BR102015002827A2

BR102015002827A2 - método de monitoramento de um dispositivo para aquecimento indutivo

Info

Publication number: BR102015002827A2
Application number: BR102015002827A
Authority: BR
Inventors: Harry Krotz
Original assignee: Emag Holding Gmbh
Priority date: 2014-02-12
Filing date: 2015-02-09
Publication date: 2016-04-12
Also published as: CN104831027A; DE102014001935A1; EP2908602B1; JP2015153753A; EP2908602A1; US20150226770A1; DE102014001935B4

Abstract

processo para monitoramento de um dispositivo para.aqueci- mento indutivo a presente invenção refere-se a um processo para moni- toramento de um dispositivo para aquecimento de componen- tes, em que o dispositivo apresenta um ramo de carga indu- tivo consistindo em uma bobina de indução (i) e uma peça de trabalho (w) e em que na bobina de indução (i) durante o aquecimento resulta uma tensão alternada (us), sendo que a tensão alternada (us) é detectada, pela duração do aqueci- mento é determinada uma área de tempo de tensão (f) e com- parada com uma área de referência previamente fixada.

Description

PROCESSO PARA MONITORAMENTO DE UM DISPOSITIVO PARA AQUECIMENTO INDUTIVO

[OCO. j A . r;;;,,' rc - :t~~„ . itn : : · v \' t r -í ~ : w , · ' e a j jjijc.. - -γλ se :o .s rí por meio de um : .:. s - r * * i s i t - · - - · ' - t > V.s da γμ ;;ii- ' 1 . ·. - - Iíi:l ,í:í:;vos Pd , . > pc r a r ! s , ; :ie :: . 2 32 2 720 A é e r R· i ij 1, "s <____r , » r ; :r< t r r r t ue j ine í i. , \ e · Je * 4 a j niuvJ ->. í cr.tâ dei < - π a j λ a a.aa , :j.1c a e calar à ί r a: a . a ; ío de t -oç ; a a v>nr • i i létr ca, na medi ia em q .a -> * . ; a - ,< :·; à a ara a _ , . > e à cor a r t a k 1 a, c. ; n ·> -í - . * nt^s a a · · :o r. Con · ' , t" J s - · - ta a fase úe aq i^i a * * ", ela é int-_ jt a.- a„i : r a-·. , de aqjeaaento, Para essa : . · ; , a ia do r.ala iplacador a aalaa ccm a era ta-.á le uit íi-tag: ·.. a a r, 1 o valor de salda ia n.a - 1 ;a: 1< - -a ’ rs λ \>l -αί -a !:u al-rs, itre ou- a i ir , ' o i -;rj ,r.ri a . : -mp^í .a i % dí t &iej i, f - f i n - cace de a> t.. · irca: o ou grau da i .èt, J--> ir :.i; Ims ;'rea.,i - 1 . ; i , . i i -; . s de ' - ϊ ~ - , no f at c í ia . · hr! r i i e a < : t. ,< ar . " c " . s - -n rs, por ί ΊΓ t . , Í 4 · .4 : a> e- ; 1 _ : . a* : jí , . t d< t t : * - • ‘ * f i 1. , ; i ; , ... p -Ia - *. e .

Ce.v a il . > · - * . . j·.*'., i li. í ) ,;rr t t < > : - .a . a :e ,i ia dia: - „ t ’ t a-s t-.j a".·-' í i' ΐ · · ~ , ‘ < · · ; ‘ í a · ' ; 1 s . i técraica.

[0002] Esse objetivo e . ; . n . í'^' a. i · - , . 4 r .1.4 a<- e · » s r.rr.e eí aa· .-i,;·-; - a -s ad . - a a-ae . £0003] Um as; . - . χ· > : c^xixrão consiste em medir, ern :lisp;sir vor vhvc j : suor i r.:: jt i vo, a tensão aparente resultar.ee na bobina de inenri , _ i t _ x ; -. . ç a I o tempe de acp ;mc; * - - ] ·=' e: nr., c i -! ' -nt' - i ;x tempo de 1 · de x . - nas da área de · · , ctl-r-a e por ele ten' . o acoplamento ao componente a ser aquecido. Dependendo do estado de aquecimento do componente, o sistema bobina de indução - componente representa um transformador mais ou menos carregado. Orna comparação com valores de referência da área de tempo de tensão determinada previamente possibilita, entre outras, conclusões sobre a geometria da bobina de indução, o acoplamento magnético entre bobina de indução e o componente a ser aquecido ou a frequência e amplitude da corrente de bobina, de indução.. Com esse processo, além disso, são também detectados erros do lado do gerador. A invenção será descrita a seguir com base em um exemplo de execução.

[0004] Mostram; 10.005} Fig. l-o ramo de. carga de um dispositivo para aquecimento indutivo de peças de trabalho [0006] Fig. 2a - uma área de tempo de tensão com curva de tensão senoidal, • " ; > i. λγ· -í k - x · de tensão i . iio do :h i *_ r. ? a a .x * · . - [0008] Fig. 3a a 3c - uma tensão.MF com tensão HF sobreposta cor cr r r t·.. ceas d< ten :* de tx i r i £ C C L ' ] i ir’ ; t· cr : 1 ti} . ; .mt * r- uç : · .;a no exx . de ire i i - r si ” j- ^ - ! a r.. or r. . i.s ; - t r · . _ o ,, j t>. sâ< jquecicr-s r:m uma crbrna de induçár . Ία : ig. 1 está repre- .=--.- + íd ι imc ι* ' a - ^ f w <, c i . _ t ’ . "* f'· _ i i<- u.-b-- lho W é ir . ' . . · 1 . : -a de in . · I está cc-:. - . . a um g- . ; . -o. - áa-i a io . “ b-rbcoe re Ll-jcIo I ap p.ví :: L a lc a : es ; ott r Ja de cro~-s-,> -i p'-l i oc - v;. ι. i. /, . j : nte o ι j - - iiit ι t . ,t . ό, sai d i i- - r 1 ; r s - . t. t * i a de r< - . . - . Γ -r.. ; - i ‘ c»- j i , t u *>, i* r í ·:< . , - _ , * - <. - ou a ti ' ra u * da peça de tr o W, a geometria da íobina de indu , o c- .. . ; . . bobina de indução I e peça de trabalho W ou frequência ou amplitude da corrente. Simultaneamente, também é detectado im : tf :· *. une r - > il ιο 3o g< radoi , por exemplo, n circo!" o · 4 e ou ndulador. K ia está · tr a área de tempo de tensão F para uma tensão alternada se estendendo em forma senoidal. h <. ~ -; :-:.¾ - da ár« i de tempo de tensão F com valores de referência previamente determinado fornece conclusão sobre se a operação de aquecimento está con . Kito. Para a d . So pode ser det ' - - » t * * ·: s i 1 m tr-..: i. i ι - i : 1" - - i* >- , - i - tas frec de p.e>- . operação os a, ..cio as : n s de J· *;ou i*v - ar ao m r-c i .bro da máxima f r-ioa i - *. c : * ' t i· t-at.il de t . - c '-n d<-.. f - í : · · i · >· v ' -t . -i f.. k ·’< „ vtst ι na fif . !h, ã. . da i *- I4. ivn ό fi.aii íd :cn - mi va i c t * d j e p ' .·- > - ι 1 * t í kf -it.ii . - . Vi a: . , . - 1 : ; v: ' ' F. Um valor médio matemático qualquer, p.ex. geométrico, : itmético ou também quadrático pc · . .o, A : . t i ~:s::3 - < i : - i ' r ct. ic b mé a, â \ „ .v - : ^ * ‘ . ' . * - ~ i lv v - - a. ra a foi çc :j de ,veaá de teut.r.e tr: j j , a tcrcao ε» de :vuc jvrt ícl-- larmente vantajoso, dissociada em uma parte de frequência mée: 5· -.· r - o. .f e de : r-.o-vi -ia alta. Conforme a jc, para a parte de r equêncía nédia é f o ~. ida 1 a área de te -po ds rei: são r: - oara 1 parte de : r- juêt a ílta .mia área de t- rs.j · tensão FHf (Fig. 3c) . « 1 io ie iir -· r j-t.oias dos a teif.ocda, o p· , - :· e · de acoi : > - m a in- venção fornece até mesmo conclusão sobre se .a:s irregularidades são provocadas pela parte de frequência mé:dia ou pela parte de frequência alta do equipamento. Além. disso, em dispositivos de têmpera, o processo pode também, ser empregado em outros sistemas com aquecimento indutivo, p.ex. instalações para soldagem,

Claims

1. Fncesso pare. " ru i1 :· r irrerto de um dispositivo para a que :ar,er.t 7 ;n:ij:;’ro ae cor r ;car :es, em π le c J i spositivo de a . a bo- cit.= . irareâo (IJ - uma r · :a de tx:.:o (W) e em c . = bobina de indução (I) durante o aquecimento resulta uma tensão alternada (Us) , caracterizado pelo fato de que a ter s a" al rei ήΊ; * U , - ;í .'.q .a du açào do au- mento é determinada uma área de tempo de tensão {F) e comparada com uma área de referência previamente fixada.

2. Processo, de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo. fato de que a tensão alternada è detectada e a frequência de detecção é ao menos o dobro da máxima fração de frequência do sinal de tensão alternada.;

3. Processo, de acordo com a reivindicação 1, caracte- rizado pelo fato de que a área de tempo de tensão (F) é formada com auxilio .de valores médios calculados continuamente do montante da tensão alternada.

4. Processo, de acordo com qualquer uma das .reivindicações 1 a 3, em que a uma tensão de frequência média está sobreposta uma tensão de 1 . . caracterizado : lo fato de que a tensão é dissociada em uma parte de frequência média e urna parte de frequência alta e para a parte de frequência média é determinada uma área de tempo de ten-an ir- e cara a carfe de frequência alta uma a cea de tempo de tensão {FHf) *