CN100372315C - 耦合故障通道的定位方法和多通道设备的检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种耦合故障通道的定位方法和多通道设备的检测方法，首先当在一个故障区间内进行的通道串联测试结果为异常，而其细分出的所有子区间测试结果都为正常时，可以判断其中的一些子区间之间存在耦合故障。然后将其中一个子区间作为定位区间，其他子区间作为辅助区间，将所述定位区间分成两个子区间，分别将其中一个子区间和辅助区间进行通道串联测试，并将测试结果为异常的子区间再次作为定位区间，并分成两个更小的子区间再分别与辅助区间进行通道串联测试，直到找到子区间中所有与辅助区间进行通道串联测试的结果为异常的通道，按照该方法可以定位其他子区间中的故障通道。

Description

耦合故障通道的定位方法和多通道设备的检测方法

技术领域

本发明涉及通信设备，尤其涉及包含多个相同功能通道的通信产品中故障通道的定位方法。

背景技术

针对包含多个相同功能通道的产品，当设备出现故障时，无法直接定位出具体出错通道，现有技术一般采用下列两种方法定位故障。

现有技术一：单通道测试法。

采用单路扫描的方法逐个对发生故障的设备中的通道进行测试，定位流程如图1所示，定位时，将测试信号切换到被测系统某一个通道进行测试。这样经过测试就可判断这个测试通道是否正常，分别测试完所有通道后，即可以定位出所有的故障通道。但是，当设备中包括数量较多的通道时，单通道测试的效率较低。

现有技术二：普通的二分方法对故障通道进行定位。

在通讯测试系统中，为提高测试效率，一般采用二分方法对故障通道进行定位，如图2所示，多个通道进行串联的测试时，如果串联的多个通道中包括了故障通道，则串联测试的结果为异常，据此，可以采用二分法提高测试效率。测试效率将会有很大提升。二分法定位流程如图3所示，其实现方法如图4所示：定位时，首先对发生故障的指定范围内的所有通道串联起来进行测试，如果测试通过，则说明所有通道均正确，如果测试不通过，则说明需要进一步定位。此时，将所有通道对半分成前后两个部分，进行进一步定位。依此类推，通过对故障通道范围不断二分，可以不断缩小故障通道的范围，一直定位到准确的故障通道为止。一般来讲，此类定位方式对通道独立故障具有完全定位能力，而且在大多数情况下具有很高的定位效率。

通过上述方法可以定位出发生故障的独立通道，称之为通道独立故障，相对通道独立故障，实际工程中还有一种耦合通道故障的发生几率也很高，这两种故障类型是根据故障的出现和通道是否具有相关性来划分的，通道独立故障是指在单通道测试就能出现的故障；通道耦合故障是指仅在两个或两个以上的通道组合测试时才出现的故障。根据耦合故障通道数量，又可分为2通道耦合故障，3通道耦合故障等。耦合通道故障只有相关通道组合测试时，故障才能暴露，当各通道分开测试时，则无法暴露故障，因此通过传统的定位方法很难定位，甚至无法定位。而实际工程应用中，通道耦合故障又有较大的发生几率，因此需要一种耦合故障通道的定位方法。

发明内容

本发明提供一种耦合故障通道的定位方法，以解决现有技术中不能在耦合通道分开测试时对其进行定位的问题。

为解决上述问题，本发明提供如下的技术方案：

一种耦合故障通道的定位方法，包括如下步骤：

a1：将包括耦合故障通道的耦合故障区间分为第一区间和第二区间，所述耦合故障区间中进行的通道串联测试结果为异常，所述第一区间和第二区间分别进行的通道串联测试结果都为正常；

a2：将第一区间作为定位区间，将第二区间作为辅助区间，将所述定位区间分成两个子区间，分别将其中一个子区间和辅助区间进行通道串联测试，并将测试结果为异常的子区间再次作为定位区间，并分成两个更小的子区间再分别与辅助区间进行通道串联测试，直到找到第一区间中所有与辅助区间进行通道串联测试的结果为异常的通道；

a3：将第二区间作为定位区间，将第一区间或第一区间中已经定位出的所有故障通道串联起来作为辅助区间，将所述定位区间分成两个子区间，分别将其中一个子区间和辅助区间进行通道串联测试，并将测试结果为异常的子区间再次作为定位区间，并分成两个更小的子区间再分别与辅助区间进行通道串联测试，直到找到第二区间中所有与辅助区间进行通道串联测试的结果为异常的通道。

所述步骤a2和/或步骤a3中，当分成的两个子区间分别与所述辅助区间的通道串联测试结果都为正常时，分别将其中的一个子区间作为定位区间，将另一个子区间合并到所述辅助区间中形成合并辅助区间；将所述定位区间分成两个分区间，分别将其中一个分区间和所述合并辅助区间进行通道串联测试，并将测试结果为异常的分区间再次作为定位区间，并分成两个更小的分区间再分别与合并辅助区间进行通道串联测试，直到找到所述两个子区间中分别与合并辅助区间的通道串联测试结果为异常的通道。

所述步骤a1中利用二分法定位所述耦合故障区间、第一区间和第二区间；具体包括：利用二分法查找故障通道的过程中，如果出现一个区间内的所有通道串联测试结果为异常，对该区间二分形成的两个子区间分别进行的通道串联测试结果为正常时，该区间即为所述耦合故障区间，该耦合故障区间被二分形成的两个子区间即分别为第一区间和第二区间。

所述步骤a2和/或步骤a3中采用二分法逐步将所述定位区间分成两个子区间或分区间。

所述步骤a2或步骤a3中，直接将位于定位区间中的每一个通道划分为一个子区间，并分别与辅助区间进行通道串联测试，测试结果为异常的通道即为耦合故障通道。

利用上述耦合故障定位方法对多通道设备的进行检测方法，包括下列步骤：

b1：对所述多通道设备的全部通道进行通道串联测试，如果测试结果为正常，则执行步骤b6，如果为异常则执行步骤b2；

b2：在所述多通道设备中进行独立故障通道定位，当定位出独立故障通道时，维修所有独立故障通道后执行步骤b3；当没有定位出独立故障通道时，则该多通道设备中存在耦合故障通道，执行步骤b4；

b3：对所述多通道设备的全部通道进行通道串联测试，如果测试结果为正常，则执行步骤b6；如果为异常则该多通道设备中存在耦合故障通道，执行步骤b4；

b4：在所述多通道设备中定位包括耦合故障通道的耦合故障区间，并执行所述的耦合故障通道的定位方法来定位耦合故障通道；

b5：维修所有定位出的耦合故障通道，返回步骤b3；

b6：结束检测。

步骤b4中，利用二分法定位所述耦合故障区间；具体包括：将所述多通道设备中的所有通道逐步分成两个区间进行通道串联测试，当出现一个区间的通道串联测试结果为异常，但是对该区间再次分成的第一区间和第二区间分别进行的通道测试结果都为正常时，该区间即为耦合故障区间。

所述步骤b2中利用单通道测试方法或二分法进行独立故障通道定位。

本发明所述方法为耦合故障通道的定位提供了思路，并继承了二分定位方法在故障定位时的效率高的优点，对于降低产品维修成本，极大地减少了因产品无法进行耦合故障定位而报废导致的成本浪费。

附图说明

图1为单通道测试方法流程图；

图2为通道串联测试示意图；

图3普通二分法定位独立故障通道过程示意图；

图4为普通二分法测试方法流程图；

图5、图6为耦合故障通道定位方法流程图；

图7为耦合故障通道定位过程示意图。

具体实施方式

当采用现有技术一和现有技术二排除完所有独立故障通道后，仍然无法完全排除设备的通道故障时，根据下列原则可以判断该设备是否发生了耦合通道故障：当在一个故障区间内进行的通道串联测试结果为异常，而其细分出的所有子区间测试结果都为正常，则说明其中的一些子区间之间存在耦合故障。本实施例通过下列步骤定位出发生耦合故障的通道：

步骤一：在发生耦合通道故障的设备中，定位出包括耦合故障通道的区间，该区间称为耦合故障区间；

由于通道耦合故障是在两个或两个以上的通道组合测试时才出现的故障，因此，对耦合故障区间内所有通道进行的串联测试结果为异常，而将耦合故障区间分成两个子区间分别进行串联测试，如果这两个子区间中分别包含了发生耦合故障的通道，那么两个子区间的测试结果应该为正常。一般可以采用分区间测试的方法定位出耦合故障区间，常用的方法为现有技术二所示的二分法，如图5所示，在对通道进行的二分法测试过程中，如果一个区间内的通道串联测试不通过，而二分后的两个子区间测试均通过时，表明前后两个子区间存在通道耦合故障。在此情况下，用普通的二分法无法对其进行定位，则通过步骤二和步骤三中所述的耦合故障定位流程对此类故障进行定位。

步骤二：前半区耦合故障通道定位；

耦合故障定位流程如图6所示：为了形象地说明耦合故障定位的过程，设定整个耦合故障区间为A，A二分后成前半区和后半区分别为A1、A2，如果对这两个区间进一步二分，则变成4个区间A11，A12，A21，A22，如继续二分，依此类推。

首先进行前半区A1的耦合故障定位，此时被定位区间为A1，将A1作为定位区间，A2作为辅助区间；并将定位区间A1二分成A11和A12，分别和辅助区间A2串联起来进行测试，通过不断二分即可确定故障通道。根据耦合故障发生的原理，在定位过程中会出现下列两种情况：

1、当A11或A12和A2串联测试不通过，则证明耦合故障通道落在相应测试结果为异常的区间中，此时可对相应测试结果为异常的区间再分成子区间与A2串联测试，直到分出故障区间。

2、当A11和A12区间与A2区间串联测试均通过时，则说明了A11和A12与A2区间中存在多通道耦合故障，故障通道分别位于A11、A12和A2三个区间，每个区间中至少包括一条耦合故障通道，此时需要将其中的一个再次作为定位区间，另一个与A2一起作为辅助区间进行串联测试才能定位故障通道。

步骤三：后半区耦合故障通道定位；

定位完A1区间中包括的耦合故障通道后，同理，将A2作为定位区间，A1作为辅助区间，按照步骤二中的定位方法定位A2区间中包括的所有具体的耦合故障通道，也可以将定位区间与在上一流程中已经定位出的故障通道进行串联测试来定位。

在一些情况下，可能会出现多个耦合故障同时存在的情况，通过上述步骤，可能无法一次定位出所有故障，但是如果能通过维修解决已发现故障，然后进行再次定位，就能逐渐发现更多耦合故障，并最终定位出全部故障。

为进一步说明本方法，下面我们以在一个n通道区间A内定位出一个3通道耦合故障的例子，进一步说明耦合故障定位过程，如图7所示：

S1：A区间所有通道串联测试，测试不通过；

S2：然后将A二分为A1和A2，分别进行串联测试，发现A1和A2均测试通过。这种情况正好说明A1和A2之间存在耦合故障。需要对耦合故障进行定位测试；

上述两个步骤基本上是普通的二分法，由于存在耦合故障，所以需要调用耦合故障定位流程进行进一步定位；

S3：将A1区域二分成A11和A12区间。因为另一个耦合通道位于A2区间，所以分别将A11和A12与A2区间串联进行测试。结果A11和A12区间测试均通过。这说明该故障为多通道耦合故障，故障通道分别存在于A11、A12、A2区间，需对A11和A12区间进行耦合故障定位；

S4：将A11二分成A111和A112区间；

因为其他耦合通道分别位于A12和A2区间，所以分别将A111和A112区间与A12+A2进行串联测试，结果A111测试通过，而A112测试不通过，可以确定，A11区间的故障通道应落在A112区间，而认为A111区间正常。此时再进一步通过对A112区间二分，不断和A12+A2区间串联测试进行故障通道定位，最终可定位到故障通道Error1。

S5：将A12继续二分成A121和A122区间；

因为其他耦合通道分别位于A11(或Error1)和A2区间，所以分别将A121和A122区间与A11(或Error1)+A2进行串联测试，结果A122测试通过，而A121测试不通过，所以A12的故障通道应落在A121内，而认为A122正常。此时再进一步通过对A121进行二分，不断和A11(或Error1)+A2区间串联测试进行故障通道定位，最终可定位到故障通道Error2。

通过步骤S3-S5，可以定位出A1区间内的两个故障通道。

S6：将A2二分成A21和A22区间；

因为其他耦合通道位于A1(或Error1+Error2)，所以分别对A21和A22与A1(或Error1+Error2)进行串联测试，此时发现A21测试通过，而A22测试不通过，所以A2区间的故障通道应落在A22内，而认为A21正常。此时再进一步通过对A22区间采用二分法，不断和A1(或Error1+Error2)进行串联测试，最终可定位到故障通道Error3。

通过步骤S6，可以定位出A2区间内的故障通道。

综上所述，实现本发明所述方法包括以下两个方面：

1、判断多通道设备中是否存在耦合故障的方法。

要点就是：当某一个区间测试不通过，而其细分出的所有子区间分别测试通过，则说明其中一些子区间之间存在耦合故障。

2、对耦合故障的定位方法。

要点就是：将需要定位的区间不断二分，并且和其他耦合通道所在的区间进行串联测试，一直到定位出被定位区间具体的故障通道，并按照此方法定位出所有耦合故障通道。

本发明以普通的二分法基础为基础，增加了前后区间耦合故障通道的定位，为耦合故障提供了很好的定位方法。

Claims (8)

1.一种多通道设备中耦合故障通道的定位方法，所述耦合故障通道至少包括两个串联测试结果为异常、单通道测试结果为正常的通道；其特征在于，所述定位方法包括下列步骤：

a1：将包括耦合故障通道的耦合故障区间分为第一区间和第二区间，所述耦合故障区间中进行的通道串联测试结果为异常，所述第一区间和第二区间分别进行的通道串联测试结果都为正常；

a2：将第一区间作为定位区间，将第二区间作为辅助区间，将所述定位区间分成两个子区间，分别将其中一个子区间和辅助区间进行通道串联测试，并将测试结果为异常的子区间再次作为定位区间，并分成两个更小的子区间再分别与辅助区间进行通道串联测试，直到找到第一区间中所有与辅助区间进行通道串联测试的结果为异常的通道；

a3：将第二区间作为定位区间，将第一区间或第一区间中已经定位出的所有故障通道串联起来作为辅助区间，将所述定位区间分成两个子区间，分别将其中一个子区间和辅助区间进行通道串联测试，并将测试结果为异常的子区间再次作为定位区间，并分成两个更小的子区间再分别与辅助区间进行通道串联测试，直到找到第二区间中所有与辅助区间进行通道串联测试的结果为异常的通道。

2.如权利要求1所述的定位方法，其特征在于，所述步骤a2和/或步骤a3中，当分成的两个子区间分别与所述辅助区间的通道串联测试结果都为正常时，分别将其中的一个子区间作为定位区间，将另一个子区间合并到所述辅助区间中形成合并辅助区间；将所述定位区间分成两个分区间，分别将其中一个分区间和所述合并辅助区间进行通道串联测试，并将测试结果为异常的分区间再次作为定位区间，并分成两个更小的分区间再分别与合并辅助区间进行通道串联测试，直到找到所述两个子区间中分别与合并辅助区间的通道串联测试结果为异常的通道。

3.如权利要求1或2所述的定位方法，其特征在于，所述步骤a1中利用二分法定位所述耦合故障区间、第一区间和第二区间；具体包括：利用二分法查找故障通道的过程中，如果出现一个区间内的所有通道串联测试结果为异常，对该区间二分形成的两个子区间分别进行的通道串联测试结果为正常时，该区间即为所述耦合故障区间，该耦合故障区间被二分形成的两个子区间即分别为第一区间和第二区间。

4.如权利要求3所述的定位方法，其特征在于，所述步骤a2和/或步骤a3中采用二分法逐步将所述定位区间分成两个子区间或分区间。

5.如权利要求1所述的定位方法，其特征在于，所述步骤a2或步骤a3中，直接将位于定位区间中的每一个通道划分为一个子区间，并分别与辅助区间进行通道串联测试，测试结果为异常的通道即为耦合故障通道。

6.一种多通道设备的检测方法，其特征在于，包括下列步骤：

b1：对所述多通道设备的全部通道进行通道串联测试，如果测试结果为正常，则执行步骤b6，如果为异常则执行步骤b2；

b2：在所述多通道设备中进行独立故障通道定位，当定位出独立故障通道时，维修所有独立故障通道后执行步骤b3，当没有定位出独立故障通道时，则该多通道设备中存在耦合故障通道，执行步骤b4；

b3：对所述多通道设备的全部通道进行通道串联测试，如果测试结果为正常，则执行步骤b6，如果为异常则该多通道设备中存在耦合故障通道，执行步骤b4；

b4：在所述多通道设备中定位包括耦合故障通道的耦合故障区间，并执行权利要求1所述的耦合故障通道的定位方法来定位耦合故障通道；

b5：维修所有定位出的耦合故障通道，返回步骤b3；

b6：结束检测。

7.如权利要求6所述的检测方法，其特征在于，步骤b4中，利用二分法定位所述耦合故障区间；具体包括：将所述多通道设备中的所有通道逐步分成两个区间进行通道串联测试，当出现一个区间的通道串联测试结果为异常，但是对该区间再次分成的第一区间和第二区间分别进行的通道测试结果都为正常时，该区间即为耦合故障区间。

8.如权利要求6或7所述的检测方法，其特征在于，所述步骤b2中利用单通道测试方法或二分法进行独立故障通道定位。

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