CH440760A - Verfahren zur Materialanalyse in einem Sekundär-Elektronen-Emissionsmikroskop und Sekundär-Elektronen-Emissionsmikroskop zur Durchführung des Verfahrens - Google Patents

Verfahren zur Materialanalyse in einem Sekundär-Elektronen-Emissionsmikroskop und Sekundär-Elektronen-Emissionsmikroskop zur Durchführung des Verfahrens

Info

Publication number
CH440760A
CH440760A CH1305365A CH1305365A CH440760A CH 440760 A CH440760 A CH 440760A CH 1305365 A CH1305365 A CH 1305365A CH 1305365 A CH1305365 A CH 1305365A CH 440760 A CH440760 A CH 440760A
Authority
CH
Switzerland
Prior art keywords
electron emission
secondary electron
emission microscope
carrying
material analysis
Prior art date
Application number
CH1305365A
Other languages
German (de)
English (en)
Inventor
Moellenstedt Gottfried Dr Prof
Helmut Dr Seiler
Wodsak Wilfried
Original Assignee
Balzers Patent Beteilig Ag
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to NL134392D priority Critical patent/NL134392C/xx
Application filed by Balzers Patent Beteilig Ag filed Critical Balzers Patent Beteilig Ag
Priority to CH1305365A priority patent/CH440760A/de
Priority to NL6515902A priority patent/NL6515902A/xx
Priority to DE19661598130 priority patent/DE1598130C3/de
Publication of CH440760A publication Critical patent/CH440760A/de

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/252—Tubes for spot-analysing by electron or ion beams; Microanalysers

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
CH1305365A 1965-09-21 1965-09-21 Verfahren zur Materialanalyse in einem Sekundär-Elektronen-Emissionsmikroskop und Sekundär-Elektronen-Emissionsmikroskop zur Durchführung des Verfahrens CH440760A (de)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL134392D NL134392C (it) 1965-09-21
CH1305365A CH440760A (de) 1965-09-21 1965-09-21 Verfahren zur Materialanalyse in einem Sekundär-Elektronen-Emissionsmikroskop und Sekundär-Elektronen-Emissionsmikroskop zur Durchführung des Verfahrens
NL6515902A NL6515902A (it) 1965-09-21 1965-12-07
DE19661598130 DE1598130C3 (de) 1965-09-21 1966-08-19 Verfahren und Vorrichtung zur Materialanalyse in einem Sekundär-Elektronen-Emissions-Mikroskop

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CH1305365A CH440760A (de) 1965-09-21 1965-09-21 Verfahren zur Materialanalyse in einem Sekundär-Elektronen-Emissionsmikroskop und Sekundär-Elektronen-Emissionsmikroskop zur Durchführung des Verfahrens

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CH440760A true CH440760A (de) 1967-07-31

Family

ID=4388878

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CH1305365A CH440760A (de) 1965-09-21 1965-09-21 Verfahren zur Materialanalyse in einem Sekundär-Elektronen-Emissionsmikroskop und Sekundär-Elektronen-Emissionsmikroskop zur Durchführung des Verfahrens

Country Status (3)

Country Link
CH (1) CH440760A (it)
DE (1) DE1598130C3 (it)
NL (2) NL6515902A (it)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3249005T1 (de) * 1981-09-01 1983-11-17 Commonwealth Scientific And Industrial Research Organization, Campbell Verfahren und vorrichtung zur bilderzeugung
US4843330A (en) * 1986-10-30 1989-06-27 International Business Machines Corporation Electron beam contactless testing system with grid bias switching

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3249005T1 (de) * 1981-09-01 1983-11-17 Commonwealth Scientific And Industrial Research Organization, Campbell Verfahren und vorrichtung zur bilderzeugung
US4843330A (en) * 1986-10-30 1989-06-27 International Business Machines Corporation Electron beam contactless testing system with grid bias switching

Also Published As

Publication number Publication date
DE1598130B2 (de) 1973-07-26
DE1598130A1 (de) 1971-02-18
NL134392C (it)
NL6515902A (it) 1967-03-22
DE1598130C3 (de) 1974-02-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CH452961A (de) Verfahren zum Komplettieren von Reissverschlüssen und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
CH535956A (de) Verfahren zur quantitativen Analyse und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
CH471400A (de) Verfahren und Vorrichtung zum wahlweisen Vortransportieren und Abschneiden einer von mehreren Materialbahnen
CH491687A (de) Verfahren zum selbsttätigen Sortieren oder Registrieren von Gegenständen sowie Vorrichtung zur Ausführung des Verfahrens
AT298118B (de) Verfahren zur Umsetzung von Spannungen in digitale Werte und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
CH475854A (de) Verfahren zum Speichern und Sortieren von Gegenständen sowie Anordnung zur Durchführung des Verfahrens
CH454187A (de) Verfahren und Vorrichtung zur Verzierung von Folienmaterial
AT252866B (de) Verfahren zum Fördern von grob zerkleinerten Feststoffpartikeln und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
CH439513A (de) Vorrichtung zur Bearbeitung von Materialien in einer gasförmigen Atmosphäre mit einem Strahl geladener Teilchen
CH452731A (de) Verfahren und Vorrichtung zum Erhitzen eines Stoffes in einem Hochvakuum-Elektronenstrahlgerät
AT266883B (de) Vorrichtung zum Kompostieren von Müll
CH513745A (de) Verfahren zum Füllen von Biskuitschachteln und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
CH462868A (de) Verfahren zur Instandsetzung von Verkehrsflächen und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
CH443769A (de) Verfahren zum maschinellen Melken und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
CH440760A (de) Verfahren zur Materialanalyse in einem Sekundär-Elektronen-Emissionsmikroskop und Sekundär-Elektronen-Emissionsmikroskop zur Durchführung des Verfahrens
CH487263A (de) Verfahren zum Verdampfen eines Materials und Vorrichtung zum Durchführen dieses Verfahrens
AT269731B (de) Verfahren zum Füllen von Sprühdosen und Sprühdosenventilanordnung zur Durchführung dieses Verfahrens
CH475573A (de) Verfahren und Vorrichtung zum wahlweisen Vortransportieren und Abschneiden einer von mehreren Materialbahnen
CH455255A (de) Verfahren zum Verschweissen von mindestens teilweise aus thermoplastischem Stoff bestehenden Körpern sowie Schweissmaterial zur Durchführung des Verfahrens
AT290214B (de) Verfahren zum Kontrollieren von Kolbenringen und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
CH496474A (de) Verfahren und Vorrichtung zur Verarbeitung von glimmerartigem Material
DE1903498C2 (de) Verfahren und Anordnung zur Justierung des Elektronenstrahlbuendels in einem Elektronenmikroskop
AT329117B (de) Sekundarradarverfahren und vorrichtung zur durchfuhrung des verfahrens
CH467881A (de) Verfahren zum Mischen von Faserbändern und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
CH362271A (de) Verfahren zur Verminderung des von einem in die Atmosphäre austretenden Düsenstrahl erzeugten Lärmes und Vorrichtung zur Ausübung dieses Verfahrens