''Perfectionnements aux dispositifs passeurs d'échantillons"
L'invention décrite ci-après se rapporte à des perfectionnements
apportés aux dispositifs passeurs d'échantillons, destinés plus spécialement
à être utilisés dans le cadre de l'examen de matériaux soumis à une irradiation par rayons X, par exemple dans le cadre de l'étude du rayonnement X
réfléchi sur un échantillon déterminé. Il faut cependant comprendre qu'outre
cette application particulière, les perfectionnements ci-après décrits
peuvent également s'envisager pour tout dispositif dans lequel on fait usage d'un
rayonnement focalisé,projeté sur un objet-olble ou échantillon pouvant être
renouvelé selon des modalités quelconques. La description qui suit a été
établie en relation avec un dispositif de mesure d'un rayonnement X réfléchi, fonctionnant suivant le principe connu de focalisation de Bragg-Brentano, principe adapté à un goniomètre du type horizontal, mais c'est uniquement à titre d'exemple, sans aucun caractère de limitation.
L'étude du faisceau réfléchi par un échantillon bombardé par
un rayonnement X est fréquemment réalisée au moyen d'un goniomètre horizontal, couplé avec un émetteur à rayons X orientés en faisceau divergent vers un échantillon plan, et un récepteur disposé au foyer du rayonnement réfléchi par l'échantillon.
Le schéma de principe d'une telle installation est repris à la figure 1. En 1 se trouve un émetteur fixe à rayons X. Le rayonnement incident 2 émanant de l'émetteur 1 frappe un échantillon plan dont la surface est de suffisamment petites dimensions pour être assimilable à la portion de surface cylindrique passant par les points 1, 3 et 5, mais limitée aux dimensions de l'échantillon, et est réfléchi en 4 vers un récepteur 5 . Au cours de l'étude du rayonnement réfléchi,
on fait tourner l'échantillon 3 autour d'un axe vertical 6, d'un angle déterminé 8
dont la valeur peut suivre une loi quelconque en fonction du temps: à toute
<EMI ID=1.1>
du récepteur d'un angle 2 0 dans le même sens autour du même axe 6, suivant méthode bien connue .
Grâce à un tel dispositif, on peut sans difficultés étudier la structure d'échantillons de multiples natures, grâce aux caractéristiques des rayonnements X réfléchis par ces échantillons.
Lorsqu'on est amené à se servir de ces dispositifs de manière particulièrement fréquente, par exemple si l'on doit examiner de façon ininterrompue une certaine quantité d'échantillons dont la comparaison des structures présente une grande importance, il est impératif que les conditions dans lesquelles
se déroulent les mesures soient aussi rigoureusement identiques que possible. Parmi ces conditions, il faut notamment citer les dimensions des échantillons, leur mode de préparation, la présence d'une face plane polie, la qualité et les caractéristiques du polissage de cette face, eto.
Parmi les conditions à respecter, il faut également citer celle très importante, que la face plane des échantillons qui doit être irradiée doit toujours être disposée au même endroit et orientée de façon identique par rapport à l'émetteur et au récepteur de rayons X. Ceci pose nettement le problème du remplacement d'un échantillon par un autre, sans modification du plan d'irradiation.
A la connaissance du demandeur, et jusqu'à ce jour, le remplacement d'un échantillon par un autre après chaque mesure nécessitait au moment du changement le repositionnement minutieux de l'échantillon, afin de maintenir les conditions expérimentales inchangées. Cette technique présente
le double désavantage d'exiger la présence d'un opérateur à chaque changement d'échantillons, et de faire dépendre la précision de chaque positionnement d'échantillon de l'habileté manuelle et du soin de l'opérateur. Cette technique est donc tributaire de tous les aléas inhérents à toute intervention humaine.
La présente invention a pour objet un dispositif grâce auquel
les inconvénients indiqués ci-dessus peuvent être supprimés, en ce sens que chaque remplacement d'un échantillon par un autre ne nécessite plus systématiquement l'intervention d'un opérateur, et que les échantillons sont automatiquement disposés de telle façon que leur face à irradier soit placée sur le trajet du rayonnement incident, rigoureusement dans le plan théorique de réflexion, fixé par la géométrie du goniomètre.
Les schémas ci-après, donnés à titre d'exemple non limitatif
et non à l'échelle, permettront de se rendre compte comment on peut concevoir un dispositif conforme à celui de l'invention, dont les caractéristiques essentielles seront explicitées plus loin.
La figure 2 représente schématiquement la vue avant d'un plateau porte-échantillons conforme à l'invention, la figure 3 en représente une vue arrière, la figure 4 représente une coupe en travers simplifiée du plateau repris à la figure 3. La figure 5 représente un détail agrandi de la figure 4. La figure 6 représente une vue avant d'une tourelle porteplateau, la figure 7 en représente la vue en plan; la figure 8 représente en vue de face la tourelle munie du plateau porte-échantillons, du pignon d'attaque de
la rotation des échantillons et du dispositif commandant la rotation contrôlée du plateau, et la figure 9 représente une vue partielle en plan du dispositif représenté à la figure 8. Les figures 10 et 11 représentent en vue et en coupe, un plateau permettant la mise dans un même plan de toutes les faces des échantillons à soumettre à l'analyse par rayonnement X. La figure 12 représente un schéma simplifié du dispositif électrique de commande de tout le dispositif de l'invention.
Sur toutes les figures, les mêmes repères représentent les mêmes éléments.
Le dispositif représenté sur les-différentes figures sus-mentionnées se compose d'une tourelle pourvue d'un axe de rotation vertical, coïncidant avec celui 6 du goniomètre, la dite tourelle portant un plateau rotatif à axe horizontal, garni d'un certain nombre d'échantillons déjà préalablement positionnés de telle façon que par rotation successive d'un angle approprié autour de son axe horizontal le plateau présente successivement la face à irradier de chaque échantillon rigoureusement dans le plan théorique de réflexion du goniomètre, avec le centre de cette face exactement dans l'axe du faisceau incident et dans le plan qui, passant par l'axe vertical de rotation de la tourelle, est perpendiculaire au plan de la face.
<EMI ID=2.1>
du rayonnement X réfléchi tourne d'un angle 2 6 autour de ce même axe.
Sur la figure 2 est représentée la face avant du plateau 7 porteéchantillons; celui-ci est garni de 6 échantillons repérés 8 à 13, ayant tous leur face avant rigoureusement coplanaire, et dans le plan 3 lorsque le plateau 7 est placé correctement sur la tourelle. Chaque échantillon est solidaire d'un anneau tournant (par exemple 14) fou dans un logement 15 pratiqué dans le plateau. Cet anneau ne peut se déplacer axialement (voir figure 4) à cause de deux épaulements
16 et 17 situés de part et d'autre du plateau. La butée 17, située à l'arrière du plateau 7, est garnie d'une couronne dentée 18.
Le plateau 7 est encore pourvu en son centre d'un orifice 19 destiné à permettre le passage d'une vis de fixation du plateau 7 sur la tourelle, il est également muni d'un autre orifice excentré 20 dont le rôle sera explicité plus loin. Enfin, un ergot 101 disposé sur sa périphérie sert de butée de fin de course. Il y a lieu aussi de signaler que la périphérie du plateau 7 reste, sur sa face avant, libre de toute proéminence , sur une faible largeur (par exemple
5 mm); le plateau 7 présente donc une couronne périphérique plane sur tout son pourtour.
La figure 3 représente la face arrière du plateau 7. Sur cette face on peut également voir les épaulements 17 des anneaux tournants, ainsi que la couronne dentée dont ils sont munis. L'orifice central 19 est entouré d'une zone concentrique annulaire 21, dont le plan s'inscrit en creux par rapport à la face arrière 22 proprement dite; cette zone en retrait permet un centrage rapide et précis du plateau sur la tourelle. Deux tenons 23 et 24 fixés sur le plateau en permettent une orientation correcte sur la tourelle en s'engageant dans des évidements correspondants faisant partie du dispositif de la tourelle. La figure 5 représente, très agrandi et dament complété, le schéma simplifié des anneaux tournants repérés 16, 17 , 18 sur les figures 2, 3 et 4.
Sur ce schéma, le plateau 7 se trouve dessiné avec la face avant
25 du côté droit et la face arrière 22 du côté gauche. L'anneau tournant 14 d'axe de rotation 26 peut tourner dans le logement 15 d'une part, par l'intermédiaire d'une première série de billes 27 logées dans une rainure 28 circulaire pratiquée dans la face avant 25 du plateau 7 et maintenues en place grâce à l'épaulement 16, et d'autre part grâce à une seconde série de billes 29 logées dans une seconde rainure circulaire 30 coaxiale à la rainure 28, mais pratiquée dans la face arrière
22 du plateau,et maintenues en place grâce à une bague auxiliaire 31. Un second épaulement 17 circulaire est fixé sur le prolongement arrière 32 de la bague 14 par l'intermédiaire de 3 vis pointeaux 33 (disposées à 120[deg.] l'une de l'autre) prenant appui sur le prolongement 32 dans une rainure 34 appropriée, et elles-mêmes vissées chacune dans une portée taraudée 35 dans l'épaulement 17 radialement à l'axe 26. Un second jeu de 3 vis-borgnes 36, vissées à 1200 l'une de l'autre
dans des portées 37 taraudées dans l'épaulement 17, suivant l'axe 26, et maintenant la bague auxiliaire 31 contre le jeu de billes 29, complète le serrage de l'ensemble de la bague tournante 14 dans son logement 15, de telle façon que cette bague puisse facilement y tourner sans toutefois pouvoir se déplacer axialement.
La bague tournante 14 sert de support-réceptacle à un échantillon
13 par l'intermédiaire du dispositif décrit ci-après. La partie arrière 32 de la bague 14 présente intérieurement une partie filetée 38 dans laquelle se visse une buselure 39 cylindrique pourvue d'une portée filetée extérieure destinée à être vissée dans la portée 38 d'un épaulement - butée 40 servant de fin de course, ainsi que d'une portée cylindrique axiale 41 Intérieure. Dans cette portée intérieure 41 viennent se visser avec le minimum de jeu un bouchon fileté 42 et une bague filetée 43 servant en fait de contre-écrou au bouchon 42.
Le bouchon 42 présente sur sa face arrière 44 une rainure 45 destinée à faciliter son vissage, la bague filetée 43 présente d'une part un évidement central 46 destiné à permettre le passage de l'extrémité d'un tournevis approprié jusque dans la rainure 45, et d'autre part deux évidements cylindriques diamétralement opposés 47 et 48 et destinés à permettre le vissage de la bague 43 contre le bouchon 42 au moyen d'une clé à deux broches, de dimensions appropriées.
Le bouchon 42 présente sur sa face avant un évidement cylindrique 49 dans lequel est serti un petit disque 50 constitué d'un aimant permanent particulièrement puissant. C'est contre la face avant 51 de cet aimant qu'est appliqué l'échantillon 13, lui-même soigneusement parachevé en forme de disque d'épaisseur appropriée.
Le centrage et la mise en place du plateau 7 sur la tourelle sont tels, ainsi qu'il sera expliqué plus loin, que, après mise en place du dit plateau, la face avant 25 du plateau se trouve disposée parallèlement au plan théorique de réflexion du goniomètre et à une distance exactement connue en arrière de ce plan.
Le problème du positionnement correct de l'échantillon 13 par rapport au plan théorique 3 est ainsi ramené à celui du positionnement de la face à irradier 52 de cet échantillon, par rapport à la face 25.
Ce positionnement correct est obtenu comme suit. On fait appel à un plateau auxiliaire 84 représenté en plan à la figure 10 et en coupe longitudinale à la figure 11. Le diamètre intérieur 85 de ce plateau est légèrement supérieur à celui extérieur du plateau 7, ce qui permet de déposer facilement ce dernier sur le rebord circulaire 86 du plateau; le plateau 7 repose donc sur le rebord 86 par l'intermédiaire de sa couronne périphérique, bien plane et libre de toute proéminence. La distance axiale existant entre le niveau du rebord 86 et celui du fond 87 du plateau 84 représente exactement la distance qui sépare du plan théorique 3 la face avant 25 du plateau 7, lorsque le plateau 7 est monté sur la tourelle.
Une fois mis en place sur le plateau 84, le plateau 7 est solidarisé à celui-ci au moyen d'une vis dont la tête prend appui sur la face arrière
22 du plateau, et dont le corps, passant à travers l'orifice excentré 20, est vissé par son extrémité filetée, dans une portée taraudée correspondante 88, ménagée dans le fond du plateau 84.
Le processus à suivre pour fixer les échantillons en position correcte est le suivant.
On dépose le plateau 7 sur le plateau 84 de la façon décrite ci-dessus et on l'y fixe comme dit plus haut. A ce moment, le plateau 7 est garni uniquement de ses anneaux 14 (complets avec les roulements et les épaulements 16 et 17) et des buselures 39, vissées à refus. On place alors les échantillons 13, soigneusement parachevés , avec leur face interne contre les rondelles magnétiques 50-auxquelles elles adhèrent fortement; on visse alors chaque ensemble bouchon 42 - disque 50 et échantillon 13 dans la portée 41 jusqu'à ce que la face 52 de l'échantillon 13 arrive au contact du fond 87 du plateau 84, ce que l'on perçoit par une résistance très nette au vissage, puisque le plateau 7, par ailleurs pratiquement indéformable, est bloqué sur le plateau 84. A ce moment, la dite face 52 est correctement positionnée par rapport à la face 25.
Il suffit ensuite de visser le contre-écrou 43 jusqu'au contact de la face arrière du bouchon
42 et de l'y serrer à refus. Le même processus étant répété pour tous les anneaux tournants à garnir d'échantillons, le plateau 7 est ainsi pourvu de tous ses échantillons, prépositionnés en place correcte par rapport à lui, et après montage du plateau sur la tourelle, par rapport au plan théorique 3 de réflexion du goniomètre.
La figure 6 représente de façon très schématique et simplifiée la vue de face de la tourelle sur laquelle doit se placer le plateau 7 porte-échantillons. La figure 7 représente de la même manière la vue en plan de cette tourelle.
L'axe de rotation de tout le dispositif est repris en 6. Concentrique à cet axe vertical 6 se trouve un plateau fixe 54 supportant toute l'installation, un plateau annulaire 55 (en coupe sur la figure 6) qui supporte l'organe récepteur du goniomètre (non représenté). Ce plateau tourne toujours (suivant principe connu) d'un angle double de celui auquel la tourelle proprement dite est elle-même soumise. La tourelle proprement dite est supportée par un pivot central 56 soumis à un mouvement de rotation approprié, par un mécanisme non représenté. La tourelle se compose d'une assise 57 circulaire et d'un panneau vertical 58. Ce panneau vertical comporte trois conduits horizontaux cylindriques d'axes parallèles entre eux et perpendiculaires au plan du panneau.
Ces trois axes 59, 60, 61, matérialisés par des arbres correspondants, servent à supporter, en leur permettant de tourner, respectivement le mécanisme de commande de la rotation du plateau 7 (par l'axe 59), le plateau 7 proprement
dit (par l'axe 60) et le mécanisme de commande de la rotation des échantillons sur le plateau (par l'axe 61).
Afin de renforcer la rigidité de l'ensemble et éviter toute flexion dans les arbres, on a prévu des renforcements de leur portée dans le panneau vertical, respectivement en 62 pour l'axe 59, 63 pour l'axe 60 et 64
pour l'axe 61.
La figure 8 représente de façon schématique et en vue de face , les trois dispositifs tournants supportés par les axes de rotation 59, 60 et 61.
L'axe 59 dont le mouvement de rotation est commandé par un moteur électrique situé à l'arrière du panneau 58, mais non représenté sur la figure, supporte deux disques circulaires tournant autour du dit axe. Le premier de ces disques, 65, fixé sur l'arbre 59, est plan et comporte sur sa face avant un petit ergot 66, fixé sur le disque et tournant avec lui. Il comporte en sus, à
sa périphérie, une petite came 67 servant de fin de course de rotation. Le
second disque circulaire 68, est fixé coaxialement au premier et devant lui,
par un moyen connu en soi, il est de diamètre plus faible que celui du premier disque et présente sur sa périphérie un évidement 69 dont le rôle est explicité plus loin. L'ensemble de ces deux disques est monté sur l'arbre 59, le plus près possible de la face avant du panneau 58, mais de façon toutefois à pouvoir tourner librement.
L'axe de rotation 60 supporte deux ensembles rotatifs, tournant fou autour du dit axe. Le premier est un ensemble en forme d'hexagone rainuré,
le second, fixé de façon bien précise au premier, n'est autre que le plateau 7 muni de ses porte-échantillons, complètement garnis.
Le premier des ensembles est composé essentiellement d'une plaque 70 disposée dans le même plan que celui du disque 68. Cette plaque grossièrement en forme d'hexagone présente à sa périphérie une alternance de six
<EMI ID=3.1>
évidement étant disposé entre deux rainures et vice-versa. La plaque 70 est fixée coaxialement sur une buselure 73 elle-même disposée folle sur l'axe 60, mais sans jeu; la buselure 73 comporte, disposées à 60[deg.] l'une de l'autre, sur sa périphérie, six petites rainures 74.
Le second ensemble est constitué du plateau 7 complet, lequel se chausse sur l'axe 60, de façon à ce que d'une part sa partie évidée 21 vienne s'appuyer sans jeu contre la buselure 73 en se chaussant également sur sa périphérie 75 par son redan 76 circulaire (cfr. figure 4) et que d'autre part, les deux tenons 23 et 24 se présentent exactement en face de deux des six rainures 74.
Une vis axiale, non représentée, maintient le plateau 7 contre la.buselure 73.
Dans cette position, les échantillons sont disposés sur l'avant du plateau, tandis que les périphéries dentées 18 sont situées derrière le plateau dans un plan tel qu' elles peuvent, chacune à leur tour , engrener avec un pignon denté 77 monté fixe sur l'axe 61 dont le moteur de commande disposé derrière le panneau 58 n'est pas représenté sur la figure.
Le rayon des évidements 71 est pratiquement le même que celui du disque 68 et la disposition des dits évidements est telle que, lorsque la plaque
70 est convenablement orientée, un quelconque des évidements 71 est en contact avec le disque 68 et en épouse aussi exactement que possible le contour, ce qui signifie que, lorsque le disque est en rotation sur lui-même autour de l'axe 59
(exception faite de l'évidement 69), la plaque 70 est et reste immobilisée. La rotation de la plaque autour de l'axe 60 est cependant rendue possible lorsque,
au cours de sa rotation dans le sens de la flèche 78, l'extrémité 79 de l'évidement
69 atteint en 80 la ligne théorique qui relie les traces des axes 59 et 60 et que le tenon 66 tournant en même temps que les disques 65 et 68 s'engage dans une des rainures 72 qu'il entraîne dans son mouvement jusqu'au moment où il la quitte
<EMI ID=4.1>
A ce moment, l'autre extrémité 81 de l'évidement 69 est entrée en contact avec
<EMI ID=5.1>
avec le disque 68 et la plaque 70 èst à nouveau immobilisée, tandis que les disques
68 et 69 peuvent continuer leur mouvement de rotation. Il est à noter que le positionnement des épaulements 17 et des périphéries dentées 18 est tel qu'au cours de la rotation du plateau 7, ils n'entrent jamais en contact avec les disques
65 et 68 ni avec le tenon 66; en fait, ils sont disposés dans un plan différent de celui des deux disques 65 et 68.
Le fonctionnement de tout le dispositif s'explique comme suit.
Le plateau 7 ayant été préalablement garni de ses échantillons, conformément à la méthode décrite ci-dessus, est placé sur le panneau 58 de
telle façon que ses deux ergots 23 et 24 se placent dans deux des rainures 74 diamétralement opposées, et que la couronne dentée 18 de l'épaulement 17 de
l'un des échantillons engrène avec le pignon 77 d'axe 61. Le plateau 7 est alors
fixé au panneau 58 par une vis appropriée, passant au travers du plateau 7 par
son orifice central 19 et se vissant dans la portée 89, d'axe 60, taraudée dans le panneau 58. La tourelle 57, chargée du plateau 7, est mise en place correcte
par rapport au goniomètre proprement dit afin de pouvoir commencer les mesures, lesquelles se déroulent comme suit (voir figure 12 avec le schéma électrique simplifié).
Le démarrage du dispositif goniométrique, c'est-à-dire du goniomètre proprement dit et de la tourelle 57 porte - plateau d'échantillons étant effectué au moyen de leur circuit de commande propre (non représenté sur le schéma de la figure 12), on ferme l'interrupteur général bipolaire 90 commandant la mise en route du dispositif de l'invention. Une lampe au néon 91 renseigne l'opérateur sur la présence d'une tension électrique à ses bornes. Le circuit commandé par l'interrupteur 90 se ferme sur le moteur 92 par l'intermédiaire
d'un interrupteur 93 en position fermée (celle de la figure). Le moteur 92 commandant la rotation d'un échantillon sur lui-même, par l'intermédiaire du pignon
denté 77 d'axe 61, se met en rotation, et le reste pendant tout le temps que le goniomètre est lui-même en rotation. Pendant tout ce temps, les trois interrupteurs
94, 96 et 97 sont ouverts. Dès que le goniomètre atteint une position prédéterminée, il commande mécaniquement la fermeture de l'interrupteur 94 pendant un temps très court. Cet interrupteur 94 commande d'une part le retour du goniomètre vers sa position initiale par l'intermédiaire de circuits non figurés, d'autre part la rotation du moteur 95 du plateau porte-échantillons et enfin ferme l'interrupteur
96, lequel reste fermé sur lui-même assurant le maintien des deux rotations en cours, tandis que l'interrupteur 94 s'ouvre à nouveau au moment où le goniomètre quitte sa position extrême. Le moteur 95, d'axe 59, commande mécaniquement
la rotation du plateau 7 par l'intermédiaire de l'ergot 66 s'engageant dans une rainure type 72. Son mouvement propre est arrêté automatiquement par la protubérance 67 qui ouvre l'interrupteur 96 au moment où l'échantillon suivant est arrivé en bonne place pour être lui-même entrafhé en rotation par le pignon 77
qui n'a pas cessé de tourner sur lui-même . Pendant la course de retour du gonio-mètre, le deuxième échantillon est soumis au rayonnement X jusqu'au moment
où le gonio est revenu à sa position initiale, à laquelle il s'arrête grâce à l'interrupteur 97 qui se ferme en remplissant le même rôle que l'interrupteur 94
à l'autre position extrême du goniomètre. On peut ainsi éviter que la course retour du goniomètre ne soit pas utilisée.
Une fois que tous les échantillons ont été exposés aux radiations X, le microswitch 93 est ouvert par l'ergot 101, ce qui interrompt la rotation du moteur 92, tandis que l'opérateur en est averti par l'éclairement de la lampe néon 98, mise sous tension par le microswitch en position ouverte, dans laquelle il est au contact de la borne 99. Après remplacement du plateau 7 par un autre garni d'échantillons déjà prépositionnés, on peut recommencer le cycle des opérations en appuyant sur le bouton 100 qui remet le moteur 92 en rotation et ferme le microswitch 93.
Ayant ainsi décrit un exemple de dispositif conforme à l'invention, ainsi que son mode de fonctionnement, on en définit ci-après les caractéristiques.
Le dispositif passeur d'échantillon, objet de la présente invention, dans lequel un porte-échantillons comportant un certain nombre d'alvéoles destinés à recevoir chacun un échantillon, est essentiellement caractérisé en ce qu'il est muni de moyens permettant de placer successivement et automatiquement chaque échantillon pendant un temps déterminé à l'endroit où il doit être soumis
à un essai déterminé sur une de ses faces rendue préalablement plane, et en ce que chaque alvéole est pourvu de moyens pour y fixer l'échantillon, de telle façon que toutes les faces planes des échantillons soient parallèles entre elles, et de moyens pour déplacer chaque échantillon suivant l'axe de son alvéole respectif, tout en maintenant sa face plane parallèle à elle-même, le déplacement ainsi réalisé permettant de fixer l'échantillon à une distance bien déterminée par rapport à un repère fixe (par exemple une plage de surface bien plane) présentée par le porte-échantillons, parallèlement aux faces planes des échantillons.
De cette façon, il suffit de placer le porte-échantillons à l'endroit approprié du passeur d'échantillon, pour que l'un quelconque des échantillons soit lui-même en bonne place pour être soumis à l'essai considéré, dans les conditions exigées et pour que grâce aux moyens dont le porte-échantillons est pourvu, chaque échantillon puisse être successivement disposé à l'endroit d'essai désiré, sans qu'aucun nouvel ajustement de position soit nécessaire.
Différentes formes de porte-échantillons sont évidemment possibles, mais la préférence est donnée à un porte-échantillons en forme de disque circulaire, comportant à sa périphérie un certain nombre d'alvéoles cylindriques, d'axes parallèles à celui du disque, régulièrement distribués sur une circonférence centrée sur l'axe du disque, ce qui d'une part permet de prévoir un nombre important d'alvéoles et d'autre part permet, à nombre égal d'alvéoles, de réduire l'encombrement du porte-échantillons,lequel de surcroft ne change
pas de place au cours de son utilisation.
Un autre avantage réside dans le fait que le disque circulaire porte-échantillons est revenu automatiquement à sa position originelle lorsque tous les alvéoles
dont il est pourvu ont défilé devant la station où a lieu l'essai considéré.
Suivant une modalité constructive particulièrement avantageuse du dispositif de l'invention, le disque porte-échantillons est pourvu d'une plage circulaire périphérique plane, perpendiculaire à son axe et les alvéoles sont pourvus chacun d'une portée taraudée, d'axe parallèle à celui du disque, et
les supports d'échantillon d'une portée filetée permettant leur déplacement et leur ajustage en position adéquate par vissage dans les alvéoles prévus dans le disque .
Une modalité spécialement avantageuse de ce dispositif consiste dans le fait que les supports d'échantillon comportent des moyens pour permettre la rotation de l'échantillon sur lui-même, autour de l'axe de l'alvéole, sans modification de la position de sa face plane. Suivant l'invention, ces moyens sont constitués par deux portées de rotation, sur roulement à billes, et un organe d'entraînement en rotation , de préférence un pignon denté.
Egalement suivant l'invention, les moyens pour placer successivement et automatiquement chaque échantillon du porte -échantillons au contact
de l'organe de mise en rotation du dit échantillon pendant un temps déterminé, sont avantageusement constitués par deux disques rotatifs susceptibles d'engrener l'un avec l'autre; le premier de ces disques est plan, circulaire, et comporte
un ergot fixe tournant avec lui, il comporte également une surépaisseur centrale de forme circulaire, coaxiale au disque, mais munie sur sa périphérie d'un évidement approprié, situé en face de l'ergot, le second de ces disques est circulaire et constitué à sa périphérie d'une alternance d'évidements circulaires (de même rayon que celui de la surépaisseur du premier disque) et de rainures ( de préférence radiales), le tout disposé de telle façon que la rotation du premier disque sur lui-même entraîne la rotation du second, lorsque l'ergot en rotation pénètre dans une des rainures qu'elle entraîne avec elle, et que ce même premier disque en rotation bloque celle du second disque lorsque, l'ergot ayant quitté le contact d'une des rainures,
un des évidements circulaires du second disque est venu s'appliquer tout contre la surépaisseur circulaire du premier disque en épousant sa forme circulaire périphérique.
Le dispositif de l'invention permet, ainsi qu'il a été dit plus haut, une très grande précision dans la mise en place des échantillons à examiner et un examen successif et automatique de ceux-ci sans intervention humaine.
Le remplacement particulièrement aisé d'un plateau porte-échantillons par un autre tout préparé permet de réduire à quelques secondes le temps nécessaire pour cette opération qui n'exige plus aucune mise au point des échantillons,puisque ceux-ci peuvent être prépositionnés sans être placés sur la tourelle. Par ailleurs, la rotation de l'échantillon sur lui-même accroft la surface irradiée
et permet d'éviter les erreurs dues à une orientation préférentielle fortuite
des échantillons; la qualité de la mesure en est accrue d'autant.
REVENDICATIONS
1. Dispositif passeur d'échantillon, dans lequel un porteéchantillons comporte un certain nombre d'alvéoles destinés à recevoir chacun un échantillon, caractérisé en ce qu'il est muni de moyens permettant de placer successivement et automatiquement chaque échantillon pendant un temps déterminé à l'endroit où il doit être soumis à un essai déterminé sur une de ses faces rendue préalablement bien plane, et en ce que chaque alvéole est pourvu de moyens pour y fixer l'échantillon, de telle façon que toutes les faces planes des échantillons soient parallèles entre elles, et de moyens pour déplacer chaque échantillon suivant l'axe de son alvéole respectif, tout en maintenant sa face plane parallèle à elle-même, et fixer l'échantillon à une distance bien déterminée par rapport à un repère fixe, (par exemple une plage de surface bien plane)
présentée par le porte-échantillons, parallèlement aux faces planes des échantillons.
'' Improvements to sample changers "
The invention described below relates to improvements
added to sample changers, intended more specifically
for use in the examination of materials subjected to X-ray irradiation, for example in the study of X-rays
reflected on a specific sample. However, it should be understood that in addition
this particular application, the improvements described below
can also be considered for any device in which use is made of a
focused radiation, projected onto an object-olble or sample that can be
renewed according to any terms. The following description has been
established in relation to a device for measuring reflected X-radiation, operating according to the known principle of Bragg-Brentano focusing, a principle suitable for a horizontal type goniometer, but it is only by way of example, without any character limitation.
The study of the beam reflected by a sample bombarded by
X-radiation is frequently performed by means of a horizontal goniometer, coupled with an X-ray emitter directed in a beam that diverges towards a plane sample, and a receiver disposed at the focus of the radiation reflected by the sample.
The block diagram of such an installation is shown in Figure 1. At 1 there is a fixed X-ray emitter. The incident radiation 2 emanating from the emitter 1 strikes a plane sample whose surface is small enough to be comparable to the portion of cylindrical surface passing through points 1, 3 and 5, but limited to the dimensions of the sample, and is reflected at 4 towards a receiver 5. During the study of reflected radiation,
the sample 3 is rotated around a vertical axis 6, at a determined angle 8
whose value can follow any law as a function of time: at any
<EMI ID = 1.1>
of the receiver at an angle 2 0 in the same direction around the same axis 6, according to a well-known method.
Thanks to such a device, it is possible without difficulty to study the structure of samples of multiple natures, thanks to the characteristics of the X rays reflected by these samples.
When these devices are to be used particularly frequently, for example if a certain quantity of samples of which the comparison of structures is of great importance is to be examined continuously, it is imperative that the conditions in which ones
the measurements are carried out as strictly identical as possible. Among these conditions, mention should be made in particular of the dimensions of the samples, their method of preparation, the presence of a polished flat face, the quality and characteristics of the polishing of this face, eto.
Among the conditions to be observed, it is also necessary to cite the very important one, that the plane face of the samples which must be irradiated must always be placed in the same place and oriented identically with respect to the emitter and the receiver of X-rays. clearly poses the problem of replacing one sample by another, without modifying the irradiation plan.
To the knowledge of the applicant, and to date, the replacement of one sample by another after each measurement required, at the time of the change, the careful repositioning of the sample, in order to maintain the experimental conditions unchanged. This technique presents
the double disadvantage of requiring the presence of an operator at each change of samples, and of making the precision of each positioning of the sample dependent on the manual skill and care of the operator. This technique is therefore dependent on all the hazards inherent in any human intervention.
The present invention relates to a device through which
the drawbacks indicated above can be eliminated, in that each replacement of one sample by another no longer systematically requires the intervention of an operator, and that the samples are automatically arranged in such a way that their face to be irradiated is placed on the path of the incident radiation, strictly in the theoretical plane of reflection, fixed by the geometry of the goniometer.
The diagrams below, given by way of nonlimiting example
and not to scale, will make it possible to see how a device can be designed in accordance with that of the invention, the essential characteristics of which will be explained later.
FIG. 2 diagrammatically represents the front view of a sample-holder plate according to the invention, FIG. 3 represents a rear view thereof, FIG. 4 represents a simplified cross section of the plate shown in FIG. 3. FIG. 5 shows an enlarged detail of Figure 4. Figure 6 shows a front view of a plate-holder turret, Figure 7 shows the plan view; FIG. 8 represents a front view of the turret fitted with the sample holder plate, the drive pinion of
the rotation of the samples and of the device controlling the controlled rotation of the plate, and FIG. 9 represents a partial plan view of the device represented in FIG. 8. FIGS. 10 and 11 represent in view and in section, a plate allowing the placing in the same plane of all the faces of the samples to be subjected to the X-ray analysis. FIG. 12 represents a simplified diagram of the electrical control device of the entire device of the invention.
In all the figures, the same references represent the same elements.
The device shown in the various figures mentioned above consists of a turret provided with a vertical axis of rotation, coinciding with that 6 of the goniometer, the said turret carrying a rotary plate with horizontal axis, furnished with a certain number of samples already positioned beforehand in such a way that by successive rotation of an appropriate angle about its horizontal axis, the plate successively presents the face to be irradiated of each sample strictly in the theoretical plane of reflection of the goniometer, with the center of this face exactly in the axis of the incident beam and in the plane which, passing through the vertical axis of rotation of the turret, is perpendicular to the plane of the face.
<EMI ID = 2.1>
of the reflected X-radiation rotates at an angle 26 around this same axis.
In Figure 2 is shown the front face of the plate 7 sample holder; this is lined with 6 samples marked 8 to 13, all having their front face strictly coplanar, and in plane 3 when the plate 7 is correctly placed on the turret. Each sample is secured to a rotating ring (for example 14) located in a housing 15 formed in the plate. This ring cannot move axially (see figure 4) because of two shoulders
16 and 17 located on either side of the plateau. The stopper 17, located at the rear of the plate 7, is fitted with a toothed ring 18.
The plate 7 is also provided in its center with an orifice 19 intended to allow the passage of a fixing screw of the plate 7 on the turret, it is also provided with another eccentric orifice 20, the role of which will be explained later. . Finally, a lug 101 arranged on its periphery serves as an end-of-travel stop. It should also be noted that the periphery of the plate 7 remains, on its front face, free of any protuberance, over a small width (for example
5 mm); the plate 7 therefore has a flat peripheral ring over its entire circumference.
FIG. 3 shows the rear face of the plate 7. On this face one can also see the shoulders 17 of the rotating rings, as well as the ring gear with which they are provided. The central orifice 19 is surrounded by an annular concentric zone 21, the plane of which is recessed with respect to the rear face 22 proper; this recessed area allows rapid and precise centering of the plate on the turret. Two tenons 23 and 24 fixed on the plate allow a correct orientation on the turret by engaging in corresponding recesses forming part of the device of the turret. FIG. 5 represents, greatly enlarged and duly completed, the simplified diagram of the rotating rings marked 16, 17, 18 in FIGS. 2, 3 and 4.
In this diagram, plate 7 is drawn with the front face
25 on the right side and the rear face 22 on the left side. The rotating ring 14 of axis of rotation 26 can rotate in the housing 15 on the one hand, by means of a first series of balls 27 housed in a circular groove 28 made in the front face 25 of the plate 7 and held in place thanks to the shoulder 16, and secondly thanks to a second series of balls 29 housed in a second circular groove 30 coaxial with the groove 28, but made in the rear face
22 of the plate, and held in place by an auxiliary ring 31. A second circular shoulder 17 is fixed to the rear extension 32 of the ring 14 by means of 3 needle screws 33 (arranged at 120 [deg.] L ' one of the other) bearing on the extension 32 in a suitable groove 34, and themselves each screwed in a threaded bearing surface 35 in the shoulder 17 radially to the axis 26. A second set of 3 blind screws 36 , screwed 1200 to each other
in bearing surfaces 37 threaded in the shoulder 17, along the axis 26, and maintaining the auxiliary ring 31 against the set of balls 29, complete the tightening of the assembly of the rotating ring 14 in its housing 15, in such a way that this ring can easily turn there without being able to move axially.
The rotating ring 14 serves as a support-receptacle for a sample
13 by means of the device described below. The rear part 32 of the ring 14 internally has a threaded part 38 into which is screwed a cylindrical nozzle 39 provided with an external threaded bearing surface intended to be screwed into the bearing surface 38 of a shoulder - stop 40 serving as a limit switch, as well as an axial cylindrical bearing 41 Interior. A threaded plug 42 and a threaded ring 43 in fact serving as a lock nut for the plug 42 are screwed into this interior bearing surface 41 with the minimum of play.
The stopper 42 has on its rear face 44 a groove 45 intended to facilitate its screwing, the threaded ring 43 has on the one hand a central recess 46 intended to allow the passage of the end of a suitable screwdriver into the groove 45 , and on the other hand two diametrically opposed cylindrical recesses 47 and 48 and intended to allow the screwing of the ring 43 against the stopper 42 by means of a two-pin key of suitable dimensions.
The stopper 42 has on its front face a cylindrical recess 49 in which is crimped a small disc 50 consisting of a particularly powerful permanent magnet. It is against the front face 51 of this magnet that the sample 13 is applied, itself carefully finished in the form of a disc of suitable thickness.
The centering and the positioning of the plate 7 on the turret are such, as will be explained later, that, after placing the said plate in place, the front face 25 of the plate is disposed parallel to the theoretical plane of reflection. of the goniometer and at an exactly known distance behind this plane.
The problem of the correct positioning of the sample 13 relative to the theoretical plane 3 is thus reduced to that of the positioning of the face to be irradiated 52 of this sample, relative to the face 25.
This correct positioning is obtained as follows. Use is made of an auxiliary plate 84 shown in plan in FIG. 10 and in longitudinal section in FIG. 11. The internal diameter 85 of this plate is slightly greater than that outside of the plate 7, which allows the latter to be easily placed on the plate. the circular rim 86 of the tray; the plate 7 therefore rests on the rim 86 via its peripheral ring, which is quite flat and free from any protrusion. The axial distance existing between the level of the rim 86 and that of the bottom 87 of the plate 84 represents exactly the distance which separates from the theoretical plane 3 the front face 25 of the plate 7, when the plate 7 is mounted on the turret.
Once placed on the plate 84, the plate 7 is secured to the latter by means of a screw whose head is supported on the rear face
22 of the plate, and whose body, passing through the eccentric orifice 20, is screwed by its threaded end, into a corresponding threaded bearing surface 88, provided in the bottom of the plate 84.
The process for securing the samples in the correct position is as follows.
The plate 7 is placed on the plate 84 in the manner described above and it is fixed therein as said above. At this time, the plate 7 is furnished only with its rings 14 (complete with the bearings and the shoulders 16 and 17) and the nozzles 39, screwed to refusal. The carefully finished samples 13 are then placed with their internal face against the magnetic washers 50 to which they strongly adhere; each stopper 42 - disc 50 and sample 13 assembly is then screwed into the bearing surface 41 until the face 52 of the sample 13 comes into contact with the bottom 87 of the plate 84, which is perceived by a very strong resistance. clear when screwing, since the plate 7, moreover practically undeformable, is blocked on the plate 84. At this time, said face 52 is correctly positioned relative to the face 25.
It is then sufficient to screw the lock nut 43 until it comes into contact with the rear face of the cap.
42 and squeeze it in refusal. The same process being repeated for all the rotating rings to be filled with samples, the plate 7 is thus provided with all its samples, pre-positioned in the correct place with respect to it, and after mounting the plate on the turret, with respect to the theoretical plane. 3 reflection of the goniometer.
FIG. 6 very schematically and in a simplified manner represents the front view of the turret on which the sample-holder plate 7 must be placed. Figure 7 shows in the same way the plan view of this turret.
The axis of rotation of the entire device is taken at 6. Concentric to this vertical axis 6 is a fixed plate 54 supporting the entire installation, an annular plate 55 (in section in FIG. 6) which supports the receiving member. goniometer (not shown). This plate always rotates (according to known principle) at an angle double that to which the turret itself is itself subjected. The turret itself is supported by a central pivot 56 subjected to an appropriate rotational movement, by a mechanism not shown. The turret consists of a circular seat 57 and a vertical panel 58. This vertical panel comprises three cylindrical horizontal conduits with axes parallel to each other and perpendicular to the plane of the panel.
These three axes 59, 60, 61, materialized by corresponding shafts, serve to support, by allowing them to turn, respectively the control mechanism for the rotation of the plate 7 (by the axis 59), the plate 7 properly
dit (by axis 60) and the control mechanism for the rotation of samples on the plate (by axis 61).
In order to reinforce the rigidity of the assembly and to avoid any bending in the shafts, reinforcements of their bearing are provided in the vertical panel, respectively at 62 for the axis 59, 63 for the axis 60 and 64
for axis 61.
FIG. 8 represents schematically and in front view, the three rotating devices supported by the axes of rotation 59, 60 and 61.
The axis 59, the rotational movement of which is controlled by an electric motor located at the rear of the panel 58, but not shown in the figure, supports two circular discs rotating around said axis. The first of these discs, 65, fixed on the shaft 59, is plane and comprises on its front face a small lug 66, fixed on the disc and rotating with it. In addition, it includes
its periphery, a small cam 67 serving as a rotational limit switch. The
second circular disc 68, is fixed coaxially to the first and in front of it,
by means known per se, it is of smaller diameter than that of the first disc and has a recess 69 on its periphery, the role of which is explained below. The assembly of these two discs is mounted on the shaft 59, as close as possible to the front face of the panel 58, but so as to be able to rotate freely.
The axis of rotation 60 supports two rotating assemblies, rotating idly around said axis. The first is a set in the shape of a grooved hexagon,
the second, fixed in a very precise manner to the first, is none other than the plate 7 provided with its sample holders, completely furnished.
The first of the assemblies is essentially composed of a plate 70 arranged in the same plane as that of the disc 68. This roughly hexagon-shaped plate has at its periphery an alternation of six
<EMI ID = 3.1>
recess being arranged between two grooves and vice versa. The plate 70 is fixed coaxially on a nozzle 73 which is itself placed loose on the axis 60, but without play; the nozzle 73 comprises, arranged at 60 [deg.] from each other, on its periphery, six small grooves 74.
The second set consists of the complete plate 7, which is fitted on the axis 60, so that on the one hand its recessed part 21 comes to rest without play against the nozzle 73 while also fitting on its periphery 75 by its circular step 76 (see figure 4) and that, on the other hand, the two tenons 23 and 24 appear exactly opposite two of the six grooves 74.
An axial screw, not shown, holds the plate 7 against la.buselure 73.
In this position, the samples are arranged on the front of the plate, while the toothed peripheries 18 are located behind the plate in a plane such that they can, each in turn, mesh with a toothed pinion 77 fixedly mounted on the plate. 'axis 61 of which the drive motor disposed behind the panel 58 is not shown in the figure.
The radius of the recesses 71 is practically the same as that of the disc 68 and the arrangement of said recesses is such that, when the plate
70 is properly oriented, any one of the recesses 71 contacts the disc 68 and follows its contour as closely as possible, which means that when the disc is rotated on itself about the axis 59
(except for the recess 69), the plate 70 is and remains immobilized. The rotation of the plate around the axis 60 is however made possible when,
during its rotation in the direction of arrow 78, the end 79 of the recess
69 reaches in 80 the theoretical line which connects the traces of the axes 59 and 60 and that the tenon 66 rotating at the same time as the discs 65 and 68 engages in one of the grooves 72 which it drives in its movement until the moment where he leaves her
<EMI ID = 4.1>
At this time, the other end 81 of the recess 69 has come into contact with
<EMI ID = 5.1>
with the disc 68 and the plate 70 is again immobilized, while the discs
68 and 69 can continue their rotational movement. It should be noted that the positioning of the shoulders 17 and of the toothed peripheries 18 is such that during the rotation of the plate 7, they never come into contact with the discs.
65 and 68 nor with the tenon 66; in fact, they are arranged in a different plane from that of the two discs 65 and 68.
The operation of the whole device is explained as follows.
The tray 7 having been previously lined with its samples, in accordance with the method described above, is placed on the panel 58 of
such that its two lugs 23 and 24 are placed in two of the diametrically opposed grooves 74, and that the ring gear 18 of the shoulder 17 of
one of the samples meshes with the pinion 77 of axis 61. The plate 7 is then
fixed to the panel 58 by a suitable screw, passing through the plate 7 by
its central orifice 19 and screwed into the bearing surface 89, of axis 60, threaded in the panel 58. The turret 57, loaded with the plate 7, is correctly positioned
relative to the goniometer itself in order to be able to start the measurements, which proceed as follows (see figure 12 with the simplified electrical diagram).
The starting of the goniometric device, that is to say of the goniometer proper and of the sample tray holder turret 57 being carried out by means of their own control circuit (not shown in the diagram in FIG. 12), the general bipolar switch 90 is closed controlling the starting of the device of the invention. A neon lamp 91 informs the operator about the presence of an electric voltage at its terminals. The circuit controlled by the switch 90 closes on the motor 92 via
of a switch 93 in the closed position (that of the figure). The motor 92 controlling the rotation of a sample on itself, via the pinion
toothed 77 with axis 61, starts to rotate, and the remainder while the goniometer itself is rotating. All the while, the three switches
94, 96 and 97 are open. As soon as the goniometer reaches a predetermined position, it mechanically controls the closing of the switch 94 for a very short time. This switch 94 controls on the one hand the return of the goniometer to its initial position by means of circuits not shown, on the other hand the rotation of the motor 95 of the sample holder plate and finally closes the switch.
96, which remains closed on itself ensuring the maintenance of the two rotations in progress, while the switch 94 opens again when the goniometer leaves its extreme position. The motor 95, of axis 59, controls mechanically
the rotation of the plate 7 by means of the lug 66 engaging in a type groove 72. Its own movement is automatically stopped by the protuberance 67 which opens the switch 96 when the next sample has arrived in good condition place to be itself entrafhh in rotation by the pinion 77
which has not stopped turning on itself. During the return stroke of the gonio-meter, the second sample is subjected to X-rays until the moment
where the gonio has returned to its initial position, at which it stops thanks to the switch 97 which closes fulfilling the same role as the switch 94
at the other extreme position of the goniometer. It is thus possible to prevent the return stroke of the goniometer from being used.
Once all samples have been exposed to X-rays, microswitch 93 is opened by lug 101, which interrupts rotation of motor 92, while the operator is warned by the illumination of neon lamp 98 , energized by the microswitch in the open position, in which it is in contact with terminal 99. After plate 7 has been replaced by another filled with samples already pre-positioned, the cycle of operations can be restarted by pressing button 100 which puts motor 92 back into rotation and closes microswitch 93.
Having thus described an example of a device in accordance with the invention, as well as its mode of operation, the characteristics thereof are defined below.
The sample changer device, object of the present invention, in which a sample holder comprising a certain number of cells each intended to receive a sample, is essentially characterized in that it is provided with means making it possible to place successively and automatically each sample for a specified time at the place where it is to be submitted
to a test determined on one of its faces made previously flat, and in that each cell is provided with means for fixing the sample therein, such that all the flat faces of the samples are parallel to each other, and means for moving each sample along the axis of its respective cell, while maintaining its plane face parallel to itself, the displacement thus achieved making it possible to fix the sample at a well-determined distance from a fixed reference point (for example a range of flat surface) presented by the sample holder, parallel to the flat surfaces of the samples.
In this way, it suffices to place the sample holder in the appropriate place of the sample changer, so that any one of the samples is itself in a good place to be subjected to the test in question, under the conditions required and so that, thanks to the means with which the sample holder is provided, each sample can be successively placed at the desired test location, without any new position adjustment being necessary.
Different shapes of sample holder are obviously possible, but preference is given to a sample holder in the form of a circular disc, comprising at its periphery a certain number of cylindrical cells, with axes parallel to that of the disc, regularly distributed over a circumference centered on the axis of the disc, which on the one hand makes it possible to provide a large number of cells and on the other hand allows, for an equal number of cells, to reduce the size of the sample holder, which of surcroft does not change
no space during its use.
Another advantage lies in the fact that the circular sample holder disc automatically returns to its original position when all the cells
with which it is provided marched in front of the station where the test in question takes place.
According to a particularly advantageous construction method of the device of the invention, the sample-holder disc is provided with a flat peripheral circular area, perpendicular to its axis and the cells are each provided with a threaded bearing surface, with an axis parallel to that disk, and
the sample supports with a threaded seat allowing them to be moved and adjusted in the appropriate position by screwing into the cells provided in the disc.
A particularly advantageous form of this device consists in the fact that the sample supports comprise means for allowing the sample to rotate on itself, around the axis of the cell, without modifying the position of its flat face. According to the invention, these means consist of two rotational bearing surfaces, on ball bearings, and a rotational drive member, preferably a toothed pinion.
Also according to the invention, the means for successively and automatically placing each sample of the sample holder in contact
of the member for rotating said sample for a determined time, are advantageously constituted by two rotating discs capable of meshing with one another; the first of these discs is plane, circular, and comprises
a fixed lug rotating with it, it also includes a central circular thickness, coaxial with the disc, but provided on its periphery with a suitable recess, located opposite the lug, the second of these discs is circular and made up of its periphery of an alternation of circular recesses (of the same radius as that of the extra thickness of the first disc) and grooves (preferably radial), the whole arranged in such a way that the rotation of the first disc on itself causes the rotation of the second, when the rotating lug enters one of the grooves that it drives with it, and this same first rotating disc blocks that of the second disc when, the lug having left contact with one of the grooves,
one of the circular recesses of the second disc has come to rest against the circular extra thickness of the first disc, matching its peripheral circular shape.
The device of the invention allows, as has been said above, very high precision in the positioning of the samples to be examined and a successive and automatic examination of these without human intervention.
The particularly easy replacement of a sample holder plate with a fully prepared one reduces the time required for this operation to a few seconds, which no longer requires any adjustment of the samples, since they can be pre-positioned without being placed on the turret. In addition, the rotation of the sample on itself increases the irradiated surface.
and avoids errors due to an accidental preferential orientation
some samples; the quality of the measurement is increased accordingly.
CLAIMS
1. Sample changer device, in which a sample holder comprises a certain number of cells each intended to receive a sample, characterized in that it is provided with means allowing each sample to be placed successively and automatically for a determined time at the '' place where it must be subjected to a test determined on one of its faces made beforehand quite flat, and in that each cell is provided with means for fixing the sample therein, so that all the flat faces of the samples are parallel between them, and means for moving each sample along the axis of its respective cell, while maintaining its plane face parallel to itself, and fixing the sample at a well determined distance from a fixed reference, (for example a very flat surface beach)
presented by the sample holder, parallel to the plane faces of the samples.