CN100580375C - 用于激光接收机的闪光灯和激光束检测 - Google Patents

用于激光接收机的闪光灯和激光束检测 Download PDF

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Abstract

一种激光接收机利用多个光电探测器(104,106)来检测细激光束(108)的垂直位置并且通过使用附加光电探测器(15)来区分该激光束与来自闪光灯的全向光脉冲。该设备考虑附加光电探测器可能与在最靠近附加光电探测器的主光电探测器一端处的主光电探测器同时被照明的可能性。

Description

用于激光接收机的闪光灯和激光束检测
技术领域
本发明涉及在测量和建筑中所使用类型的设备,更具体地,涉及用于所述应用的探测器设备,所述探测器设备具有用以检测参考光位置的改进型光电探测器装置。光通常可以是定义参考光平面或固定参考平面或激光锥形的旋转激光束。如由应用指示的,参考平面可以是水平或倾斜的。
背景技术
在测量和建筑中通常采用激光器系统,其中在水平或分级平面中旋转激光束。1977年12月13日授权给Rando的美国专利第4,062,634号说明了一种提供这样的旋转参考光束的激光发射机。旋转光束定义可以执行各种测量的参考平面。例如,可以使用在其上安装有激光接收机的杆来测量远离激光发射机的点的标高(elevation)。杆的底部搁置在地面上,操作者沿着杆将接收机调整到其截取激光束的位置,如由接收机上的显示器所指示的。在1987年6月30日授权给Pehrson的美国专利第4,240,208号中说明了一种这样的激光接收机。在2001年9月27日提交的序列号为No.09/965,661和于2003年3月27日公开为公开文献No.2003/0058446A1的已公开美国专利申请中说明了另一种激光接收机。
在建筑工地工作的激光接收机可以由多个外来光源照明,这些光源必须被忽略或者至少与激光束不同。例如,一些类型的激光发射机通过在每次光束旋转过程中发射一次闪光脉冲,提供激光束相对于参考方向的方位角的指示。此外,在执行机器控制和测量操作的建筑工地使用闪光作为警告光是常见的。
因此,将理解在这种环境中工作的激光接收机必需能够区分激光束照明与来自闪光光源的光脉冲照明。一种区分两者的方式是提供分别用于激光和闪光的分立探测器组件,每个探测器组件具有滤光器以滤除除了感兴趣的频率之外的光。然而,这并非总是完全有效的,除了衰减不希望的干扰之外,滤光器还可能在所有频率上将光衰减到某一程度,这降低接收机灵敏度。
发明内容
因此,需要一种用于检测来自激光发射机和闪光光源的光和用于区分两者的设备和方法。
该需要通过根据本发明的用于检测移动和较细激光束和区分这种移动和较细激光束与全向光脉冲的方法和设备来满足。该方法可以包括将多个光电探测器定位在基本上垂直的行中的步骤。每个光电探测器在被照明时提供电输出。附加光电探测器被定位在远离该多个光电探测器的点处。提供该行中每个光电探测器的一部分电输出作为与该光电探测器距该行第一端的间距相关的第一参考信号。提供在该行中每个光电探测器的一部分电输出作为与该光电探测器距该行第二端的间距相关的第二参考信号。提供所述附加光电探测器的电输出作为第三参考信号。当第三参考信号具有足够低的幅度时,将其解释为指示对在所述行中的一个或多个所述光电探测器的同时照明为由细激光束进行的照明。当第三参考信号具有足够高的幅度时,将其解释为指示对在所述行中的一个或多个所述光电探测器的同时照明为由全向光脉冲进行的照明。
将附加光电探测器定位在远离所述多个光电探测器的点处的步骤可以包括将所述附加光电探测器定位在与所述行的所述第二端相比更靠近所述行的所述第一端的点处的步骤。解释的步骤还可以包括仅当第一参考信号低于被设置为大约四倍于第三参考信号的值并且第一参考信号还低于被设置为大约两倍于第二参考信号的值时,将足够高幅度的第三参考信号解释为指示对在所述行中的一个或多个所述光电探测器的同时照明为由全向光脉冲进行的照明。
该方法还可以包括在指示为由移动和较细激光束对所述光电探测器的照明的情况下,根据来自所述光电探测器行的所述第一和第二参考信号的电平,确定所述激光束相对于所述行的位置的步骤。
根据本发明的方法可以包括提供多个光电探测器的步骤,所述多个光电探测器生成指示细激光束相对于所述多个光电探测器的检测上限和下限的垂直位置的第一和第二参考信号。在远离多个光电探测器的点处提供附加光电探测器。随后,提供与细激光束距所述多个光电探测器的检测上限的间距相关的第一参考信号,并且提供与细激光束距所述多个光电探测器的检测下限的间距相关的第二参考信号。提供所述附加光电探测器的电输出作为第三参考信号。将足够低幅度的第三参考信号解释为指示对所述多个光电探测器的同时照明为由细激光束进行的照明。可以将足够高幅度的第三参考信号解释为指示对所述多个光电探测器的同时照明为由全向光脉冲进行的照明。多个光电探测器可以包括在检测上限和下限之间垂直延伸的第一和第二光电探测器,所述第一光电探测器距离所述检测上限较远并且距离所述检测下限较近,并且所述第二光电探测器距离所述检测下限较远并且距离所述检测上限较近。可替代地,多个光电探测器可以包括在检测上限和下限之间延伸的基本垂直的行中设置的多个光电探测器。
根据本发明的用于检测移动和较细激光束并且区分由这种移动和较细激光束对光电探测器的照明与由全向光脉冲对光电探测器的照明的设备包括在基本上垂直的行中设置的多个光电探测器。每个所述光电探测器组件在被照明时提供电输出。加权电路与多个光电探测器相关联。所述加权电路提供每个光电探测器的一部分电输出作为与该光电探测器距所述行的第一端的间距相关的第一参考信号,并且提供每个光电探测器的一部分电输出作为与该光电探测器距所述行的第二端的间距相关的第二参考信号。定位在远离多个光电探测器的点处的附加光电探测器提供电输出作为第三参考信号。一电路响应于该参考信号将足够低幅度的第三参考信号解释为指示对在所述行中的一个或多个所述光电探测器的同时照明为由细激光束进行的照明。所述电路可以将足够高幅度的第三参考信号解释为指示对在所述行中的一个或多个所述光电探测器的同时照明为由全向光脉冲进行的照明。
所述附加光电探测器可以被定位在与所述行的所述第二端相比更靠近所述行的所述第一端的点处。随后,仅当第一参考信号低于被设置为大约四倍于第三参考信号的值并且第一参考信号还低于被设置为大约两倍于第二参考信号的值时,所述电路可以将足够高幅度的第三参考信号解释为指示对在所述行中的一个或多个所述光电探测器的同时照明为由全向光脉冲进行的照明。
因此,本发明的目的是提供一种用于检测参考光相对位置的设备和方法;提供这样一种设备和方法,其中多个光电探测器和远离该多个光电探测器的附加光电探测器允许对激光束和全向光脉冲(例如来自闪光光源的光)进行区分。
附图说明
根据以下描述、附图和所附权利要求书,本发明的其它目的和优点将是显而易见的。
图1是根据本发明的设备的前视图,该设备用于检测较细激光束,并区分由这样的较细激光束产生的光电探测器照明与由全向光脉冲产生的光电探测器照明;
图2是图1的设备的后视图;
图3是在图1和图2的设备中包括的电路的示意图;和
图4是图3的替代电路的示意图。
具体实施方式
参见图1、图2和图3,其例示了根据本发明构建的检测设备10。该设备检测参考光,诸如激光,并提供参考光相对于该设备的位置的指示。该设备还可以检测参考闪光脉冲。
探测器设备10包括显示器12和定位在由外壳18定义的窗口或孔16中的光电探测器装置14。第二光电探测器装置(未示出)定位在外壳18背面的窗口16’中,以便检测来自该设备任一侧的激光源。探测器设备10由控制开关20开启,随后定位在大约参考光的高度上。光冲击光电探测器装置14,输出电路22在显示器12上提供光参考平面相对于探测器设备(具体地相对于外壳18任一侧中的参考凹槽21的位置)的指示。显示器12指示该光是否介于由光电探测器装置14定义的检测上限与下限之间。如果指示为光束在检测限制之间,则显示器12指示光束在中央参考带之上、之下还是内部。可使用开关26将该参考带的高度设置为若干尺寸之一。
输出电路22响应于由光电探测器装置14提供的分别在线路23和24上的第一和第二参考信号的相对电平,并根据这些信号的相对幅度确定参考光的位置。在所例示的实施例中,例如可以是LCD显示器的显示器12可以包括一对箭头和一个横条。如果光束在参考带之下或之上,则分别显示向上或向下箭头。如果光束在该带内部,则显示横条。在替代的显示器配置中,可以用指向中心横条的一对三角形组件替换箭头。每个三角形组件由一系列基本上水平的横条组成。分别地开启这些横条以便以更高的精确度指示所检测的光定位在中央参考之上或之下的距离。作为又一个替代方式,该设备可以不具有显示器,来自输出电路22的输出被直接提供给机器控制电路。
光电探测器装置14包括定位在所述设备上并设置在大约垂直导向的行中的多个光电探测器,包括PIN二极管CR2、CR3、CR4、CR5、CR6、CR7、CR8、CR9、CR10、CR11、CR12和CR13。当被参考激光或者足够强度的其它光照明时,多个光电探测器CR2-CR13中的每一个产生光输出。
光电探测器装置14还包括加权电路30。加权电路30包括电阻R1-R4和R6-R13、电感L1和L2(分流直流日光流(sunlight current))和抽头变压器。多个光电探测器CR2-CR13中的每一个都直接或者通过一个或多个电阻,连接到变压器T1。与光电探测器距离该行上端的间距相关地,加权电路提供每个光电探测器的一部分电输出作为第一参考信号在线路23上的分量。与光电探测器距离该行下端的间距相关地,加权电路还提供每个光电探测器的一部分电输出作为第二参考信号在线路24上的分量。将加权电路30配置为使得当光向PIN二极管行的上端移动时在线路23上的第一参考信号增加,而当光向该行下端移动时在线路24上的第二参考信号增加。相反地,当光向PIN二极管CR2-CR13行的下端移动时在线路23上的第一参考信号减少,当光向该行上端移动时在线路24上的第二参考信号减少。当光在该行中间时,在线路23和24上的两个参考信号电平是相等的。输出电路22响应于在线路23和24上的第一和第二参考信号的相对电平,以确定光的参考平面的位置。
加权电路30以下述方式提供在线路23和24上的参考电流电平信号。假设仅PIN二极管CR4被照明。将来自二极管CR4的输出电流提供给变压器T1的节点32。大约该电流的5/6将通过线圈34到线路23,而1/6的电流将通过线圈36,38,40,42和44到线路24。以类似的方式,假设参考光已经移动以致仅仅PIN二极管CR9被照明。将来自PIN二极管CR9的输出电流提供给变压器T1的节点46。大约4/6的来自二极管CR9的电流将通过线圈42和44到线路24,而2/6的该电流将通过线圈34,36,38和40到线路23。因而,划分二极管电流并将其提供给线路23和24的方式给出哪个二极管被照明的指示,因而给出参考光位置的指示。
将注意到多个光电探测器并未直接连接到变压器T1的抽头。例如,二极管CR3将其输出提供给节点48。随后划分节点48上的电流,一半通过电阻R1到线路23,另一半通过电阻R2到节点32。在节点32处,这一半电流的5/6通过线圈34到线路23,这一半电流的剩余1/6通过线圈36,38,40,42和44到线路24。这导致大约该电流的11/12被提供给线路23。
将理解参考光通常可以同时照明多个PIN二极管CR2-CR13中的多于一个二极管。这可能是因为参考激光束的大小明显大于光电探测器大小。此外,激光经过空气的热梯度可能导致该光束的快速位置波动,当光束在组件之间波动时有效地同时照明多个光电探测器。本发明的加权电路30根据该行中光电探测器的位置,划分来自多个光电探测器中每个光电探测器的电流。因此,在线路23和24上的所得信号电平是各个被照明的光电探测器之和,这些信号电平精确地反映该光束中央的平均位置。
在这一点上,注意到以该行为中心的参考光束将照明至少两个二极管CR7和CR8,在线路23和24上提供相等电流电平。光从中心位置向上的任何移动将导致到线路23的电流的立即增加和到线路24的电流的减少。类似地,光从中心位置向下的任何移动将导致到线路24的电流的立即增加和到线路23的电流的减少。因为在该行中具有偶数个光电探测器,所以在该行光电探测器中央可能是灵敏的。如果将该行中提供奇数个光电探测器,并且检测到非常小的光束,则可能出现在该区域中光束的垂直移动,而该光束不会移动出中央光电探测器并且在所测量位置中不会有任何改变。
输出电路22优选地包括串行连接到每个线路23和24以处理在这些线路上的第一和第二参考信号的分立滤波器电路、电流至电压放大器电路和峰值检测和保持电路。优选地,将参考信号转换成数字格式。由输出电路22评估所处理的第一和第二参考信号的相对电平以确定光参考平面相对于PIN二极管CR2-CR13的行的位置。这可以通过多种方式实现。例如,如果在线路23和24上的第一和第二参考信号的相对电平随着该光向该行上方和下方移动而线性地改变,则参考光将沿着该行间隔该行长度的一部分,所述该行长度的一部分等于参考信号之一的该部分除以第一和第二参考信号之和。通过这一技术,将理解光冲击光电探测器的绝对强度是不重要的。取而代之,由来自该电路30的两个参考信号的相对电平来定义参考光的位置。可替代地,可以采取第一和第二参考信号之比,并将其用作表格查找算法的地址。将理解可以将参考光的位置分类成宽带或窄带,或者利用所期望的任意精度水平来规定。
将附加光电探测器50定位在远离多个光电探测器的点处,用于提供电输出作为第三参考信号。输出电路22响应于在线路53上的第三参考信号。如图1中看出的,将光电探测器50定位在窗口55中,该窗口55通常与窗口16对准并间隔开,在该窗口16中定位光电探测器装置14。将类似的光电探测器(未示出)提供在外壳18背面上的窗口55’中,如图2中看出的。
使用附加光电探测器来区分来自闪光脉冲的照明和来自窄激光束的照明。输出电路22将足够低幅度的第三参考信号解释为指示对在该行中一个或多个光电探测器的同时照明为由细激光束进行的照明。这是因为激光束足够窄,以致于它不可能同时照明光电探测器CR2-CR13和光电探测器50。同时照明包括光电探测器50的所有光电探测器,也就是说,生成较高幅度的第三参考信号可能是因为全向光脉冲(例如来自闪光灯的光脉冲)导致。输出电路22将如此解释这样一个足够高幅度的第三参考信号。
尽管在图3中未图示,但是在窗口16’中定位的第二光电探测器装置和在外壳18背面的窗口55’中的附加光电探测器还提供到加权电路的与图3所示相同的输入。随后,将来自这个加权电路的信号提供给输出电路22,以便按照与如上所述相同的方式进行解释。将理解光电探测器50并未与光电探测器的行14隔开较大的距离。由于希望将光电探测器50放置在承载光电探测器平衡的同一电路板上,所以该间隔是有限的。因此,更可能的是可以由宽波动激光束同时照明光电探测器CR2和附加光电探测器50,而不是由这样一个光束同时照明光电探测器CR13和附加光电探测器50。电路22通过使用着眼于线路23和24上的信号幅度的公式,来考虑此因素,并且如果所检测的光靠近最临近附加光电探测器50的光电探测器行的末端,则更可能检测光束冲击。基本上,如果在线路53上的第三参考信号具有足够高的幅度,如果在线路23上的第一参考信号比在线路53上的第三参考信号低四倍,而且在线路23上的第一参考信号也比在线路24上的第二参考信号低两倍,则检测到闪光脉冲。如果希望,如果在线路53上的第三参考信号具有足够高的幅度,并且如果在线路23上的第一参考信号低于被设置为大约在线路53上的第三参考信号四倍的值,而且在线路23上的第一参考信号低于被设置为大约在线路24上的第二参考信号两倍的值,则可以检测到闪光脉冲。
图4示意地例示可以替代图3的电路使用的电路100。在图4的实施例中,提供包括第一和第二光电探测器104和106的光电探测器装置102以替代在图3实施例中可见的离散PIN二极管CR2-CR13的行。光电探测器104和106垂直地延伸,光电探测器106距离检测上限较远并且距离检测下限较近,光电探测器104距离检测下限较远并且距离检测上限较近。第一和第二光电探测器104和106分别提供在线路110和112上的第一和第二参考信号,这些信号指示细激光束108相对于检测上限和下限的垂直位置。将理解,随着激光束扫过光电探测器104和106,在线路110和112上的输出的幅度将取决于该光束的相对高度。光束越高,则将由光电探测器106接收的能量越大,并且在线路112上的输出越大。类似地,在光束位置的向下偏移将导致在线路110上的信号幅度增加。
分别由电路113和114对在线路110和112上的输出进行放大和峰值检测。将理解楔形光电探测器消除了对于诸如图3中的电路30等的加权电路的需要。该设备包括定位在远离第一和第二光电探测器104和106的点处的附加光电探测器115,用于提供电输出作为在线路117上的第三参考信号。由电路119对在线路117上的输出进行放大和峰值检测。
电路122包括模数转换器134以将第一、第二和第三处理器输出116、120和121转换成数字表示。将模数转换器134的输出耦合到处理器136,由其随后通过比较在线路116和120上的信号的数字表示来计算光束位置。当然,这假设处理器已经确定在输出116和120上的信号是激光束冲击光电探测器104和106的结果。
处理器136还耦合到存储器设备138,其提供对于完成确定光束位置的必要计算而言的操作指令和存储器位置。此外,可以使用处理器以驱动任意数量的输出设备,诸如显示器140,它提供由处理器136确定的光束位置的可视指示。
如上面所述的,处理器136确定该设备被细激光束照明还是被基本上全向的宽带光脉冲(诸如闪光灯)照明。为此目的,处理器136将足够低幅度的第三参考信号解释为指示对一个或两个光电探测器104和106的同时照明为由细激光束进行的照明。处理器136可以将足够高幅度的第三参考信号解释为指示对一个或多个光电探测器104和106的同时照明是由全向光脉冲产生的。
在该例子中,将附加光电探测器115定位在相对于另一个检测极限更接近一个检测极限的点处。具体而言,可以将光电探测器115定位得更靠近在光电探测器104的宽端上的检测极限。将理解,根据该设备的设计,这可以是检测的上限或下限。仅当第一参考信号低于被设置在大约四倍于第三参考信号的值并且第一参考信号低于被设置在大约两倍于第二参考信号的值时,该电路才将足够高幅度的第三参考信号解释为指示由全向光脉冲进行的同时照明。
虽然已经为了解释本发明的目的示出了某些代表实施例和细节,但是对于本领域的技术人员来说,在不脱离权利要求书定义的本发明的范围的情况下,显然可以对本文公开的方法和设备进行各种改变。

Claims (18)

1.一种用于检测移动和较细激光束并且区分这种移动和较细激光束与全向光脉冲的方法,包括以下步骤:
将多个光电探测器定位在基本上垂直的行中,每个所述光电探测器在被照明时提供电输出;
将附加光电探测器定位在远离所述多个光电探测器的点处;
提供该行中每个光电探测器的电输出的一部分作为与该光电探测器距该行第一端的间距相关的第一参考信号,并且提供在该行中每个光电探测器的电输出的一部分作为与该光电探测器距该行第二端的间距相关的第二参考信号;
提供所述附加光电探测器的电输出作为第三参考信号;和
将足够低幅度的第三参考信号解释为指示对在所述行中的一个或多个所述光电探测器的同时照明为由细激光束进行的照明,并且将足够高幅度的第三参考信号解释为指示对在所述行中的一个或多个所述光电探测器的同时照明为由全向光脉冲进行的照明。
2.根据权利要求1的方法,其中将附加光电探测器定位在远离所述多个光电探测器的点处的步骤包括将所述附加光电探测器定位在与所述行的所述第二端相比更靠近所述行的所述第一端的点处的步骤,并且其中解释的步骤还包括仅当第一参考信号低于被设置为第三参考信号的四倍的值并且第一参考信号还低于被设置为第二参考信号的两倍的值时,将足够高幅度的第三参考信号解释为指示对在所述行中的一个或多个所述光电探测器的同时照明为由全向光脉冲进行的照明的步骤。
3.根据权利要求1的方法,还包括在指示由移动和较细激光束对所述光电探测器的照明的情况下,根据来自光电探测器的所述行的所述第一参考信号和所述第二参考信号的电平,确定所述激光束相对于所述行的位置的步骤。
4.根据权利要求3的方法,还包括显示所述激光束相对于所述行的所述位置的指示的步骤。
5.根据权利要求1的方法,其中定位多个光电探测器的步骤包括定位多个PIN二极管的步骤。
6.根据权利要求1的方法,其中提供该行中每个光电探测器的电输出的一部分作为与该光电探测器距该行第一端的间距相关的第一参考信号,并且提供在该行中每个光电探测器的电输出的一部分作为与该光电探测器距该行第二端的间距相关的第二参考信号的步骤包括使用抽头变压器划分所述电输出的所述部分的步骤,其中所述多个光电探测器中的每个光电探测器连接到所述变压器。
7.一种用于检测移动和细激光束并且区分这种移动和细激光束与全向光脉冲的方法,包括以下步骤:
提供多个光电探测器,所述多个光电探测器生成指示细激光束相对于所述多个光电探测器的检测上限和下限的垂直位置的第一参考信号和第二参考信号;
将附加光电探测器定位在远离所述多个光电探测器的点处;
提供与细激光束距所述多个光电探测器的检测上限的间距相关的第一参考信号,并且提供与细激光束距所述多个光电探测器的检测下限的间距相关的第二参考信号;
提供所述附加光电探测器的电输出作为第三参考信号;和
将足够低幅度的第三参考信号解释为指示对所述多个光电探测器的同时照明为由细激光束进行的照明,并且将足够高幅度的第三参考信号解释为指示对所述多个光电探测器的同时照明为由全向光脉冲进行的照明。
8.根据权利要求7的方法,还包括在指示由移动和较细激光束对所述多个光电探测器的照明的情况下,根据来自所述多个光电探测器的所述第一参考信号和所述第二参考信号的电平,确定所述激光束相对于所述检测上限和下限的位置的步骤。
9.根据权利要求8的方法,还包括显示所述激光束相对于所述检测上限和下限的所述位置的指示的步骤。
10.根据权利要求7的方法,其中提供多个光电探测器,所述多个光电探测器生成指示细激光束相对于所述多个光电探测器的检测上限和下限的垂直位置的第一参考信号和第二参考信号的步骤包括以下步骤:
将多个光电探测器定位于在所述检测上限和下限之间延伸的基本上垂直的行中,每个所述光电探测器在被照明时提供电输出;和
提供该行中每个光电探测器的电输出的一部分作为与该光电探测器距该行第一端的间距相关的所述第一参考信号,并且提供在该行中每个光电探测器的电输出的一部分作为与该光电探测器距该行第二端的间距相关的所述第二参考信号。
11.根据权利要求7的方法,其中提供多个光电探测器,所述多个光电探测器生成指示细激光束相对于所述多个光电探测器的检测上限和下限的垂直位置的第一参考信号和第二参考信号的步骤包括以下步骤:
提供在检测上限和下限之间垂直延伸的第一光电探测器和第二光电探测器,所述第一光电探测器距离所述检测上限较远并且距离所述检测下限较近,并且所述第二光电探测器距离所述检测下限较远并且距离所述检测上限较近。
12.一种用于检测移动和较细激光束并且区分由这种移动和较细激光束对光电探测器的照明与由全向光脉冲对光电探测器的照明的设备,包括:
在基本上垂直的行中设置的多个光电探测器,每个所述光电探测器在被照明时提供电输出;
与所述多个光电探测器相关联的加权电路,所述加权电路提供每个光电探测器的电输出的一部分作为与该光电探测器距所述行的第一端的间距相关的第一参考信号,并且提供每个光电探测器的电输出的一部分作为与该光电探测器距所述行的第二端的间距相关的第二参考信号;
附加光电探测器,定位在远离所述多个光电探测器的点处,用于提供电输出作为第三参考信号;
电路,响应于该参考信号,用于将足够低幅度的第三参考信号解释为指示对在所述行中的一个或多个所述光电探测器的同时照明为由细激光束进行的照明,并且将足够高幅度的第三参考信号解释为指示对在所述行中的一个或多个所述光电探测器的同时照明为由全向光脉冲进行的照明。
13.根据权利要求12的用于检测移动和较细激光束并且区分由这种移动和较细激光束对光电探测器的照明与由全向光脉冲对光电探测器的照明的设备,其中所述附加光电探测器被定位在与所述行的所述第二端相比更靠近所述行的所述第一端的点处,并且其中仅当第一参考信号低于被设置为第三参考信号的四倍的值并且第一参考信号还低于被设置为第二参考信号的两倍的值时,将足够高幅度的第三参考信号解释为指示对在所述行中的一个或多个所述光电探测器的同时照明为由全向光脉冲进行的照明。
14.根据权利要求12的用于检测移动和较细激光束并且区分由这种移动和较细激光束对光电探测器的照明与由全向光脉冲对光电探测器的照明的设备,其中所述电路还在指示为由移动和较细激光束对所述光电探测器的照明的情况下,根据来自光电探测器的所述行的所述第一参考信号和所述第二参考信号的电平,确定所述激光束相对于所述行的位置。
15.根据权利要求12的用于检测移动和较细激光束并且区分由这种移动和较细激光束对光电探测器的照明与由全向光脉冲对光电探测器的照明的设备,其中所述光电探测器包括PIN二极管。
16.根据权利要求12的用于检测移动和较细激光束并且区分由这种移动和较细激光束对光电探测器的照明与由全向光脉冲对光电探测器的照明的设备,其中所述加权电路包括抽头变压器电路,所述多个光电探测器中的每个光电探测器连接到所述抽头变压器电路。
17.一种用于检测移动和较细激光束并且区分由这种移动和较细激光束对光电探测器的照明与由全向光脉冲对光电探测器的照明的设备,包括:
在检测上限和下限之间垂直延伸的第一光电探测器和第二光电探测器,所述第一光电探测器距离所述检测上限较远并且距离所述检测下限较近,并且所述第二光电探测器距离所述检测下限较远并且距离所述检测上限较近,所述第一光电探测器和所述第二光电探测器提供指示细激光束相对于检测上限和下限的垂直位置的第一参考信号和第二参考信号;
附加光电探测器,定位在远离所述第一光电探测器和所述第二光电探测器的点处,用于提供电输出作为第三参考信号;
电路,响应于该参考信号,用于将足够低幅度的第三参考信号解释为指示对在所述行中的一个或多个所述光电探测器的同时照明为由细激光束进行的照明,并且将足够高幅度的第三参考信号解释为指示对在所述行中的一个或多个所述光电探测器的同时照明为由全向光脉冲进行的照明。
18.根据权利要求17的用于检测移动和较细激光束并且区分由这种移动和较细激光束对光电探测器的照明与由全向光脉冲对光电探测器的照明的设备,其中所述附加光电探测器定位在与所述检测下限相比更靠近所述检测上限的点处,并且其中仅当第一参考信号低于被设置为第三参考信号的四倍的值并且第一参考信号还低于被设置为第二参考信号的两倍的值时,所述电路将足够高幅度的第三参考信号解释为指示由全向光脉冲进行的同时照明。
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