CN100485354C - 物体微跌测试方法和装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种物体微跌测试方法，将被测物体放置在一个托板上，然后使该托板从高点位置快速下降，从而使被测物体在低点位置与该托板碰撞。本发明还公开了一种用于上述方法的物体微跌测试装置，包括一个气缸，还包括一个与该气缸相连的托板。本发明能够同时测试多个测试物体，提高了生产效率。

Description

物体微跌测试方法和装置

技术领域

本发明涉及一种对物体进行微跌测试的方法和装置。

背景技术

传统的跌落测试设备包括一个工作台上、电机、气缸、光电开关及一些辅助装置。其工作原理是：将待测物体放在工作台指定的区域内，四周有挡板用来复位(测试物体跌落至起始位置时，用来测试物体复位)，两侧的夹子通过气缸来实现夹紧、松开，夹子夹住测试物体通过电机上下移动，当测试物体被抬到测试高度时(通过限位开关来控制)，通过继电器控制气缸松开夹住测试物体的夹子，测试物体自由落体至起始位置，完成一个测试循环。一次只能测试一件待测物体，测试效率低。

发明内容

本发明的目的是提供一种物体微跌测试方法，能够一次测试多个测试物体。

本发明的目的是通过以下技术方案实现的：

一种物体微跌测试方法，将被测物体放置在一个托板上，然后使该托板从高点位置快速下降，从而使被测物体在低点位置与该托板碰撞。

托板下降的平均速度V满足如下条件：

$V>\sqrt{\mathrm{HG}/2},$

其中，G为重力加速度，H为所述高点位置与所述低点位置的高度差。

该托板在到达低点位置后处于水平静止状态。

可通过一个高度调节装置调节高点位置，从而调节所述的高度差。

另外，利用一个水平测量仪保持该托板处于水平位置。

该托板上可放置多个被测物体，它们之间用隔板隔开。

本发明的技术方案还包括一种用于上述方法的物体微跌测试装置，包括一个气缸，还包括一个与该气缸相连的托板。

其中，该托板上设有至少一个用于隔开被测物体的隔板，各该隔板与该底座是固定在一起。

该装置还包括一个水平测量仪，用于保持该托板处于水平状态。还包括至少一个与该托板相连的导轨。以及一个高度调节装置，其为一限位开关。

本发明的积极进步效果在于：能够同时测试多个被测物体，提高了生产效率。

附图说明

图1为本发明的实施例中物体微跌测试装置的立体示意图。

图2为图1的正面试图。

图3为物体微跌测试装置不设隔板时的立体示意图

具体实施方式

下面结合附图给出本发明较佳实施例，以详细说明本发明的技术方案。

一种物体微跌测试方法，将被测物体7放在托板2上，托板2从起始位置，即低点位置，缓慢升至测试高度，即高点位置。

稳定后，托板2在气缸的作用下迅速下降至起始位置，并处于水平静止状态。被测物体7与该托板相分离，作自由落体运动，经过时间T₂落至起始位置，撞击该托板2，完成一个测试过程。

托板2从该高点位置回到起始位置的时间为T₁，当T₁<T₂时，该托板2先回到起始位置。

托板2的平均速度V为，V＝H/T₁，其中H为所述高点位置与所述低点位置的高度差。

另外，由于， $T_2=\sqrt{2H/G},$ 其中G为重力加速度。

则根据T₁<T₂，V满足下面条件：

$V>\sqrt{\mathrm{HG}/2}.$

该方法所使用的设备如图2所示，一种物体微跌测试装置，包括一个气缸1、一个与该气缸1相连的托板2、两个与该托板2相连的导轨3。导轨3的作用是辅助定向。

导轨3的数量和安装位置可根据需要确定，可以采用一个导轨，设置在该托板2的内部或边上，也可以采用两个以上的导轨，能够使托板2的运动更稳定。

该托板2上可设置多个被测物体7，同时对它们进行测试。各个被测物体7之间用隔板隔开。该隔板21可以与该托板2固定在一起，也可是固定在该设备的底座上的，可根据需要设置一个或多个该隔板21。

可利用一个水平测量仪4保持该托板处于水平位置。

可利用几个继电器(图中未示)控制气缸1的进气、出气，继电器的数量可以根据实际情况而定。

利用一个光电开关5来统计测试次数，通过一个外部的计算机控制测试过程，进行连续测试。

可通过一个高度调节装置调节高点位置，从而调节所述的高度差。该高度调节装置为一限位开关6。

上述各个部件均为现有技术，涉及的控制过程也可采用现有的方法进行。

使用时，气缸1托着该托板2和被测物体7到达由该限位开关6所设定的高点位置，然后在气缸1的带动下，迅速下降，被测物体7脱离该托板2做自由落体运动。托板2回到起始位置后处于水平静止状态，被测物体下落后撞击在处于起始位置的托板2上。

Claims (10)

1、一种物体微跌测试方法，其特征在于，其将被测物体放置在一个托板上，然后使该托板从高点位置下降，从而使被测物体在低点位置与该托板碰撞，所述托板下降的平均速度V满足如下条件： $V>\sqrt{\mathrm{HG}/2},$ 其中，G为重力加速度，H为所述高点位置与所述低点位置的高度差。

2、根据权利要求1所述的物体微跌测试方法，其特征在于，该托板在到达低点位置后处于水平静止状态。

3、根据权利要求2所述的物体微跌测试方法，其特征在于，通过一个限位开关调节高点位置，从而调节所述的高度差。

4、根据权利要求3所述的物体微跌测试方法，其特征在于，利用一个水平测量仪保持该托板处于水平位置。

5、根据权利要求4所述的物体微跌测试方法，其特征在于，该托板上放置多个被测物体，它们之间用隔板隔开。

6、一种用于权利要求1所述方法的物体微跌测试装置，包括一个气缸，其特征在于，其还包括一个与该气缸相连的托板和至少一个与该托板相连的导轨。

7、根据权利要求6所述的物体微跌测试装置，其特征在于，该托板上设有至少一个用于隔开被测物体的隔板，各该隔板与该托板固定在一起。

8、根据权利要求7所述的物体微跌测试装置，其特征在于，其还包括一个水平测量仪，用于保持该托板处于水平状态。

9、根据权利要求8所述的物体微跌测试装置，其特征在于，该导轨设置在该托板的内部或边上。

10、根据权利要求9所述的物体微跌测试装置，其特征在于，其还包括一个高度调节装置，其为一限位开关。

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