67根据等式1和2生成第一倾斜误差信号α。控制单元68接收该第一倾斜误差信号α且控制致动器在倾斜未对准校正方向94上改变物镜系统20的倾斜度,如图6中所示,从而获得想要的倾斜未对准,如前面所描述的,其中出射面76与外表面24基本相互平行。在改变物镜系统20的倾斜度过程中,第一和第二检测器信号α1、α2的幅值随着由第一检测区域90和第二检测区域92正检测的射线强度的变化而变化。结果,第一倾斜误差信号α变化且控制单元68监控该变化。一旦控制单元68确认当第一倾斜误差信号α与具有想要的倾斜未对准特征的第一倾斜误差信号α至少几乎相同时,控制单元68停止致动器改变物镜系统20的倾斜度。这时关于第一倾斜轴80的倾斜未对准被校正。
参照图8,倾斜未对准是在关于第一倾斜轴78的相反方向上。在倾斜未对准检测过程中,射束3的射线84经过物镜系统20打在记录载体22的外表面24上。如从图6可看到的那样,在光轴OAA的左手侧(从而对应于第一出射面区域E)的出射面76和外表面24之间的间隙比对应于第二出射面区域F的光轴OA的右手侧的间隙相对要大。所述间隙在整个第一出射面区域E上在沿半径r从中心点向外的方向上的尺寸逐渐变大。所述间隙在整个第二出射面区域F上在沿半径r从中心点向外的方向上的尺寸逐渐变小。
当在整个第二出射面区域F的间隙比想要的小时,在整个第一出射面区域E的间隙比想要的大。在这种情形下,消散波耦合在整个第二出射面区域F具有相对高的有效性,且在整个第二出射面区域F上更大比例的光线84被透射到外表面24。结果,在整个第二出射面区域F上更大比例的光线84被外表面24吸收且在记录载体22内。因此在整个第二出射面区域F上更少的光线84被出射面76的内侧面以及外表面24反射。
图9显示落在象限探测器66上的检测射束的检测射束光点95,所述检测射束包括对于关于第一倾斜轴78的相反方向上的倾斜未对准,被不同反射的光线94。检测在整个第一检测区域96上总强度相对低的检测射束,该总强度相对低的检测射束对应于在整个第一出射面区域E由出射面76的内侧面和外表面24反射的区域上的相对高比例的光线84。检测在整个第二检测区域98上总强度相对低的检测射束,该总强度相对低的检测射束对应于在整个第二出射面区域F由出射面76的内侧面和外表面24反射的区域上的相对低比例的光线84。
通过检测在整个第一检测区域96上射线的相对高的总强度,产生具有相对高幅值的第一检测器信号α1。通过检测在整个第二检测区域98上射线的相对低的总强度,产生具有相对低幅值的第二检测器信号α2。信号处理电路67根据等式1生成第一倾斜误差信号α。控制单元68接收该第一倾斜误差信号α且控制致动器在倾斜未对准校正方向100上改变物镜系统20的倾斜度,如图6中所示,从而获得想要的倾斜未对准。如前面所描述的,这涉及到控制单元68确认第一倾斜误差信号α与具有想要的倾斜未对准特征的第一倾斜误差信号α相同时,这时停止致动器改变物镜系统20的倾斜度。
除了检测和校正关于第一倾斜轴78的倾斜未对准之外,倾斜未对准校正过程还包括以类似于前面所述的检测和校正关于第一倾斜轴78的倾斜未对准的方式,检测和校正关于第二倾斜轴80的倾斜未对准。
信号处理电路67根据等式3和4产生取决于第三和第四检测器信号β1、β2的幅值的第二倾斜误差信号β。第三和第四检测器信号β1、β2的幅值分别取决于落在第三和第四检测区域上的检测射束的被反射光线的射线强度。如前面所述,落在检测区域的射线的强度取决于在所述间隙中消散波耦合的有效性。致动器在关于第二倾斜轴80的倾斜未对准校正方向上改变物镜系统20的倾斜度,直到第二倾斜误差信号β与具有想要的倾斜未对准特征的第二倾斜误差信号β相同。
在倾斜未对准校正过程之后,光学扫描设备进行扫描操作,例如将数据写入到记录载体22上或者从记录载体22读取数据。为了这样做,通过在调焦方向15上移动第一调焦透镜12去除射束3的散焦。这确保射束3被聚焦到记录载体的信息层上的光点。
在本发明的另一实施例中,物镜系统包括不同的SIL。图10、11、和12的每个都显示根据本发明的另一实施例的由具有不同SIL的物镜系统聚焦到记录载体的外表面上的光点上的射束。在这些图中所示的特征和元件与前面描述的特征和元件类似。这里对这些特征和元件也将采取类似的描述且使用相同的附图标记,对于图10附图标记增加100,对于图11附图标记增加200,对于图12附图标记增加300。
图10示出了本发明的一个实施例,其中物镜系统120包括具有非锥形的超半球形的SIL102。
图11示出了本发明的一个实施例,其中物镜系统220包括具有台面超半球形的SIL104,其中出射面276是SIL的凸出部分。
图12示出了本发明的一个实施例,其中物镜系统320包括具有半球形的SIL106。
可以明白,上述实施例作为本发明的图示说明的例子。还可以想出本发明的其它的实施例。
在用图1至8图示说明的本发明的所述实施例中,调节物镜系统的倾斜度以达到想要的倾斜对准。物镜系统关于光轴OA的倾斜变化的最大范围是0.07°至0.28°,物镜系统具有在这个范围内的这样的倾斜,所述间隙尺寸大约为射束的波长λ的十分之一。在这个范围内的倾斜角比物镜系统关于大约0.5°的光轴OA的最大可能倾斜角低。在本发明的另一实施例中,可选地,所述倾斜通过调节记录载体的倾斜来改变。这通过根据第一和第二倾斜误差信号改变保持记录载体的安装元件的倾斜来实现。在这种情况下,致动器被设置来用这种方式改变记录载体的倾斜。还可想到通过同时调节物镜系统的倾斜以及记录载体的倾斜来校正倾斜未对准。
在本发明的所述实施例中,所述倾斜未对准校正过程(包括倾斜未对准的改变)在光学扫描设备的起动过程中进行。所述倾斜未对准校正在具有半径r的记录载体已被安装在所述设备内之后进行。一旦已经对倾斜未对准进行了校正,即一旦出射面与外表面已经具有想要的倾斜对准程度,在起动过程之后在扫描操作期间就保持校正的倾斜对准。
在想到的本发明的不同实施例中,所述倾斜未对准是在记录载体已被安装在光学扫描设备内时沿记录载体半径在不同点进行测量。在进行光学扫描设备的扫描操作之前,首先校正倾斜未对准以在所述半径上第一点处达到想要的倾斜对准程度。在沿所述半径的扫描操作期间,在沿所述半径的各个不同点处校正倾斜未对准,使得在沿所述半径的各个点处都达到想要的倾斜对准程度。
在本发明所述的实施例中,记录载体具有信息层且外表面是该信息层的表面。可选地,可以想到记录载体具有信息层和覆盖层。覆盖层的一个表面是外表面,而信息层被设置在覆盖层的另一表面上。在该可选的实施例中,光学扫描设备被调整使得在扫描操作期间射束被聚焦通过覆盖层到信息层上的光点。一种这样的调整是沿光轴改变SIL的厚度。
本发明所述的实施例详细描述了辐射检测器装置为包括象限探测器。每个检测象限区域是光电二极管。可选项地,可以想到检测器装置包括类似于相机探测器的探测器,例如电荷耦合设备(CCD)。
如在本发明详细实施例中所描述的记录载体由硅形成。还可以想到记录载体具有不同的结构且形成多层,该多层包括:例如对于只读型光盘,聚碳酸酯层以及金属层或介质层叠层。对于只读型光盘,可以想到所述多层包括聚碳酸酯层以及由具有可变相位的材料形成的层或磁光层或染料层。该记录载体可以包括一个以上的信息层,例如两层、三层、四层或更多。
本发明所描述的实施例详细描述了具有某确定波长的射束。可以想到射束具有不同的某确定波长且光学扫描设备和记录载体被适当设置以在该不同的某确定波长下工作。在本发明所述实施例中的记录载体是光学记录载体,但是可以想到在另外的实施例中,光学扫描设备被调整为扫描不同类型的记录载体,包括例如使用混合记录的光盘(如热辅助磁性记录(HAMR))或计算机硬盘驱动器(HDD)的盘。
在本发明所述的实施例中,单个射束用于倾斜未对准校正过程以及扫描操作。可选地,可以想到由不同辐射源所产生的不同的射束可以用于倾斜未对准校正过程以及扫描操作。不同辐射源可以被用于产生射线,用于扫描与所描述实施例的记录载体类型不同的记录载体
在本发明所述的实施例中,第一倾斜轴垂直于光轴,第二倾斜轴垂直于光轴和第一倾斜轴。在本发明的另外实施例中,可以想到第一和第二倾斜轴具有相互不同且关于光轴OA不同的空间设置。
可以明白的是,关于任一实施例所描述的特征可以单独使用、或结合所描述的其它特征使用,也可以与任一其它实施例的一个或多个特征结合使用,或用于任一其它实施例的任一组合中。另外,在不背离所附权利要求限定的本发明的范围的情况下,也可以采用上面未描述的等价替换或变更。

Claims (17)

1.一种光学扫描设备,用于扫描记录载体(22),该记录载体具有外表面(24),其中所述光学扫描设备包括:
a)辐射源系统(2),其被设置成用于产生射束;
b)物镜系统(20),其具有出射面(76),该物镜系统被设置在所述辐射源系统与所述记录载体之间并且提供在物镜系统的出射面与记录载体的外表面之间的间隙中射线的消散波耦合;以及
c)辐射探测器装置,用于检测与记录载体相互作用后的射线,
其特征在于辐射探测器装置被设置成产生代表物镜系统的出射面与记录载体的外表面之间的倾斜未对准的倾斜误差信号(α,β),
其中辐射探测器装置被设置成通过检测在射线中的信息来产生所述倾斜误差信号,该射线中的信息表示在所述出射面上所述消散波耦合有效性的变化。
2.根据权利要求1所述的光学扫描设备,其中射线中的信息包括在所述出射面上的强度分布。
3.根据权利要求1或2所述的光学扫描设备,其中所述设备具有光轴(OA),且所述倾斜未对准包括关于基本上垂直于光轴的第一倾斜轴(78)的倾斜未对准,
其中所述辐射探测器装置包括第一检测区域(90)和第二检测区域(92),所述出射面包括第一出射面区域(E)以及第二出射面区域(F),所述第一和第二出射面区域被相互移置到所述第一倾斜轴的相对侧,
其中所述第一检测区域被设置成检测表示在所述第一出射面区域上的消散波耦合有效性的信息和产生代表在所述第一出射面区域上的消散波耦合有效性的第一检测器信号(α1),并且其中所述第二检测区域被设置成检测表示在所述第二出射面区域上的消散波耦合有效性的信息和产生代表在所述第二出射面区域上的消散波耦合有效性的第二检测器信号(α2)。
4.根据权利要求3所述的光学扫描设备,其中辐射探测器装置被设置成根据下列关系产生第一倾斜误差信号(α):
α = α 1 - α 2 α 1 + α 2 .
5.根据权利要求3或4所述的光学扫描设备,其中所述倾斜未对准包括关于垂直于光轴及第一倾斜轴的第二倾斜轴(80)的倾斜,
其中所述辐射探测器装置包括第三检测区域(96)和第四检测区域(98),所述出射面包括第三出射面区域(G)以及第四出射面区域(H),所述第三和第四出射面区域被相互移置到所述第二倾斜轴的相对侧,
其中所述第三检测区域被设置成检测表示在所述第三出射面区域上的消散波耦合有效性的信息和产生代表在所述第三出射面区域上的消散波耦合有效性的第三检测器信号(β1),并且其中所述第四检测区域被设置成检测表示在所述第四出射面区域上的消散波耦合有效性的信息和产生代表在所述第四出射面区域上的消散波耦合有效性的第四检测器信号(β2)。
6.根据权利要求5所述的光学扫描设备,其中辐射探测器装置被设置成根据下列关系产生第二倾斜误差信号(β):
β = β 1 - β 2 β 1 + β 2 .
7.根据前述任一项权利要求所述的光学扫描设备,其中辐射探测器装置包括象限探测器(66)。
8.根据前述任一项权利要求所述的光学扫描设备,其中由辐射源系统产生的射线是射束,并且该设备被设置成在射束中引起散焦使得射束不聚焦到记录载体的信息层上,由此增加在出射面上的光点直径。
9.根据前述任一项权利要求所述的光学扫描设备,其中由辐射源系统产生的射线是射束,并且该设备被设置成引起射束散焦使得射束在出射面处的截面区域覆盖出射面的整个区域的至少四分之一。
10.根据前述任一项权利要求所述的光学扫描设备,其中所述设备包括倾斜未对准控制系统,该倾斜未对准控制系统被设置成根据倾斜误差信号调节倾斜未对准。
11.根据权利要求10所述的光学扫描设备,其中所述倾斜未对准控制系统被设置成通过调节物镜系统的倾斜来调节所述倾斜未对准。
12.根据权利要求10或11所述的光学扫描设备,其中所述倾斜未对准控制系统被设置成通过调节记录载体的倾斜来调节所述倾斜未对准。
13.根据权利要求10至12中任何一项所述的光学扫描设备,其中所述倾斜未对准的调节是在记录载体已被安装在所述设备内之后的起动过程中进行,以产生被校正的倾斜未对准,所述被校正的倾斜未对准在起动之后被保持并且在整个所述记录载体上在不同的点扫描记录载体时被使用。
14.根据权利要求10至12中任何一项所述的光学扫描设备,其中所述倾斜未对准的调节是在记录载体已被安装在所述设备内之后进行,其中所述倾斜未对准在整个所述记录载体上在不同的点扫描记录载体时被调节。
15.根据前述任一项权利要求所述的光学扫描设备,其中表示消散波耦合有效性的信息在由物镜系统的出射面反射至少一部分射线时被引入到射线中。
16.根据前述任一项权利要求所述的光学扫描设备,其中该光学扫描设备被设置成用经过所述出射面的射线扫描记录载体,该射线具有预定波长使得所述出射面与所述外表面之间的间隙大约为预定波长的十分之一或更小。
17.一种用于扫描记录载体(22)的方法,该记录载体22具有外表面(24),所述方法包括用光学扫描设备扫描所述记录载体,其中该光学扫描设备包括:
a)辐射源系统(2),其被设置成用于产生射束;
b)物镜系统(20),其具有出射面(76),该物镜系统被设置在所述辐射源系统与所述记录载体之间并且提供在物镜系统的出射面与记录载体的外表面之间的间隙中射线的消散波耦合;以及
c)辐射探测器装置,用于检测与记录载体相互作用后的射线,该辐射探测器装置被设置成产生代表物镜系统的出射面与记录载体的外表面之间的倾斜未对准的倾斜误差信号(α,β);以及
d)倾斜未对准控制系统,其被设置成调节在物镜系统的出射面与记录载体的外表面之间的倾斜未对准,
其中所述方法包括:
用辐射源系统产生的所述射线照射所述记录载体,其中在所述照射期间所述射线通过消散波耦合穿过物镜系统的出射面与记录载体的外表面之间的间隙;
使用所述辐射探测器装置来检测与记录载体相互作用之后的所述射线;
使用所述辐射探测器装置来通过检测在所检测的射线中的信息产生倾斜误差信号,其中所检测的射线中的信息表示在所述出射面的消散波耦合的有效性变化,以及
使用所述倾斜未对准控制系统来根据所述倾斜误差信号调节物镜系统的出射面与记录载体的外表面之间的倾斜未对准。
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