BR112019021099A2 - Espectrômetro - Google Patents
Espectrômetro Download PDFInfo
- Publication number
- BR112019021099A2 BR112019021099A2 BR112019021099-7A BR112019021099A BR112019021099A2 BR 112019021099 A2 BR112019021099 A2 BR 112019021099A2 BR 112019021099 A BR112019021099 A BR 112019021099A BR 112019021099 A2 BR112019021099 A2 BR 112019021099A2
- Authority
- BR
- Brazil
- Prior art keywords
- optical grid
- electromagnetic radiation
- spectrometer
- sensor element
- fact
- Prior art date
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 46
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 claims abstract description 26
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 4
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 4
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 5
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 230000001154 acute effect Effects 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 229920002994 synthetic fiber Polymers 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0272—Handheld
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/4257—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors applied to monitoring the characteristics of a beam, e.g. laser beam, headlamp beam
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
- G01J3/0208—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using focussing or collimating elements, e.g. lenses or mirrors; performing aberration correction
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0256—Compact construction
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J3/18—Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J3/18—Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating
- G01J3/1804—Plane gratings
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/2803—Investigating the spectrum using photoelectric array detector
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/18—Diffraction gratings
- G02B5/1861—Reflection gratings characterised by their structure, e.g. step profile, contours of substrate or grooves, pitch variations, materials
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/18—Diffraction gratings
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
a presente invenção refere-se a um espectrômetro com um alojamento (11), no qual estão dispostos uma grade ótica (2) que está alinhada sob um ângulo inferior a 45 graus em relação à abertura (1), uma disposição de objetivas (6) e um elemento sensor (7). a abertura (1) está dimensionada de tal modo, que, com a radiação eletromagnética incidente paralelamente à normal da abertura (1), a superfície da grade ótica (2) está completamente irradiada. a disposição de objetivas (6) está disposta para focalização da radiação eletromagnética sobre o elemento sensor (7) entre a grade ótica (2) e o elemento sensor (7), de modo que exclusivamente uma primeira ordem de difração ou ordens de difração mais elevadas da radiação eletromagnética difratada pela grade ótica (2) está (estão) dirigidas para a disposição de objetivas (6) e o elemento sensor (7).
Description
Relatório Descritivo da Patente de Invenção para “ESPECTRÒMETRO”.
[1] A presente invenção refere-se a um espectrômetro.
[2] Do estado da técnica são conhecidos diversos espectrômetros, nos quais se deseja uma miniaturização de toda a construção. Assim o documento US 6 870 619 B1 mostra, por exemplo, um espectrômetro miniaturizado com apenas poucos elementos óticos. Esta construção, porém, necessita de uma grade ótica encurvada dispendiosa, uma abertura pequena e moduladores eletro-óticos. Quando do emprego de uma pluralidade de elementos óticos, como espelhos ou lentes, antes da escala ótica, luz difusa é um grande problema.
[3] Portanto, a presente invenção tem o objetivo de propor um espectrômetro que evite as desvantagens mencionadas, isto é, com o qual se pode alcançar uma forma de construção miniaturizada com alta sensibilidade, com o mínimo de elementos óticos.
[4] Este objetivo é alcançado, de acordo com a invenção, através de um espectrômetro de acordo com a reivindicação 1. Configurações e desenvolvimentos vantajosos estão descritos nas reivindicações dependentes.
[5] Um espectrômetro apresenta um alojamento, no qual estão dispostos uma grade ótica planar disposta oposta à abertura do alojamento, uma disposição de objetivas e um elemento sensor. A grade ótica está alinhada sob um ângulo inferior a 45 graus em relação a uma normal da abertura. A abertura está dimensionada de tal modo que, no caso de radiação eletromagnética incidente paralelamente à normal da abertura, a superfície da grade ótica fica completamente irradiada. A disposição de objetivas está disposta para focalização da radiação eletromagnética incidente sobre o elemento sensor entre a grade ótica e o elemento sensor, de modo que exclusivamente uma primeira ordem de difração ou ordens de difração mais elevadas da
Petição 870190100639, de 08/10/2019, pág. 14/23
2/7 radiação eletromagnética retratada pela grade ótica está dirigida ou estão dirigidas à disposição de objetivas e ao elemento sensor.
[6] Através do emprego de uma grade ótica planar, mas plana o componente pode ser construído e acabado de modo simples. Através da abertura comparativamente grande, cujas dimensões estão selecionadas de tal modo, que está presente uma fonte pontual todo o espectrômetro é muito sensível, uma vez que muita radiação eletromagnética incide sobre a grade ótica. Isto é apoiado através de um ângulo agudo, que ainda apoia uma forma de construção compacta de todo o espectrômetro. Por “irradiação completa da grade ótica” devese entender especialmente que toda a superfície da grade ótica voltada para a abertura é irradiada pela radiação eletromagnética incidente. Nesse caso o ângulo pode ser entendido dirigido tanto a partir de uma superfície da grade ótica planar até a normal da abertura como segunda perna de ângulo quando da normal da abertura para a superfície da grade ótica planar.
[7] Tipicamente a radiação eletromagnética incidente vai da abertura diretamente para a grade ótica. Sem a necessidade de atravessar outros elementos óticos como espelhos ou outra abertura, toda a construção é simples e compacta e pouca luz difusa é gerada.
[8] A abertura pode apresentar um diâmetro ou uma largura de pelo menos 0,5 mm a 2,5 mm. Preferivelmente o diâmetro ou a largura é de 1 mm. A própria abertura pode estar configurada como abertura retangular, especialmente quadrada, ou circular no alojamento. Isto possibilita captar o máximo de radiação eletromagnética com uma abertura comparativamente grande.
[9] O ângulo sob o qual a grade ótica está alinhada em relação à normal pode ficar entre 5 graus e 15 graus, preferivelmente entre 7 graus e 10 graus, especialmente ser de 7,5 graus, para possibilitar uma forma de construção plana e manter pequena a necessidade de
Petição 870190100639, de 08/10/2019, pág. 15/23
3/7 espaço.
[10] Um distanciamento entre a abertura e a grade ótica está tipicamente entre 1 mm e 40 mm, preferivelmente entre 10 mm e 30 mm, sendo especialmente de 20 mm, de modo que o espectrômetro apresenta um dimensionamento correspondentemente compacto.
[11] Pode estar previsto que a grade ótica esteja provida de um revestimento, o qual reflete pelo menos 90%, preferivelmente pelo menos 95%, de modo especialmente preferido pelo menos 99% da radiação eletromagnética incidente, para alcançar intensidade suficientemente alta sobre o elemento sensor. Preferivelmente o revestimento apresenta alumínio ou está configurado de alumínio.
[12] A disposição de objetivas pode apresentar pelo menos duas lentes de focalização, para garantir um ajuste de ponto focal seguro.
[13] Tipicamente a distância focal da disposição de objetivas fica entre 1 mm e 4 mm, sendo preferivelmente 2 mm.
[14] O elemento sensor pode estar configurado como arranjo de linhas de fotodiodos ou como arranjo de linhas CCD (charge-coupled device) ou como sensor de imagem, por exemplo, como sensor CMOS (complementary metal-oxide-semiconductor) ou sensor CCD.
[15] O elemento sensor é tipicamente sensível à radiação eletromagnética na faixa de comprimentos de onda entre 380 nm e 780 nm. Alternativa ou adicionalmente o elemento sensor pode ser sensível também a radiação eletromagnética na faixa de comprimentos de onda infravermelha, especialmente a comprimentos de onda entre 780 nm e 1700 nm, ou na faixa de comprimentos de onda ultravioleta, especialmente a comprimentos de onda entre 200 nm e 380 nm. Tipicamente, porém, um período de grade da grade ótica e/ou um ângulo da inclinação é adaptado em função do comprimento de onda a ser detectado.
[16] Preferivelmente um telefone móvel (celular) apresenta o
Petição 870190100639, de 08/10/2019, pág. 16/23
4/7 espectrômetro descrito. Nesse caso o telefone móvel pode apresentar o espectrômetro descrito tanto integrado em um alojamento do telefone móvel quando o espectrômetro sobre o telefone móvel.
[17] Exemplos de realização do espectrômetro estão representados nos desenhos e são descritos a seguir com o auxílio das figuras
I e 2. São mostrados:
[18] Figura 1 - uma vista lateral esquemática do espectrômetro e
[19] Figura 2 - um telefone móvel em vista lateral com o espectrômetro.
[20] Na figura 1 está representado um espectrômetro em uma vista lateral esquemática. Em um alojamento 11 do espectrômetro consistindo de material sintético ou de metal um feixe de raios 5 de radiação eletromagnética cai em um espaço interno 3 do alojamento
II através de uma abertura 1, na faixa de comprimentos de onda visível.
[21] A abertura 11 é circular no exemplo de realização representado e apresenta um diâmetro de 1 mm, de modo que através da abertura 1 não é gerada nenhuma fonte pontual na entrada do espectrômetro. Através do tamanho da abertura 1 o espectrômetro é muito sensível, uma vez que existe uma relação quadrada entre o tamanho da área da abertura 1 e a intensidade de radiação incidente ou intensidade de luz.
[22] Da abertura 1 a radiação eletromagnética incide sobre uma grade ótica 2 com uma constante de grade entre 200 nm e 1200 nm, preferivelmente entre 400 nm e 700 nm, a qual está colocada no alojamento 11 através de um retentor. Como não estão dispostos outros elementos óticos na marcha dos raios da radiação eletromagnética, uma configuração de luz difusa é minimizada e não são necessárias outras aberturas. A grade ótica 2, no exemplo de realização represen
Petição 870190100639, de 08/10/2019, pág. 17/23
5/7 tado, está inclinada sob um ângulo plano 4 de 7,5 graus em relação à direção de propagação da radiação eletromagnética, a qual está dirigida paralelamente a uma normal da abertura 1. O distanciamento entre a abertura 1 e a grade ótica 2 é de 20 mm.
[23] A abertura 1 está dimensionada de tal modo, que, com radiação eletromagnética incidente paralelamente à normal da abertura 1, a superfície da grade ótica 2 voltada para a abertura 1 está completamente irradiada. A grade ótica 2 pode apresentar, portanto, pelo menos um tamanho de diâmetro do feixe de radiação 5 incidente, o qual cai através da abertura 1, mas uma área da grade ótica 2 também pode ser menor que o feixe de raios 5.
[24] A grade ótica 2 está provida de um revestimento de alumínio altamente refletivo com grade de refração de reflexão, o qual reflete pelo menos 90% de uma intensidade incidente. O ângulo de inclinação 4 da grade ótica 2 está fixado através da condição de Bragg e em função do período de grade da grade ótica 2 e da faixa de comprimentos de onda da radiação eletromagnética incidente. Essa radiação eletromagnética incidente é refletida pela grade ótica 2 de modo diferenciado na faixa angular, de modo que a primeira ordem de difração 9 incide sobre a disposição de objetivas 6 a partir de duas lentes planoconvexas.
[25] A disposição de objetivas 6 está disposta em um ângulo de 90 graus em relação à direção de propagação da radiação eletromagnética. A disposição de refração zerada 8 não incide sobre a disposição de objetivas 6, mas sim sobre uma parede interna do alojamento 11 no espaço interno 3. Um ponto focal 10 da disposição de objetivas 6 fica em um lado da disposição de objetivas 6 sobre a superfície da grade ótica 2 e no outro lado sobre um sensor de imagem 7. A disposição de objetivas 6 está provida de uma segunda abertura 12, para não deixar luz difusa chegar ao sensor de imagem 7. A segunda aber
Petição 870190100639, de 08/10/2019, pág. 18/23
6/7 tura tem um diâmetro ou uma largura entre 1 mm e 100 mm. A distância focal da disposição de objetivas 6, no exemplo de realização representado, é de 2 mm. Isto pode levar a uma distorção de imagem, a qual, porém, pode ser corrigida através de uma unidade de avaliação ao qual o sensor de imagem está ligado eletricamente. Porém, a distância focal pode ser escolhida de tal modo, que a ordem de difração zerada 8 não incide de modo algum sobre a disposição de objetivas 6.
[26] A disposição de objetivas 6 está ajustada ao tamanho do sensor de imagem 7, para que todo o espectro a ser analisado seja representado através da dilatação completa do sensor de imagem 7. Quanto menor o sensor de imagem 7, maior deve ser escolhido o chamado fator de corte (Crop-Factor) ou fator de formato, o qual indica uma razão de comprimento entre diagonais de segundos formatos de recepção, e tanto menor pode resultar a disposição de objetivas 6. Um tamanho de pixel é tipicamente de 1,5 pm no sensor de imagem 7 (mas em outras formas de realização, pode ser de até 6 pm), caso, em vez do sensor de imagem 7, seja empregado um arranjo de linha de fotodiodo, o tamanho de pixel pode ser 5,5 pm. Para satisfazer a condição de Nyquist, é preciso estar previsto um número de pixels correspondentemente alto.
[27] Com a disposição representada na figura 1 e descrita anteriormente, uma solução espectral pode ser de 1 nm, apesar de um diâmetro de abertura de 1 mm.
[28] Na figura 2 está representado um telefone móvel 13 (celular), mais exatamente um Smartphne, em uma vista lateral esquemática, o qual apresenta o espectrômetro. Características recorrentes nesta figura estão designadas com números de referência idênticos aos da figura precedente. A disposição de objetivas 6 e o sensor de imagem 7 podem estar realizados então através de uma câmara embutida no telefone móvel 13. A unidade de avaliação está disposta tipicamen
Petição 870190100639, de 08/10/2019, pág. 19/23
7/7 te no telefone móvel 13 e um display do telefone móvel 13 serve como unidade de saída do espectrômetro, na qual os dados determinados pela unidade de avaliação são reproduzidos. No exemplo de realização representado na figura 2 o espectrômetro está colocado no telefone móvel 13 com seu alojamento 12, mas pode estar previsto também integrar o espectrômetro no telefone móvel 13, de modo que o alojamento do telefone móvel 12 englobe o espectrômetro também.
Claims (10)
- REIVINDICAÇÕES1. Espectrômetro com um alojamento (11), caracterizado pelo fato de queestão dispostos uma grade ótica (2) planar disposta oposta a uma abertura (1) do alojamento (11), a qual está alinhada sob um ângulo inferior a 45 graus em relação a uma normal da abertura (1), uma disposição de objetivas (6) e um elemento sensor (7), sendo que a abertura (1) está dimensionada de tal modo, que, com radiação eletromagnética incidente paralelamente à normal da abertura (1), a superfície da grade ótica (2) está completamente irradiada, sendo que a disposição de objetivas (6) está disposta para focalização da radiação eletromagnética no elemento sensor (7) entre a grade ótica (2) e o elemento sensor (7), de modo que exclusivamente uma primeira ordem de difração ou ordens de difração mais elevadas da radiação eletromagnética difratada pela grade ótica (2) está dirigida para a disposição de objetivas (6) e o elemento sensor (7).
- 2. Espectrômetro de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que a radiação eletromagnética incidente chega da abertura (1) diretamente sobre a grade ótica (2).
- 3. Espectrômetro de acordo com a reivindicação 1 ou a reivindicação 2, caracterizado pelo fato de que a abertura (1) apresenta um diâmetro ou uma largura de pelo menos 0,5 mm a 2,5 mm, preferivelmente de 1 mm.
- 4. Espectrômetro de acordo com qualquer uma das reivindicações precedentes, caracterizado pelo fato de que o ângulo sob o qual a grade ótica (2) está alinhada em relação à normal, está entre 5 graus e 15 graus, preferivelmente entre 7 graus e 10 graus, sendo de modo especialmente preferível de 7,5 graus.
- 5. Espectrômetro de acordo com qualquer uma das reivindicações precedentes, caracterizado pelo fato de que o distanciamento entre a abertura (1) e a grade ótica (2) está mantido entre 1 mm e 40Petição 870190100639, de 08/10/2019, pág. 21/232/2 mm, preferivelmente entre 10 mm e 30 mm, de modo especialmente preferido 20 mm.
- 6. Espectrômetro de acordo com qualquer uma das reivindicações precedentes, caracterizado pelo fato de que a grade ótica (2) está provida de um revestimento, o qual reflete pelo menos 90% da radiação eletromagnética incidente.
- 7. Espectrômetro de acordo com qualquer uma das reivindicações precedentes, caracterizado pelo fato de que a disposição de objetivas (6) apresenta pelo menos duas lentes de focalização.
- 8. Espectrômetro de acordo com qualquer uma das reivindicações precedentes, caracterizado pelo fato de que a disposição de objetivas (6) apresenta uma distância focal entre 1 mm e 4 mm, preferivelmente 2 mm.
- 9. Espectrômetro de acordo com qualquer uma das reivindicações precedentes, caracterizado pelo fato de que o elemento sensor (7) está configurado como um arranjo de linhas de fotodiodo ou como um sensor de imagem.
- 10. Telefone móvel (13) caracterizado pelo fato de possuir um espectrômetro como definido em qualquer uma das reivindicações precedentes.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102017206066.2A DE102017206066A1 (de) | 2017-04-10 | 2017-04-10 | Spektrometer |
DE102017206066.2 | 2017-04-10 | ||
PCT/EP2018/058995 WO2018189087A1 (de) | 2017-04-10 | 2018-04-09 | Spektrometer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
BR112019021099A2 true BR112019021099A2 (pt) | 2020-05-12 |
Family
ID=62002119
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
BR112019021099-7A BR112019021099A2 (pt) | 2017-04-10 | 2018-04-09 | Espectrômetro |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10983002B2 (pt) |
EP (1) | EP3610230A1 (pt) |
JP (1) | JP2020516916A (pt) |
KR (1) | KR102628596B1 (pt) |
CN (1) | CN110753834A (pt) |
BR (1) | BR112019021099A2 (pt) |
DE (1) | DE102017206066A1 (pt) |
IL (1) | IL269776B2 (pt) |
WO (1) | WO2018189087A1 (pt) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102018203840A1 (de) * | 2018-03-14 | 2019-09-19 | Robert Bosch Gmbh | Fourier-Transform-Spektrometer, Verfahren zum Herstellen eines Fourier-Transform-Spektrometers und Verfahren zur Darstellung eines elektromagnetischen Spektrums |
Family Cites Families (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2924125C2 (de) * | 1979-06-15 | 1982-10-28 | Bodenseewerk Perkin-Elmer & Co GmbH, 7770 Überlingen | Einrichtung zur Unterdrückung von Streulicht bei Gittermonochromatoren |
GB2186708B (en) * | 1985-11-26 | 1990-07-11 | Sharp Kk | A variable interferometric device and a process for the production of the same |
JP2738860B2 (ja) * | 1989-04-27 | 1998-04-08 | 大塚電子株式会社 | スペクトルの合成方法およびそれに用いるスペクトル合成装置 |
US5373359A (en) * | 1992-09-18 | 1994-12-13 | J. A. Woollam Co. | Ellipsometer |
JPH07140004A (ja) * | 1993-11-18 | 1995-06-02 | Shimadzu Corp | 分光分析装置 |
US6424416B1 (en) * | 1999-10-25 | 2002-07-23 | Textron Systems Corporation | Integrated optics probe for spectral analysis |
FI109149B (fi) | 1999-09-29 | 2002-05-31 | Valtion Teknillinen | Spektrometri ja menetelmä optisen spektrin mittaamiseksi |
JP4372314B2 (ja) * | 2000-06-21 | 2009-11-25 | 大塚電子株式会社 | スペクトル測定装置 |
US20050180013A1 (en) * | 2002-03-21 | 2005-08-18 | Carl Zeiss Smt Ag | Grating element for filtering wavelengths < 100 nm |
DE10212691A1 (de) * | 2002-03-21 | 2003-10-02 | Zeiss Carl Semiconductor Mfg | Gitterelement zum Filtern von Wellenlängen 100 nm |
FR2852694B1 (fr) * | 2003-03-19 | 2006-05-26 | Bernard Pierre Andre Genot | Appareil de mesure optoelectronique a composition modulaire multiple |
US7268871B2 (en) * | 2004-08-12 | 2007-09-11 | Datacolor Holding Ag | Measuring head for planar measurement of a sample |
JP2006126065A (ja) * | 2004-10-29 | 2006-05-18 | Shimadzu Corp | 発光分析装置 |
CA2648996C (en) * | 2006-04-12 | 2018-03-06 | Giesecke & Devrient Gmbh | Apparatus and method for optical analysis of value documents |
JP5308213B2 (ja) | 2009-03-31 | 2013-10-09 | セミコンダクター・コンポーネンツ・インダストリーズ・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー | 半導体装置の製造方法 |
CN102812340B (zh) * | 2010-04-02 | 2014-12-10 | 台湾超微光学股份有限公司 | 能接收零阶光谱分量及一阶光谱分量的微型光谱仪 |
WO2011137584A1 (zh) * | 2010-05-05 | 2011-11-10 | 台湾超微光学股份有限公司 | 微型光谱仪的光学机构 |
US8553225B2 (en) * | 2010-07-29 | 2013-10-08 | Raytheon Company | Bandwidth tunable spectroscopic device |
US8797529B2 (en) * | 2011-01-25 | 2014-08-05 | Ocean Optics, Inc. | Spectrometer design for aberration correction, simplified manufacture, and compact footprint |
US8786855B2 (en) | 2011-01-25 | 2014-07-22 | Ocean Optics, Inc. | Shaped input apertures to improve resolution in grating spectrometers |
JP5948558B2 (ja) * | 2012-04-06 | 2016-07-06 | 国立研究開発法人日本原子力研究開発機構 | 分光装置 |
DE102012210954B4 (de) * | 2012-06-27 | 2022-10-20 | Nico Correns | Spektrometeranordnung |
RU2509718C1 (ru) * | 2012-08-07 | 2014-03-20 | Корпорация "САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС Ко., Лтд." | Оптическая измерительная система и способ измерения критического размера |
US9435689B2 (en) * | 2012-10-31 | 2016-09-06 | Corning Incorporated | Hyperspectral imaging system, monolithic spectrometer and methods for manufacturing the monolithic spectrometer |
EP3117191A4 (en) * | 2014-03-13 | 2018-03-28 | National University of Singapore | An optical interference device |
CN104062007B (zh) * | 2014-06-05 | 2016-02-17 | 深圳先进技术研究院 | 手机光谱仪模块及具有该手机光谱仪模块的手机光谱仪 |
TW201602528A (zh) * | 2014-07-07 | 2016-01-16 | 群燿科技股份有限公司 | 光度測量裝置 |
US9863809B2 (en) * | 2015-08-31 | 2018-01-09 | Mettler-Toledo Gmbh | Spectrograph |
DE202015006402U1 (de) * | 2015-09-11 | 2015-10-05 | MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. | Spektroskop, Bausatz zu dessen Herstellung und Kombination des Spektroskops mit einer Kameraeinrichtung |
-
2017
- 2017-04-10 DE DE102017206066.2A patent/DE102017206066A1/de active Pending
-
2018
- 2018-04-09 CN CN201880038521.2A patent/CN110753834A/zh active Pending
- 2018-04-09 BR BR112019021099-7A patent/BR112019021099A2/pt unknown
- 2018-04-09 KR KR1020197032868A patent/KR102628596B1/ko active IP Right Grant
- 2018-04-09 JP JP2020505968A patent/JP2020516916A/ja active Pending
- 2018-04-09 IL IL269776A patent/IL269776B2/en unknown
- 2018-04-09 US US16/603,922 patent/US10983002B2/en active Active
- 2018-04-09 WO PCT/EP2018/058995 patent/WO2018189087A1/de unknown
- 2018-04-09 EP EP18718122.7A patent/EP3610230A1/de active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20200002894A (ko) | 2020-01-08 |
EP3610230A1 (de) | 2020-02-19 |
IL269776B2 (en) | 2024-01-01 |
US20200041339A1 (en) | 2020-02-06 |
CN110753834A (zh) | 2020-02-04 |
DE102017206066A1 (de) | 2018-10-11 |
JP2020516916A (ja) | 2020-06-11 |
IL269776B1 (en) | 2023-09-01 |
KR102628596B1 (ko) | 2024-01-25 |
WO2018189087A1 (de) | 2018-10-18 |
IL269776A (en) | 2019-11-28 |
US10983002B2 (en) | 2021-04-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US11536834B2 (en) | Limitation of noise on light detectors using an aperture | |
US7929220B2 (en) | Adjustable apodized lens aperture | |
US6385352B1 (en) | System and method for reading and comparing two-dimensional images | |
US3880528A (en) | Light probe | |
US10061108B2 (en) | Autofocus imaging for a microscope | |
ES2345649B1 (es) | Simulador solar de espectro variable. | |
ES2629580T3 (es) | Espectrómetro | |
BR112019021099A2 (pt) | Espectrômetro | |
KR102273126B1 (ko) | 태양광 모듈의 광 투과율 측정 시스템 | |
Küsters et al. | Calibrating the SNfactory Integral Field Spectrograph (SNIFS) with SCALA | |
Archambault et al. | In-situ measurements of whole-dish reflectivity for VERITAS | |
Elahi et al. | A grating-optic-less visible spectrometer using Fresnel zone plate patterns on a digital light processor | |
FR3051278A1 (fr) | Procede d'etalonnage d'un spectre obtenu a l'aide d'un appareil electronique equipe d'un accessoire amovible. | |
ES2887824T3 (es) | Telescopio que comprende un espejo secundario montado sobre palas ¿de araña? con un dispositivo anti-luz parásita | |
RU2806167C1 (ru) | Объектив светосильный инфракрасный | |
Zhang et al. | Flat field for LAMOST | |
RU2090846C1 (ru) | Полихроматор | |
Toadere | Conversion from light to numerical signal in a digital camera pipeline | |
RUI et al. | Optical design for WFCTA upgrading | |
FR2605404A1 (fr) | Systeme de lampes spectrales multiples | |
Cáceres | Image Acquisition and Processing for Multi-channel Spectral Imaging | |
CN114787595A (zh) | 用于光无线功率系统安全操作的光功率计 | |
Zárate Cáceres | Image acquisition and processing for multi-channel spectral imaging | |
Fryc | Distribution of the spectral correction error of the CCD | |
Sokolova et al. | CCD Spectrometer for colour measurements |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
B350 | Update of information on the portal [chapter 15.35 patent gazette] | ||
B06W | Patent application suspended after preliminary examination (for patents with searches from other patent authorities) chapter 6.23 patent gazette] | ||
B07A | Application suspended after technical examination (opinion) [chapter 7.1 patent gazette] |