Optischer Härteprüfer.
Gegenstand vorliegender Erfindung ist ein optischer Härteprüfer mit Prüfspitze, danebenliegendem Mikroskop und darunter angeordnetem Prüftisch.
Bei den bekannten llärteprüfern dieser Art ist der Prüftiseh mittels einer Mikrometerschraube in einer Geradführung hinund herbeweglich. Diese Konstruktion hat den Nachteil, dass man den Tisch nach der Herstellung des Eindruckes mit der Prüfspitze durch zeitraubendes Drehen der Schraube verstellen muss, um den Eindruck unter das Mikroskop zu bringen, und umgekehrt.
Dieser Nachteil wird beim optischen Härteprüfer gemäss der Erfindung dadurch behoben, dass der Prüftisch drehbar gelagert ist, so dass derselbe mindestens in einer Betriebslage aus der zum Eindrücken des Prüflings mittels der Prüfspitze erforderlichen Stellung durch Verschwenken in die zum Ausmessen des Eindruckes mittels des Mikroskopes erforderliche Stellunggebrachtwerden kann und umgekehrt.
Beiliegende Zeichnung zeigt eine beispielsweise Ausführungsform des Erfindungsgegenstandes.
Fig. 1 ist eine Vorderansicht eines Teils des Eärteprüfers, den Prüftisch in der Eindruckstellung zeigend;
Fig. 2 ist eine der Fig. 1 entsprechende Ansicht, aber mit dem Prüftisch in Mikroskopierstellung.
Fig. 3 zeigt ein Detail und
Fig. 4 ist die Draufsicht auf einen mittels der Prüfspitze erzeugten Eindruck.
Im Gestell 1 ist die Führung 2 durch nicht dargestellte Mittel auf- und abverstellbar montiert. Auf dieser Führung 2 ist der Schlitten 3 mittels der Mikrometerschraube 4 hin- und herbeweglich angeordnet.
Auf diesem Schlitten 3 ist der Prüftisch 5 mittels des Konus 6 drehbar um eine Achse 7 gelagert, welche in der dargestellten Betriebslage in der Mitte zwischen der Achse der Diamantprüfspitze 8 und der Achse des danebenliegenden Mikroskoptubus 9 liegt.
Dieser unter der Spitze 8 und dem Tubus 9 liegende Schlitten trägt bekannte Einzelteile, wie Halter 10 für das zu prüfende Werkstück 11, sowie mittels des Kopfes 12 verstellbare Unterlage 13 für das Werkstück.
Zwecks leichten Fassens beim Veischwen- ken hat der Prüftisch 5 einen Knopf 14. Neben demselben ist eine durch den Prüftisch hindurchgehende Ansohlagschraube 15 vorgesehen (Fig. 3). Sie hat an ihrem Ende einen Knopf 16 und arbeitet zwecks Ausrichtens des Prüftisches 5 in der Eindruckstellung der Fig. 1 mit einem an der Führung 2 befestigten Anschlag 17 zusammen, wie dies in Fig. 3 in voll ausgezogenen Linien gezeigt ist. In der in Fig. 3 in strichpunktierten Linien gezeigten Mikroskopierstellung des Prüftisches 5 liegt das auf der Seite des Knopfes 16 sich befindende Ende der Schraube 15 an einem mittels Knopf 18 verdrehbaren, von einem Arm 19 getragenen Anschlag 20 a-n. Schraube 21 dient zur Längsverstellung des Prüflings auf seiner Unterlage.
Die Handhabung des Prüftisches 5 geschieht folgendermassen:
Hat man den Tisch in die Stellung der Fig. 1 gebracht, so erzeugt man mittels der Diamantspitze 8 einen Eindruck 22 von der in Fig. 4 gezeigten viereckigen Grundrissform.
Hierauf ergreift man den Knopf 14 und verschwenkt den Prüftisch 5 in die in Fig. 2 dargestellte Lage. Nunmehr verdreht man die Schraube 4 so lange, bis der Faden 23 des Fadenkreuzes des Mikroskopes durch die linke Ecke 24 des Eindruckes 22 geht. Dann stellt man den Nullstrich des Nonius 26 auf einen bestimmten Zehnerteilstrich der Skala der Schraube 4 ein. Jetzt dreht man die Schraube 4, bis der Faden 23 durch die rechte Ecke 25 des Eindruckes geht. Die an der Skala der Mikrometerschraube 4 abgelesene Grösse des Abstandes der beiden Fadenstellungen ist dann ein Mass für die Härte des Prüflings.
Durch Zurückschwenken des Schlittens 5 in die Stellung der Fig. 1 ist der Prüfer für einen neuen Eindruck bereit.
Es wäre eine Ausführung möglich, wo das Mikroskop auch zum Ablesen der gewünschten Grösse eingerichtet ist. Dann wäre die Skala der Mikrometerschraube 4 nicht mehr notwendig und die Achse des Prüftisches 5 könnte fest in der Mitte zwischen der Achse der Prüfspitze 8 und der Achse des Mikroskopes 9 angeordnet sein.
Optical hardness tester.
The subject of the present invention is an optical hardness tester with a test tip, an adjacent microscope and a test table arranged below.
In the known hardness testers of this type, the test table can be moved back and forth in a straight guide by means of a micrometer screw. This construction has the disadvantage that after making the impression with the test probe, the table has to be adjusted by turning the screw in a time-consuming manner in order to bring the impression under the microscope, and vice versa.
This disadvantage is remedied in the optical hardness tester according to the invention by the fact that the test table is rotatably mounted so that it can be pivoted at least in one operating position from the position required for pressing in the test specimen by means of the test tip into the position required for measuring the impression by means of the microscope can and vice versa.
The accompanying drawing shows an exemplary embodiment of the subject matter of the invention.
Fig. 1 is a front view of a portion of the hardness tester showing the test table in the indentation position;
FIG. 2 is a view corresponding to FIG. 1, but with the test table in the microscope position.
Fig. 3 shows a detail and
Fig. 4 is a top view of an impression made by the probe.
In the frame 1, the guide 2 is mounted adjustable up and down by means not shown. On this guide 2, the slide 3 is arranged to be movable to and fro by means of the micrometer screw 4.
On this slide 3, the test table 5 is rotatably mounted by means of the cone 6 about an axis 7 which, in the operating position shown, lies in the middle between the axis of the diamond test tip 8 and the axis of the microscope tube 9 lying next to it.
This carriage, located under the tip 8 and the tube 9, carries known items, such as holder 10 for the workpiece 11 to be tested, as well as a support 13 for the workpiece that can be adjusted by means of the head 12.
The test table 5 has a button 14 for the purpose of easy gripping when swiveling. In addition to the button, there is provided a fastening screw 15 passing through the test table (FIG. 3). It has a button 16 at its end and, for the purpose of aligning the test table 5 in the impression position of FIG. 1, cooperates with a stop 17 attached to the guide 2, as shown in solid lines in FIG. 3. In the microscopic position of the test table 5 shown in dash-dotted lines in FIG. 3, the end of the screw 15 located on the side of the button 16 lies against a stop 20 a-n carried by an arm 19 and rotatable by means of the button 18. Screw 21 is used to adjust the length of the test item on its support.
The test bench 5 is handled as follows:
If the table has been brought into the position of FIG. 1, an impression 22 of the square plan shape shown in FIG. 4 is produced by means of the diamond tip 8.
The button 14 is then gripped and the test table 5 is pivoted into the position shown in FIG. The screw 4 is now rotated until the thread 23 of the crosshair of the microscope goes through the left corner 24 of the impression 22. Then you set the zero mark of the vernier 26 to a certain ten division of the scale of the screw 4. Now you turn the screw 4 until the thread 23 goes through the right corner 25 of the impression. The size of the distance between the two thread positions read on the scale of the micrometer screw 4 is then a measure of the hardness of the test piece.
By pivoting the carriage 5 back into the position of FIG. 1, the examiner is ready for a new impression.
An embodiment would be possible in which the microscope is also set up to read off the desired size. Then the scale of the micrometer screw 4 would no longer be necessary and the axis of the test table 5 could be arranged firmly in the middle between the axis of the test tip 8 and the axis of the microscope 9.