BR112019002977A2 - dispositivo de elemento computacional integrado dual, sistema para medir uma característica de uma amostra, e, método para fabricar um dispositivo. - Google Patents

dispositivo de elemento computacional integrado dual, sistema para medir uma característica de uma amostra, e, método para fabricar um dispositivo.

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Abstract

um dispositivo incluindo pelo menos dois elementos computacionais integrados (ices) que interagem opticamente com uma luz de amostra para gerar uma primeira e uma segunda luz modificada é fornecido. os pelo menos dois ices incluem camadas alternadas de material, cada uma das camadas tendo uma espessura selecionada de modo que a combinação linear ponderada das funções de transmissão seja similar ao vetor de regressão associado à uma característica da amostra. o dispositivo também pode incluir um detector que mede uma propriedade da primeira e da segunda luzes modificadas separadamente para gerar um primeiro sinal e um segundo sinal, respectivamente, em que a média ponderada do primeiro e segundo sinais está linearmente relacionada à característica da amostra. também é fornecido um método para fabricação do dispositivo acima.
BR112019002977-0A 2016-09-22 2016-09-22 dispositivo de elemento computacional integrado dual, sistema para medir uma característica de uma amostra, e, método para fabricar um dispositivo. BR112019002977A2 (pt)

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