CN100444257C - 判断光学读写头位置的方法及其装置 - Google Patents

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Abstract

本发明的判断光学读写头位置的方法是撷取分别可代表光学读写头在一光学存储媒质上某处的线速率与角速度的信号参数值,再计算该线速率的信号参数值与该角速度的信号参数值的比例值,可决定该光学读写头目前所在处的绝对位置。

Description

判断光学读写头位置的方法及其装置
技术领域
本发明是关于一种判断光学读写头位置的方法及其装置,特别是关于通过得到光学读写头(Pick-Up Head;PUH)在光学存储媒质上某处的速率关系值,即可正确地决定出光学读写头目前所在位置的方法及装置。
背景技术
图1是一现有四分之一部分光学存储媒质的信息区(information area)的结构示意图。光学存储媒质10(如CD-R及CD-RW格式的光盘片)中央有一中心孔(center hole)11可供光学存储装置的主轴(spindle)带动旋转,其信息区由内到外可依序划分为激光功率校准区(Power Calibration Area;PCA)12、程序记忆区(Program Memory Area;PMA)13、导入区(Lead-In;LI)14、程序区(Program Area;PA)15及导出区(Lead-Out;LO)16。
在可录式光盘片的母盘刻录时,是以由预先程序所设定控制的激光束由光盘中心起,螺旋形向外刻出一条浅浅的沟槽。这条沟槽称为预刻沟槽(pre-groove),它其实不是一条平滑的螺旋线,而是以微小振幅的正弦波方式摆动(wobble)的螺旋线,从预刻沟槽所读取到的信号,以下均称为「摆动信号(wobble signal)」)。在一般压铸制造的光盘片上,其每一个区段(sector)都含有与时间相关的信息以控制光学存储装置的转速,如此才能正确的读取录于其上的信号。而一部可录式光学存储装置必须能够采取某种办法来引导光学读写头的激光束循序前进(向外),以及正确地控制光学存储装置的转速。而该种摆动的预刻沟槽即用于提供循轨(tracking)及时间码(timingcode)信息,因此称之为预刻沟槽的绝对时间(Absolute Time InPre-groove,ATIP)信息。该项信息可以确保录制信号时的速率在一稳定的状态。光学存储装置将信息录制于可录式光盘片时,以原始信息加上地址信息并经过编码(Encode)与加扰(Scramble)后,再以8-14转换调制(Eight-to-Fourteen Modulation)后的信号(以下简称EFM调制信号)刻录于可录式光盘片的轨道上。将来光学存储装置读取信息时则将此EFM调制信号解调(demodulation)后经解扰(Descramble)与译码(Decode)以得到该笔原始数据。当烧录于光盘片的EFM调制信号存在时,光学存储装置还可利用此信号控制光学读写头循序前进以及控制马达转速。而当信息成功译码出来时,也可得到地址信息,作定位光学读写头用。图2是预刻沟槽的绝对时间信息的结构图。该预刻沟槽的绝对时间信息包括4位的同步(synchronization)码,及各有八位的分(Minute,M)、秒(Second,S)和帧(Frame;F)码,另还有循环冗余校对(Cyclic RedundancyCheck;CRC)码。由该分、秒和帧码可得到定义光盘片信息区内各区块的绝对起迄位置的时间码{MM:SS:FF},其中MM、SS及FF分别表示分(0~99)、秒(0~59)和帧(0~74)。
图3是光盘片的信息区与预刻沟槽的绝对时间的时间码对应关系图,其中t1表示激光功率校准区PCA 12的起始时间码,一般光盘片多设为{95:00:00};t2表示程序记忆区PMA 13的起始时间码;t3表示导入区LI 14的起始时间码;t4可选择表示导入区LI 14的终止时间码{99:59:74},或者为程序区PA 15的起始时间码{00:59:74};t5表示导出区LO 16的最迟可能起始时间码,例如:80分钟的CD-R格式光盘片的t5={80:00:00}。
目前许多光盘片的程序区15容量已超过95分钟,因此会造成时间码及光盘片的区块位置无法一一对应,如图4所示。很明显地,在时间码轴{95:00:00}至{99:59:74}的范围可对应到两个区块的位置,因此无法直接由预刻沟槽的绝对时间信息的时间码决定光学读写头所在处的确切位置,也就是还需要通过其它条件或信息来辅助判断。
图5是一存储在导入区、程序区及导出区的第一模式的Q次码(subcode-Q mode 1)的数据结构图。若地址栏中ADR(address)为1h则表示为第一模式,其中h是表示为十六进制的数字。若轨数TNO(track number)为00h,则表示该Q次码存储在最内圈的导入区。相反地,轨数TNO不等于00h,则表示该Q次码可能存储在程序区或导出区。因此可通过跨轨时程序中逻辑判断Q次码中的信息,来决定光学读写头目前所在处的位置。
光盘片可依照烧录型式分为单次写入(single-session)和多次写入(multi-session)两种,分别如图6(a)及6(b)所示。单次写入光盘片61仅能进行一次的写入动作,其数据结构较为单纯,因此读到Q次码中轨数TNO等于00h,即表示目前是在内圈导入区LI的位置。但若是所读取的是多次写入光盘片62,则无法通过轨数TNO等于00h而决定目前位置是位在两程序区PA间的导入区LI或最内圈的导入区LI。
一般光驱所有的操作应用会根据各种不同的需求执行不同应用流程以完成预定功能,例如:读存储数据、烧录数据、读导入区的TOC(table of contents)数据或读程序记忆区PMA数据。然而,不论是执行何种功能,只要是需要存取光盘片信息的动作,必定是先呼叫跨轨伺服控制回路。在光学读写头移至目标区后,会以循轨方式在目标区执行信息存取的动作。跳轨动作的基本原理是在呼叫者下达移至「目标位置」的指令后,跳轨伺服控制回路会先读取所处在的位置地址(由预刻沟槽的绝对时间的时间码或Q次码取得)以确认「现在位置」。然后以现在位置与目标位置的关系计算跳轨的方向与距离,并依据计算结果来执行跳轨动作。跳轨动作完毕会重新锁轨,然需要再度读取现在位置地址以确认所在位置是否己达到目标区。如果已达目标区即完成该次跳轨动作,否则仍要根据现在位置与目标位置的关系继续跳轨动作,直到进入设定目标区为止。
实际上,光学存储装置由预刻沟槽的绝对时闻的时间码或Q次码仍无法完全决定目前位置,尚需要再设定一标识区以区分时间码重叠部分的位置。因此在执行不同应用流程时都需要检查或重新设定该标识区的信息,并根据各应用流程中预期光学读写头可能发生的位置变化,不断地作辅助条件的设定与判断。所以程序维护困难,且容易发生疏漏的错误,而影响后续的判断结果。另一方面,标识区繁复的检查及设定动作势必降低整个系统的执行效率,更何况这种增加的确认程序尚无法涵盖所有格式的光盘片。
发明内容
本发明的主要目的是提供一种判断光学读写头位置的方法及其装置,通过得到光学读写头在光盘片上某处的线速率或角速率的相关信号参数值,即可决定出光学读写头目前所在处的正确位置。
本发明的另一目的是提供一种以绝对的条件作判断光学读写头目前位置的方法,无须在各种不同的流程增加判断位置的辅助条件或程序。因此不会发生逻辑判断的错误,且可提高光学存储装置的系统执行效率。
为达上述目的,本发明揭示一种判断光学读写头位置的方法及其装置,其是撷取分别可代表光学读写头在一光盘片上某处的线速率与角速度的信号参数值,再计算该线速率的信号参数值与该角速度的信号参数值的比例值。因该比例值与该光学读写头和该光盘片的圆心间的距离呈线性关系,因此可决定该光学读写头目前所在处的绝对位置。
当该光盘片是以等线速率(Constant Linear Velocity;CLV)模式转动时,表示该光盘片上各处的线速率为同一固定值,该光学读写头目前所在之处的绝对位置可由代表该处角速率的信号参数值大小而决定。
当该光盘片是以等角速率(Constant Angular Velocity;CAV)模式转动时,表示该光盘片上各处的角速率为同一固定值,该光学读写头目前所在之处的绝对位置可由代表该处线速率的信号参数值大小而决定。
附图说明
图1是一现有四分之一部分光学存储媒质的信息区的结构示意图;
图2是预刻沟槽的绝对时间信息的结构图;
图3是光盘片的信息区与预刻沟槽的绝对时间的时间码对应关系图;
图4是光盘片的信息区与预刻沟槽的绝对时间的时间码对应关系坐标图;
图5是一存储在导入区、程序区及导出区的第一模式的Q次码的数据结构图;
图6(a)是一单次写入光盘片的信息区的结构示意图;
图6(b)是一多次写入光盘片的信息区的结构示意图;
图7(a)是一光学读写头的光点落在一光盘片上的示意图;
图7(b)是一光盘片以等线速率CLV模式转动的示意图;
图7(c)是一光盘片以等角速率CAV模式转动的示意图;
图8~8(c)是本发明的判断光学读写头目前位置的流程图;
图9是本发明判断光学读写头目前位置的装置的功能方块图。
图中组件符号说明:
  10光学存储媒质   11中心孔
  12激光功率校准区   13程序记忆区
  14导入区   15程序区
  16导出区
  61单次写入光盘片   62多次写入光盘片
  91错误纠正译码器   92ATIP译码器
  93第一线速率检波器   94第二线速率检波器
  95角速率检波器   96主轴/旋转控制单元
  97PUH位置条件判断单元   98模式选择
  99设定条件
具体实施方式
图7(a)是一光学读写头的光点落在一光盘片上的示意图。当光学读写头的光点落在光盘片10上P点的位置时,该P点的线速率为VP,同时光盘片10的角速率为ωp。该线速率为VP及角速率为ωp对光学存储装置为已知数,因此利用下列算式即可得到光盘片10中心点O至P点的距离rp:
V P = r p ω p ⇒ r p = V P ω p ;
其中线速率为VP可由摆动(wobble)或EFM调制(Eight toFourteen Modulation;EFM)信号解出;角速率ωp则直接取自主轴马达的转速。很明显,本实施例并不需要确定主轴马达的转动模式,即可决定该光学读写头目前所在之处的绝对位置,也就是由rp的值判断所在位置的区块。当然也可以其它代表角速率的等效信号或电气参数来作为输入信号,例如:主轴转频或主轴马达转速控制的输入/输出电压及电流等等。
图7(b)是一光盘片以等线速率CLV模式转动的示意图。当光学读写头的光点落在光盘片10上A点的位置时,该A点的线速率为V1,同时光盘片10的角速率为ω1;当光学读写头的光点落在光盘片10上最外圈B点的位置时,该B点的线速率为V2,同时光盘片10的角速率为ω2。又光盘片10中心点0至A点及B点的距离分别为r1及r2,因此可由等线速率的关系得到下列结果:
r 1 ω 1 = r 1 ω 2 ⇒
r 1 = r 2 ω 2 ω 1 ;
其中r2、ω1及ω2为已知数,因此可得出r1以决定该光学读写头目前所在之处的绝对位置。
图7(c)是一光盘片以等角速率CAV模式转动的示意图。当光学读写头的光点落在光盘片10上A点的位置时,该A点的线速率为V1,同时光盘片10的角速率为ω1;当光学读写头的光点落在光盘片10上最外圈B点的位置时,该B点的线速率为V2,同时光盘片10的角速率为ω2。另,光盘片10中心点O至A点及B点的距离分别为r1及r2,因此可由等角速率的关系得到下列结果:
V 1 r 1 = V 2 r 2 ⇒
r 1 = r 2 V 1 V 2 ;
其中r2、V1及V2为已知数,因此可得出r1以决定该光学读写头目前所在之处的绝对位置。
图8是本发明的判断光学读写头目前位置的流程图。如步骤81所示,光学读写头撷取预刻沟槽的绝对时间ATIP的时间码,然后依照步骤82确认该时间码代表分MM的数字是否落在95分至99分之间。本实施例是以目前常见的高密度光盘片有时间码重叠的问题,例如:高密度(High Capacity;HC)格式的光盘片(HC-CDR),但本发明并不受此实施例所显示的重叠时间范围所限制,其中重叠时间下限可以大于或小于95分。当时间码代表分MM的数字未落在95分至99分之间,则表示该光学读写头PUH是在程序区PA内,如步骤821所示。反之,则需要检查光学存储装置的旋转模式是否为等线速率CLV模式还是等角速率CAV模式,如步骤83及84所示。当确定旋转模式是等线速率CLV模式时,要依照步骤831再进一步检查目前的角速率是否大于一预设门限值。若满足该检查条件则表示光学读写头PUH是在最内圈的导入区LI,并设一位置标识AreaFlag等于0,如步骤832所示。反之,若角速率小于一预设门限值,则表示光学读写头PUH并不在最内圈的导入区LI,又位置标识AreaFlag设为1,如步骤833所示。
当光学存储装置的旋转模式确认为等角速率CAV模式时,要依照步骤841再进一步检查目前的线速率是否大于一预设门限值。若满足该检查条件则表示光学读写头PUH是在光盘片的外圈,并设一位置标识AreaFlag等于1,如步骤842所示。反之,若线速率小于一预设门限值,则表示光学读写头PUH是在最内圈的导入区LI,位置标识AreaFlag设为0,如步骤843所示。如某光学存储装置的光盘片的旋转模式恒为等线速率(CLV)模式或等角速率(CAV)模式其中之一,或者在进行撷取预刻沟槽的绝对时间ATIP时间码以判断光学读写头目前位置的前即已确认既有转动模式时,可不必执行上述步骤83与步骤84判断转动模式,而是直接执行对应的线速率或角速率与预设门限值的判断。如图8(a)所示,当已知为等线速率CLV模式时,如时间码代表分MM的数字落在95分至99分之间,则直接检查角速率是否大于一预设门限值以决定光学读写头PUH是否在最内圈的导入区LI,如步骤83a以及步骤831a或步骤832a所示。另如图8(b)所示,当已知为等角速率CAV模式时,如时间码代表分 MM的数字落在95分至99分之间,则直接检查线速率是否大于一预设门限值以决定光学读写头PUH是否在最内圈的导入区LI,如步骤83b,以及步骤831b或步骤832b所示。
以上是指当某光学存储装置需要在光盘片转动稳定的情况下才能由光学读写头正确取得线速度信号所使用的方法。图8(c)是本发明的判断光学读写头目前位置另一种方法的流程图。当某光学存储装置只要光学读写头能在锁轨状态时即可取得光学读写头的线速度信号,毋需确定转动稳定为必要的条件时,可不必判断当时光学存储装置的转动模式,而直接以实时所取得的线速率除以角速率得出光学读写头所在位置的半径比例值。如步骤81c所示,光学读写头撷取预刻沟槽的绝对时间ATIP的时间码,然后依照步骤82c确认该时间码代表分MM的数字是否落在95分至99分之间。本实施例是以目前常见的高密度光盘片有时间码重叠的问题,例如:HC(High Capacity;HC)-CDR格式的光盘片,但本发明并不受此实施例所显示的重叠时间范围所限制,其中重叠时间下限可以大于或小于95分。当时间码代表分MM的数字未落在95分至99分之间,则表示该光学读写头PUH是在程序区PA内,如步骤821c所示。反之,则检查现在线速率与角速率的比例值是否大于一预设门限值如步骤83c所示。若满足该检查条件则表示光学读写头PUH是在光盘片的外圈,并设一位置标识AreaFlag等于1,如步骤832c所示。反之,若线速率小于一预设门限值,则表示光学读写头PUH是在最内圈的导入区LI,又位置标识AreaFlag设为0,如步骤831c所示。图9是本发明判断光学读写头目前位置的装置的功能方块图。本装置可利用摆动(wobble)或EFM调制信号来作为判断位置的信号。该EFM调制信号经过一交叉交错式理德-所罗门编码(Cross Interleaved Reed-Solomon Code;CIRC)译码器91解出Q次码中的分M、秒S及帧F,同时该信号亦输入一第一线速率检波器(detector)93。然后由第一线速率检波器93取得目前线速率的数值,并将该数值传给光学读写头PUH位置条件判断单元97。又该摆动(wobble)信号经过一预刻沟槽的绝对时间ATIP译码器92解出预刻沟槽的绝对时间ATIP的分M、秒S及帧F,同时该信号也输入一第二线速率检波器(detector)94。之后,该第二线速率检波器94取得目前线速率的数值,并将该数值传给光学读写头PUH位置条件判断单元97。
有关角速率的信号可由主轴/旋转控制单元96将相关信号输入至一角速率检波器95,同样该角速率检波器95会取得目前线速率的数值,并将该数值传给光学读写头PUH位置条件判断单元97。最后光学读写头PUH位置条件判断单元97会判断目前线速率或角速率是否大于各自对应的预设门限值,并进一步输出位置标识AreaFlag提供系统进行跨轨动作的依据。另外,光学存储装置的伺服控制系统即清楚目前模式选择98的模式,若目前是等线速率CLV模式则使角速率检波器95开始作用。反之为等角速率CAV模式,则使第一线速率检波器93或第二线速率检波器94开始作用。当光学存储装置只要光学读写头能在锁轨状态时即可取得光学读写头的线速度信号,毋需确定转动稳定为必要的条件时,判断单元97会计算目前线速率与角速率的比例值,并判断该比例值是否大于对应的预设门限值并进一步输出位置标识AreaFlag提供系统进行跨轨动作的依据。光学读写头PUH位置条件判断单元97的条件设定亦可由外部的设定条件99来设定,可随着不同存储格式或规格的光盘片而改变预设门限值以判断目前的正确位置。
综上所述,本发明较现有技术具有下列几点优点:
(1)不需要在各种不同的流程中增加位置辅助判断的条件的程序,而在读取目前位置时以绝对的条件作判定,即使用绝对的条件作出正确位置的判断。相较于现有技艺的繁复步骤,本发明不会发生逻辑上判断错误,且程序较简单而易于维护。
(2)对于光盘片的信息区时间码有重叠的情况,其内外圈相关区块的位置差异极大,甚至个别对应的半径距离会超过3公分,也就是半径比例将超过2倍。所以不论是等线速率CLV模式下的角速率以及等角速率模式CAV下的线速率差异均非常大,判断内外区块所用的参数或信号不需太精确即可达到识别的目的。由于取得角速率或线速率的等效信号或参数于现行光存储装置或光驱系统中为必要的功能,因此本发明无须增加新的硬件信号感测功能即可实施。
(3)因某些信号或参数其响应的有效值可能需要一定时间,如直接以系统固件判读则恐怕需要多耗掉系统时间而难免误判。本发明可以硬件不断监控信号或参数并完成判断结果,整个系统应用时可不必多耗等待的时间,即可直接撷取硬件的判断结果,进一步将提高系统运作效率。
本发明的技术内容及技术特点已揭示如上,然而熟悉本领域的技术人员仍可能基于本发明的教示及揭示而作种种不背离本发明精神的替换及修饰。因此,本发明的保护范围应不限于实施例所揭示的内容,而应包括各种不背离本发明的替换及修饰,并为本专利申请权利要求所涵盖。

Claims (27)

1.一种判断光学读写头位置的方法,其特征在于其包含下列步骤:
撷取若干个可代表一光学读写头在一光学存储媒质上的当前位置的线速率与角速率的信号参数值;
计算代表该线速率的信号参数值与代表该角速率的信号参数值的比例值;以及
通过该比例值决定该光学读写头目前在该光学存储媒质的位置。
2.如权利要求1所述的判断光学读写头位置的方法,其特征在于代表该线速率的信号参数值是撷取自可录式光学存储媒质预刻沟槽的摆动(wobble)信号或已录制于光盘轨道上的8-14调制(EFM)信号。
3.如权利要求1所述的判断光学读写头位置的方法,其特征在于代表该角速率的信号参数值是撷取自主轴转速、主轴转频或控制主轴马达转速的输入/输出电压或电流值。
4.如权利要求1所述的判断光学读写头位置的方法,其特征在于当该光学存储媒质上有两个区块的预刻沟槽的绝对时间(ATIP)时间码重叠时或该时间码信息不足以判断光学读写头位置时才需要执行所述步骤。
5.一种判断光学读写头位置的方法,其特征在于其包含下述步骤:
当已知转动模式为等线速率(CLV)模式时,撷取可代表一光学读写头在一光学存储媒质上的目前位置的角速率的信号参数值,通过该信号参数值决定目前该光学读写头在该光学存储媒质的位置。
6.如权利要求5所述的判断光学读写头位置的方法,其特征在于代表该角速率的信号参数值是撷取自主轴转速、主轴转频或控制主轴马达转速的输入/输出电压或电流值。
7.如权利要求5所述的判断光学读写头位置的方法,其特征在于代表该角速率的信号参数值与一预设门限值比较,以决定该光学读写头在该光学存储媒质的导入区或外圈。
8.如权利要求5所述的判断光学读写头位置的方法,其特征在于当该光学存储媒质上有两个区块的预刻沟槽的绝对时间(ATIP)的时间码重叠时或该时间码信息不足以判断光学读写头位置时才需要执行所述步骤。
9.一种判断光学读写头位置的方法,其特征在于其包含下述步骤:当已知转动模式为等角速率(CAV)模式时,撷取可代表一光学读写头在一光学存储媒质上的目前位置的线速率的信号参数值,通过该信号参数值决定目前该光学读写头在该光学存储媒质的位置。
10.如权利要求9所述的判断光学读写头位置的方法,其特征在于代表该线速率的信号参数值是撷取自可录式光学存储媒质预刻沟槽的摆动信号或已录制于光盘轨道上的8-14调制信号。
11.如权利要求9所述的判断光学读写头位置的方法,其特征在于代表该线速率的信号参数值与一预设门限值比较以决定该光学读写头在该光学存储媒质的导入区或外圈。
12.如权利要求9所述的判断光学读写头位置的方法,其特征在于当该光学存储媒质上有两个区块的预刻沟槽的绝对时间(ATIP)的时间码重叠时或该时间码信息不足以判断光学读写头位置时才需要执行所述步骤。
13.一种判断光学读写头位置的方法,其特征在于其包含下列步骤:
(1)检查光学存储媒质的转动模式是否为等线速率(CLV)模式,若是则执行步骤(2),反之则执行步骤(3);
(2)撷取可代表一光学读写头在一光学存储媒质上的目前位置的角速率的信号参数值,通过该信号参数值决定该光学读写头在该光学存储媒质的目前位置;
(3)撷取可代表一光学读写头在一光学存储媒质上的目前位置的线速率的信号参数值,通过该信号参数值决定该光学读写头在该光学存储媒质的目前位置。
14.如权利要求13所述的判断光学读写头位置的方法,其特征在于代表该线速率的信号参数值是撷取自可录式光学存储媒质预刻沟槽的摆动信号或已刻录于光学存储媒质轨道上的8-14调制信号。
15.如权利要求13所述的判断光学读写头位置的方法,其特征在于代表该角速率的信号参数值是撷取自主轴转速、主轴转频或控制主轴马达转速的输入/输出电压或电流值。
16.如权利要求13所述的判断光学读写头位置的方法,其特征在于代表该线速率的信号参数值与一预设门限值比较以决定该光学读写头在该光学存储媒质的导入区或外圈。
17.如权利要求16所述的判断光学读写头位置的方法,其特征在于当该线速率的信号参数值大于该预设门限值时,表示该光学读写头在该光学存储媒质的外圈,而当该线速率的信号参数值小于该预设门限值时,表示该光学读写头在该光学存储媒质的导入区。
18.如权利要求13所述的判断光学读写头位置的方法,其特征在于代表该角速率的信号参数值与一预设门限值比较以决定该光学读写头在该光学存储媒质的导入区或外圈。
19.如权利要求13所述的判断光学读写头位置的方法,其特征在于当该角速率的信号参数值大于该预设门限值时,表示该光学读写头在该光学存储媒质的导入区,而当该线速率的信号参数值小于该预设门限值时,表示该光学读写头在该光学存储媒质的外圈。
20.如权利要求13所述的判断光学读写头位置的方法,其特征在于当该光学存储媒质上有两个区块的预刻沟槽的绝对时间(ATIP)的时间码重叠时或该时间码信息不足以判断光学读写头位置时才需要执行所述步骤。
21.一种判断光学读写头位置的装置,其用于判断该光学读写头在一光学存储媒质上的目前位置,其特征在于其包含:
一线速率检波器,可转换代表该光学存储媒质的线速率的信号参数值为一线速率值;
一角速率检波器,可转换代表该光学存储媒质的角速率的信号参数值为一角速率值;
一位置条件判断单元,用于比较该线速率值与一门限值或该角速率值与一门限值,进而决定该光学读写头的目前位置。
22.一种判断光学读写头位置的装置,其用于判断该光学读写头在一光学存储媒质上的目前位置,其特征在于其包含:
一线速率检波器,可转换代表该光学存储媒质的线速率的信号参数值为一线速率值;
一角速率检波器,可转换代表该光学存储媒质的角速率的信号参数值为一角速率值;
一位置条件判断单元,用于计算该线速率与该角速率的比例值并与一预设门限值作比较,进而决定该光学读写头的目前位置。
23.如权利要求21或22所述的判断光学读写头位置的装置,其特征在于所述线速率检波器是转换一可录式光学存储媒质预刻沟槽的摆动信号为该线速率值。
24.如权利要求21或22所述的判断光学读写头位置的装置,其特征在于所述线速率检波器是转换一已录制于光盘轨道上的8-14调制信号为该线速率值。
25.如权利要求21或22所述的判断光学读写头位置的装置,其特征在于所述角速率检波器是转换一主轴转速,或控制主轴马达转速的输入/输出电压或电流值为该角速率值。
26.如权利要求21或22所述的判断光学读写头位置的装置,其特征在于所述位置条件判断单元通过一模式选择而确定目前的旋转模式以选择该线速率值或该角速率值之一作为比较判断的依据。
27.如权利要求21或22所述的判断光学读写头位置的装置,其特征在于所述位置条件判断单元通过计算目前线速率与角速率的比例值以选择该线速率值或该角速率值之一作为比较判断的依据。
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