CN100538836C - 光拾取器装置用光学元件、中继透镜以及光拾取器装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供光拾取器装置用光学元件、中继透镜以及光拾取器装置。由于物镜(16)的衍射构造具有如果产生变化使光源波长变得更长则通过了上述衍射构造的光束中使球差将变得更为不足的光学特性，故可以对与温度变化相伴的物镜的折射率变化和与温度变化相伴的光源的波长变动更好地校正球差。此外，因为通过满足1.1≥(n1×λ1)/(n3×λ3)≥0.9，可以进一步提高经由物镜(16)的衍射构造照射到高密度DVD的信息记录面的衍射光束的光通量以及照射到CD的信息记录面的衍射光束的光通量，故可以有效地抑制信息的写入错误或读取错误的产生等。

Description

光拾取器装置用光学元件、中继透镜以及光拾取器装置

技术领域

本发明涉及光拾取器装置用光学元件、中继透镜以及光拾取器装置，特别涉及可使用从光源波长不同的3个光源出射的光束对3个不同的光学信息记录介质进行各自信息的记录以及/或者再现的光拾取器装置用光学元件、中继透镜以及光拾取器装置。

背景技术

近年来，伴随着短波红色半导体激光器的实用化，人们开发并产品化了以作为以往光盘(也称之为光信息记录介质)的CD(集约盘)同等程度的大小大容量化了的作为高密度光盘的DVD(数字多功能光盘)，在不远的将来，可以预想更高密度的下一代光盘即将登场。在以这样的下一代光盘作为介质的光信息记录再现装置(也称之为光拾取器装置)的聚光光学系统中，为了谋求记录信号的高密度化，或者为了再现高密度记录信号，要求减小经由物镜会聚到信息记录面上的光点的直径。为此，需要进行作为光源的激光器的短波长化以及物镜的高数值孔径(高NA)化。可以作为短波长化激光光源期待其实用化的激光器为波长400nm左右的兰紫色半导体激光器。

可以使用这样的波长400nm左右的兰紫色半导体激光器进行信息的记录/再现的高密度光盘系统的研究·开发正在不断取得进展。例如，在以NA0.85、光源波长450nm的规格进行信息记录/再现的光盘(以下称本说明书中涉及的光盘为“高密度DVD”)中，可以对作为与DVD(NA0.6、光源波长650nm、存储容量4.7G)同样大小的直径12cm的光盘进行每面20～30GB的信息的记录。为了能够对所使用的高密度DVD的信息记录面形成合适的会聚光点，还开发了设置有衍射构造的聚光光学系统(参照专利文献1)。

【专利文献1】

特开2002-236253号公开专利

但是，作为光拾取器装置产品的价值，仅仅能够这样对高密度DVD适当地进行记录/再现还不能说是足够。通常的情况是，如果考虑现在市售的记录了各种各样的信息的DVD或CD的现实，则仅仅能够对高密度DVD适当地记录/再现信息是不够的，例如，如果对用户所有的以往的DVD或者CD也能够同样地、适当地记录/再现信息，则作为互换型的光拾取器装置将可以提高产品的价值。从这样的背景看，为了能够对高密度DVD、以往的DVD、CD的任意一种光盘都能适当地记录/再现信息，就要求可用于互换型的光拾取器装置的聚光光学系统必须确保规定的光点光通量。然而，虽然上述的专利文献1对物镜设置了衍射构造的光拾取器装置进行了公开，但由于在所使用的衍射构造上没有考虑衍射效率，故也存在着不能确保最佳的光点光通量的情况。

发明内容

本发明为鉴于上述所涉及的问题而进行的工作，目的是提供可以在确保足够的光点光通量的同时，也能够对诸如高密度DVD和以往DVD、CD的所有光盘都能适当地进行信息的记录以及/再现的光拾取器装置用光学元件、中继透镜以及光拾取器装置。

上述目的可以通过下面所记载的光拾取器装置用光学元件达成。

本发明的一种光拾取器装置用物镜，该光拾取器装置具有波长为λ1的第1光源、波长为λ2的第2光源、波长为λ3的第3光源和包含物镜的聚光光学系统，上述聚光光学系统将来自上述第1光源的光束经由厚度为t1的保护层会聚到第1光信息记录介质的记录面上从而进行信息的记录以及/或者再现，将来自上述第2光源的光束经由厚度为t2的保护层会聚到第2光信息记录介质的记录面上从而进行信息的记录以及/或者再现，进而，将来自上述第3光源的光束经由厚度为t3的保护层会聚到第3光信息记录介质的记录面上从而进行信息的记录以及/或者再现，其特征在于：

上述物镜的至少1个面上设置有第1衍射构造，在分别对上述第1光信息记录介质、上述第2光信息记录介质以及上述第3光信息记录介质进行记录以及/或者再现时，在分别从上述第1光源、上述第2光源以及上述第3光源出射的光束共同通过了上述第1衍射构造后，分别聚光在上述第1光信息记录介质、上述第2光信息记录介质以及上述第3光信息记录介质的信息记录面上并形成光点，

进而，当上述波长为λ1、λ2、λ3的光束入射到上述物镜时，如果将由上述第1衍射构造产生的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光束的衍射次数分别设为n1、n2、n3，则满足：

380nm≦λ1≦450nm、

600nm≦λ2≦700nm、

700nm≦λ3≦800nm、

n1＝2，n2＝1，n3＝1

这样的关系。

本发明的一种光拾取器装置，具有波长为λ1的第1光源、波长为λ2的第2光源、波长为λ3的第3光源和包含物镜的聚光光学系统，上述聚光光学系统将来自上述第1光源的光束经由厚度为t1的保护层会聚到第1光信息记录介质的记录面上从而进行信息的记录以及/或者再现，将来自上述第2光源的光束经由厚度为t2的保护层会聚到第2光信息记录介质的记录面上从而进行信息的记录以及/或者再现，进而，将来自上述第3光源的光束经由厚度为t3的保护层会聚到第3光信息记录介质的记录面上从而进行信息的记录以及/或者再现，其特征在于：

上述物镜的至少1个面上设置有第1衍射构造，在分别对上述第1光信息记录介质、上述第2光信息记录介质以及上述第3光信息记录介质进行记录以及/或者再现时，在分别从上述第1光源、上述第2光源以及上述第3光源出射的光束共同通过了上述第1衍射构造后，分别聚光在上述第1光信息记录介质、上述第2光信息记录介质以及上述第3光信息记录介质的信息记录面上并形成光点，

进而，当上述波长为λ1、λ2、λ3的光束入射到上述物镜时，如果将上述第1衍射构造产生的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光束的衍射次数分别设为n1、n2、n3，则满足：

380nm≦λ1≦450nm、

600nm≦λ2≦700nm、

700nm≦λ3≦800nm、

n1＝2，n2＝1，n3＝1

这样的关系。

第1项所记载的光拾取器装置用光学元件，该光拾取器装置具有波长为λ1的第1光源、波长为λ2(λ1<λ2)的第2光源、波长为λ3(1.6·λ1≤λ3≤2.0·λ1且λ2<λ3)的第3光源和包含光学元件的聚光光学系统，上述聚光光学系统，经由厚度为t1的保护层将来自上述第1光源的光束会聚到第1光信息记录介质的记录面上从而进行信息的记录以及/或者再现，经由厚度为t2(0.8·t1≤t2≤1.2·t1)的保护层将来自上述第2光源的光束会聚到第2光信息记录介质的记录面上从而进行信息的记录以及/或者再现，进而，经由厚度为t3(1.9·t1≤t3≤2.1·t1)的保护层将来自上述第3光源的光束会聚到第3光信息记录介质的记录面上从而进行信息的记录以及/或者再现，其特征在于：上述光学元件的至少1个面上设置有衍射构造，在分别对上述第1光信息记录介质、上述第2光信息记录介质以及上述第3光信息记录介质进行记录以及/或者再现时，在分别从上述第1光源、上述第2光源以及上述第3光源出射的光束共同通过了上述衍射构造后，可分别聚光在上述第1光信息记录介质、上述第2光信息记录介质以及上述第3光信息记录介质的信息记录面上并形成光点，进而，当上述波长为λ1、λ3的光束入射到上述光学元件时，如果设因上述衍射构造而产生的衍射光中，具有最大衍射效率的衍射光束的次数分别为n1、n3(n1、n3为自然数)，则其满足1.1≥(n1×λ1)/(n3×λ3)≥0.9(1)这样的关系。

在上述第1项记载的光学元件中，由于通过满足(1)式，可以使经由上述光学元件的衍射构造照射到上述第1光信息记录介质的信息记录面上的衍射光束的光通量以及照射到上述第3光信息记录介质的信息记录面上的衍射光束的光通量提高[(n1×λ1)/(n3×λ3)越接近1越好]，故可以有效地抑制信息的写入错误或读取错误等的发生。

附图说明

图1所示为表示像差特性是不足还是超出的图；

图2所示是第1实施形态涉及的光信息记录再现装置或者光拾取器装置的概略构成图；

图3所示是第2实施形态涉及的光信息记录再现装置或者光拾取器装置的概略构成图；

图4所示是第3实施形态涉及的光信息记录再现装置或者光拾取器装置的概略构成图；

图5所示是第4实施形态涉及的光信息记录再现装置或者光拾取器装置的概略构成图；

图6所示是第5实施形态涉及的光信息记录再现装置或者光拾取器装置的概略构成图；

图7所示是第6实施形态涉及的光信息记录再现装置或者光拾取器装置的概略构成图；

图8所示是第7实施形态涉及的光信息记录再现装置或者光拾取器装置的概略构成图；

图9所示是第8实施形态涉及的光信息记录再现装置或者光拾取器装置的概略构成图；

图10所示是第9实施形态涉及的光信息记录再现装置或者光拾取器装置的概略构成图；

图11所示是第10实施形态涉及的光信息记录再现装置或者光拾取器装置的概略构成图；

图12所示是第11实施形态涉及的光信息记录再现装置或者光拾取器装置的概略构成图；

图13所示是第12实施形态涉及的光信息记录再现装置或者光拾取器装置的概略构成图；

图14所示是关于实施例的物镜的、成为通过了高密度DVD用的光束时的最大衍射效率的次数的衍射光的纵球差图；

图15所示是关于实施例的物镜的、成为通过了DVD用的光束时的最大衍射效率的次数的衍射光的纵球差图；

图16所示是关于实施例的物镜的、成为通过了CD用的光束时的最大衍射效率的次数的衍射光的纵球差图；

图17所示是光学元件的第1区域和第2区域的原理图。

具体实施方式

首先说明本发明的最好的构成。

第2项所记载的光拾取器装置用光学元件是在第1项所记载的光学元件中，因上述次数n1、n3满足

n1:n3＝2:1(2)

，故可以尽可能地减小衍射构造的台阶高度，由此，可以抑制上述光学元件的实质的透过率损失。

第3项所记载的光拾取器装置用光学元件是在第2项所记载的光学元件中，如果设对应上述波长λ1的光束的上述光学元件的光学系统倍率为m1，则有

m1＝0(3)

，故通过在校正球差等的基础上使最为困难的上述波长为λ1的光束作为平行光束入射到上述光学元件，可以良好地形成其轴外特性，进行更为适当的校正。此外，在使用上述光学元件的同时又使用光束成形器和光束扩展器等整形了光束这样的情况下，如果将它们插入上述光学元件的光源侧则可形成平行光束入射，由此，可以进行合适的整形。这里，从以上的光学元件的意思解释，光学系统倍率m1＝0之类的情况估计有1％左右的误差，其至少应包含Im1|≤1/100的情况。

第4项所记载的光拾取器装置用光学元件是在第2项或者第3项所记载的光学元件中，如果设对应上述波长λ3的光束的上述光学元件的光学系统倍率为m3，则有

-1/12.0≤m3≤-1/16.0(4)

，故通过作为遵从(4)式的发散光束使来自上述第3光源的光束入射上述光学元件，可以适当地校正因上述第1以及上述第2光信息记录介质的保护层和上述第3光信息记录介质的保护层的厚度的差异和波长的差异所导致的球差之差。

第5项所记载的光拾取器装置用光学元件是在第2项或者第3项所记载的光学元件中，如果设对应上述波长λ3的光束的上述光学元件的光学系统倍率为m3，则有

-1/12.0≤m3≤-1/13.4(4’)

更为理想。

第6项所记载的光拾取器装置用光学元件是在第2项乃至第5项之任意一项所记载的光学元件中，在上述波长为λ2的光束入射到了上述光学元件时，如果设通过衍射构造产生的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光束的次数为n2(n2为自然数)，则有

(n2×λ2)/(n3×λ3)≤1(5)

。在设计上虽然(n2×λ2)可以取各种的值，但在使用在基板上配置了被称为所谓的2激光器1封装的、现在已经实用化的上述第2光源和上述第3光源的单元光源时，需要对来自哪一个光源的光束都使上述光学元件的光学系统倍率相等。因此，通过使之满足(5)式，可以使对上述波长为λ2的光束的上述光学元件的光学系统倍率与对上述波长为λ3的光束的上述光学元件的光学系统倍率相等。

第7项所记载的光拾取器装置用光学元件是在第6项所记载的光学元件中，如果设对应上述波长λ2的光束的上述光学元件的光学系统倍率为m2，则有

-1/12.0≤m2≤-1/17.0(6)

，故可以使用如所谓的2激光器1封装的单元光源。

第8项所记载的光拾取器装置用光学元件是在第2项或者第3项所记载的光学元件中，如果设对应上述波长λ2的光束的上述光学元件的光学系统倍率为m2，则

-1/12.0≤m2≤-1/13.4(6’)

更为理想。

第9项所记载的光拾取器装置用光学元件是在第7项或者第8项所记载的光学元件中，如果可以单元化出射上述波长为λ2的光束的第2光源和出射上述波长为λ3的光束的第3光源形成如所谓的2激光器1封装那样的单元光源，则可以谋求光拾取器装置的集约化。这里，所谓的“光源单元化”指的是例如在同一基板上安装2个光源进行一体化那样的构成，但并非仅限于此。

第10项所记载的光拾取器装置用光学元件是在第2项乃至第5项任意一项所记载的光学元件中，在波长为λ2的光束入射到了上述光学元件时，如果设通过衍射构造产生的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光束的次数为n2(n2为自然数)，则

(n1×λ1)/(n2×λ2)≤1(7)

较为理想。如果充分地预想在将来也能够开发出在同一基板上配置了上述第1光源和上述第2光源的单元光源，则对所谈及的情况，需要对来自哪一个光源的光束都使上述光学元件的光学系统倍率相等。因此，通过使之满足(7)式，可以使对上述波长为λ1的光束的上述光学元件的光学系统倍率与对上述波长为λ2的光束的上述光学元件的光学系统倍率相等。

第11项所记载的光拾取器装置用光学元件是在第3、4、5或10项所记载的光学元件中，如果设对应上述波长λ2的光束的上述光学元件的光学系统倍率为m2，则有

M2＝0(8)

，故在开发出了在同一基板上配置了上述第1光源和上述第2光源的单元光源时，可以使用该光源。这里，从以上的光学元件的意思解释，光学系统倍率m2＝0之类的情况估计有1％左右的误差，其至少应包含|m2|≤1/100的情况。

第12项所记载的光拾取器装置用光学元件是在第7、8或11项所记载的光学元件中，上述衍射构造具有如果产生变化以使光源波长变得更长则在通过了上述衍射构造的光束中使球差变得更为不足的光学特性。如果产生变化使光源波长变得更长，则上述衍射构造具有通过了上述衍射构造的光束中球差变得更为不足的光学特性，故通过使上述衍射构造通过来自各光源的光束，可以在使因折射效果而产生于温度变化时的球差或因光源的组间分散而产生的球差减小的方向进行校正，因此，可以抑制其会聚光点的波面像差变得更小。

第13项所记载的光拾取器装置用光学元件是在第11或者第12项所记载的光学元件中，如果能够单元化出射上述波长为λ1的光束的第1光源和出射上述波长为λ2的光束的第2光源，则可以谋求光拾取器装置的集约化。

第14项所记载的光拾取器装置用光学元件是在第2乃至13项任意一项所记载的光学元件中，虽然物镜比较理想，但并非仅限于此。

第15项所记载的光拾取器装置用光学元件是在第1乃至14项任意一项所记载的光学元件中，如果上述光学元件的至少一个光学面具有：为分别对上述第1光信息记录介质、上述第2光信息记录介质以及上述第3光信息记录介质进行记录以及/或者再现，而使自上述第1光源、上述第2光源以及上述第3光源分别照射的波长λ1、λ2以及λ3的光束通过的第1区域；和为分别对上述第1光信息记录介质以及上述第2光信息记录介质进行记录以及/或者再现，而实施了使自上述第1光源以及上述第2光源分别照射的波长λ1以及λ2的光束通过，但不使自上述第3光源照射的波长λ3的光束通过的二向色涂层的第2区域，则其可以对上述第3光信息记录介质适当地进行信息的记录以及/或者再现。(参照图17)

第16项所记载的光拾取器装置用光学元件是在第15项所记载的光学元件中，如果在实施了上述二向色涂层的光学面上不设置衍射构造，则可以使涂层分散的要因减少。

第17项所记载的光拾取器装置用光学元件是在第1乃至14项任意一项所记载的光学元件中，上述光学元件的至少一个光学面具有：为分别对上述第1光信息记录介质、上述第2光信息记录介质以及上述第3光信息记录介质进行记录以及/或者再现，而使自上述第1光源、上述第2光源以及上述第3光源分别照射的波长λ1、λ2以及λ3的光束通过的第1区域；和为分别对上述第1光信息记录介质以及上述第2光信息记录介质进行记录以及/或者再现，而使自上述第1光源以及上述第2光源分别照射的波长λ1以及λ2的光束通过并会聚到信息记录面上、但即使使自上述第3光源照射的波长λ3的光束通过也不使之会聚于信息记录面的第2区域，在上述第1区域设置第1衍射构造，在上述第2区域设置第2衍射构造，当取由上述第1衍射构造产生的波长为λ1的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的次数为n1A、由上述第1衍射构造产生的波长为λ2的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的次数为n1D、由上述第2衍射构造产生的波长为λ1的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的次数为n2A、由上述第2衍射构造产生的波长为λ2的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的次数为n2D时，有n1A:n1D≠n2A:n2D                  (9)。

但是，如果采用对上述第3光信息记录介质进行信息的记录以及/或者再现时的数值孔径NA小于对其以外的光信息记录介质进行信息的记录以及/或者再现时的数值孔径NA，则在所谈及的情况，使用时需要对第3光信息记录介质采用缩入数值孔径NA的构成。在本光学元件中，应使之满足(9)式。为了实现3个光信息记录介质的互换，对具有在入射了波长为λ1、λ2、λ3的光时产生的最大的衍射效率的次数的组合，需要改变对应各自的光的物光学元件的光学系统倍率。虽然对应各自的光的物光学元件的光学系统倍率在第1区域和第2区域是相同的，但由于改变了衍射次数的组合，故可以使通过了上述第2区域的上述波长为λ3的光束的具有最大的衍射效率的衍射光带有球差，因而，在上述第3光信息记录介质的信息记录面上不能形成聚光，由此可获得缩小数值孔径NA的效果。

第18项所记载的光拾取器装置用光学元件是在第1乃至14项任意一项所记载的光学元件中，上述光学元件的至少一个光学面具有：为分别对上述第1光信息记录介质、上述第2光信息记录介质以及上述第3光信息记录介质进行记录以及/或者再现，而使自上述第1光源、上述第2光源以及上述第3光源分别照射的波长λ1、λ2以及λ3的光束通过的第1区域；和为分别对上述第1光信息记录介质以及上述第2光信息记录介质进行记录以及/或者再现，而使自上述第1光源以及上述第2光源分别照射的波长λ1以及λ2的光束通过并会聚到信息记录面上、但即使使自上述第3光源照射的波长λ3的光束通过也不使之会聚于信息记录面的第2区域，在上述第1区域设置第1衍射构造，在上述第2区域设置第2衍射构造，当取由上述第1衍射构造产生的波长为λ1的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的次数为n1A、由上述第1衍射构造产生的波长为λ2的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的次数为n1D、由上述第2衍射构造产生的波长为λ1的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的次数为n2A、由上述第2衍射构造产生的波长为λ2的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的次数为n2D时，有n1A:n1D＝n2A:n2D                (10)

，n2A为奇数。

在本光学元件中，因为其满足(10)式，故如果上述波长λ3能够成为上述波长λ1的2倍，且取通过了上述第2衍射构造的上述波长为λ1的衍射光束的最大衍射效率的次数为n2A，则由于通过了上述第2衍射构造的上述波长为λ3的衍射光束的最大衍射效率为次数n2A/2，故如果次数n2A是偶数，则不能使通过了上述第2衍射构造的上述波长为λ3的光束的具有最大衍射效率的衍射光带有球差。但如果n2A是奇数，则有高达接近于n2A/2的整数的衍射效率。由于其衍射光不能会聚，故通过了上述第2衍射构造的波长为λ3的光不能高效率地会聚在上述第3光信息记录介质的信息记录面上，可以缩小数值孔径NA。

第19项所记载的光拾取器装置用光学元件是在第18项所记载的光学元件中，因为n2A＝5、n2D＝3，故可以使用适当次数的衍射光对上述第1以及第2光信息记录介质适当地进行信息的记录以及/或者再现。

第20项所记载的光拾取器装置用光学元件是在第18以及19任意一项所记载的光学元件中，因为n2A＝3、n2D＝2，故可以使用适当次数的衍射光对上述第1以及第2光信息记录介质适当地进行信息的记录以及/或者再现。

第21项所记载的光拾取器装置用光学元件是在第18项所记载的光学元件中，由于由上述第2衍射构造产生的波长为λ3的衍射光中，最大的衍射效率为60％或其以下，故可以对上述第3光信息记录介质适当地进行记录以及/或者再现。

第22项所记载的光拾取器装置用光学元件是在第18乃至21的任意一项所记载的光学元件中，对上述波长为λ1的光束进行色校正。在入射了波长为λ1和λ2的光时产生具有最大衍射效率的衍射次数的组合因第1衍射构造和第2衍射构造而不同时，需要利用衍射的近轴能量使通过了各自区域的衍射光的聚光位置一致。与之相反，如果满足(10)式，则由于可以利用衍射的近轴能量对上述波长为λ1或者λ2的光束进行色校正，故可以更为适当地对上述第1光信息记录介质进行记录以及/或者再现。

第23项所记载的光拾取器装置，具有波长为λ1的第1光源、波长为λ2(λ1<λ2)的第2光源、波长为λ3(1.6·λ1≤λ3≤2.0·λ1且λ2<λ3)的第3光源和包含光学元件的聚光光学系统，上述聚光光学系统，经由厚度为t1的保护层将来自上述第1光源的光束会聚到第1光信息记录介质的记录面上从而进行信息的记录以及/或者再现，经由厚度为t2(0.8·t1≤t2≤1.2·t1)的保护层将来自上述第2光源的光束会聚到第2光信息记录介质的记录面上从而进行信息的记录以及/或者再现，进而，经由厚度为t3(1.9·t1≤t3≤2.1·t1)的保护层将来自上述第3光源的光束会聚到第3光信息记录介质的记录面上从而进行信息的记录以及/或者再现，其特征在于：上述光学元件的至少1个面上设置有第1衍射构造，在分别对上述第1光信息记录介质、上述第2光信息记录介质以及上述第3光信息记录介质进行记录以及/或者再现时，在分别从上述第1光源、上述第2光源以及上述第3光源出射的光束共同通过了上述第1衍射构造后，分别聚光在上述第1光信息记录介质、上述第2光信息记录介质以及上述第3光信息记录介质的信息记录面上并形成光点，

进而，当上述波长为λ1、λ3的光束入射到上述光学元件时，如果设因上述第1衍射构造而产生的衍射光中，具有最大衍射效率的衍射光束的次数分别为n1、n3(n1、n3为自然数)，则其满足1.1≥(n1×λ1)/(n3×λ3)≥0.9       (1)这样的关系。本光拾取器装置的作用效果与第1项所记载的光拾取器装置相同。

第24项所记载的光拾取器装置是第23项所记载的光拾取器装置中，上述次数n1、n3满足

n1:n3＝2:1     (2)

。本光拾取器装置的作用效果与第2项所记载的光拾取器装置相同。

第25项所记载的光拾取器装置是在第24项所记载的光拾取器装置中，如果设对应上述波长λ1的光束的上述光学元件的光学系统倍率为m1，则有

m1＝0(3)

。本光拾取器装置的作用效果与第3项所记载的光拾取器装置相同。

第26项所记载的光拾取器装置是在第24项或者第25项所记载的光拾取器装置中，如果设对应上述波长λ3的光束的上述光学元件的光学系统倍率为m3，则有

-1/12.0≤m3≤-1/16.0(4)

。本光拾取器装置的作用效果与第4项所记载的光拾取器装置相同。

第27项所记载的光拾取器装置是在第24项或者第25项所记载的光拾取器装置中，如果设对应上述波长λ3的光束的上述光学元件的光学系统倍率为m3，则有

-1/12.0≤m3≤-1/13.4(4’)

。本光拾取器装置的作用效果与第5项所记载的光拾取器装置相同。

第28项所记载的光拾取器装置是在第24乃至第27的任意一项所记载的光拾取器装置中，在上述波长为λ2的光束入射到了上述光学元件时，如果设通过上述第1衍射构造产生的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光束的次数为n2(n2为自然数)，则

(n2×λ2)/(n3×λ3)≤1(5)

。本光拾取器装置的作用效果与第6项所记载的光拾取器装置相同。

第29项所记载的光拾取器装置是在第28项所记载的光拾取器装置中，如果设对应上述波长λ2的光束的上述光学元件的光学系统倍率为m2，则有

-1/12.0≤m2≤-1/17.0(6)

。本光拾取器装置的作用效果与第7项所记载的光拾取器装置相同。

第30项所记载的光拾取器装置是在第28项所记载的光拾取器装置中，如果设对应上述波长λ2的光束的上述光学元件的光学系统倍率为m2，则

-1/12.0≤m2≤-1/13.4(6’)

。本光拾取器装置的作用效果与第8项所记载的光拾取器装置相同。

第31项所记载的光拾取器装置是在第30项所记载的光拾取器装置中，单元化了出射上述波长为λ2的光束的第2光源和出射上述波长为λ3的光束的第3光源。本光拾取器装置的作用效果与第9项所记载的光拾取器装置相同。

第32项所记载的光拾取器装置是在第24项乃至第27项的任意一项所记载的光拾取器装置中，在波长为λ2的光束入射到了上述光学元件时，如果设通过上述第1衍射构造产生的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光束的次数为n2(n2为自然数)，则

(n1×λ1)/(n2×λ2)≤1(7)

。本光拾取器装置的作用效果与第10项所记载的光拾取器装置相同。

第33项所记载的光拾取器装置是在第25、26、27或者32项所记载的光拾取器装置中，如果设对应上述波长λ2的光束的上述光学元件的光学系统倍率为m2，则有

M2＝0(8)

。本光拾取器装置的作用效果与第11项所记载的光拾取器装置相同。

第34项所记载的光拾取器装置是在第29、30或者33项所记载的光拾取器装置中，上述第1衍射构造具有如果产生变化以使光源波长变得更长，则在通过了上述衍射构造的光束中使球差变得更为不足的光学特性。本光拾取器装置的作用效果与第12项所记载的光拾取器装置相同。

第35项所记载的光拾取器装置是在第33或者第34项所记载的光拾取器装置中，单元化出射上述波长为λ1的光束的第1光源和出射上述波长为λ2的光束的第2光源。本光拾取器装置的作用效果与第13项所记载的光拾取器装置相同。

第36项所记载的光拾取器装置是在第24乃至35项的任意一项所记载的光拾取器装置中，上述光学元件是物镜。

第37项所记载的光拾取器装置是在第23乃至31项的任意一项所记载的光拾取器装置中，上述波长为λ2的光束以发散光束的状态对上述光学元件入射，且在上述第2光源和上述光学元件之间配置了中继透镜。

第38项所记载的光拾取器装置是在第37项所记载的光拾取器装置中，以对应对上述第2光信息记录介质进行信息的记录以及/或者再现时的数值孔径NA_D的位置为边界，当将上述中继透镜的光学面分成了靠近光轴的内侧区域和远离光轴的外侧区域时，上述波长为λ2的光束在通过上述内侧区域时和通过上述外侧区域时其发散角不同。

但是，如果光信息记录介质的保护层的厚度不同，则在对各光信息记录介质的信息的记录以及/或者再现时的物镜的倍率相同时，具有不同厚度保护层的光信息记录介质的信息记录面上的会聚光点将产生球差。与之相反，为形成适当的会聚光点，可以在经由不同厚度的保护层进行了聚光时改变其发散角，例如将一方作为无限远光束、另一方作为有限远光束使之入射物光学元件的情况。但是，即使是校正球差也不能同时满足正弦条件。特别是在不满足正弦条件的物光学元件中入射有限远光时、因装配精度的问题或道跟踪等而在物光学元件和其他光学元件之间产生了光轴偏离时，存在产生不可忽视的慧差的可能性。

因此，在本光拾取器装置中，如下这样解决所涉及的问题。如果更为具体地说明本光拾取器装置，则可以参照给出了光拾取器装置的图1，例如，在中继透镜(平行光透镜)115上以对应数值孔径NA_D＝0.65的位置(称之为有效直径)附近为界线设置可使之改变球差的产生量的衍射构造。此时，如果从会聚光学系统整体看，在NA_D的范围内球差为衍射界限以下，在其NA_D所外侧的区域使之产生过度的球差。采用这样的做法，即便是在以有限远光束的状态入射了波长为λ2的光束时，物光学元件(物镜)16也可以校正在垂直于光轴的方向产生了偏移时的慧差。

即，如果没有物光学元件与中继透镜的光轴偏离，则在上述波长为λ2的光束通过了有效直径的外侧时，由于其与会聚光点的内侧无关，特别是即便不对中继透镜进行琢磨也可以适当地进行信息的记录以及/或者再现，与之相反，在两者均存在光轴偏离时，例如，经由中继透镜的有效直径外入射到物光学元件的有效直径内的光束在信息记录面形成显著的像差劣化，妨碍适当的信息的记录以及/或者再现。因此，通过使用上述的中继透镜，可以使通过有效直径外的光束不会聚在信息记录面上，可以使用通过了只重合了物光学元件的有效直径和中继透镜的有效直径的区域的像差劣化少的光束适当地进行信息的记录以及/或者再现。此外，由于波长为λ1的光束作为无限远光束入射物光学元件，故即使是设置如上述那样的中继透镜也不存在对第1光信息记录介质的信息的记录以及/或者再现。

第39项所记载的光拾取器装置是在第38项所记载的光拾取器装置中，由于通过了上述外侧区域的上述波长为λ2的光束的发散角大于通过了上述内侧区域的上述波长为λ2的光束的发散角，故可以更有效地发挥上述效果。

第40项所记载的光拾取器装置是在第37乃至39的任意一项所记载的光拾取器装置中，因上述波长为λ3的光束通过上述中继透镜入射上述光学元件，故可以简洁化光拾取器装置的构成。

第41项所记载的光拾取器装置是在第40项所记载的光拾取器装置中，以对应对上述第3光信息记录介质进行信息的记录以及/或者再现时的数值孔径NA_C的位置为边界，当将上述中继透镜的光学面分成了靠近光轴的内侧区域和远离光轴的外侧区域时，因为如果上述波长为λ3的光束在通过上述内侧区域时和通过上述外侧区域时其发散角不同，故即便是在使波长为λ3的光束以有限远光束入射到物光学元件时也可以进行更为适当的信息的记录以及/或者再现。

第42项所记载的光拾取器装置是在第38乃至41的任意一项所记载的光拾取器装置中，因在上述中继透镜的上述内侧区域和上述外侧区域的至少一个区域上设置了衍射构造，故可以实现上述的作用。

第43项所记载的光拾取器装置是在第37项所记载的光拾取器装置中，因为在以对应对上述第2光信息记录介质进行信息的记录以及/或者再现时的数值孔径NA_D的位置为边界，将上述中继透镜的光学面分成了靠近光轴的内侧区域和远离光轴的外侧区域时，在上述外侧区域施行不使上述波长为λ2的光束通过的二向色涂层，在以对应对上述第2光信息记录介质进行信息的记录以及/或者再现时的数值孔径NA_D的位置为边界，当将上述光学元件的光学面分成了靠近光轴的内侧区域和远离光轴的外侧区域时，在上述外侧区域施行不使上述波长为λ2的光束通过的二向色涂层，故可以使用通过了只重合了对应物光学元件的数值孔径NA_D的有效直径和对应中继透镜的数值孔径NA_D的有效直径的区域的、像差劣化少的光束适当地进行信息的记录以及/或者再现。这里，所谓的“不使光束通过”意味着减少光透过量(包括光透过量为0的情况)到不使之对信息的记录以及/或者再现产生影响的程度。

第44项所记载的光拾取器装置是在第37项所记载的光拾取器装置中，在上述第3光源和上述光学元件之间配置中继透镜，因为在以对应对上述第3光信息记录介质进行信息的记录以及/或者再现时的数值孔径NAC的位置为边界，将上述中继透镜的光学面分成了靠近光轴的内侧区域和远离光轴的外侧区域时，在上述外侧区域施行不使上述波长为λ3的光束通过的二向色涂层，在以对应对上述第3光信息记录介质进行信息的记录以及/或者再现时的数值孔径NAC的位置为边界，将上述光学元件的光学面分成了靠近光轴的内侧区域和远离光轴的外侧区域时，在上述外侧区域施行不使上述波长为λ3的光束通过的二向色涂层，故可以使用通过了只重合了对应物光学元件的数值孔径NAC的有效直径和对应中继透镜的数值孔径NAC的有效直径的区域的、像差劣化少的光束适当地进行信息的记录以及/或者再现。

第45项所记载的中继透镜，用于第37乃至44的任意一项所记载的光拾取器装置中，上述波长为λ1的光束通过上述中继透镜入射到上述光学元件。

第46项所记载的光拾取器装置是在第23乃至44的任意一项所记载的光拾取器装置中，如果在上述波长为λ3的光束的光路上较上述聚光光学系统在光源侧配置对应上述波长为λ3的光束的孔径限制元件，则可以对上述第3光信息记录介质适当地进行信息的记录以及/或者再现。

第47项所记载的光拾取器装置是在第46项所记载的光拾取器装置中，上述孔径限制元件最好是二向色滤光片。

第48项所记载的光拾取器装置是在第46项所记载的光拾取器装置中，上述孔径限制元件最好是二向色棱镜。

第49项所记载的光拾取器装置是在第46项所记载的光拾取器装置中，上述孔径限制元件最好是中继透镜。

第50项所记载的光拾取器装置是在第46项所记载的光拾取器装置中，上述孔径限制元件最好是相位差板。

第51项所记载的光拾取器装置是在第23乃至44、46乃至50项的任意一项所记载的光拾取器装置中，上述光学元件的至少一个光学面具有：为分别对上述第1光信息记录介质、上述第2光信息记录介质以及上述第3光信息记录介质进行记录以及/或者再现，而使自上述第1光源、上述第2光源以及上述第3光源分别照射的波长为λ1、λ2以及λ3的光束通过的第1区域；和为分别对上述第1光信息记录介质以及上述第2光信息记录介质进行记录以及/或者再现，而实施了使自上述第1光源以及上述第2光源分别照射的波长为λ1以及λ2的光束通过、但不使自上述第3光源照射的波长为λ3的光束通过的二向色涂层的第2区域。本光拾取器装置的作用效果与第15项所记载的光拾取器装置相同。

第52项所记载的光拾取器装置是在第51项所记载的光拾取器装置中，不在实施了上述二向色涂层的光学面上设置衍射构造。本光拾取器装置的作用效果与第16项所记载的光拾取器装置相同。

第53项所记载的光拾取器装置是在第23乃至44、46乃至52项的任意一项所记载的光拾取器装置中，如果上述聚光光学系统的至少一个光学面具有：为分别对上述第1光信息记录介质、上述第2光信息记录介质以及上述第3光信息记录介质进行记录以及/或者再现，而使自上述第1光源、上述第2光源以及上述第3光源分别照射的波长为λ1、λ2以及λ3的光束通过的第1区域；和为分别对上述第1光信息记录介质以及上述第2光信息记录介质进行记录以及/或者再现，而实施了使自上述第1光源以及上述第2光源分别照射的波长为λ1以及λ2的光束通过、但不使自上述第3光源照射的波长为λ3的光束通过的二向色涂层的第2区域，则可以对上述第3光信息记录介质适当地进行信息的记录以及/或者再现。

第54项所记载的光拾取器装置是在第23乃至44、46乃至53项的任意一项所记载的光拾取器装置中，上述光学元件的至少一个光学面具有：为分别对上述第1光信息记录介质、上述第2光信息记录介质以及上述第3光信息记录介质进行记录以及/或者再现，而使自上述第1光源、上述第2光源以及上述第3光源分别照射的波长λ1、λ2以及λ3的光束通过的第1区域；和为分别对上述第1光信息记录介质以及上述第2光信息记录介质进行记录以及/或者再现，而使自上述第1光源以及上述第2光源分别照射的波长λ1以及λ2的光束通过并会聚到信息记录面上、但即使使自上述第3光源照射的波长λ3的光束通过也不使之会聚于信息记录面的第2区域，在上述第1区域设置第1衍射构造，在上述第2区域设置第2衍射构造，当取由上述第1衍射构造产生的波长为λ1的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的次数为n1A、由上述第1衍射构造产生的波长为λ2的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的次数为n1D、由上述第2衍射构造产生的波长为λ1的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的次数为n2A、由上述第2衍射构造产生的波长为λ2的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的次数为n2D时，有

n1A:n1D≠n2A:n2D(9)

。本光拾取器装置的作用效果与第17项所记载的光拾取器装置相同。

第55项所记载的光拾取器装置是在第23乃至44、46乃至53项的任意一项所记载的光拾取器装置中，上述光学元件的至少一个光学面具有：为分别对上述第1光信息记录介质、上述第2光信息记录介质以及上述第3光信息记录介质进行记录以及/或者再现；而使自上述第1光源、上述第2光源以及上述第3光源分别照射的波长λ1、λ2以及λ3的光束通过的第1区域；和为分别对上述第1光信息记录介质以及上述第2光信息记录介质进行记录以及/或者再现；而使自上述第1光源以及上述第2光源分别照射的波长λ1以及λ2的光束通过并会聚到信息记录面上、但即使使自上述第3光源照射的波长λ3的光束通过也不使之会聚于信息记录面的第2区域，在上述第1区域设置第1衍射构造，在上述第2区域设置第2衍射构造，当取由上述第1衍射构造产生的波长为λ1的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的次数为n1A、由上述第1衍射构造产生的波长为λ2的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的次数为n1D、由上述第2衍射构造产生的波长为λ1的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的次数为n2A、由上述第2衍射构造产生的波长为λ2的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的次数为n2D时，有

n1A:n1D＝n2A:n2D(10)

，n2A为奇数。本光拾取器装置的作用效果与第18项所记载的光拾取器装置相同。

第56项所记载的光拾取器装置是在第55项所记载的光拾取器装置中，n2A＝5、n2D＝3。本光拾取器装置的作用效果与第19项所记载的光拾取器装置相同。

第57项所记载的光拾取器装置是在第55项所记载的光学元件中，n2A＝3、n2D＝2。本光拾取器装置的作用效果与第20项所记载的光拾取器装置相同。

第58项所记载的光拾取器装置是在第55乃至57之任意一项所记载的光拾取器装置中，由上述第2衍射构造产生的波长为λ3的衍射光中，最大的衍射效率为60％或其以下。本光拾取器装置的作用效果与第20项所记载的光拾取器装置相同。

第59项所记载的光拾取器装置是在第55乃至58之任意一项所记载的光拾取器装置中，对上述波长为λ1的光束进行色校正。本光拾取器装置的作用效果与第22项所记载的光拾取器装置相同。

第60项所记载的光拾取器装置是在第33乃至59之任意一项所记载的光拾取器装置中，如果上述第3光源是全息(ホロ)激光器，则因其是单元化了上述第3光源和光检测器的结构，故可进一步集约化光拾取器装置。

第61项所记载的光拾取器装置是在第33项所记载的光拾取器装置中，如果在上述波长为λ1的光束的光路上配置用于对上述波长为λ1的光束进行色差校正的第1色差校正元件，则可以适当地对上述第1光信息记录介质进行信息的记录以及/或者再现。

第62项所记载的光拾取器装置是在第61项所记载的光拾取器装置中，如果在上述波长为λ2的光束的光路上配置用于对上述波长为λ2的光束进行色差校正的第2色差校正元件，则可以适当地对上述第2光信息记录介质进行信息的记录以及/或者再现。

第63项所记载的光拾取器装置是在第33项所记载的光拾取器装置中，如果在只通过上述波长为λ1的光束的光路上配置用于对上述波长为λ1的光束进行色差校正的第1色差校正元件，在只通过上述波长为λ2的光束的光路上配置用于对上述波长为λ2的光束进行色差校正的第2色差校正元件，则可以适当地对上述第1以及第2光信息记录介质进行信息的记录以及/或者再现。

第64项所记载的光拾取器装置是在第33项所记载的光拾取器装置中，如果在共同通过上述波长为λ1的光束和上述波长为λ2的光束的光路上配置用于对上述波长为λ1的光束进行色差校正的第1色差校正元件，在只通过上述波长为λ2的光束的光路上配置用于对上述波长为λ2的光束进行色差校正的第2色差校正元件，则可以适当地对上述第1以及第2光信息记录介质进行信息的记录以及/或者再现。

第65项所记载的光拾取器装置是在第21或者61乃至64的任意一项所记载的光拾取器装置中，如果在共同通过上述波长为λ1的光束和上述波长为λ2的光束的光路上配置平行光透镜，则可以适当地对上述第1以及第2光信息记录介质进行信息的记录以及/或者再现。

第66项所记载的光拾取器装置是在第65项所记载的光拾取器装置中，如果在通过上述波长为λ1的光束的光路上较上述平行光透镜在光源侧配置用于整形上述波长为λ1的光束的第1光束成形器，则可以适当地对上述第1光信息记录介质进行信息的记录以及/或者再现。

第67项所记载的光拾取器装置是在第66项所记载的光拾取器装置中，如果上述第1光束成形器对上述波长为λ1的光束进行色差校正，则可以在适当地对上述第1光信息记录介质进行信息的记录以及/或者再现的同时，进一步简洁化光拾取器装置的构成。

第68项所记载的光拾取器装置是在第65项所记载的光拾取器装置中，如果在通过上述波长为λ2的光束的光路上较上述平行光透镜在光源侧配置用于整形上述波长为λ2的光束的第2光束成形器，则可以适当地对上述第2光信息记录介质进行信息的记录以及/或者再现。

第69项所记载的光拾取器装置是在第68项所记载的光拾取器装置中，如果上述第2光束成形器对上述波长为λ2的光束进行色差校正，则可以在适当地对上述第2光信息记录介质进行信息的记录以及/或者再现的同时，进一步简洁化光拾取器装置的构成。

第70项所记载的光拾取器装置是在第65项所记载的光拾取器装置中，如果在共同通过上述波长为λ1的光束和上述波长为λ2的光束的光路上较上述平行光透镜在光源侧配置用于整形上述波长为λ1的光束或者整形上述波长为λ2的光束的光束成形器，则可以适当地对上述第1以及上述第2光信息记录介质进行信息的记录以及/或者再现。

第71项所记载的光拾取器装置是在第65乃至70的任意一项所记载的光拾取器装置中，如果上述平行光透镜的硝材是塑料，则可以以低成本进行生产。

第72项所记载的光拾取器装置是在第65项所记载的光拾取器装置中，如果在共同通过上述波长为λ1的光束和上述波长为λ2的光束的光路上上述平行光透镜和上述聚光光学系统之间配置用于整形上述波长为λ1的光束或者整形上述波长为λ2的光束的光束整形棱镜，则可以适当地对上述第1以及上述第2光信息记录介质进行信息的记录以及/或者再现。

第73项所记载的光拾取器装置是在第72项所记载的光拾取器装置中，如果上述平行光透镜的硝材是玻璃，则可以获得优异的光学特性。

第74项所记载的光拾取器装置是在第33、61乃至63之任意一项所记载的光拾取器装置中，如果在只通过上述波长为λ1的光束的光路上配置第1平行光透镜，在只通过上述波长为λ2的光束的光路上配置第2平行光透镜，则可以适当地对上述第1以及第2光信息记录介质进行信息的记录以及/或者再现。

第75项所记载的光拾取器装置是在第74项所记载的光拾取器装置中，如果上述第1平行光透镜和上述第2平行光透镜中至少一方平行光透镜的硝材是塑料，则可以以低成本进行生产。

第76项所记载的光拾取器装置是在第75项所记载的光拾取器装置中，如果以塑料为硝材的上述至少一方的平行光透镜是色差校正元件，则可以适当地对上述第1以及/或者第2光信息记录介质进行信息的记录以及/或者再现。

第77项所记载的光拾取器装置是在第74项所记载的光拾取器装置中，如果在通过上述波长为λ1的光束的光路上较上述第1平行光透镜在光源侧配置用于整形上述波长为λ1的光束的第1光束成形器，则可以适当地对上述第1光信息记录介质进行信息的记录以及/或者再现。

第78项所记载的光拾取器装置是在第77项所记载的光拾取器装置中，如果上述第1光束成形器是上述第1色差校正元件，则可以在适当地对上述第1光信息记录介质进行信息的记录以及/或者再现的同时，进一步简洁化光拾取器装置的构成。

第79项所记载的光拾取器装置是在第78项所记载的光拾取器装置中，如果在通过上述波长为λ2的光束的光路上较上述平行光透镜在光源侧配置用于整形上述波长为λ2的光束的第2光束成形器，则可以适当地对上述第2光信息记录介质进行信息的记录以及/或者再现。

第80项所记载的光拾取器装置是在第79项所记载的光拾取器装置中，如果上述第2光束成形器是上述第2色差校正元件，则可以在适当地对上述第2光信息记录介质进行信息的记录以及/或者再现的同时，进一步简洁化光拾取器装置的构成。

第81项所记载的光拾取器装置是在第74项所记载的光拾取器装置中，如果在上述波长为λ1的光束的光路上，在上述第1平行光透镜和上述聚光光学系统之间配置用于整形上述波长为λ1的光束的第1整形棱镜，则可以适当地对上述第1光信息记录介质进行信息的记录以及/或者再现。

第82项所记载的光拾取器装置是在第81项所记载的光拾取器装置中，如果在上述波长为λ2的光束的光路上，在上述第2平行光透镜和上述聚光光学系统之间配置用于整形上述波长为λ2的光束的第2整形棱镜，则可以适当地对上述第2光信息记录介质进行信息的记录以及/或者再现。

第83项所记载的光拾取器装置是在第37乃至82之任意一项所记载的光拾取器装置中，上述光学元件最好是物镜(即物光学元件)。

本说明书中使用的所谓“色差校正”，指的是在波长发生了变化时抑制由物光学元件导致的光轴方向的会聚光点位置(会聚光点的波面像差为最小的位置)的变动，其结果波长变动前的会聚光点位置(会聚光点的波面像差为最小的位置)的波长变动后的波面像差被抑制在可对光信息记录介质进行信息的记录以及/或者再现的范围内。

本说明书中，如图1所示的那样，所谓的“使球差不足”是在以近轴像点位置为原点的球差中，将较近轴像点在物点侧与光轴相交的情况定义为“使之不足(under)”。这里，称较近轴像点在像点侧与光轴相交的情况称为“使之超过(over)”。

本说明书中使用的所谓“衍射构造”，指的是在光学元件的表面设置起伏并具有通过衍射会聚光束或者使之发散作用的部分。作为起伏的形状，众所周知的有形成以光轴为中心的近似同心圆状的环带，如果在包含光轴的平面观察其断面则各环带呈锯齿那样的形状，衍射构造是包括这样的形状的构造，并特别地将这样的形状称之为“衍射环带”。

在本说明书中，所谓物光学元件，狭义地讲，指的是在光拾取器装置装填了光信息记录介质的状态下，在最靠近光信息记录介质侧的位置与之对峙配置的具有聚光作用的透镜(例如物镜)，广义言之，指的是至少可通过调节器与该透镜同时在其光轴方向动作的透镜。因而，在本说明书中，所谓的光学元件的光信息记录介质侧(像侧)的数值孔径NA指的是位于光学元件的最靠近光信息记录介质侧的面的数值孔径NA。另外，在本说明书中，需要数值孔径NA表示按各种各样的光信息记录介质的标准规定的数值孔径；或者相对于各种各样的光信息记录介质，对应所使用的光源的波长，为进行信息的记录或者再现而能够得到所需要的光点直径的衍射极限性能的物镜的数值孔径。

在本说明书中，所谓第1光信息记录介质指的是例如高密度DVD系列的光盘，所谓第2光信息记录介质是包括除了专用于再现的DVD-ROM、DVD-Video之外的、兼着再现/记录的DVD-RAM、DVD-R、DVD-RW等各种DVD系列的光盘。而所谓第3光信息记录介质则是指CD-R、CD-RW等CD系列的光盘。

下面参照图面进一步详细说明本发明。图2所示是可以对高密度DVD(也称之为第1光盘)、以往DVD(也称之为第2光盘)以及CD(也称之为第3光盘)所有光盘进行信息的记录/再现的、第1实施形态所涉及的光信息记录再现装置或者光拾取器装置的概略构成图。这里，在本实施形态中，在同一块基板上邻接配置了第1半导体激光器111和第2半导体激光器222，构成所谓的诸如2激光器1封装的单元光源，对应着第11项、第33项所记载的光拾取器装置。

图2中，自作为第1光源的第1半导体激光器111(波长λ1＝380nm～450nm)出射的光束在透过1/4波长片113以及第1光束分离器114并被平行光透镜115变换成了平行光束后，通过第2光束分离器116并进一步受到光阑17限光，再由作为聚光光学元件的物镜16经由第1光盘20的保护层21(厚度t1＝0.5～0.7mm，最好为0.6mm)会聚到信息记录面22上。

进而，在信息记录面22受到信息凹坑调制后反射的光束再次透过物镜16、光阑17，通过第2光束分离器116、平行光透镜115入射到第1光束分离器114并在此被反射，再由柱透镜117赋予像散性像差，经由凹透镜118入射到光检测器119上，利用光检测器的输出信号可以获得作为信息记录在第1光盘20上的信息的读取信号。

同时，检测由光检测器119上的光点的形状变化、位置变化导致的光通量变化并进行对焦检测或光道检测。二维调节器(没有图示)基于该检测移动物镜16以使来自第1半导体激光器111的光束能够成像在第1光盘20的记录面22上，同时也移动物镜16以使来自半导体激光器111的光束成像在规定的光道上。

另一方面，自作为第2光源的第2半导体激光器112(波长λ2＝600nm～700nm)出射的光束在透过1/4波长片113以及第1光束分离器114并被平行光透镜115变换成了平行光束后，通过第2光束分离器116并进一步受到光阑17限光，再由作为聚光光学元件的物镜16经由第2光盘20的保护层21(厚度t2＝0.5～0.7mm，最好为0.6mm)会聚到信息记录面22上。

进而，在信息记录面22受到信息凹坑调制后反射的光束再次透过物镜16、光阑17，通过第2光束分离器116、平行光透镜115入射到第1光束分离器114并在此被反射，再由柱透镜117赋予像散性像差，经由凹透镜118入射到光检测器119上，利用光检测器的输出信号可以获得作为信息记录在第2光盘20上的信息的读取信号。

同时，检测由光检测器119上的光点的形状变化、位置变化导致的光通量变化并进行对焦检测或光道检测。二维调节器(没有图示)基于该检测移动物镜16以使来自第2半导体激光器112的光束能够成像在第2光盘20的记录面22上，同时也移动物镜16以使来自半导体激光器112的光束成像在规定的光道上。

自作为第3光源的第3半导体激光器121(波长λ3＝700nm～800nm)出射的光束在透过1/4波长片123以及第3光束分离器124并被作为校正元件的平行光透镜125变换成了平行光束后，通过第2光束分离器116并进一步被光阑17限光，再由作为聚光光学元件的物镜16经由第3光盘20的保护层21(厚度t3＝1.1～1.3mm，最好为1.2mm)会聚到信息记录面22上。

进而，在信息记录面22受到信息凹坑调制后反射的光束再次透过物镜16、光阑17，入射到第2光束分离器116并在此处反射，再通过平行光透镜125入射到第3光束分离器124并进一步被反射，然后由柱透镜127赋予像散性像差，经由凹透镜128入射到光检测器129上，利用光检测器的输出信号可以获得作为信息记录在第3光盘20上的信息的读取信号。

同时，检测由光检测器129上的光点的形状变化、位置变化所导致的光通量变化并进行对焦检测或光道检测。二维调节器(没有图示)基于该检测移动物镜16以使来自第3半导体激光器121的光束能够成像在第3光盘20的记录面22上，同时也移动物镜16以使来自半导体激光器121的光束成像在规定的光道上。

这里，虽然在以上的实施形态中将第1光源和第2光源配置在了同一基板上，但不一定只限于此，既可以在同一基板上配置第2光源和第3光源，也可以不在同一基板上配置第1光源、第2光源以及第3光源而在不同的位置上进行配置。

图3所示是可以对高密度DVD(也称之为第1光盘)、以往DVD(也称之为第2光盘)以及CD(也称之为第3光盘)所有光盘进行信息的记录/再现的、第2实施形态所涉及的光信息记录再现装置或者光拾取器装置的概略构成图。

图3中，自作为第1光源的第1半导体激光器AL(波长λ1＝

380nm～450nm)出射的光束被1/4波长片HF反射，通过第1光束分离器BS1并在被塑料制平行光透镜PLCL变换成了平行光束后，进而通过第2光束分离器BS2，由作为聚光光学元件的物镜OBL经由第1光盘DSK的保护层TL(厚度t1＝0.5～0.7mm，最好为0.6mm)会聚到信息记录面RP上。

进而，在信息记录面RP受到信息凹坑调制后反射的光束再次透过物镜OBL，通过第2光束分离器BS2、平行光透镜GLCL、第1光束分离器BS1，进而通过1/4波长片HF入射到第1光源用的光检测器AS上，利用光检测器的输出信号可以获得作为信息记录在第1光盘DSK上的信息的读取信号。

同时，检测由光检测器AS上的光点的形状变化、位置变化导致的光通量变化并进行对焦检测或光道检测。二维调节器(没有图示)基于该检测移动物镜OBL以使来自第1半导体激光器AL的光束能够成像在第1光盘DSK的记录面RP上，同时也移动物镜OBL以使来自半导体激光器AL的光束成像在规定的光道上。

另一方面，自作为第2光源也是作为全息(ホロ)激光器的第2半导体激光器DHL(波长λ2＝600nm～700nm)出射的光束被第1光束分离器BS1反射，并在被塑料制的平行光透镜PLCL变换成了平行光束后，进而通过第2光束分离器BS2由作为聚光光学元件的物镜OBL经由第2光盘DSK的保护层TL(厚度t2＝0.5～0.7mm，最好为0.6mm)会聚到信息记录面RP上。

进而，在信息记录面RP受到信息凹坑调制后反射的光束再次透过物镜OBL、通过第2光束分离器BS2、平行光透镜PLCL并被第1光束分离器BS1反射，入射到第2半导体激光器DHL内的光检测器(没有图示)上，利用光检测器的输出信号可以获得作为信息记录在第2光盘DSK上的信息的读取信号。

同时，检测由该光检测器上的光点的形状变化、位置变化导致的光通量变化并进行对焦检测或光道检测。二维调节器(没有图示)基于该检测移动物镜OBL以使来自第2半导体激光器DHL的光束能够成像在第2光盘DSK的记录面RP上，同时也移动物镜OBL以使来自半导体激光器DHL的光束成像在规定的光道上。

自作为第3光源也作为全息(ホロ)激光器的第3半导体激光器CHL(波长λ3＝700nm～800nm)出射的光束通过中继透镜CPL被第2光束分离器BS2反射，并以限制发散的状态入射作为聚光光学元件的物镜OBL，由此经由第3光盘DSK的保护层TL(厚度t3＝1.1～1.3mm，最好为1.2mm)会聚到信息记录面RP上。

进而，在信息记录面RP受到信息凹坑调制后反射的光束再次透过物镜OBL、入射到第2光束分离器BS2并在此处反射，经中继透镜CPL聚光入射到第3半导体激光器CHL内的光检测器(没有图示)上，利用其输出信号可以获得作为信息记录在第3光盘DSK上的信息的读取信号。

同时，检测因该光检测器上的光点的形状变化、位置变化所导致的光通量变化并进行对焦检测或光道检测。二维调节器(没有图示)基于该检测移动物镜OBL以使来自第3半导体激光器CHL的光束能够成像在第3光盘DSK的记录面RP上，同时也移动物镜OBL以使来自半导体激光器CHL的光束成像在规定的光道上。

在本实施形态中，通过将带有对应了可以适当地在第3光盘DSK的信息记录面RP进行信息的记录以及/或者再现的数值孔径的圆形非膜部(没有形成以光轴为中心的膜的圆形区域)的遮光膜赋予到中继透镜CPL的光学面上，可以只经由圆形非膜部使波长为λ3的光束通过，从而将中继透镜CPL作为孔径限制元件使用(参照第46项、第49项)。

这里，作为变形例，也可以代替在中继透镜CPL上设置遮光膜，例如，作为孔径限制元件，在第2光束分离器BS2与物镜OBL之间设置配备了带有对应了可以适当地在第3光盘DSK的信息记录面RP进行信息的记录以及/或者再现的数值孔径的圆形非膜部的二向色涂层的二向色滤光片。此时，二向色涂层起着可以只阻止来自第3半导体激光器CHL的波长为λ3的光束通过的作用(参照第47项)。

进而，作为另外的变形例，也可以代替在中继透镜CPL上设置遮光膜，例如，在波长为λ3的光路内，作为孔径限制元件，设置形成了带有对应了可以适当地在第3光盘DSK的信息记录面RP进行信息的记录以及/或者再现的数值孔径的圆形非膜部的二向色涂层的二向色棱镜。此时，二向色涂层起着可以只阻止来自第3半导体激光器CHL的波长为λ3的光束通过的作用(参照第51项)。

此外，作为其他的变形例，也可以代替在中继透镜CPL上设置遮光膜，例如，在物镜OBL的光学面上形成带有对应了可以适当地在第3光盘DSK的信息记录面RP进行信息的记录以及/或者再现的数值孔径的圆形非膜部的二向色涂层。此时，带有二向色涂层的区域只阻止来自第3半导体激光器CHL的波长为λ3的光束通过，故其是作为第2区域发挥作用，而圆形非膜部则作为第1区域而发挥作用(参照第50项)。此时，在具有二向色涂层的区域不设置衍射构造(参照第51项)。

在本实施形态中，在物镜OBL的圆形非膜部设置衍射构造对来自上述第1半导体激光器AL的光束以及来自上述第2半导体激光器DHL的光束进行色差校正(参照第37、38项)。即，物镜OBL构成第1色差校正元件或第2色差校正元件。这里，作为其变形例，也可以代替在物镜OBL的圆形非膜部设置衍射构造在与之对应的平行光透镜PLCL的区域设置具备了同样的色差功能的衍射构造。此外，作为另外的变形例，也可以代替将第2半导体激光器DHL作为全息(ホロ)激光器，不只是用光检测器AS检测来自半导体激光器AL的波长为λ1的光束的反射光，也检测来自第2半导体激光器DHL的波长为λ2的光束的反射光。这里，虽然在本实施形态中没有进行光束整形，但作为变形例，可以通过较共同通过波长为λ1的光束和波长为λ2的光束的平行光透镜PLCL在光源侧配置光束成形器对波长为λ1的光束或波长为λ2的光束进行整形(参照第64项、第66项)。此外，也可以使平行光透镜PLCL具有光束整形的功能。这里，所谓的光束成形器，指的是具有如整形入射断面形状为椭圆的光束使之出射断面形状为圆形的光束这样的功能的光学元件。

这里，作为其他的变形例，也可以代替设置二向色涂层，如在物镜OBL的光学面上对应了可以适当地在第3光盘DSK的信息记录面RP进行信息的记录以及/或者再现的数值孔径的区域(第2区域)设置第2衍射构造。此时，物镜OBL的光学面具有为分别对第1光盘、第2光盘以及第3光盘进行记录以及/或者再现而使自第1半导体激光器AL、第2半导体激光器DHL以及第3半导体激光器CHL分别照射的波长λ1、λ2以及λ3的光束通过的第1区域和为分别对上述第1光盘以及上述第2光盘进行记录以及/或者再现而使自上述第1半导体激光器AL以及上述第2半导体激光器DHL分别照射的波长λ1以及λ2的光束通过，但即使自上述第3光源照射的波长λ3的光束通过也不使之会聚于信息记录面的第2区域，在上述第1区域设置第1衍射构造，在上述第2区域设置第2衍射构造，当取由上述第1衍射构造产生的波长为λ1的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的次数为n1A、由上述第1衍射构造产生的波长为λ2的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的次数为n1D、由上述第2衍射构造产生的波长为λ1的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的次数为n2A、由上述第2衍射构造产生的波长为λ2的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的次数为n2D时，有

n1A:n1D＝n2A:n2D(10)

，n2A为奇数(参照第18项)。另外，此时，最好是n2A＝5、n2D＝3(参照第19项)，或者n2A＝3、n2D＝2(参照第20项)。进而，由第2衍射构造产生的波长为λ3的衍射光中，最大的衍射效率为60％或其以下(参照第21项)。

这里，如果n1A:n1D≠n2A:n2D，则n2A不限于是奇数(参照第17项)。

图4所示是可以对高密度DVD(也称之为第1光盘)、以往DVD(也称之为第2光盘)以及CD(也称之为第3光盘)所有光盘进行信息的记录/再现的、第3实施形态所涉及的光信息记录再现装置或者光拾取器装置的概略构成图。这里，在本实施形态中，由于对应于图3的实施形态，只是在第2半导体激光器DHL和第1光束分离器BS1之间(只通过波长为λ2的光束的光路上)配置了具备可以对来自第2半导体激光器DHL的波长为λ2的光束进行像差校正的衍射构造的色差校正光学元件DSE这一点上不同，关于其他的点，因其与图3的实施形态(包括变形例)相同，故省略其说明。在此，可以在位于共同通过波长为λ1的光束以及波长为λ2的光束的光路上的物镜OBL或者平行光透镜PLCL上设置衍射构造，校正来自上述第1半导体激光器AL的光束的色差(参照第59项、第61项)。此外，也可以利用物镜OBL的衍射构造对来自第2半导体激光器DHL的光束进行色差校正，利用平行光透镜PLCL的衍射构造对来自上述第1半导体激光器AL的光束进行色差校正。

图5所示是可以对高密度DVD(也称之为第1光盘)、以往DVD(也称之为第2光盘)以及CD(也称之为第3光盘)所有光盘进行信息的记录/再现的、第4实施形态所涉及的光信息记录再现装置或者光拾取器装置的概略构成图。

图5中，自作为第1光源的第1半导体激光器AL(波长λ1＝380nm～450nm)出射的光束通过第1光束分离器BS1，并在被模压玻璃制的平行光透镜GMCL变换成了平行光束后，入射光束整形棱镜BSP整形光束，进而通过棱镜P、第2光束分离器BS2，由作为聚光光学元件的物镜OBL经由第1光盘DSK的保护层TL(厚度t1＝0.5～0.7mm，最好为0.6mm)会聚到信息记录面RP上。

进而，在信息记录面RP受到信息凹坑调制后反射的光束再次透过物镜OBL，通过第2光束分离器BS2，被棱镜P反射，进而通过1/4波长片HF入射到光检测器ADS上，利用其输出信号可以获得作为信息记录在第1光盘DSK上的信息的读取信号。

同时，检测由光检测器ADS上的光点的形状变化、位置变化导致的光通量变化并进行对焦检测或光道检测。二维调节器(没有图示)基于该检测移动物镜OBL以使来自第1半导体激光器AL的光束能够成像在第1光盘DSK的记录面RP上，同时也移动物镜OBL以使来自半导体激光器AL的光束成像在规定的光道上。

另一方面，自作为第2光源的第2半导体激光器DL(波长λ2＝600nm～700nm)出射的光束被第1光束分离器BS1反射，并在被平行光透镜GMCL变换成了平行光束后，进而在通过光束整形棱镜BSP时被整形，然后通过第2光束分离器BS2，由作为聚光光学元件的物镜OBL经由第2光盘DSK的保护层TL(厚度t2＝0.5～0.7mm，最好为0.6mm)会聚到信息记录面RP上。

进而，在信息记录面RP受到信息凹坑调制后反射的光束再次透过物镜OBL、通过第2光束分离器BS2，被棱镜P反射，进而通过1/4波长片HF入射到光检测器ADS上，利用其输出信号可以获得作为信息记录在第2光盘DSK上的信息的读取信号。

同时，检测由该光检测器ADS上的光点的形状变化、位置变化导致的光通量变化并进行对焦检测或光道检测。二维调节器(没有图示)基于该检测移动物镜OBL，以使来自第2半导体激光器DL的光束能够成像在第2光盘DSK的记录面RP上，同时也移动物镜OBL，以使来自半导体激光器DL的光束成像在规定的光道上。

自作为第3光源也是作为全息(ホロ)激光器的第3半导体激光器CHL(波长λ3＝700nm～800nm)出射的光束通过中继透镜CPL并被第2光束分离器BS2反射，以限制发散的状态入射作为聚光光学元件的物镜OBL，由此，经由第3光盘DSK的保护层TL(厚度t3＝1.1～1.3mm，最好为1.2mm)会聚到信息记录面RP上。

进而，在信息记录面RP受到信息凹坑调制反射的光束再次透过物镜OBL、入射到第2光束分离器BS2并在此处反射，经中继透镜CPL聚光入射到第3半导体激光器CHL内的光检测器(没有图示)上，利用其输出信号可以获得作为信息记录在第3光盘DSK上的信息的读取信号。

同时，检测因该光检测器上的光点的形状变化、位置变化所导致的光通量变化并进行对焦检测或光道检测。二维调节器(没有图示)基于该检测移动物镜OBL以使来自第3半导体激光器CHL的光束能够成像在第3光盘DSK的记录面RP上，同时也移动物镜OBL以使来自半导体激光器CHL的光束成像在规定的光道上。

在本实施形态中，通过将带有对应了可以适当地在第3光盘DSK的信息记录面RP进行信息的记录以及/或者再现的数值孔径的圆形非膜部(没有形成以光轴为中心的膜的圆形区域)的遮光膜赋予到中继透镜CPL的光学面上，可以只经由圆形非膜部使波长为λ3的光束通过，从而将中继透镜CPL作为孔径限制元件使用(参照第48项、第51项)。

这里，作为变形例，也可以代替在中继透镜CPL上设置遮光膜，例如，作为孔径限制元件，在第2光束分离器BS2与物镜OBL之间设置配备了带有对应了可以适当地在第3光盘DSK的信息记录面RP进行信息的记录以及/或者再现的数值孔径的圆形非膜部的二向色涂层的二向色滤光片。此时，二向色涂层起着可以只阻止来自第3半导体激光器CHL的波长为λ3的光束通过的作用(参照第49项)。

进而，作为另外的变形例，也可以代替在中继透镜CPL上设置遮光膜，例如，在波长为λ3的光路内，作为孔径限制元件，设置形成了带有对应了可以适当地在第3光盘DSK的信息记录面RP进行信息的记录以及/或者再现的数值孔径的圆形非膜部的二向色涂层的二向色棱镜。此时，二向色涂层起着可以只阻止来自第3半导体激光器CHL的波长为λ3的光束通过的作用(参照第50项)。

此外，作为其他的变形例，也可以代替在中继透镜CPL上设置遮光膜，例如，在物镜OBL的光学面上形成带有对应了可以适当地在第3光盘DSK的信息记录面RP进行信息的记录以及/或者再现的数值孔径的圆形非膜部的二向色涂层。此时，带有二向色涂层的区域只阻止来自第3半导体激光器CHL的波长为λ3的光束通过，故其作为第2区域发挥作用，而圆形非膜部则作为第1区域而发挥作用(参照第51项)。该场合，在具有二向色涂层的区域不设置衍射构造(参照第52项)。

在本实施形态中，在物镜OBL的圆形非膜部设置衍射构造对来自上述第1半导体激光器AL的光束以及来自上述第2半导体激光器DL的光束进行色差校正(参照第64项)。即，物镜OBL构成第1色差校正元件或第2色差校正元件。这里，作为其变形例，也可以代替在物镜OBL的圆形非膜部设置衍射构造而在与之对应的平行光透镜GMCL的区域设置具备了同样的色差功能的衍射构造。进而，在本实施形态中，通过在共同通过波长为λ1的光束和波长为λ2的光束的光路上平行光透镜GMCL和物镜OBL之间配置光束整形棱镜BSP，进行来自第1半导体激光器AL的光束和来自第2半导体激光器DL的光束的光束整形(参照第66项)。

图6所示是可以对高密度DVD(也称之为第1光盘)、以往DVD(也称之为第2光盘)以及CD(也称之为第3光盘)所有光盘进行信息的记录/再现的、第5实施形态所涉及的光信息记录再现装置或者光拾取器装置的概略构成图。

图6中，自作为第1光源的第1半导体激光器AL(波长λ1＝380nm～450nm)出射的光束通过第1光束分离器BS1，被光束成形器BSE整形并通过第3光束分离器BS3，在被塑料制平行光透镜PLCL变换成了平行光束后，进而通过第2光束分离器BS2，入射到作为聚光光学元件的物镜OBL，由此经由第1光盘DSK的保护层TL(厚度t1＝0.5～0.7mm，最好为0.6mm)会聚到信息记录面RP上。

进而，在信息记录面RP受到信息凹坑调制后反射的光束再次透过物镜OBL，通过第2光束分离器BS2、平行光透镜PLCL，在第3光束分离器BS3处被反射，进而通过1/4波长片HF入射到光检测器ADS上，利用其输出信号可以获得作为信息记录在第1光盘DSK上的信息的读取信号。

同时，检测由光检测器ADS上的光点的形状变化、位置变化导致的光通量变化并进行对焦检测或光道检测。二维调节器(没有图示)基于该检测移动物镜OBL以使来自第1半导体激光器AL的光束能够成像在第1光盘DSK的记录面RP上，同时也移动物镜OBL以使来自半导体激光器AL的光束成像在规定的光道上。

另一方面，自作为第2光源的第2半导体激光器DL(波长λ2＝600nm～700nm)出射的光束被第1光束分离器BS1反射并被光束成形器BSE进行光束整形，进而通过第3光束分离器BS3，在被塑料制平行光透镜PLCL变换成了平行光束后，通过第2光束分离器BS2入射到作为聚光光学元件的物镜OBL，由此经由第2光盘DSK的保护层TL(厚度t2＝0.5～0.7mm，最好为0.6mm)会聚到信息记录面RP上。

进而，在信息记录面RP受到信息凹坑调制后反射的光束再次透过物镜OBL、通过第2光束分离器BS2、平行光透镜PLCL，在第3光束分离器BS3处被反射，进而通过1/4波长片HF入射到光检测器ADS上，利用其输出信号可以获得作为信息记录在第2光盘DSK上的信息的读取信号。

同时，检测由该光检测器ADS上的光点的形状变化、位置变化导致的光通量变化并进行对焦检测或光道检测。二维调节器(没有图示)基于该检测移动物镜OBL，以使来自第2半导体激光器DL的光束能够成像在第2光盘DSK的记录面RP上，同时也移动物镜OBL，以使来自半导体激光器DL的光束成像在规定的光道上。

自作为第3光源也作为全息(ホロ)激光器的第3半导体激光器CHL(波长λ3＝700nm～800nm)出射的光束通过中继透镜CPL并被第2光束分离器BS2反射，以限制发散的状态入射作为聚光光学元件的物镜OBL，由此，经由第3光盘DSK的保护层TL(厚度t3＝1.1～1.3mm，最好为1.2mm)会聚到信息记录面RP上。

进而，在信息记录面RP受到信息凹坑调制后反射的光束再次透过物镜OBL、入射到第2光束分离器BS2并在此处反射，经中继透镜CPL聚光入射到第3半导体激光器CHL内的光检测器(没有图示)上，利用其输出信号可以获得作为信息记录在第3光盘DSK上的信息的读取信号。

同时，检测因该光检测器上的光点的形状变化、位置变化所导致的光通量变化并进行对焦检测或光道检测。二维调节器(没有图示)基于该检测移动物镜OBL以使来自第3半导体激光器CHL的光束能够成像在第3光盘DSK的记录面RP上，同时也移动物镜OBL以使来自半导体激光器CHL的光束成像在规定的光道上。

在本实施形态中，通过将带有对应了可以适当地在第3光盘DSK的信息记录面RP进行信息的记录以及/或者再现的数值孔径的圆形非膜部(没有形成以光轴为中心的膜的圆形区域)的遮光膜赋予到中继透镜CPL的光学面上，可以只经由圆形非膜部使波长为λ3的光束通过，从而将中继透镜CPL作为孔径限制元件使用。

这里，作为变形例，也可以代替在中继透镜CPL上设置遮光膜，例如，作为孔径限制元件，在第2光束分离器BS2与物镜OBL之间设置配备了带有对应了可以适当地在第3光盘DSK的信息记录面RP进行信息的记录以及/或者再现的数值孔径的圆形非膜部的二向色涂层的二向色滤光片。此时，二向色涂层起着可以只阻止来自第3半导体激光器CHL的波长为λ3的光束通过的作用。

进而，作为另外的变形例，也可以代替在中继透镜CPL上设置遮光膜，例如，在波长为λ3的光路内，作为孔径限制元件，设置形成了带有对应了可以适当地在第3光盘DSK的信息记录面RP进行信息的记录以及/或者再现的数值孔径的圆形非膜部的二向色涂层的二向色棱镜。此时，二向色涂层起着可以只阻止来自第3半导体激光器CHL的波长为λ3的光束通过的作用。

此外，作为其他的变形例，也可以代替在中继透镜CPL上设置遮光膜，例如，在物镜OBL的光学面上形成带有对应了可以适当地在第3光盘DSK的信息记录面RP进行信息的记录以及/或者再现的数值孔径的圆形非膜部的二向色涂层。此时，带有二向色涂层的区域只阻止来自第3半导体激光器CHL的波长为λ3的光束通过，故其作为第2区域发挥作用，而圆形非膜部则作为第1区域发挥作用。该场合，在具有二向色涂层的区域不设置衍射构造。

在本实施形态中，在物镜OBL的圆形非膜部设置衍射构造，对来自上述第1半导体激光器AL的光束以及来自上述第2半导体激光器DL的光束进行色差校正。即，物镜OBL构成第1色差校正元件以及第2色差校正元件。这里，作为其变形例，也可以代替在物镜OBL的圆形非膜部设置衍射构造而在与之对应的平行光透镜PLCL或者光束成形器BSE的区域设置具备了同样的色差功能的衍射构造。

进而，在本实施形态中，通过在共同通过波长为λ1的光束和波长为λ2的光束的光路上较平行光透镜PLCL在光源侧配置光束成形器BSE，进行来自第1半导体激光器AL的光束和来自第2半导体激光器DL的光束的光束整形。

图7所示是可以对高密度DVD(也称之为第1光盘)、以往DVD(也称之为第2光盘)以及CD(也称之为第3光盘)所有光盘进行信息的记录/再现的、第6实施形态所涉及的光信息记录再现装置或者光拾取器装置的概略构成图。这里，在本实施形态中，由于对应于图6的实施形态，只是在第2半导体激光器DHL和第1光束分离器BS1之间(只通过波长为λ2的光束的光路上)配置了光束成形器BSE这一点上不同，故关于其他的点，因其与图6的实施形态(包括变形例)相同，故省略其说明。虽然在本实施形态中只对波长为λ1的光束进行了光束整形，但作为其变形例，如果在第1光束分离器BS1和第2半导体激光器DL之间配置第2光束成形器(没有图示)，则也可以对波长为λ2的光束进行光束整形。

图8所示是可以对高密度DVD(也称之为第1光盘)、以往DVD(也称之为第2光盘)以及CD(也称之为第3光盘)所有光盘进行信息的记录/再现的、第7实施形态所涉及的光信息记录再现装置或者光拾取器装置的概略构成图。在本实施形态中，由于对应于图3的实施形态，只是废除共同的平行光透镜而在第1半导体激光器AL和第1光束分离器BS1之间配置了来自第1光源的光束专用的塑料制的第1平行光透镜APLCL、在第2半导体激光器DHL和第1光束分离器BS1之间配置了来自第2光源的光束专用的塑料制的第2平行光透镜DPLCL这一点上不同。由此，可以实现在只通过波长为λ1的光束的第1平行光透镜APLCL上设置衍射构造，对波长为λ1的光束进行色差校正，在只通过波长为λ2的光束的第2平行光透镜DPLCL上设置衍射构造，对波长为λ2的光束进行色差校正(参照第62、63、64项)。这里，分别在波长为λ1的光束专用的平行光透镜和波长为λ2的光束专用的平行光透镜上设置这样的色差校正用的衍射构造的做法也适用于后述的图9～图13的实施形态。关于其他点，因其与图3的实施形态(包括变形例)相同，故省略其说明。

图9所示是可以对高密度DVD(也称之为第1光盘)、以往DVD(也称之为第2光盘)以及CD(也称之为第3光盘)所有光盘进行信息的记录/再现的、第8实施形态所涉及的光信息记录再现装置或者光拾取器装置的概略构成图。这里，在本实施形态中，由于对应于图8的实施形态，只是在波长为λ2的光束专用的塑料制平行光透镜DPLCL上设置衍射构造以便对波长为λ2的光束进行色差校正这一点不同。此时，最好能够在物镜OBL上设置衍射构造对波长为λ1的光束进行色差校正。关于其他点，因其与图3或者图8的实施形态(包括变形例)相同，故省略其说明。

图10所示是可以对高密度DVD(也称之为第1光盘)、以往DVD(也称之为第2光盘)以及CD(也称之为第3光盘)所有光盘进行信息的记录/再现的、第9实施形态所涉及的光信息记录再现装置或者光拾取器装置的概略构成图。

图10中，自作为第1光源的第1半导体激光器AL(波长λ1＝380nm～450nm)出射的光束被模压玻璃制的平行光透镜AGMCL变换成了平行光束后，在第1光束整形棱镜BSP处受到光束整形(参照第72项)，进而通过棱镜P、第1光束分离器BS1、第2光束分离器BS2，入射到作为聚光光学元件的物镜OBL，由此，经由第1光盘DSK的保护层TL(厚度t1＝0.5～0.7mm，最好为0.6mm)会聚到信息记录面RP上。

进而，在信息记录面RP受到信息凹坑调制后反射的光束再次透过物镜OBL，通过第2光束分离器BS2，在第1光束分离器BS1处被反射，进而通过1/4波长片HF入射到光检测器AS上，利用其输出信号可以获得作为信息记录在第1光盘DSK上的信息的读取信号。

同时，检测由光检测器AS上的光点的形状变化、位置变化导致的光通量变化并进行对焦检测或光道检测。二维调节器(没有图示)基于该检测移动物镜OBL以使来自第1半导体激光器AL的光束能够成像在第1光盘DSK的记录面RP上，同时也移动物镜OBL以使来自半导体激光器AL的光束成像在规定的光道上。

另一方面，自作为第2光源也是全息(ホロ)激光器的第2半导体激光器DHL(波长λ2＝600nm～700nm)出射的光束被塑料制的第2平行光透镜DPLCL变换成了平行光束后，又在棱镜P处被反射，进而通过第1光束分离器BS1、第2光束分离器BS2，入射到作为聚光光学元件的物镜OBL，在此经由第2光盘DSK的保护层TL(厚度t2＝0.5～0.7mm，最好为0.6mm)会聚到信息记录面RP上。

进而，在信息记录面RP受到信息凹坑调制后反射的光束再次透过物镜OBL、通过第2光束分离器BS2以及第1光束分离器BS1，在棱镜P处被反射，进而通过第2平行光透镜DPLCL入射到第2半导体激光器DHL内的光检测器(没有图示)上，利用其输出信号可以获得作为信息记录在第2光盘DSK上的信息的读取信号。

同时，检测由该光检测器上的光点的形状变化、位置变化导致的光通量变化并进行对焦检测或光道检测。二维调节器(没有图示)基于该检测移动物镜OBL，以使来自第2半导体激光器DL的光束能够成像在第2光盘DSK的记录面RP上，同时也移动物镜OBL，以使来自半导体激光器DL的光束成像在规定的光道上。

自作为第3光源也是作为全息(ホロ)激光器的第3半导体激光器CHL(波长λ3＝700nm～800nm)出射的光束通过中继透镜CPL并被第2光束分离器BS2反射，以限制发散的状态入射作为聚光光学元件的物镜OBL，在此经由第3光盘DSK的保护层TL(厚度t3＝1.1～1.3mm，最好为1.2mm)会聚到信息记录面RP上。

进而，在信息记录面RP受到信息凹坑调制后反射的光束再次透过物镜OBL、入射到第2光束分离器BS2并在此处反射，经中继透镜CPL聚光入射到第3半导体激光器CHL内的光检测器(没有图示)上，利用其输出信号可以获得作为信息记录在第3光盘DSK上的信息的读取信号。

同时，检测因该光检测器上的光点的形状变化、位置变化所导致的光通量变化并进行对焦检测或光道检测。二维调节器(没有图示)基于该检测移动物镜OBL以使来自第3半导体激光器CHL的光束能够成像在第3光盘DSK的记录面RP上，同时也移动物镜OBL以使来自半导体激光器CHL的光束成像在规定的光道上。

在本实施形态中，通过将带有对应了可以适当地在第3光盘DSK的信息记录面RP进行信息的记录以及/或者再现的数值孔径的圆形非膜部(没有形成以光轴为中心的膜的圆形区域)的遮光膜赋予到中继透镜CPL的光学面上，可以只经由圆形非膜部使波长为λ3的光束通过地将中继透镜CPL作为孔径限制元件使用。

这里，作为变形例，也可以代替在中继透镜CPL上设置遮光膜，例如，作为孔径限制元件，在第2光束分离器BS2与物镜OBL之间设置配备了带有对应了可以适当地在第3光盘DSK的信息记录面RP进行信息的记录以及/或者再现的数值孔径的圆形非膜部的二向色涂层的二向色滤光片。此时，二向色涂层起着可以只阻止来自第3半导体激光器CHL的波长为λ3的光束通过的作用。

进而，作为另外的变形例，也可以代替在中继透镜CPL上设置遮光膜，例如，在波长为λ3的光路内，作为孔径限制元件，设置形成了带有对应了可以适当地在第3光盘DSK的信息记录面RP进行信息的记录以及/或者再现的数值孔径的圆形非膜部的二向色涂层的二向色棱镜。此时，二向色涂层起着可以只阻止来自第3半导体激光器CHL的波长为λ3的光束通过的作用。

此外，作为其他的变形例，也可以代替在中继透镜CPL上设置遮光膜，例如，在物镜OBL的光学面上形成带有对应了可以适当地在第3光盘DSK的信息记录面RP进行信息的记录以及/或者再现的数值孔径的圆形非膜部的二向色涂层。此时，带有二向色涂层的区域只阻止来自第3半导体激光器CHL的波长为λ3的光束通过，故其作为第2区域发挥作用，而圆形非膜部则作为第1区域而发挥作用。该场合，在具有二向色涂层的区域不设置衍射构造。

在本实施形态中，在第1平行光透镜AGMCL上设置衍射构造对来自上述第1半导体激光器AL的光束进行色差校正，在第2平行光透镜DPLCL上设置衍射构造对来自上述第2半导体激光器DHL的光束进行色差校正。这里，作为其变形例，也可以代替在第1平行光透镜AGMCL或者第2平行光透镜DPLCL上设置衍射构造而在物镜OBL的圆形非膜部设置具有色差校正功能的衍射构造。

图11所示是可以对高密度DVD(也称之为第1光盘)、以往DVD(也称之为第2光盘)以及CD(也称之为第3光盘)所有光盘进行信息的记录/再现的、第10实施形态所涉及的光信息记录再现装置或者光拾取器装置的概略构成图。这里，在本实施形态中，由于对应于图10的实施形态，只是在代之棱镜P设置来自第2光源的光束专用的第2光束整形棱镜BSP，对波长为λ2的光束也可以进行光束整形这一点上不同(参照第82项)。关于其他点，因其与图10的实施形态(包括变形例)相同，故省略其说明。

图12所示是可以对高密度DVD(也称之为第1光盘)、以往DVD(也称之为第2光盘)以及CD(也称之为第3光盘)所有光盘进行信息的记录/再现的、第11实施形态所涉及的光信息记录再现装置或者光拾取器装置的概略构成图。

图12中，自作为第1光源的第1半导体激光器AL(波长λ1＝380nm～450nm)出射的光束被第1光束成形器BSE进行光束整形，进而在1/4波长片HF处被反射，并在被塑料制的第1平行光透镜APLCL变换成了平行光束后，通过第1光束分离器BS1、第2光束分离器BS2，入射到作为聚光光学元件的物镜OBL，在此经由第1光盘DSK的保护层TL(厚度t1＝0.5～0.7mm，最好为0.6mm)会聚到信息记录面RP上。

进而，在信息记录面RP受到信息凹坑调制后反射的光束再次透过物镜OBL，被第2光束分离器BS2、第1光束分离器BS1、第1平行光透镜APLCL会聚，进而通过1/4波长片HF入射到光检测器AS上，利用其输出信号可以获得作为信息记录在第1光盘DSK上的信息的读取信号。

同时，检测由光检测器AS上的光点的形状变化、位置变化导致的光通量变化并进行对焦检测或光道检测。二维调节器(没有图示)基于该检测移动物镜OBL以使来自第1半导体激光器AL的光束能够成像在第1光盘DSK的记录面RP上，同时也移动物镜OBL以使来自半导体激光器AL的光束成像在规定的光道上。

另一方面，自作为第2光源也作为全息(ホロ)激光器的第2半导体激光器DHL(波长λ2＝600nm～700nm)出射的光束被塑料制的第2平行光透镜DPLCL变换成平行光束，又在第1光束分离器BS1处被反射，进而通过第2光束分离器BS2入射到作为聚光光学元件的物镜OBL，在此经由第2光盘DSK的保护层TL(厚度t2＝0.5～0.7mm，最好为0.6mm)会聚到信息记录面RP上。

进而，在信息记录面RP受到信息凹坑调制后反射的光束再次透过物镜OBL、通过第2光束分离器BS2并被第1光束分离器BS1反射，进而通过第2平行光透镜DPLCL入射到第2半导体激光器DHL内的光检测器(没有图示)上，利用其输出信号可以获得作为信息记录在第2光盘DSK上的信息的读取信号。

同时，检测由该光检测器上的光点的形状变化、位置变化导致的光通量变化并进行对焦检测或光道检测。二维调节器(没有图示)基于该检测移动物镜OBL，以使来自第2半导体激光器DL的光束能够成像在第2光盘DSK的记录面RP上，同时也移动物镜OBL，以使来自半导体激光器DL的光束成像在规定的光道上。

自作为第3光源也是作为全息(ホロ)激光器的第3半导体激光器CHL(波长λ3＝700nm～800nm)出射的光束通过中继透镜CPL并被第2光束分离器BS2反射，以限制发散的状态入射作为聚光光学元件的物镜OBL，在此经由第3光盘DSK的保护层TL(厚度t3＝1.1～1.3mm，最好为1.2mm)会聚到信息记录面RP上。

进而，在信息记录面RP受到信息凹坑调制反射的光束再次透过物镜OBL、入射到第2光束分离器BS2并在此处反射，经中继透镜CPL聚光入射到第3半导体激光器CHL内的光检测器(没有图示)上，利用其输出信号可以获得作为信息记录在第3光盘DSK上的信息的读取信号。

同时，检测因该光检测器上的光点的形状变化、位置变化所导致的光通量变化并进行对焦检测或光道检测。二维调节器(没有图示)基于该检测移动物镜OBL以使来自第3半导体激光器CHL的光束能够成像在第3光盘DSK的记录面RP上，同时也移动物镜OBL以使来自半导体激光器CHL的光束成像在规定的光道上。

在本实施形态中，通过将带有对应了可以适当地在第3光盘DSK的信息记录面RP进行信息的记录以及/或者再现的数值孔径的圆形非膜部(没有形成以光轴为中心的膜的圆形区域)的遮光膜赋予到中继透镜CPL的光学面上，可以只经由圆形非膜部使波长为λ3的光束通过地将中继透镜CPL作为孔径限制元件使用。

这里，作为变形例，也可以代替在中继透镜CPL上设置遮光膜，例如，作为孔径限制元件，在第2光束分离器BS2与物镜OBL之间设置配备了带有对应了可以适当地在第3光盘DSK的信息记录面RP进行信息的记录以及/或者再现的数值孔径的圆形非膜部的二向色涂层的二向色滤光片。此时，二向色涂层起着可以只阻止来自第3半导体激光器CHL的波长为λ3的光束通过的作用。

进而，作为另外的变形例，也可以代替在中继透镜CPL上设置遮光膜，例如，在波长为λ3的光路内，作为孔径限制元件，设置形成了带有对应了可以适当地在第3光盘DSK的信息记录面RP进行信息的记录以及/或者再现的数值孔径的圆形非膜部的二向色涂层的二向色棱镜。此时，二向色涂层起着可以只阻止来自第3半导体激光器CHL的波长为λ3的光束通过的作用。

此外，作为其他的变形例，也可以代替在中继透镜CPL上设置遮光膜，例如，在物镜OBL的光学面上形成带有对应了可以适当地在第3光盘DSK的信息记录面RP进行信息的记录以及/或者再现的数值孔径的圆形非膜部的二向色涂层。此时，带有二向色涂层的区域只阻止来自第3半导体激光器CHL的波长为λ3的光束通过，故其作为第2区域发挥作用，而圆形非膜部则作为第1区域而发挥作用。该场合，在具有二向色涂层的区域不设置衍射构造。

在本实施形态中，在共同通过波长为λ1的光束和波长为λ2的光束的物镜的圆形非膜部上设置衍射构造，对来自上述第1半导体激光器AL的光束进行色差校正，在第2平行光透镜DPLCL上设置衍射构造对来自上述第2半导体激光器DHL的波长为λ1的光束进行色差校正，在只通过来自上述第2半导体激光器DHL的波长为λ2的光束的第2平行光透镜DPLCL上设置衍射构造并对其光束进行色差校正(参照第62项)。

进而，在本实施形态中，通过在通过波长为λ1的光束的光路上第1平行光透镜APLCL和第1半导体激光器AL之间配置第1光束成形器BSE进行来自第1半导体激光器AL的光束的光束整形。作为其变形例，也可以代替在物镜OBL上设置衍射构造在只通过波长为λ1的光束的第1光束成形器BSE或者平行光透镜APLCL上设置衍射构造，对波长为λ1的光束进行色差校正。

图13所示是可以对高密度DVD(也称之为第1光盘)、以往DVD(也称之为第2光盘)以及CD(也称之为第3光盘)所有光盘进行信息的记录/再现的、第12实施形态所涉及的光信息记录再现装置或者光拾取器装置的概略构成图。这里，在本实施形态中，由于对应于图12的实施形态，只是在改变全息(ホロ)激光器的第2半导体激光器，用第2光束成形器BSE2整形来自第2半导体激光器DL的光束，用1/4波长片HF反射该光束并使之入射到第2平行光透镜DPLCL这一点上不同。来自第2光盘DSK的反射光经由第2平行光透镜DPLCL，通过1/4波长片HF后被光检测器DS感光。此外，在第2光束成形器BSE2上设置衍射构造，对波长为λ2的光束进行色差校正。关于其他点，因其与图12的实施形态(包括变形例)相同，故省略其说明。

下面，对适合于上述实施形态的实施例进行说明。

物镜的两面是用“公式1”表示的非球面。式中，z是光轴方向的轴，h是离轴的高度，r是近轴曲率半径，κ是圆锥系数，A2i是非球面系数。

【公式1】

$Z=\frac{(h^2/r)}{1+\sqrt{1-(1+\mathrm{\&kappa;}){(h/r)}^r}}+\underset{i=1}{\overset{9}{\mathrm{\&Sigma;}}}{A}_{2i}{h}^{2i}$

进而，在物镜的光源侧非球面的表面整体地形成了衍射构造。该衍射构造由对应闪耀(ブレ-ズ)化波长λB的光程差函数Φ以mm为单位通过“公式2”给出。该2次系数表示衍射部分的近轴的能量(power)。此外，利用2次以外的系数，例如4次、6次系数等可控制球差。这里所谓的可以控制，指的是可以通过衍射部分使折射部分带有的球差具有逆特性的球差，从总体上校正球差，或者利用衍射部分的波长依存性，通过入射波长校正球差或使之产生光斑。此时，也可以将温度变化时的球差看成为折射部分球差的温度变化和衍射部分的球差变化的总和。这里，在以下的各实施例中，取闪耀(ブレ-ズ)化波长λB＝1mm。

【公式2】

$\mathrm{\&Phi;}\left(H\right)=\left(\underset{i=1}{\overset{5}{\mathrm{\&Sigma;}}}{C}_{2i}{H}^{2i}\right)\&times;\mathrm{\&lambda;}\&times;n\left(\mathrm{mm}\right)$

(实施例1)

表1给出了作为适合于上述实施形态的实施例的光学元件(物镜)的透镜数据。由表1可知，在物镜中，在通过来自第1半导体激光器、第2半导体激光器和第3半导体激光器的光束的区域(称之为共用区域)设置了衍射构造。此外，如果产生光源波长变长的变化，则该衍射构造具有在通过该衍射构造的光束中使球差更为不足的光学特性。本实施例对应第6、7项记载的光学元件。这里，在此以后(包括表的透镜数据)，规定用E(例如2.5×E-3)表示10的幂乘数(例如2.5×10^-3)。

本实施例的规格如下：

(1)第1半导体激光器的光源波长λ1：407nm

(2)来自第1半导体激光器的光束通过衍射构造时发挥最大衍射效率的次数n1(n1A)：2次

(3)关于来自第1半导体激光器的光束的物镜倍率m1：0

(4)第2半导体激光器的光源波长λ2：655nm

(5)来自第2半导体激光器的光束通过衍射构造时发挥最大衍射效率的次数n2(n1D)：1次

(6)关于来自第2半导体激光器的光束的物镜倍率m2：-1/13.1

(7)第3半导体激光器的光源波长λ3：785nm

(8)来自第3半导体激光器的光束通过衍射构造时发挥最大衍射效率的次数n3(n1C)：1次

(9)关于来自第3半导体激光器的光束的物镜倍率m3：-1/13.0

(实施例2)

表2给出了作为适合于上述实施形态的实施例的光学元件(物镜)的透镜数据。由表2可知，在物镜中，在通过来自第1半导体激光器、第2半导体激光器和第3半导体激光器的光束的区域(称之为共用区域)设置了衍射构造。此外，如果产生光源波长变长的变化，则该衍射构造具有在通过该衍射构造的光束中使球差更为不足的光学特性。本实施例对应第11项记载的光学元件。

非球面系数

本实施例的规格如下：

(1)第1半导体激光器的光源波长λ1：407nm

(2)来自第1半导体激光器的光束通过衍射构造时发挥最大衍射效率的次数n1(n1A)：6次

(3)关于来自第1半导体激光器的光束的物镜倍率m1：0

(4)第2半导体激光器的光源波长λ2：655nm

(5)来自第2半导体激光器的光束通过衍射构造时发挥最大衍射效率的次数n2(n1D)：4次

(6)关于来自第2半导体激光器的光束的物镜倍率m2：0

(7)第3半导体激光器的光源波长λ3：785nm

(8)来自第3半导体激光器的光束通过衍射构造时发挥最大衍射效率的次数n3(n1C)：3次

(9)关于来自第3半导体激光器的光束的物镜倍率m3：-1/12.7

(实施例3)

表3给出了作为适合于上述实施形态的实施例的光学元件(物镜)的透镜数据。由表3可知，在物镜中，在通过来自第1半导体激光器、第2半导体激光器和第3半导体激光器的光束的区域(称之为共用区域)设置了衍射构造。此外，如果产生光源波长变长的变化，则该衍射构造具有在通过该衍射构造的光束中使球差更为不足的光学特性。本实施例对应第11项记载的光学元件。

本实施例的规格如下：

(1)第1半导体激光器的光源波长λ1：407nm

(2)来自第1半导体激光器的光束通过衍射构造时发挥最大衍射效率的次数n1(n1A)：6次

(3)关于来自第1半导体激光器的光束的物镜倍率m1：0

(4)第2半导体激光器的光源波长λ2：655nm

(5)来自第2半导体激光器的光束通过衍射构造时发挥最大衍射效率的次数n2(n1D)：4次

(6)关于来自第2半导体激光器的光束的物镜倍率m2：0

(7)第3半导体激光器的光源波长λ3：785nm

(8)来自第3半导体激光器的光束通过衍射构造时发挥最大衍射效率的次数n3(n1C)：3次

(9)关于来自第3半导体激光器的光束的物镜倍率m3：-1/13.2

(实施例4)

表4给出了作为适合于上述实施形态的实施例的光学元件(物镜)的透镜数据。由表4可知，在物镜中，在通过来自第1半导体激光器、第2半导体激光器和第3半导体激光器的光束的区域(称之为共用区域)设置了衍射构造。此外，如果产生光源波长变长的变化，则该衍射构造具有在通过该衍射构造的光束中使球差更为不足的光学特性。本实施例对应第11项记载的光学元件。

本实施例的规格如下：

(1)第1半导体激光器的光源波长λ1：407nm

(2)来自第1半导体激光器的光束通过衍射构造时发挥最大衍射效率的次数n1(n1A)：8次

(3)关于来自第1半导体激光器的光束的物镜倍率m1：0

(4)第2半导体激光器的光源波长λ2：655nm

(5)来自第2半导体激光器的光束通过衍射构造时发挥最大衍射效率的次数n2(n1D)：5次

(6)关于来自第2半导体激光器的光束的物镜倍率m2：-1/333

(7)第3半导体激光器的光源波长λ3：785nm

(8)来自第3半导体激光器的光束通过衍射构造时发挥最大衍射效率的次数n3(n1C)：4次

(9)关于来自第3半导体激光器的光束的物镜倍率m3：-1/13.4

(实施例5)

表5给出了作为适合于上述实施形态的实施例的光学元件(物镜)的透镜数据。由表5可知，在物镜中，在通过来自第1半导体激光器、第2半导体激光器和第3半导体激光器的光束的区域(称之为HD-DVD/DVD/CD共用区域)设置了第1衍射构造，在通过来自第1半导体激光器和第2半导体激光器的光束的区域(称之为HD-DVD/DVD共用区域)设置了第2衍射构造。本实施例对应第32项记载的光拾取器装置用光学元件。

非球面数据

本实施例的规格如下：

(1)第1半导体激光器的光源波长λ1：407nm

(2)来自第1半导体激光器的光束通过第1衍射构造时发挥最大衍射效率的次数n1(n1A)：2次

(3)关于来自第1半导体激光器的光束的物镜倍率m1：0

(4)第2半导体激光器的光源波长λ2：655nm

(5)来自第2半导体激光器的光束通过第1衍射构造时发挥最大衍射效率的次数n2(n1D)：1次

(6)关于来自第2半导体激光器的光束的物镜倍率m2：0

(7)第3半导体激光器的光源波长λ3：785nm

(8)来自第3半导体激光器的光束通过第1衍射构造时发挥最大衍射效率的次数n3(n1C)：1次

(9)关于来自第3半导体激光器的光束的物镜倍率m3：-1/14.3

表6是本实施例所涉及的物镜的衍射效率表。表6中，对于在高密度DVD/DVD/CD共用区域中通过了波长为420nm的光束时其2次衍射光为100％的第1衍射构造，给出了表6所示的各光信息记录介质所使用的波长的光束通过了该第1衍射构造时的衍射效率，同时，对于在高密度DVD/DVD共用区域中通过了波长为420nm的光束时其2次衍射光为100％的第2衍射构造，给出了表6所示的各光信息记录介质所使用的波长的光束通过了该第2衍射构造时的衍射效率。

【表6】

各区域中的、具有最大衍射效率的衍射光次数和效率

图14～图16是有关本实施例的物镜中的、达到最大衍射效率的次数的衍射光的纵球差图。

表7给出了作为适合于对应第20、55项的实施形态的实施例的光学元件(物镜)的透镜数据。

非球面数据

本实施例的规格如下：

(1)第1半导体激光器的光源波长λ1：407nm

(2)来自第1半导体激光器的光束通过第1衍射构造时发挥最大衍射效率的次数n1(n1A)：6次

(2’)来自第1半导体激光器的光束通过第2衍射构造时发挥最大衍射效率的次数n2A：3次

(3)关于来自第1半导体激光器的光束的物镜倍率m1：0

(4)第2半导体激光器的光源波长λ2：655nm

(5)来自第2半导体激光器的光束通过第1衍射构造时发挥最大衍射效率的次数n2(n1D)：4次

(5’)来自第2半导体激光器的光束通过第2衍射构造时发挥最大衍射效率的次数n2D：2次

(6)关于来自第2半导体激光器的光束的物镜倍率m2：0

(7)第3半导体激光器的光源波长λ3：785nm

(8)来自第3半导体激光器的光束通过第1衍射构造时发挥最大衍射效率的次数n3(n1C)：3次

(9)关于来自第3半导体激光器的光束的物镜倍率m3：-1/13.2

产业利用的可能性

根据本发明，可以提供在确保足够的光点光通量的同时，也能对诸如高密度DVD和以往的DVD、CD所有光盘适当地进行信息的记录以及/再现的光拾取器装置用光学元件、中继透镜以及光拾取器装置。

Claims (71)

1.一种光拾取器装置用物镜，该光拾取器装置具有波长为λ1的第1光源、波长为λ2的第2光源、波长为λ3的第3光源和包含物镜的聚光光学系统，上述聚光光学系统将来自上述第1光源的光束经由厚度为t1的保护层会聚到第1光信息记录介质的记录面上从而进行信息的记录以及/或者再现，将来自上述第2光源的光束经由厚度为t2的保护层会聚到第2光信息记录介质的记录面上从而进行信息的记录以及/或者再现，进而，将来自上述第3光源的光束经由厚度为t3的保护层会聚到第3光信息记录介质的记录面上从而进行信息的记录以及/或者再现，其特征在于：

上述物镜的至少1个面上设置有第1衍射构造，在分别对上述第1光信息记录介质、上述第2光信息记录介质以及上述第3光信息记录介质进行记录以及/或者再现时，在分别从上述第1光源、上述第2光源以及上述第3光源出射的光束共同通过了上述第1衍射构造后，分别聚光在上述第1光信息记录介质、上述第2光信息记录介质以及上述第3光信息记录介质的信息记录面上并形成光点，

进而，当上述波长为λ1、λ2、λ3的光束入射到上述物镜时，如果将由上述第1衍射构造产生的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光束的衍射次数分别设为n1、n2、n3，则满足：

380nm≦λ1≦450nm、

600nm≦λ2≦700nm、

700nm≦λ3≦800nm、

n1＝2，n2＝1，n3＝1

这样的关系。

2.根据权利要求1所述的光拾取器装置用物镜，其特征在于：如果设对应上述波长为λ1的光束的上述物镜的光学系统倍率为ml，则有

m1＝0。

3.根据权利要求2所述的光拾取器装置用物镜，其特征在于：如果设对应上述波长为λ3的光束的上述物镜的光学系统倍率为m3，则有

-1/12.0≤m3≤-1/16.0。

4.根据权利要求2所述的光拾取器装置用物镜，其特征在于：如果设对应上述波长为λ3的光束的上述物镜的光学系统倍率为m3，则有

-1/12.0≤m3≤-1/13.4。

5.根据权利要求2所述的光拾取器装置用物镜，其特征在于：如果设对应上述波长为λ2的光束的上述物镜的光学系统倍率为m2，则有

-1/12.0≤m2≤-1/17.0。

6.根据权利要求2所述的光拾取器装置用物镜，其特征在于：如果设对应上述波长为λ2的光束的上述物镜的光学系统倍率为m2，则有

-1/12.0≤m2≤-1/13.4。

7.根据权利要求1所述的光拾取器装置用物镜，其特征在于：出射上述波长为λ2的光束的第2光源和出射上述波长为λ3的光束的第3光源合并为一个单元。

8.根据权利要求2所述的光拾取器装置用物镜，其特征在于：如果设对应上述波长为λ2的光束的上述物镜的光学系统倍率为m2，则有

m2＝0。

9.根据权利要求1所述的光拾取器装置用物镜，其特征在于：上述第1衍射构造具有如果产生变化以使光源波长变得更长则在通过了上述第1衍射构造的光束中使球差变得更为不足的光学特性。

10.根据权利要求1所述的光拾取器装置用物镜，其特征在于：出射上述波长为λ1的光束的第1光源和出射上述波长为λ2的光束的第2光源合并为一个单元。

11.根据权利要求1所述的光拾取器装置用物镜，其特征在于：

上述物镜的至少一个光学面具有第1区域和第2区域，

该第1区域是为分别对上述第1光信息记录介质、上述第2光信息记录介质以及上述第3光信息记录介质进行记录以及/或者再现，而使由上述第1光源、上述第2光源以及上述第3光源分别照射的波长为λ1、λ2以及λ3的光束通过的区域；

该第2区域是为分别对上述第1光信息记录介质以及上述第2光信息记录介质进行记录以及/或者再现，而涂敷了使由上述第1光源以及上述第2光源分别照射的波长为λ1以及λ2的光束通过、但不使由上述第3光源照射的波长λ3的光束通过的二向色涂层的区域，

上述第1区域具有上述第1衍射构造。

12.根据权利要求11所述的光拾取器装置用物镜，其特征在于：在涂敷了上述二向色涂层的光学面上不设置衍射构造。

13.根据权利要求1所述的光拾取器装置用物镜，其特征在于：

上述物镜的至少一个光学面具有第1区域和第2区域，

该第1区域是为分别对上述第1光信息记录介质、上述第2光信息记录介质以及上述第3光信息记录介质进行记录以及/或者再现，而使由上述第1光源、上述第2光源以及上述第3光源分别照射的波长为λ1、λ2以及λ3的光束通过的区域；

该第2区域是为分别对上述第1光信息记录介质以及上述第2光信息记录介质进行记录以及/或者再现，而使由上述第1光源以及上述第2光源分别照射的波长为λ1以及λ2的光束通过并会聚到信息记录面上、但即使使由上述第3光源照射的波长为λ3的光束通过也不使之会聚于信息记录面上的区域，

在上述第1区域设置有第1衍射构造，在上述第2区域设置有第2衍射构造，

在设由上述第1衍射构造产生的波长λ1的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的衍射次数为n1A、由上述第1衍射构造产生的波长λ2的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的衍射次数为n1D，

且设由上述第2衍射构造产生的波长λ1的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的衍射次数为n2A、由上述第2衍射构造产生的波长λ2的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的衍射次数为n2D时，有

n1A:n1D≠n2A:n2D。

14.根据权利要求1所述的光拾取器装置用物镜，其特征在于：

上述物镜的至少一个光学面具有第1区域和第2区域，

该第1区域是为分别对上述第1光信息记录介质、上述第2光信息记录介质以及上述第3光信息记录介质进行记录以及/或者再现，而使由上述第1光源、上述第2光源以及上述第3光源分别照射的波长为λ1、λ2以及λ3的光束通过的区域；

该第2区域是为分别对上述第1光信息记录介质以及上述第2光信息记录介质进行记录以及/或者再现，而使由上述第1光源以及上述第2光源分别照射的波长为λ1以及λ2的光束通过并会聚到信息记录面上、但即使使由上述第3光源照射的波长为λ3的光束通过也不使之会聚于信息记录面上的区域，

在上述第1区域设置有第1衍射构造，在上述第2区域设置有第2衍射构造，

在设由上述第1衍射构造产生的波长λ1的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的衍射次数为n1A、由上述第1衍射构造产生的波长λ2的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的衍射次数为n1D，

且设由上述第2衍射构造产生的波长λ1的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的衍射次数为n2A、由上述第2衍射构造产生的波长λ2的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的衍射次数为n2D时，有

n1A:n1D＝n2A:n2D，

且n2A为奇数。

15.根据权利要求14所述的光拾取器装置用物镜，其特征在于：

上述第2衍射构造产生的波长λ3的衍射光中，最大的衍射效率为60％以下。

16.根据权利要求14所述的光拾取器装置用物镜，其特征在于：对上述波长为λ1的光束进行色差校正。

17.一种光拾取器装置，具有波长为λ1的第1光源、波长为λ2的第2光源、波长为λ3的第3光源和包含物镜的聚光光学系统，上述聚光光学系统将来自上述第1光源的光束经由厚度为t1的保护层会聚到第1光信息记录介质的记录面上从而进行信息的记录以及/或者再现，将来自上述第2光源的光束经由厚度为t2的保护层会聚到第2光信息记录介质的记录面上从而进行信息的记录以及/或者再现，进而，将来自上述第3光源的光束经由厚度为t3的保护层会聚到第3光信息记录介质的记录面上从而进行信息的记录以及/或者再现，其特征在于：

上述物镜的至少1个面上设置有第1衍射构造，在分别对上述第1光信息记录介质、上述第2光信息记录介质以及上述第3光信息记录介质进行记录以及/或者再现时，在分别从上述第1光源、上述第2光源以及上述第3光源出射的光束共同通过了上述第1衍射构造后，分别聚光在上述第1光信息记录介质、上述第2光信息记录介质以及上述第3光信息记录介质的信息记录面上并形成光点，

进而，当上述波长为λ1、λ2、λ3的光束入射到上述物镜时，如果将上述第1衍射构造产生的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光束的衍射次数分别设为n1、n2、n3，则满足：

380nm≦λ1≦450nm、

600nm≦λ2≦700nm、

700nm≦λ3≦800nm、

n1＝2，n2＝1，n3＝1

这样的关系。

18.根据权利要求17所述的光拾取器装置，其特征在于：如果设对应上述波长为λ1的光束的上述物镜的光学系统倍率为m1，则有

m1＝0。

19.根据权利要求18所述的光拾取器装置，其特征在于：如果设对应上述波长为λ3的光束的上述物镜的光学系统倍率为m3，则有

-1/12.0≤m3≤-1/16.0。

20.根据权利要求19所述的光拾取器装置，其特征在于：如果设对应上述波长为λ3的光束的上述物镜的光学系统倍率为m3，则有

-1/12.0≤m3≤-1/13.4。

21.根据权利要求18所述的光拾取器装置，其特征在于：如果设对应上述波长为λ2的光束的上述物镜的光学系统倍率为m2，则有

-1/12.0≤m2≤-1/17.0。

22.根据权利要求18所述的光拾取器装置，其特征在于：如果设对应上述波长为λ2的光束的上述物镜的光学系统倍率为m2，则有

-1/12.0≤m2≤-1/13.4。

23.根据权利要求17所述的光拾取器装置，其特征在于：出射上述波长为λ2的光束的第2光源和出射上述波长为λ3的光束的第3光源合并为一个单元。

24.根据权利要求18所述的光拾取器装置，其特征在于：如果设对应上述波长为λ2的光束的上述物镜的光学系统倍率为m2，则有

m2＝0。

25.根据权利要求17所述的光拾取器装置，其特征在于：上述第1衍射构造具有如果产生变化以使光源波长变得更长则在通过了上述第1衍射构造的光束中使球差变得更为不足的光学特性。

26.根据权利要求17所述的光拾取器装置，其特征在于：出射上述波长为λ1的光束的第1光源和出射上述波长为λ2的光束的第2光源合并为一个单元。

27.根据权利要求17所述的光拾取器装置，其特征在于：上述波长为λ2的光束以发散光束的状态入射上述物镜，且在上述第2光源和上述物镜之间配置了中继透镜。

28.根据权利要求27所述的光拾取器装置，其特征在于：以对应对上述第2光信息记录介质进行信息的记录以及/或者再现时的数值孔径NA_D的位置为边界，在将上述中继透镜的光学面分成了靠近光轴的内侧区域和远离光轴的外侧区域时，上述波长为λ2的光束在通过上述内侧区域时和通过上述外侧区域时其发散角不同。

29.根据权利要求28所述的光拾取器装置，其特征在于：通过了上述外侧区域的上述波长为λ2的光束的发散角大于通过了上述内侧区域的上述波长为λ2的光束的发散角。

30.根据权利要求27所述的光拾取器装置，其特征在于：上述波长为λ3的光束通过上述中继透镜入射上述物镜。

31.根据权利要求30所述的光拾取器装置，其特征在于：以对应对上述第3光信息记录介质进行信息的记录以及/或者再现时的数值孔径NA_C的位置为边界，在将上述中继透镜的光学面分成了靠近光轴的内侧区域和远离光轴的外侧区域时，上述波长为λ3的光束在通过上述内侧区域时和通过上述外侧区域时其发散角不同。

32.根据权利要求28所述的光拾取器装置，其特征在于：在上述中继透镜的上述内侧区域和上述外侧区域的至少一个区域上设置了衍射构造。

33.根据权利要求27所述的光拾取器装置，其特征在于：以对应对上述第2光信息记录介质进行信息的记录以及/或者再现时的数值孔径NA_D的位置为边界，在将上述中继透镜的光学面分成了靠近光轴的内侧区域和远离光轴的外侧区域时，在上述外侧区域涂敷了不使上述波长为λ2的光束通过的二向色涂层，

以对应对上述第2光信息记录介质进行信息的记录以及/或者再现时的数值孔径NA_D的位置为边界，在将上述物镜的光学面分成了靠近光轴的内侧区域和远离光轴的外侧区域时，在上述外侧区域涂敷了不使上述波长为λ2的光束通过的二向色涂层。

34.根据权利要求27所述的光拾取器装置，其特征在于：

在上述第3光源和上述物镜之间配置中继透镜，

以对应对上述第3光信息记录介质进行信息的记录以及/或者再现时的数值孔径NA_C的位置为边界，在将上述中继透镜的光学面分成了靠近光轴的内侧区域和远离光轴的外侧区域时，在上述外侧区域涂敷了不使上述波长为λ3的光束通过的二向色涂层，

以对应对上述第3光信息记录介质进行信息的记录以及/或者再现时的数值孔径NA_C的位置为边界，在将上述物镜的光学面分成了靠近光轴的内侧区域和远离光轴的外侧区域时，在上述外侧区域涂敷了不使上述波长为λ3的光束通过的二向色涂层。

35.根据权利要求17所述的光拾取器装置，其特征在于：在上述波长为λ3的光束的光路上较上述聚光光学系统靠近上述第3光源侧配置了对应上述波长为λ3的光束的孔径限制元件。

36.根据权利要求35所述的光拾取器装置，其特征在于：上述孔径限制元件是二向色滤光片。

37.根据权利要求35所述的光拾取器装置，其特征在于：上述孔径限制元件是二向色棱镜。

38.根据权利要求35所述的光拾取器装置，其特征在于：上述孔径限制元件是中继透镜。

39.根据权利要求35所述的光拾取器装置，其特征在于：上述孔径限制元件是相位差板。

40.根据权利要求17所述的光拾取器装置，其特征在于：

上述物镜的至少一个光学面具有第1区域和第2区域，

该第1区域是为分别对上述第1光信息记录介质、上述第2光信息记录介质以及上述第3光信息记录介质进行记录以及/或者再现，而使由上述第1光源、上述第2光源以及上述第3光源分别照射的波长为λ1、λ2以及λ3的光束通过的区域；

该第2区域是为分别对上述第1光信息记录介质以及上述第2光信息记录介质进行记录以及/或者再现，而涂敷了使由上述第1光源以及上述第2光源分别照射的波长为λ1以及λ2的光束通过、但不使由上述第3光源照射的波长为λ3的光束通过的二向色涂层的区域，

上述第1区域具有上述第1衍射构造。

41.根据权利要求40所述的光拾取器装置，其特征在于：在涂敷了上述二向色涂层的光学面上不设置衍射构造。

42.根据权利要求17所述的光拾取器装置，其特征在于：

上述聚光光学系统的至少一个光学面具有第1区域和第2区域，

该第1区域是为分别对上述第1光信息记录介质、上述第2光信息记录介质以及上述第3光信息记录介质进行记录以及/或者再现，而使分别由上述第1光源、上述第2光源以及上述第3光源照射的波长为λ1、λ2以及λ3的光束通过的区域；

该第2区域是为分别对上述第1光信息记录介质以及上述第2光信息记录介质进行记录以及/或者再现，而涂敷了使由上述第1光源以及上述第2光源分别照射的波长为λ1以及λ2的光束通过、但不使由上述第3光源照射的波长为λ3的光束通过的二向色涂层的区域，

上述第1区域具有上述第1衍射构造。

43.根据权利要求17所述的光拾取器装置，其特征在于：

上述物镜的至少一个光学面具有第1区域和第2区域，

该第1区域是为分别对上述第1光信息记录介质、上述第2光信息记录介质以及上述第3光信息记录介质进行记录以及/或者再现，而使由上述第1光源、上述第2光源以及上述第3光源分别照射的波长为λ1、λ2以及λ3的光束通过的区域；

该第2区域是为分别对上述第1光信息记录介质以及上述第2光信息记录介质进行记录以及/或者再现，而涂敷了使分别由上述第1光源以及上述第2光源照射的波长为λ1以及λ2的光束通过并会聚在信息记录面上、但即使使由上述第3光源照射的波长为λ3的光束通过也不使之会聚于信息记录面上的区域，

在上述第1区域设置有上述第1衍射构造，在上述第2区域设置有第2衍射构造，

在设由上述第1衍射构造产生的波长λ1的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的衍射次数为2、由上述第1衍射构造产生的波长λ2的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的衍射次数为1，

且设由上述第2衍射构造产生的波长λ1的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的衍射次数为n2A、由上述第2衍射构造产生的波长λ2的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的衍射次数为n2D时，有

2:1≠n2A:n2D。

44.根据权利要求17所述的光拾取器装置，其特征在于：

上述物镜的至少一个光学面上具有第1区域和第2区域，

该第1区域是为分别对上述第1光信息记录介质、上述第2光信息记录介质以及上述第3光信息记录介质进行记录以及/或者再现，而使分别由上述第1光源、上述第2光源以及上述第3光源照射的波长为λ1、λ2以及λ3的光束通过的区域；

该第2区域是为分别对上述第1光信息记录介质以及上述第2光信息记录介质进行记录以及/或者再现，而使分别由上述第1光源以及上述第2光源照射的波长为λ1以及λ2的光束通过并会聚在信息记录面上、但即使使由上述第3光源照射的波长为λ3的光束通过也不使之会聚于信息记录面上的区域，

在上述第1区域设置有第1衍射构造，在上述第2区域设置有第2衍射构造，

在设由上述第1衍射构造产生的波长λ1的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的衍射次数为n1A、由上述第1衍射构造产生的波长λ2的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的衍射次数为n1D，

且设由上述第2衍射构造产生的波长λ1的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的衍射次数为n2A、由上述第2衍射构造产生的波长λ2的衍射光中具有最大衍射效率的衍射光的衍射次数为n2D时，有

n1A:n1D＝n2A:n2D，

且n2A为奇数。

45.根据权利要求44所述的光拾取器装置，其特征在于：

n2A＝5、n2D＝3。

46.根据权利要求44所述的光拾取器装置，其特征在于：

n2A＝3、n2D＝2。

47.根据权利要求44所述的光拾取器装置，其特征在于：上述第2衍射构造产生的波长为λ3的衍射光中，最大的衍射效率为60％以下。

48.根据权利要求44所述的光拾取器装置，其特征在于：对上述波长为λ1的光束进行色差校正。

49.根据权利要求24所述的光拾取器装置，其特征在于：上述第3光源是全息激光器。

50.根据权利要求24所述的光拾取器装置，其特征在于：在上述波长为λ1的光束的光路上配置了用于对上述波长为λ1的光束进行色差校正的第1色差校正元件。

51.根据权利要求50所述的光拾取器装置，其特征在于：在上述波长为λ2的光束的光路上配置了用于对上述波长为λ2的光束进行色差校正的第2色差校正元件。

52.根据权利要求24所述的光拾取器装置，其特征在于：在只通过上述波长为λ1的光束的光路上配置了用于对上述波长为λ1的光束进行色差校正的第1色差校正元件，在只通过上述波长为λ2的光束的光路上配置了用于对上述波长为λ2的光束进行色差校正的第2色差校正元件。

53.根据权利要求24所述的光拾取器装置，其特征在于：在共同通过上述波长为λ1的光束和上述波长为λ2的光束的光路上配置了用于对上述波长为λ1的光束进行色差校正的第1色差校正元件，在只通过上述波长为λ2的光束的光路上配置了用于对上述波长为λ2的光束进行色差校正的第2色差校正元件。

54.根据权利要求50所述的光拾取器装置，其特征在于：在共同通过上述波长为λ1的光束和上述波长为λ2的光束的光路上配置了准直透镜。

55.根据权利要求54所述的光拾取器装置，其特征在于：在通过上述波长为λ1的光束的光路上较上述准直透镜靠近上述第1光源侧配置了用于整形上述波长为λ1的光束的第1光束成形器。

56.根据权利要求55所述的光拾取器装置，其特征在于：上述第1光束成形器对上述波长为λ1的光束进行色差校正。

57.根据权利要求54所述的光拾取器装置，其特征在于：在通过上述波长为λ2的光束的光路上较上述准直透镜靠近上述第2光源侧配置了用于整形上述波长为λ2的光束的第2光束成形器。

58.根据权利要求57所述的光拾取器装置，其特征在于：上述第2光束成形器对上述波长为λ2的光束进行色差校正。

59.根据权利要求54所述的光拾取器装置，其特征在于：在共同通过上述波长为λ1的光束和上述波长为λ2的光束的光路上较上述准直透镜靠近上述第1光源及上述第2光源侧配置了用于整形上述波长为λ1的光束或者整形上述波长为λ2的光束的光束成形器。

60.根据权利要求54所述的光拾取器装置，其特征在于：上述准直透镜是由塑料构成的。

61.根据权利要求54所述的光拾取器装置，其特征在于：在共同通过上述波长为λ1的光束和上述波长为λ2的光束的光路上在上述准直透镜和上述聚光光学系统之间配置了用于整形上述波长为λ1的光束或者整形上述波长为λ2的光束的光束整形棱镜。

62.根据权利要求61所述的光拾取器装置，其特征在于：上述准直透镜是由玻璃构成的。

63.根据权利要求50所述的光拾取器装置，其特征在于：在只通过上述波长为λ1的光束的光路上配置第1准直透镜，在只通过上述波长为λ2的光束的光路上配置第2准直透镜。

64.根据权利要求63所述的光拾取器装置，其特征在于：上述第1准直透镜和上述第2准直透镜中，至少一个准直透镜是由塑料构成的。

65.根据权利要求63所述的光拾取器装置，其特征在于：由塑料构成的上述至少一个准直透镜是色差校正元件。

66.根据权利要求63所述的光拾取器装置，其特征在于：在通过上述波长为λ1的光束的光路上较上述第1准直透镜靠近上述第1光源侧配置了用于整形上述波长为λ1的光束的第1光束成形器。

67.根据权利要求66所述的光拾取器装置，其特征在于：上述第1光束成形器是上述第1色差校正元件。

68.根据权利要求67所述的光拾取器装置，其特征在于：在通过上述波长为λ2的光束的光路上较上述第2准直透镜靠近上述第2光源侧配置了用于整形上述波长为λ2的光束的第2光束成形器。

69.根据权利要求68所述的光拾取器装置，其特征在于：

在上述波长为λ2的光束的光路上，配置了用于对上述波长为λ2的光束进行色差校正的第2色差校正元件，

上述第2光束成形器是上述第2色差校正元件。

70.根据权利要求63所述的光拾取器装置，其特征在于：在上述波长为λ1的光束的光路上在上述第1准直透镜和上述聚光光学系统之间配置了用于整形上述波长为λ1的光束的第1整形棱镜。

71.根据权利要求70所述的光拾取器装置，其特征在于：在上述波长为λ2的光束的光路上在上述第2准直透镜和上述聚光光学系统之间配置了用于整形上述波长为λ2的光束的第2整形棱镜。

Images