CH669663A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- CH669663A5 CH669663A5 CH536385A CH536385A CH669663A5 CH 669663 A5 CH669663 A5 CH 669663A5 CH 536385 A CH536385 A CH 536385A CH 536385 A CH536385 A CH 536385A CH 669663 A5 CH669663 A5 CH 669663A5
- Authority
- CH
- Switzerland
- Prior art keywords
- light beam
- inspected
- reflected
- light beams
- principle
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
- G01B11/303—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces using photoelectric detection means
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CH536385A CH669663A5 (fr) | 1985-12-17 | 1985-12-17 | |
AU67269/87A AU6726987A (en) | 1985-12-17 | 1986-12-15 | Opto-electronic process for inspecting surfaces |
EP19870900036 EP0250490A1 (fr) | 1985-12-17 | 1986-12-15 | Procede optoelectronique pour examiner des surfaces |
PCT/CH1986/000175 WO1987003957A1 (fr) | 1985-12-17 | 1986-12-15 | Procede optoelectronique pour examiner des surfaces |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CH536385A CH669663A5 (fr) | 1985-12-17 | 1985-12-17 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CH669663A5 true CH669663A5 (fr) | 1989-03-31 |
Family
ID=4292308
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CH536385A CH669663A5 (fr) | 1985-12-17 | 1985-12-17 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0250490A1 (fr) |
AU (1) | AU6726987A (fr) |
CH (1) | CH669663A5 (fr) |
WO (1) | WO1987003957A1 (fr) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002095379A2 (fr) * | 2001-05-18 | 2002-11-28 | Dr. Ing. Willing Gmbh | Lampe pour echantillonner des surfaces |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2626383B1 (fr) * | 1988-01-27 | 1991-10-25 | Commissariat Energie Atomique | Procede de microscopie optique confocale a balayage et en profondeur de champ etendue et dispositifs pour la mise en oeuvre du procede |
EP0414829B1 (fr) * | 1988-10-31 | 1994-05-25 | SCHOEPS, Wilfried | Dispositif pour le controle simultane, sans contact, de plusieurs zones sur un specimen et utilisation du dispositif |
WO1990008445A1 (fr) * | 1989-01-19 | 1990-07-26 | Tesler Vladimir E | Systeme de television |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR1534762A (fr) * | 1967-05-18 | 1968-08-02 | Cilas | Procédé et dispositif de palpage optique |
US3736065A (en) * | 1972-05-09 | 1973-05-29 | Philco Ford Corp | Radiation sensitive means for detecting optical flaws in glass |
CA1089551A (fr) * | 1978-06-27 | 1980-11-11 | John M. Lucas | Detecteur de granulation |
DE3037622C2 (de) * | 1980-10-04 | 1987-02-26 | Theodor Prof. Dr.-Ing. 1000 Berlin Gast | Einrichtung zur Bestimmung der Oberflächengüte |
DE3428435A1 (de) * | 1984-08-01 | 1986-02-06 | Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch | Rauheitssonde |
-
1985
- 1985-12-17 CH CH536385A patent/CH669663A5/de not_active IP Right Cessation
-
1986
- 1986-12-15 WO PCT/CH1986/000175 patent/WO1987003957A1/fr active Application Filing
- 1986-12-15 AU AU67269/87A patent/AU6726987A/en not_active Abandoned
- 1986-12-15 EP EP19870900036 patent/EP0250490A1/fr not_active Withdrawn
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002095379A2 (fr) * | 2001-05-18 | 2002-11-28 | Dr. Ing. Willing Gmbh | Lampe pour echantillonner des surfaces |
WO2002095379A3 (fr) * | 2001-05-18 | 2003-10-16 | Willing Gmbh Dr Ing | Lampe pour echantillonner des surfaces |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO1987003957A1 (fr) | 1987-07-02 |
EP0250490A1 (fr) | 1988-01-07 |
AU6726987A (en) | 1987-07-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE69032497T2 (de) | Gerät zur Zählung von in einer Flüssigkeit suspendierten Teilchen | |
EP0898783B1 (fr) | Microscope a balayage dans lequel un echantillon est excite optiquement simultanement en plusieurs points | |
DE2436110C3 (de) | Vorrichtung zur Feststellung von Herstellungsfehlern in einer bewegten Materialbahn | |
DE69117714T2 (de) | Vorrichtung zur Detektion fremder Substanzen auf einer Glasplatte | |
DE2602001C3 (de) | Vorrichtung zur Überprüfung einer bearbeiteten Oberfläche eines Werkstucks | |
DE2256736B2 (de) | Meßanordnung zur automatischen Prüfung der Oberflächenbeschaffenheit und Ebenheit einer Werkstückoberfläche | |
DE2535543C3 (de) | Vorrichtung zur Feststellung von Herstellungsfehlern in einer bewegten Materialbahn | |
DE3034903A1 (de) | System zur erfassung von defekten | |
DE2605721B2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Überprüfen von Eiern auf Risse oder Bruchstellen in ihrer Schale | |
DE112005000828B4 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Prüfung von Halbleiter-Wafern | |
DE2330415A1 (de) | Verfahren zum beruehrungslosen messen eines bewegten gegenstandes und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens | |
DE3048053A1 (de) | Anordnung zum erfassen von teilchen | |
DE2512640A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur optischen ueberpruefung von zigarettenenden | |
CH619045A5 (fr) | ||
DE2354141A1 (de) | Verfahren zum untersuchen einer oberflaeche und vorrichtung zur durchfuehrung dieses verfahrens | |
DE3020729A1 (de) | Verfahren zum erfassen der positionen von proben auf einem traeger | |
DE3339435A1 (de) | Farbueberwachungsgeraet fuer eine laufende materialbahn | |
EP1100989B1 (fr) | Procede et dispositif pour evaluer les defauts dans des structures textiles en nappe | |
DE2653590C3 (de) | Vorrichtung zum Ermitteln von Fehlern in flächenhaften Mustern, insbesondere in Photomasken | |
DE60036467T2 (de) | Verfahren und vorrichtung zur dopplergeschwindigkeitsmessung | |
DE10359837A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Überprüfen eines Gewindes eines Verbindungselements auf Beschädigungen | |
DE2654520A1 (de) | Farbpruefungseinrichtung | |
CH669663A5 (fr) | ||
DE3412108A1 (de) | Verfahren zum optischen bestimmen der oberflaechenbeschaffenheit von festkoerpern | |
EP0218865B1 (fr) | Dispositif pour la détection sans contact de défauts dans des surfaces non structurées |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PUE | Assignment |
Owner name: WILFRIED SCHOEPS |
|
PL | Patent ceased |