CN100585420C

CN100585420C - 双边直排包装型态的双接触式测试夹具

Info

Publication number: CN100585420C
Application number: CN 02101574
Authority: CN
Inventors: 施光华; 陈金福; 江元一
Original assignee: Macronix International Co Ltd
Current assignee: Macronix International Co Ltd
Priority date: 2002-01-10
Filing date: 2002-01-10
Publication date: 2010-01-27
Anticipated expiration: 2022-01-10
Also published as: CN1432818A

Abstract

一种双边直排包装型态的双接触式测试夹具，由主体、二条双接触式接触片、二条金属接地片、二条软质绝缘片所构成。其中二条双接触式接触片分别位于主体的二对应的边壁上，二条软质绝缘片分别位于双接触式接触片之上，二条金属接地片分别位于软质绝缘片上。

Description

双边直排包装型态的双接触式测试夹具

技术领域

本发明是关于一种集成电路成品测试机的测试夹具，且特别是关于一种集成电路成品测试机的双边直排(dual in line)包装型态的双接触式测试夹具。

背景技术

公知的在集成电路成品完成之后，为确认所完成的集成电路成品是否符合所需规格，因而利用集成电路成品测试机的单接触式测试夹具对集成电路成品进行测试，以确认集成电路成品可以符合所需规格。

请参照图1所示，为公知的单接触式接触片的正视图及单接触式接触脚的侧面示意图。单接触式接触片108是通过绝缘胶质将多个单接触式接触脚100以固定之间距排列固定而成。又，单接触式接触脚100由接触脚本体102、接触部104、信号传输端点106所构成，其中接触部104与信号传输端点106分别位于接触脚本体102的两端。单接触式接触脚100利用信号传输接点106接收测试信号，并于接收到测试信号后，依次经由接触脚本体102及接触部104，最后由接触部104将信号传送至与接触部104相接的被测试物上。

接着，此测试物将测试结果信号依次经由接触部104、接触脚本体102、信号传输接点106，最后传输至接于信号传输接点106上的信号读取器，以得知此测试物的测试结果。

由于此单接触式接触片108仅利用一层薄的绝缘胶质固定单接触式接触脚100，因此此绝缘胶质易发生变形而使其对单接触式接触脚100的支持性不佳，且易于测试的过程中受到测试力的影响而发生变形的现象，进而缩短单接触式接触脚100的使用寿命及影响其测试的准确度。

另外，由于单接触式接触脚100仅以接触部104上的单一接触点与被测试物相接触，因此当单接触式接触脚100的接触部104与被测试物接触不良时，测试结果容易受到增加的接触部104与被测试物之间的接触阻抗的影响，而产生将合格品误判为次品的现象，进而导致生产效能的降低及生产成本的增加。

另外，请参照图2所示，为公知Kelvin式接触脚的侧面示意图。Kelvin式接触脚200是由传送接触脚202、接收接触脚204、以及绝缘胶片206所构成，其中传送接触脚202的长度需与接收接触脚204等长，绝缘胶片206则夹于传送接触脚202与接收接触脚204之间。

由于使用Kelvin式接触脚200是由传送接触脚202传送电压信号至待测物上，且同时由接收接触脚204接收部分此电压信号，再换算而得到待测物所接收到的精确电压，并以此准确控制输送至待测物的精确电压，因此Kelvin式接触脚200使用于必须对待测物施加精确电压的时机。然而，一主要造成集成电路测试将合格品误判为次品的原因为测试夹具与被测物接触不良，故使用Kelvin式接触脚200，仍然不能完全改善此问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种双边直排包装型态的双接触式测试夹具，以增加接触片与集成电路成品接脚的接触面积，而大幅降低接触片与集成电路成品接脚之间的接触阻抗，进而大幅提高测试结果的准确度及降低集成电路成品测试成本。

另外，本发明的另一目的是提供一种双边直排包装型态的双接触式测试夹具，以增加双接触式接触片的使用寿命及增长测试夹具的保养更换周期，进而大幅降低集成电路成品测试成本。

本发明提出一种双边直排包装型态的双接触式测试夹具，是由主体、二条双接触式接触片、二条金属接地片、二条软质绝缘片所构成。其中二条双接触式接触片分别位于主体的二对应的边壁上，二条软质绝缘片分别位于双接触式接触片之上，二条金属接地片分别位于软质绝缘片上。

由于，本发明的双边直排包装型态的双接触式测试夹具的双接触式接触片与集成电路成品接脚之间同时利用双接触式接触片上的接触脚的二层接触部进行电性连接，因此，双接触式接触片与集成电路成品接脚的接触面积可大幅增加，而大幅降低双接触式接触片与集成电路成品接脚之间的接触阻抗，进而大幅提高测试结果的准确度及降低集成电路成品测试成本。

再者，由于本发明的双边直排包装型态的双接触式测试夹具的双接触式接触片与集成电路成品接脚之间同时利用双接触式接触片上的接触脚的二接触部与进行电性连接，因此，可以大幅降低单一接触部与接脚之间接触不良的机率，进而大幅提高测试结果的准确度及降低集成电路成品测试成本。

另外，由于本发明的接触脚的二层接触部之间采用塑料支持装置以支撑且维持此二层接触部之间的间距，并借以保持各层接触部的平坦度，因此可大幅增加双接触式接触片的使用寿命及增长测试夹具的保养更换周期，进而大幅降低集成电路成品测试成本。

附图说明

图1为公知单接触式接触片的正视图及单接触式接触脚的侧面示意图；

图2为公知Kelvin式接触脚的侧面示意图；

图3为本发明的一较佳实施例的双边直排包装型态的双接触式测试夹具的示意图；

图4为本发明的一较佳实施例的双边直排包装型态的双接触式测试夹具的示意图；

图5为本发明的一较佳实施例的双边直排包装型态的双接触式测试夹具的示意图；

图6为本发明的一较佳实施例的双接触式接触片的正视图及接触脚的侧面示意图；

图7为本发明的一较佳实施例的双边直排包装型态的双接触式测试夹具的测试前的示意图；

图8为本发明的一较佳实施例的双边直排包装型态的双接触式测试夹具的测试中的示意图。

100：单接触式接触脚

102，316：接触脚本体

104：接触部

106，320：信号传输端点

108：单接触式接触片

200：Kelvin式接触脚

202：传送接触脚

204：接收接触脚

206：绝缘胶片

300：双接触式测试夹具

302：主体

302a：边壁

304：双接触式接触片

306：软质绝缘片

308：金属接地片

310：推杆

312：护盖

314：双接触式接触脚

318：第一接触部

322：绝缘胶质层

324：第二接触部

326：塑料支持装置

328：待测物

330：接脚

具体实施方式

图3至图5为本发明一较佳实施例的双边直排包装型态的双接触式测试夹具的示意图。图6为本发明的一较佳实施例的双接触式接触片的正视图及接触脚的侧面示意图。

请同时参照图3至图6所示，本发明的双接触式测试夹具300是由主体302、双接触式接触片304、金属接地片308、软质绝缘片306、推杆310、以及护盖312所构成。其中二条双接触式接触片304分别位于主体302的二对应的边壁302a上、二条软质绝缘片306分别位于双接触式接触片304之上、二条金属接地片308分别位于软质绝缘片306上、二推杆310分别位于金属接地片308外侧且于推杆310移动的过程中可使双接触式接触片304、软质绝缘片306、及金属接地片308变形。

主体302为绝缘材质所构成的绝缘体，且于主体302的两侧具有相互对应的边壁302a，其中边壁302a用以提供后述的双接触式接触片304、金属接地片308、软质绝缘片306等固定使用。主体302的功用主要用以作为后述的双接触式接触片304、金属接地片308、软质绝缘片306等的固定支撑体。

双接触式接触片304位于主体302的边壁302a外侧上，双接触式接触片304是由多条双接触式接触脚314、塑料支持装置326与绝缘胶质层322所构成，其中双接触式接触脚314例如是以平行排列的方式包覆于绝缘胶质层322内。又，双接触式接触脚314的材质例如是铍铜。

此外，双接触式接触脚314是由第一接触部318、第二接触部324、接触脚本体316、信号传输端点320等部分所构成，其中第一接触部318与信号传输端点320分别位于接触脚本体316的两端侧上。第二接触部324受到塑料支持装置326的支持而固定于第一接触部318上，且使部分第一接触部318与部分第二接触部324略呈相互平行。又，第二接触部324的一端固定于接触脚本体316上，以使第一接触部318与第二接触部324可一同经由接触脚本体316将信号接收或传送至信号传输端点320。另外，塑料支持装置326例如是由绝缘材料所构成的柱状体。

金属接地片308为整片式的抗静电金属片，其与外界的接地装置电性连接，以消除外界的干扰噪声，而减低外界于测试的过程中的噪声干扰。金属接地片308的材质例如是铍铜。另外，本发明的金属接地片308的材质虽以铍铜为例进行说明，然并不以此为限，而可改用其它具有抗静电效果的传导材质。

软质绝缘片306位于双接触式接触片304的外侧上，且介于双接触式接触片304与金属接地片308之间，以防止双接触式接触片304与后述的金属接地片308电性接触。又，软质绝缘片306的材质例如是绝缘塑料，然不以此为限，也可改用其它绝缘物质。

推杆310为柱状体，其位于金属接地片308外侧，以通过推杆310的移动而使双接触式接触片304、软质绝缘片306、及金属接地片308产生变形。另外，本发明虽以利用推杆310移动而使双接触式接触片304、软质绝缘片306、及金属接地片308产生变形的方法为例进行说明，然并不以此为限，也可以改用其它可造成变形的方法。

图7为本发明的一较佳实施例的双边直排包装型态的双接触式测试夹具的测试前的示意图。图8为本发明的一较佳实施例的双边直排包装型态的双接触式测试夹具的测试中的示意图。

请参照图7所示，在进行待测物328的接脚320的信号测试前，先将待测物328移至测试位置，以使接脚330位于双接触式接触片304的挟持接触的范围内。此时，待测物328悬空挟持于双接触式接触片304的挟持接触的范围内，或是待测物328的接脚330与主体302相接触而受到主体302的支持。

接着，请参照图8所示，将二推杆310朝内推动，以使双接触式接触片304的第一接触部318与第二接触部324同时与接脚330紧密接触。接着，将测试信号由信号传输端点320输入，使测试信号经由接触脚本体316传递至第一接触部318与第二接触部324。之后，测试信号会自第一接触部318与第二接触部324经由接脚320传递至待测物328内部进行信号测试，再将测试结果信号自待测物328经由接脚320回传至第一接触部318与第二接触部324。接着，测试结果信号经由接触脚本体316而由信号传输端点320输出，以完成信号测试动作。

当信号测试完成之后，将二推杆310朝外推动，使第一接触部318及第二接触部324与接脚330分开，以进行待测物328的更换。

再者，表1为利用公知测试夹具的测试结果报告，表2为利用本发明的双接触式测试夹具的测试结果报告，其中表1与表2都皆为利用全新的测试夹具对同一批集成电路成品进行测试。

表1

表2

由上述表1与表2的测试结果可知使用本发明的双接触式测试夹具对集成电路成品进行测试，可得到极低的开路误宰率(over killratio)，因此，可降低因误判而增加的重复测试时间，进而大幅增加测试设备的测试效率并降低生产成本。

再者，由于本发明的双边直排包装型态的双接触式测试夹具的双接触式接触片与集成电路成品接脚之间同时利用双接触式接触片上的接触脚的二接触部与进行电性连接，因此，可以大幅降低单一接触部与接脚之间接触不合格的机率，进而大幅提高测试结果的准确度及降低集成电路成品测试成本。

Claims

1、一种双边直排包装型态的双接触式测试夹具，其特征是，该测试夹具包括：

一主体，该主体两侧各具有相互对应的一边壁；

二双接触式接触片，分别位于该主体两侧的该边壁的外侧上，每一该二双接触式接触片具有多个双接触式接触脚，且每一该些双接触式接触脚至少具有一第一接触部、一第二接触部、一接触脚本体及一信号传输端点，其中该第一接触部与该信号传输端点分别位于该接触脚本体的两端侧，且该第二接触部固定于该接触脚本体上；

二软质绝缘片，分别位于该二双接触式接触片的外侧上；以及

二金属接地片，分别位于该二软质绝缘片的外侧上。

2、如权利要求1所述的双边直排包装型态的双接触式测试夹具，其特征是，该测试夹具更包括二推杆，位于该二金属接地片的外侧。

3、如权利要求1所述的双边直排包装型态的双接触式测试夹具，其特征是，该测试夹具更包括二护盖，位于该二金属接地片的外侧，该二护盖将该二双接触式接触片、该二软质绝缘片及该二金属接地片依次固定于该主体两侧的该边壁上。

4、如权利要求1所述的双边直排包装型态的双接触式测试夹具，其特征是，该双接触式接触片更包括一绝缘胶质层。

5、如权利要求4所述的双边直排包装型态的双接触式测试夹具，其特征是，该些双接触式接触脚包括以平行排列的方式包覆于该绝缘胶质层内。

6、如权利要求1所述的双边直排包装型态的双接触式测试夹具，其特征是，该双接触式接触片更包括一塑料支持装置。

7、如权利要求6所述的双边直排包装型态的双接触式测试夹具，其特征是，该塑料支持装置将该第二接触部支撑固定于该第一接触部上，且使部分该第二接触部与该部分该第一接触部平行。

8、如权利要求1所述的双边直排包装型态的双接触式测试夹具，其特征是，该些双接触式接触脚的材质包括铍铜。

9、如权利要求1所述的双边直排包装型态的双接触式测试夹具，其特征是，该金属接地片的材质包括铍铜。

10、如权利要求1所述的双边直排包装型态的双接触式测试夹具，其特征是，该金属接地片的材质包括具有抗静电效果的传导材质。

11、一种双边直排包装型态的双接触式测试夹具，其特征是，该测试夹具包括：

一主体，该主体两侧各具有相互对应的一边壁；

二双接触式接触片，分别位于该主体两侧的该边壁的外侧上，每一该二双接触式接触片具有多个双接触式接触脚及一塑料支持装置，且每一该些双接触式接触脚至少具有一第一接触部、一第二接触部及一接触脚本体，其中该第一接触部与该第二接触部位于该接触脚本体的一端侧，且利用该塑料支持装置将该第二接触部平行固定于该第一接触部上；

二金属接地片，分别位于该二软质绝缘片的外侧上。

12、如权利要求11所述的双边直排包装型态的双接触式测试夹具，其特征是，该二双接触式接触片、该二软质绝缘片及该二金属接地片依次固定于该主体两侧的该边壁上。

13、如权利要求11所述的双边直排包装型态的双接触式测试夹具，其特征是，该双接触式接触片更包括一绝缘胶质层。

14、如权利要求13所述的双边直排包装型态的双接触式测试夹具，其特征是，该些双接触式接触脚包括以平行排列的方式包覆于该绝缘胶质层内。

15、如权利要求11所述的双边直排包装型态的双接触式测试夹具，其特征是，该些双接触式接触脚的材质包括铍铜。

16、如权利要求11所述的双边直排包装型态的双接触式测试夹具，其特征是，该金属接地片的材质包括铍铜。

17、如权利要求11所述的双边直排包装型态的双接触式测试夹具，其特征是，该软质绝缘片的材质包括绝缘塑料。

18、如权利要求11所述的双边直排包装型态的双接触式测试夹具，其特征是，该金属接地片的材质包括具有抗静电效果的传导材质。