CN100390545C - 测试用膜片挟持装置 - Google Patents
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Abstract
本发明是测试用膜片挟持装置,包含可置换地夹固电子模块的固定座、可弹性地改变形状的挟持片、可换取地固定于挟持片上的电连接单元及气控单元,当控制气控单元持续对挟持片吹气时,使挟持片带动电连接单元与电子模块对应地电连接以进行电性测试,当控制气控装置中止对挟持片吹气后,使挟持片以本身材质弹性地带动电连接单元相对远离电子模块,借此使电连接单元正确且对应地与待测试电子模块紧密地电连接,降低测试误测率。
Description
技术领域
本发明是有关于一种挟持装置,特别是指一种固持电子模块以进行电性测试的挟持装置。
背景技术
参阅图1,一般电子模块1包含一具有电路的电路板11、多个与该电路板11相焊粘的集成电路封装件12(integrated circuitpackage),及多个间隔地布设于该电路板11的一侧边的电性接点13(一般称为金手指),每一集成电路封装件12与电路板11的电路相对应电连接,每一电性接点13亦与电路板11的电路相对应电连接,电子模块1借由多个电性接点13与另一电子产品相电连接,进而使其电连接发挥功用。举例来说,一般最常见的电子模块1是可以透过个人计算机主机板上的外部数据总线(Externaldata bus)与中央处理单元(CPU)连接的动态随机存取存储器(RAM),其借着布设于电路板11两侧面的多个电性接点13与外部数据总线相电连接,进而使多个集成电路封装件12与中央处理单元电连接,增加个人计算机的储存运算容量。
一般来说,上述电子模块1在组封装完成后,均必须经过电性测试,以确定其符合出货品质要求之后,方可出货至下游厂商进行后续的组装或是贩卖。在下文中将详述其测试方式。
参阅图2、3,上述电子模块1进行电性测试时,是插设于一膜片挟持装置2中,进而与一预设有测试软件的测试机构200(图示中仅以示意表示)电连接后进行测试。
该膜片挟持装置2包含一固定座21、一夹固单元22、一电连接单元23,及一驱动汽缸24。
该固定座21具有二相对设置的固定片211,该二固定片211共同界定出一插槽212,及一与该插槽212连通的电连接空间213。电子模块1可以经由插槽212插设并被二固定片211固持电子模块1的电路板11的两侧边,而使电子模块1相对固定座211不动,同时使电子模块1的多个电性接点13对应的位于电连接空间213中。
该夹固单元22容置于电连接空间213中,并具有二相对设置的挟制爪221。该电连接单元23是可换取地固定于该夹固单元22上,并具有二电连接薄膜231,每一电连接薄膜231包括相反设置的第一电连接排232与第二电连接排233,第一、二电连接232、233排彼此对应地相电连接,第二电连接排233与测试机构200相电连接,二电连接薄膜231分别相对地连结在二夹制爪221上。
该驱动汽缸24可被控制地驱动夹固单元22动作成为一第一状态及一第二状态。
配合参阅图4,当在第一状态时,该二挟制爪221是相对紧密靠近以挟制电子模块1,同时使二电连接薄膜231的第一电连接排232分别对应电连接电子模块1布设于两侧面的多个电性接点13,进而使测试机构200对电子模块1进行电性测试。
配合参阅图5,当在第二状态时,该二挟制爪221是彼此相对远离,而可取出电子模块1并更换另一待测试电子模块1。
上述膜片挟持装置2虽然可以固持电子模块1进行电性测试,但是,由于是以驱动汽缸24驱动夹固单元22动作,因此动作时不但会产生极大的噪音,同时,也会因为瞬间挟制的压力使得电连接薄膜231的第一电连接排232易于磨损,而必须常常更换。再者,电子模块1的电路板11会因为焊粘多个集成电路封装件12、或是因为外界温度、以及吸收水气等等的影响而弯曲变形,因而导致二挟制爪221刚性挟制电子模块1时无法紧密配合,而使得电连接薄膜231的第一电连接排232无法正确地电连接于对应的电性接点13上,导致误测率增加。
由上述说明可知,目前用于测试电子模块1的膜片挟持装置2仍需加以研究改进,以改善操作环境的噪音污染、降低测试过程耗材成本,以及降低误测率。
发明内容
因此,本发明的目的,即在提供一种具有低噪音、低接触损耗,并可以降低误测率的测试用膜片挟持装置。
本发明所述测试用膜片挟持装置,可置换地夹固一电子模块,使该电子模块的多个电性接点与一测试机构相电连接,以对该电子模块进行电性测试,该测试用膜片挟持装置包含一固定座、一挟持片、一电连接单元,及一气控单元。
该固定座界定出一电连接空间,可置换地固持该电子模块,且当固持该电子模块时是使该多个电性接点对应位于该电连接空间中。
该挟持片容置于该电连接空间中,可弹性地改变形状。
该电连接单元可换取地固定于该挟持片上,具有一第一电连接薄膜,该第一电连接薄膜包括一第一电连接排与一第二电连接排,该第一、二电连接排彼此对应地相电连接,第一电连接排对应地位于该挟持片上而可被该挟持片带动,该第二电连接排可插置地与该测试机构相电连接。
该气控单元可控制地切换成一第一状态及一第二状态,且于第一状态时对该挟持片持续吹气,而使该第一电连接薄膜的第一电连接排与该多个电性接点中部分预定的电性接点对应地相电连接,进而使该测试机构对该电子模块进行电性测试,于第二状态时中止对该挟持片吹气,使该挟持片弹性地带动该第一电连接薄膜的第一电连接排相对远离该多个电性接点。
本发明所述的测试用膜片挟持装置,该固定座具有二相对设置的固定片,该二固定片共同界定出该电连接空间,及一与该电连接空间相连通的插槽,该电子模块由该插槽插入而被该二固定片固持并使该多个电性接点对应位于该电连接空间。
本发明所述的测试用膜片挟持装置,该挟持片是成一环带状容设于该电连接空间中,且当该气控单元可控制地在第一、二状态切换时,该挟持片大面积地改变形状,以带动该电连接单元对应地与该电子模块电连接或是相对远离该电子模块的多个电连接点。
本发明所述的测试用膜片挟持装置,该电连接单元包含一可换取地固定于该挟持片上且与该第一电连接薄膜相间隔设置的第二电连接薄膜,该第二电连接薄包括一第三电连接排与一第四电连接排,该第三、四电连接排彼此对应地相电连接,第三电连接排相对于该第一电连接排地位于该挟持片上而可被该挟持片带动,该第四电连接排可插置地与该测试机构相电连接,且该气控单元于第一状态时对该挟持片持续吹气,同时使该第三电连接排与该多个电性接点中部分预定的电性接点对应地相电连接,进而使该测试机构对该电子模块进行电性测试,该气控单元于第二状态中止对该挟持片吹气时,同时使该挟持片弹性地带动该第二电连接薄膜的第三电连接排相对远离该多个电性接点。
本发明所述的测试用膜片挟持装置,该气控单元具有一长条状的气嘴,使当该气控单元成第一状态时,是以该气嘴对该挟持片成长条状吹气,而使该挟持片大面积地改变形状带动该电连接单元进而对应地与该电子模块电连接。
本发明所述的测试用膜片挟持装置,该气控单元成第二状态时对该挟持片抽气,使该挟持片大面积地改变形状带动该电连接单元相对远离该电子模块的多个电连接点。
本发明所述的测试用膜片挟持装置,该气控单元具有一长条状的气嘴,且当该气控单元成第二状态时,是以该气嘴对该挟持片成长条状抽气。
本发明所述的测试用膜片挟持装置,在测试过程中,可以改善现有以驱动汽缸动作时所发出的吵人噪音,改善测试环境的噪音污染;同时不会产生瞬间过大的夹制压力,可以有效节省耗材消耗成本;再者,由于挟持片是以柔性材料所制成,而可因应电路板的变形而改变形状,进而可有效的改善误测率。
附图说明
图1是一侧视图,说明一电子模块;
图2是一俯视示意图,说明一现有的膜片挟持装置;
图3是一侧视示意图,辅助说明图2的膜片挟持装置的构造;
图4是一使用状态图,说明图2的膜片挟持装置挟固图1的电子模块以进行电性测试的状态;
图5是一使用状态图,说明图2的膜片挟持装置不再夹固图1的电子模块的状态;
图6是一俯视示意图,说明本发明测试用膜片挟持装置的一第一较佳实施例;
图7是一侧视示意图,辅助说明图6的测试用膜片挟持装置的构造;
图8是一使用状态图,说明图6的测试用膜片挟持装置挟固图1的电子模块以进行电性测试的状态;
图9是一使用状态图,说明图6的测试用膜片挟持装置不再夹固图1的电子模块的状态;
图10是一侧视示意图,说明本发明测试用膜片挟持装置的一第二较佳实施例。
具体实施方式
在本发明被详细描述之前,要注意的是,在以下的说明内容中,类似的元件是以相同的编号来表示。
参阅图6与图7,本发明测试用膜片挟持装置3的一第一较佳实施例与上述现有的膜片挟持装置2相似,是可置换的固持如图1所示的电子模块1,进而使电子模块1与一预设有测试软件的测试机构200(图示中仅以示意表示)电连接,对电子模块1进行电性测试。
该测试用膜片挟持装置3包含一固定座4、一挟持片5、一电连接单元6及一气控单元7。
该固定座4具有二相对设置的固定片41,该二固定片41共同界定出一插槽42,及一与该插槽42连通的电连接空间43,电子模块1(见图8)可以经由插槽42插设并被二固定片41固持电子模块1的电路板13侧边,而使电子模块1相对固定座4不动,同时使电子模块1的多个电性接点13对应地位于电连接空间43中。
该挟持片5是以例如塑料、橡胶等具有弹性且可以大面积改变形状的材料制成,并以环带状容设于电连接空间43中。
该电连接单元6是可换取地粘固于该挟持片5上,并具有二相对设置的第一电连接薄膜61与一第二电连接薄膜62。
第一电连接薄膜61包括相反设置且彼此对应地相电连接的第一电连接排611与第二电连接排612,第一电连接排611对应地位于挟持片5上而可被挟持片5带动,第二电连接排612可插置地与测试机构200相电连接。
第二电连接薄膜62与第一电连接薄膜61相似,包括相反设置且彼此对应地相电连接的第三电连接排621与第四电连接排622,第三电连接排621相对于第一电连接排611地位于挟持片5上,而可与第一电连接排611同时被挟持片5带动,第四电连接排622可插置地与测试机构200相电连接。
气控单元7具有二相对设置且连通电连接空间43的气嘴71,及一与该二气嘴71相连接的气控件72,二气嘴71分别成一长条状,气控件72可被控制地经由二气嘴71对容设于电连接空间43中的挟持片5成一第一状态及一第二状态。
参阅图8,当在第一状态时,气控件72被控制地持续以二气嘴71对挟持片5相对吹气,使挟持片5大面积地改变形状以带动电连接单元6的第一、二电连接薄膜61、62相对紧密靠近以夹制电子模块1,进而对应地使第一、二电连接薄膜61、62的第一、三电连接排611、621分别电连接电子模块1布设于电路板11两侧面的多个电性接点13,而可对电子模块1进行电性测试。
配合参阅图9,当成第二状态时,气控件72被控制地持续以二气嘴71对挟持片5相对抽气,而使挟持片5大面积地改变形状以带动电连接单元6的第一、二电连接薄膜61、62相对远离电子模块1,而可进行取出电子模块1并更换另一待测试电子模块等后续动作。
在此要特别说明的是,上述图示说明是以较夸张的方式呈现,以利清楚的说明,事实上,电连接空间43的截面宽度极小,且挟持片5形变带动电连接单元6的位移距离极小,而可以正确的电性连接。
此外,气控单元7的气控件72,可以直接利用测试机构200本身所具有的真空阀门(vacuum),再连通气嘴71后,直接以测试机构200的控制面板控制吹气、抽气状态,而对电子模块1进行电性测试,当然也可以另行额外加设抽气马达之类的机械装置达到控制吹气、抽气状态的目的,由于此部分可应用的种类方式众多,且非发明创作重点所在,所以在此不再多加举例赘述。
由于一般电子模块1,特别是存储器的电性功能强大而复杂,因此多个电性接点13必须受限于电路板11的容积,而整齐间隔地分别布设于电路板11相反的两侧面上,也因此,上述本发明测试用膜片挟持装置的第一较佳实施例所说明关于测试用膜片挟持装置3的构造,亦是针对此种电性接点13整齐间隔地分别布设于电路板11相反的两侧面的电子模块1的设计。
参阅图10,然而,若是针对其它电性接点13仅布设于电路板11的一侧面的电子模块1进行电性测试时,则是以本发明测试用膜片挟持装置的一第二较佳实施例进行。由于需进行电性测试的电子模块1的电性接点13仅布设于电路板11的一侧面,因此,本发明测试用膜片挟持装置的第二较佳实施例与上述第一较佳实施例的构造大部分皆相同,不同处仅在于电连接单元6具有单一的第一电连接薄膜61,因此,当气控单元7在第一状态以气嘴71持续对挟持片5吹气时,可使挟持片5大面积地改变形状带动第一电连接薄膜61紧密贴靠电子模块1,进而使第一电连接排611分别电连接电子模块1的电性接点,而对电子模块1进行电性测试;当气控单元7在第二状态持续以气嘴71对挟持片5抽气时,可使挟持片5带动第一电连接薄膜61相对远离电子模块1,而可进行取出电子模块1并更换另一待测试电子模块等后续动作。
由上述说明可知,本发明测试用膜片挟持装置主要是以气控单元7以吹气、抽气方式,控制以柔性材料所制成的挟持片5,再借由挟持片5带动电连接单元6对应地与待测试电子模块1相电连接,以对电子模块1进行电性测试,因此,在测试过程中,可以改善现有以驱动汽缸24动作时所发出的吵人噪音,改善测试环境的噪音污染;同时以气体带动以柔性材料制成的挟持片5,再带动电连接单元6对应电连接于电子模块1上时,不会产生瞬间过大的夹制压力,而使得电连接单元6的第一、三电连接排611、621易于磨损,可以有效节省耗材消耗成本;再者,即便如图1所示的电子模块1的电路板11因为焊粘多数集成电路封装件12、或是因为外界温度、以及吸收水气等等的影响而弯曲变形,由于挟持片5是以柔性材料所制成,而可因应电路板11的变形而改变形状,因而可确使电连接单元6正确地对应电连接待测电子模块1,而可有效的改善误测率,确实达到本发明创作的目的。
Claims (7)
1.一种测试用膜片挟持装置,可置换地夹固一电子模块,进而使该电子模块的多个电性接点与一测试机构相电连接后,以该测试机构对该电子模块进行电性测试,该测试用膜片挟持装置包含一界定出一电连接空间的固定座,可置换地固持该电子模块,且当固持该电子模块时使该多个电性接点对应位于该电连接空间中,其特征在于:
该测试用膜片挟持装置包含:
一容置于该电连接空间中的挟持片,可弹性地改变形状;
一可换取地固定于该挟持片上的电连接单元,具有一第一电连接薄膜,该第一电连接薄膜包括一第一电连接排与一第二电连接排,该第一、二电连接排彼此对应地相电连接,该第一电连接排对应地位于该挟持片上而可被该挟持片带动,该第二电连接排可插置地与该测试机构相电连接;及
一气控单元,可控制地切换成一第一状态及一第二状态,且于第一状态时对该挟持片持续吹气,而使该第一电连接薄膜的第一电连接排与该多个电性接点中部分预定的电性接点对应地相电连接,进而使该测试机构对该电子模块进行电性测试,于第二状态时中止对该挟持片吹气,使该挟持片弹性地带动该第一电连接薄膜的第一电连接排相对远离该多个电性接点。
2.如权利要求1所述测试用膜片挟持装置,其特征在于:该固定座具有二相对设置的固定片,该二固定片共同界定出该电连接空间,及一与该电连接空间相连通的插槽,该电子模块由该插槽插入而被该二固定片固持并使该多个电性接点对应位于该电连接空间。
3.如权利要求1所述测试用膜片挟持装置,其特征在于:该挟持片是成一环带状容设于该电连接空间中,且当该气控单元可控制地在第一、二状态切换时,该挟持片是对应地大面积地改变形状,以带动该电连接单元对应地与该电子模块电连接或是相对远离该电子模块的多个电连接点。
4.如权利要求1所述测试用膜片挟持装置,其特征在于:该电连接单元包含一可换取地固定于该挟持片上且与该第一电连接薄膜相间隔设置的第二电连接薄膜,该第二电连接薄膜包括一第三电连接排与一第四电连接排,该第三、四电连接排彼此对应地相电连接,该第三电连接排相对于该第一电连接排地位于该挟持片上而可被该挟持片带动,该第四电连接排可插置地与该测试机构相电连接,且该气控单元于第一状态对该挟持片持续吹气时,同时使该第三电连接排与该多个电性接点中部分预定的电性接点对应地相电连接,进而使该测试机构对该电子模块进行电性测试,该气控单元于第二状态中止对该挟持片吹气时,同时使该挟持片弹性地带动该第二电连接薄膜的第三电连接排相对远离该多个电性接点。
5.如权利要求1或4所述测试用膜片挟持装置,其特征在于:该气控单元具有一长条状的气嘴,使当该气控单元成第一状态时,是以该气嘴对该挟持片成长条状吹气,而使该挟持片大面积地改变形状带动该电连接单元进而对应地与该电子模块电连接。
6.如权利要求1或4所述测试用膜片挟持装置,其特征在于:该气控单元成第二状态时对该挟持片抽气,使该挟持片大面积地改变形状带动该电连接单元相对远离该电子模块的多个电连接点。
7.如权利要求6所述测试用膜片挟持装置,其特征在于:该气控单元具有一长条状的气嘴,且当该气控单元成第二状态时,是以该气嘴对该挟持片成长条状抽气。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CNB2005100028949A CN100390545C (zh) | 2005-01-28 | 2005-01-28 | 测试用膜片挟持装置 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN1811463A CN1811463A (zh) | 2006-08-02 |
CN100390545C true CN100390545C (zh) | 2008-05-28 |
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CN (1) | CN100390545C (zh) |
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